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microscope viewの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 49



例文

SIDE VIEW TYPE OPTICAL TUBE FOR SURGICAL MICROSCOPE例文帳に追加

手術顕微鏡用の側視型延長鏡筒 - 特許庁

He adjusted the microscope so as to get a clearer view.例文帳に追加

彼はもっとはっきりと見えるように顕微鏡を調整した - Eゲイト英和辞典

To provide an electron microscope with which the field-of-view of an observation image can be moved smoothly.例文帳に追加

観察像の視野移動をスムーズに行える電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system for obtaining an image having a wide view angle by connecting captured images each having a small view angle.例文帳に追加

取得した小画角の画像をつなぎ合わせて高画角の画像を取得することができる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

例文

To reduce the size and weight of a microscope body while guiding the image of a specimen to a position easy to view.例文帳に追加

顕微鏡本体の小型軽量化を図りつつ、覗きやすい位置に標本の像を導く。 - 特許庁


例文

To provide a stereoscopic microscope, specially, a microscope for surgical operation which can vary the display area and display power of another image in the observation view field of a microscope image and also change the center position of the microscope image.例文帳に追加

顕微鏡像の観察視野内において他画像の表示面積とその表示倍率を変えることができ且つ顕微鏡像の中心位置を変えることの出来る実体顕微鏡特に手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A system is provided with an optical microscope having a sensor that supplies electric signals representing a field of view.例文帳に追加

このシステムは、視野を表す電気信号を供給するセンサを有する光学顕微鏡を備える。 - 特許庁

On the basis of position information included in the microscope information and representing the position of the specimen 19 when each microscope image is photographed, the microscope images constituting the dynamic image are composed, thereby forming a wide image wider in view field than the microscope image.例文帳に追加

そして、当該顕微鏡情報に含まれており前記顕微鏡画像が撮像されたときの観察体19の位置を示している位置情報に基づいて、当該動画像を構成している各顕微鏡画像を合成することで、当該顕微鏡画像よりも視野の広いワイド画像を生成する。 - 特許庁

a lamp that emits a narrow but intense beam of light that enables an ophthalmologist, using a microscope, to view the retina and optic nerve 例文帳に追加

眼科医が、顕微鏡を使用し、網膜と視神経を見ることができる、細いが、強い光線を放つ照明器具 - 日本語WordNet

例文

To provide an optical microscope capable of facilitating analyses from various points of view, and to provide an observation method.例文帳に追加

様々な観点からの解析、分析を容易にすることができる光学顕微鏡、及び観察方法を提供すること。 - 特許庁

例文

To provide a microscope for operations With which concentration, field of view, and the like, of an operator are not inhibited when a delicate operation is performed by using the microscope and other means for observation.例文帳に追加

手術用顕微鏡とともに他の観察手段を用いて繊細な手術を行う際に、術者の集中力および視野などを妨げない手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The inorganic oxide particles makes the base material impossible to view in an image obtained by observing the processing surface with a scanning electron microscope.例文帳に追加

無機酸化物粒子は、加圧面を走査型電子顕微鏡により観察した像においては基材を視認不能としている。 - 特許庁

In the course of the visual servo, the view field position adjusting section 64 adjusts the view field position of the imaging optical system of the optical microscope 10 so that the characteristic parts can remain at the fixed position in the image.例文帳に追加

視野位置調整部64は、ビジュアルサーボの最中、特徴部が画像中の一定位置に位置し続けるように光学顕微鏡10の結像光学系の視野位置を調整する。 - 特許庁

To provide a fluorescence detection device and fluorescence microscope that are capable of correcting a fading based on a spatial position in the field of view.例文帳に追加

視野内の空間位置に基づいて褪色補正を行うことができる蛍光検出装置および蛍光顕微鏡を実現すること。 - 特許庁

To provide a mapping type electron microscope capable of suppressing the distortion aberration in a wide field of view and observing a sample with a high resolution.例文帳に追加

広視野での歪曲収差を抑えることができ、高分解能で試料を観察できる写像型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic treatment device for operation capable of shielding the view of a microscope even when the device is used with the microscope, preventing interference with a microscope or other treatment device, and conducting precise operation without generating sense of incongruity.例文帳に追加

顕微鏡とともに使用された場合でも顕微鏡の視野を遮ることがなく、また、顕微鏡や他の処置具との干渉を防止できるとともに、微細な操作を違和感なく行なうことができる手術用超音波処置具の提供を目的としている。 - 特許庁

Further, the electron microscope is equipped with a visual field deviation detection means judging existence of view field deviation, and a visual field correction means correcting the visual field.例文帳に追加

更に、本発明によると、視野ずれの有無を判定する視野ずれ検出手段と、視野ずれを補正する視野ずれ補正手段と、を有する。 - 特許庁

A body part 10 of an XYθ stage is driven, so that an alignment mark provided on a wafer is positioned in the observation view of an observation microscope.例文帳に追加

先ず、ウエハ上に設けられたアライメントマークが観察顕微鏡の観察視野に位置するように、XYθステージの本体部10を駆動する。 - 特許庁

The microscope control head comprises a head main body having a ball storage part and a posture controlling mechanism; a grip handle arranged and projected in the head main body; and a control lever for the posture controlling mechanism; and a direct-view-type microscope mirror body.例文帳に追加

顕微操作ヘッドは、ボール収納部及び姿勢制御機構を有するヘッド本体、ヘッド本体に突設されるグリップハンドル、姿勢制御機構の操作レバー及び直視型顕微鏡鏡体を有している。 - 特許庁

To provide a probe canning control method and a scanning probe microscope capable of satisfactorily and continuously observing a sample in the same field of view.例文帳に追加

試料の同視野の連続観察を良好に行うことができる探針走査制御方法および走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a manipulator capable of detecting force of an operation needle applied to a sample by observing the operation needle in an observation view of a microscope.例文帳に追加

操作針の被検体に対して作用する力を、顕微鏡の観察視野下で操作針を観察することにより検出する、マイクロマニピュレータを提供する。 - 特許庁

When the target view is found out and the visual field is determined, the operator 4 controls the scanning electronic microscope so that a sharp image can be obtained.例文帳に追加

目的とする視野が探し出され、視野が確定したら、オペレータ4は走査電子顕微鏡を調整して、鮮明が画像が得られるようにする。 - 特許庁

binocular microscope used in surgery to provide a clear view of small and inaccessible parts of the body (as in microsurgery) 例文帳に追加

身体(顕微手術の場合のように)の小さくてアクセスしにくい部分のはっきりした視界を提供するために手術で使われる双眼顕微鏡 - 日本語WordNet

To enable any one to simply, easily and immediately print out an enlarged image by a microscope and to view this enlarged image on the surface of a print paper.例文帳に追加

顕微鏡による拡大画像を、誰でも簡単且つ容易に、しかも直ちにプリントアウトしてその拡大画像を紙面上で見ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a culture observation system by which round dimensions of cells observed through a microscope under culture are recognized at one view.例文帳に追加

培養しながら顕微鏡によって観察される細胞を一目で大体の寸法を認識することを可能とする培養物観察システムを提供する。 - 特許庁

To provide a compact objective optical system for a microscope, the optical system having satisfactory optical performance for achieving a wide field of view at a long operation distance, and to provide a microscope that has the objective optical system and a variable power optical system.例文帳に追加

長作動距離で広視野を実現する良好な光学性能を有するコンパクトな顕微鏡用対物光学系、及び、その対物光学系と変倍光学系とを備えた顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a variable diaphragm capable of equalizing a light quantity in a view field observed through an imaging optics, and to provide a microscope having the variable diaphragm.例文帳に追加

結像光学系を介して観察される視野内の光量を均一にすることができる可変絞り及びこの可変絞りを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a cross-section observation scanning electron microscope for allowing the bright view of an observed cross section.例文帳に追加

本発明は断面観察用走査電子顕微鏡に関し、観察断面が明るく見えるような断面観察用走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a scanning method for a scanning probe microscope not narrowing a field of view for observation, reducing drastically an affect of a vibration due to a mechanical scanning system, and obtaining an image without affect of noise or distortion, and the scanning probe microscope.例文帳に追加

観察視野を狭めることなく、機械的な走査系に基づく振動の影響を著しく軽減し、ノイズや歪みの影響のない像を得ることを可能とする走査型プローブ顕微鏡における走査方法および走査プローブ顕微鏡を実現する。 - 特許庁

The movable probe apparatus comprises a probe 1 and a drive mechanism 3 which moves the probe 1 so that its tip contacts a portion of specimen 2 which is in the field of view of a microscope or its periphery or rear surface of them.例文帳に追加

プローブ1と、プローブ1を移動させてその先端を試料2の顕微鏡視野内の部位又はその周辺あるいはこれらの裏面に接触させる駆動機構3を備えている。 - 特許庁

As a tip part 38 of the operation needle 32 is applied to a sample 12, the operation needle 32 is deflected and the postion between the tip part 32 and the junction part 36 in a view of a microscope is changed.例文帳に追加

操作針32の先端部38が被検体12に対して作用すると、操作針32がたわみ先端部32と接合部36との顕微鏡視野内での位置が変化する。 - 特許庁

A control section 60 includes: a view field position adjusting section 62 that adjusts the view field position of the optical microscope 10 in order to perform the visual serveo; and an excluding drive control section 64 that exclusively controls the drive of the specimen stage 12 and the drive of the objective stage 16.例文帳に追加

制御部60は、ビジュアルサーボのために光学顕微鏡10の視野位置を調整するための視野位置調整部62と、標本ステージ12の駆動と対物ステージ16の駆動とを排他的に制御するための排他駆動制御部64とを有している。 - 特許庁

A microscope apparatus includes: an observation optical system 70 for magnifying and observing the specimen; and an illuminating device 80 for emitting spot light serving as an index when the specimen is positioned within the field of view of the observing optical system 70 or for emitting illuminating light for illuminating the inside of the field of view of the observation optical system 70.例文帳に追加

顕微鏡装置は、試料を拡大観察する観察光学系70と、試料を観察光学系70の視野内に位置させる際の指標となるスポット光、または観察光学系70の視野内を照明するための照明光を照射する照明装置80と、を備える。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of illuminating the entire field of view, using a comparatively simple structure, even if objective lens is moved so as to have a component in a direction orthogonal to an optical axis of the objective lens.例文帳に追加

対物レンズをこの対物レンズの光軸と直交方向の成分を持つように移動させても、比較的簡易な構成で、視野全体を照明することができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which can rapidly take a general view (overall picture) of an image or scan the image with high resolution advantageously in terms of a cost while selectively making such taking or scanning of the image possible.例文帳に追加

選択的に、画像の迅速な概観(全体像)、又は画像の高分解能な走査を可能にしつつ、しかもコスト的にも有利にこれを行なうことが可能な顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for putting a defect of an observational object in a view of an electron microscope, etc. without failure, and further making a scale of the apparatus small, in the method and the apparatus for observing the defect detected by an optical foreign matter inspection device or an optical visual inspection device with the electron microscope in detail.例文帳に追加

光学式異物検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡で詳細に観察する方法およびその装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ、装置規模を小さくできる方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a specimen holder for an electron microscope, to which the present invention relates, and which permits a field of view to be obtained at a tilt angle that is made as close as possible to 90° and can be manipulated easily.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡用試料ホルダーに関し、可能な限り90°に近い傾斜角度で視野を得ることができ、また操作性のよい電子顕微鏡用試料ホルダーを提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a lens barrel for an observing device, especially for a microscope, achieving various visual field positions, structural lengths and structural heights of a lens barrel to respective view angles.例文帳に追加

本発明の課題は、それぞれの視野角度に対して鏡胴の様々な視野位置もしくは構造長および構造高が実現可能である観察装置、特に顕微鏡のための鏡胴を提供することである。 - 特許庁

Concerning the dielectric porcelain composition having a main component containing barium titanate, in the case of observation with an electronic transmission microscope, this composition contains crystal grains having interference stripes more than 30% of the field of observation view.例文帳に追加

チタン酸バリウムを含む主成分を有する誘電体磁器組成物であって、透過電子顕微鏡により観察した際に、干渉縞を有する結晶粒子を観察視野の30%以上含有する。 - 特許庁

To provide a microscope for operation which facilitates the interlocking of variable power between an operator and an assistant, does not entail the upsizing of the microscope, enables the stereoscopic view of the assistant, makes the assistant's observation field the same as the operator's observation field and enables the assistant' s observation position with respect to the operators observation position in lateral positions and opposite positions.例文帳に追加

術者と助手の変倍の連動が容易で且つ顕微鏡の大型化を招くことがなく、また、助手の立体視が可能で且つ助手の観察野が術者の観察野と同一であり、更には、術者の観察位置に対する助手の観察位置が側方位置および対向位置で可能な手術用顕微鏡の提供を目的としている。 - 特許庁

A microscope for intraocular observation is designed to view an eyeball as an observation object, and includes an observation optical system for observing the interior of the eye illuminated with illumination light and a filter unit 15 mounted on the lower end of a lens barrel 16.例文帳に追加

眼球を観察の対象物とするとともに、照明光が照射された眼内を観察する観察光学系を備える眼内観察用顕微鏡であって、鏡筒16の下端部に装着されるフィルタユニット15を備える。 - 特許庁

In the component for glassy carbon CVD device, when observing a field of view of 50μm×50μm on its surface by a scanning electron microscope, at least five holes of 1-10μ in diameter exist, or the total length of a linear hole of 0.5-5μm in width is at least 50μm in the field of view.例文帳に追加

ガラス状炭素製CVD装置用部品であって、該部品の表面について、走査型電子顕微鏡を用いて観察した50μm×50μmの視野中に、直径1〜10μmの孔が、少なくとも5個存在するか、該視野中に存在する幅0.5〜5μmの線状孔の全長さが、少なくとも50μmであることを特徴とするガラス状炭素製CVD装置用部品である。 - 特許庁

To provide an electron microscope which forms an enlarged image of almost the same magnification on a monitor screen before and after switching-over when supplying to the monitor a high resolution TV camera output signal replaced with a wide view TV camera output signal.例文帳に追加

広視野TVカメラの出力信号に代わって高分解能TVカメラの出力信号をモニターへ切替えて供給しても、その切替えの前後において、モニター画面上の試料拡大像倍率がほぼ同じになるような電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an apparatus for detailed observation of defects detected by an optical defect inspection apparatus or by an optical visual inspection apparatus capable of placing a defect to be observed into the field of view of an electronic microscope or the like, without fail, and reducing the size of the apparatus.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning charged-particle microscope in which distortion of measurement, even of an insulator pattern, in the field of view can be suppressed by suppressing the impact of charging due to primary charged-particle beam irradiation during photographing, and suppressing change in the detection rate of secondary charged-particles.例文帳に追加

絶縁体パターンであっても,撮影中一次荷電粒子線照射起因帯電の影響を抑制し,二次荷電粒子の検出率の変化を抑制することにより視野内の計測歪みを抑制することのできる走査型荷電粒子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The lighting part (a lighting system) 10 used for a microscope 100 as an optical device, is structured of a light source part 20 emitting illumination light and a deflection part 30 irradiating the illumination light from the light source part 20 on an object surface O and making its illumination visual field change in accordance with an observation visual view.例文帳に追加

光学装置である顕微鏡100に用いる照明部(照明装置)10を、照明光を放射する光源部20と、この光源部20からの照明光を物体面Oに照射するとともに、その照明視野を、観察視野に対応して変化させる偏向部30と、から構成する。 - 特許庁

The image processor is equipped with a means for successively obtaining enlarged images of a sample in the same field of view from a microscope, a means for integrating plurality of the images successively obtained to form an integrated image and a means for superimposing the integrated images on the next one at a matching position to integrate them.例文帳に追加

顕微鏡から試料の拡大した同一の視野の画像を順次取得する手段と、順次取得した画像について、所定の複数毎を積算して積算画像を生成する手段と、積算画像と次の積算画像とをマッチングする位置で重ねて積算する手段とを備えるように構成する。 - 特許庁

In a micromanipulation system for applying micro manipulation to an object within the view of a microscope by using a micro needle, positions of the object and an objective lens are relatively moved to detect a position where the object is focused, in accordance with movement, and the movement of a object moving means is controlled on a basis of a detection result.例文帳に追加

顕微鏡の視野内で被検体に対して微小針を用いて微細操作を行うマイクロマニピュレーションシステムは、被検体と対物レンズとの位置を相対的に移動させ、この移動に応じて前記被検体に焦点の合う位置を検出し、この検出結果に基づいて、前記被検体移動手段の動作を制御することにより、上記課題の解決を図る。 - 特許庁

例文

The charged particle beam microscope acquires a plurality of frame images by scanning the field of view of the sample (S304, 305), adds the images together (S307), computes the dimensions of the pattern formed on the sample (308), and at the same time acquires pattern information (314) using a separated image (309, 310) composed of a single frame image comprising a frame image, a subframe image, and the like.例文帳に追加

荷電粒子線顕微鏡において、試料の観察視野を走査して得られたフレーム画像を複数枚取得し(S304、S305)、それらの画像を積算し(S307)、試料上に形成されたパターンの寸法を算出(S308)すると共に、フレーム画像を構成する1フレーム画像またはサブフレーム画像等からなる分別画像(S309,S310)を用いてパターン情報を取得する(S314)。 - 特許庁




  
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