| 意味 | 例文 |
pattern failureの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 466件
FAILURE PATTERN ESTIMATION METHOD, FAILURE PATTERN ESTIMATION DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加
故障パターン推定方法、故障パターン推定装置及びプログラム - 特許庁
LSI TEST PATTERN FAILURE ANALYSIS SUPPORT SYSTEM例文帳に追加
LSIテストパターン不良解析支援システム - 特許庁
PATTERN FAILURE PREDICTING APPARATUS, SUBSTRATE PROCESSING SYSTEM, PATTERN FAILURE PREDICTING PROGRAM, AND INFORMATION RECORDING MEDIUM例文帳に追加
パターン不良予測装置、基板処理システム、パターン不良予測プログラム、及び情報記録媒体 - 特許庁
FAILURE LIST AND TEST PATTERN PREPARATION DEVICE, FAILURE LIST AND TEST PATTERN PREPARATION METHOD, FAILURE LIST PREPARATION AND FAILURE DETECTION RATE CALCULATION DEVICE, AND FAILURE LIST PREPARATION AND FAILURE DETECTION RATE CALCULATION METHOD例文帳に追加
故障リスト及びテストパターン作成装置、故障リスト及びテストパターン作成方法、故障リスト作成及び故障検出率算出装置、及び故障リスト作成及び故障検出率算出方法 - 特許庁
A network failure detection apparatus 1 is configured such that a header failure detection unit 11 detects a traffic failure based on the degree of failure in a header pattern and a traffic failure threshold, a data failure detection unit 12 detects a data failure based on the degree of failure in a data pattern and a data failure threshold, and a failure determination unit 25 determines a packet failure based on the traffic failure and the data failure.例文帳に追加
ネットワーク異常検知装置1は、ヘッダ異常検知部11により、ヘッダパターンの異常度合いとトラフィック異常閾値とに基づいてトラフィック異常を検知すると共に、データ異常検知部12により、データパターンの異常度合いとデータ異常閾値とに基づいて、データ異常を検知し、その後、異常判断部25により、トラフィック異常と、データ異常とに基づいて、パケットの異常を判断する。 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATION, FAILURE DETECTION RATE CALCULATING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION, AND FAILURE DETECTION RATE CALCULATION METHOD例文帳に追加
テストパターン作成及び故障検出率算出装置並びにテストパターン作成及び故障検出率算出方法 - 特許庁
A first pattern A is finally displayed after the variable display of the first pattern A and a winning/failure pattern B.例文帳に追加
第1図柄A及び当否図柄Bを変動表示した後に第1図柄Aを確定表示する。 - 特許庁
A success/failure determination pattern select means selects a success/failure determination pattern to make a pattern combination conformable to the result of the success/failure lottery by combination with the preceding and stopping pattern among the above pattern types after the preceding and stopping pattern is selected.例文帳に追加
当否決定図柄選択手段は、先行停止図柄が選択された後、該先行停止図柄と組み合わされて当否抽選の結果と合致する図柄組合せを作る当否決定図柄を前記図柄種類のなかから選択する。 - 特許庁
The test pattern generation means generates the test pattern through the use of the undetected failure list.例文帳に追加
テストパターン生成手段は、未検出故障リストを用いてテストパターンを生成する。 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATION DEVICE, CONTROL METHOD OF TEST PATTERN GENERATION DEVICE, AND FAILURE DETECTION DEVICE例文帳に追加
テストパターン生成器、テストパターン生成器の制御方法、および、故障検出装置 - 特許庁
PATH DELAY FAILURE SIMULATOR AND AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATING SYSTEM例文帳に追加
パス遅延故障シミュレータおよび自動テストパターン生成装置 - 特許庁
The vehicle failure diagnosis device 10 compares the received history of the learned values with a failure pattern read from a failure pattern DB 12, and predicts a failure time of the vehicle control system.例文帳に追加
また、車両故障診断装置10は、受信した学習値の履歴と故障パターンDB12から読み出した故障パターンとを比較し、車両制御系の故障時期を予測する。 - 特許庁
An outlet temperature pattern 8 based on failure data is associated with a failure mode and a failure cause in advance, and the outlet temperature pattern 8 is compared with the outlet temperature pattern 8 during operation so as to forecast a failure.例文帳に追加
故障データーを基に出口温度パターン8を故障モード及び故障原因と予め関係づけておき、その出口温度パターン8を基準にして、運転中の出口温度パターン8を対比し故障を予知する。 - 特許庁
To detect an insulation failure of an electrode pattern in a short time.例文帳に追加
短時間で電極パターンの絶縁不良部を検出する。 - 特許庁
If there is a matching failure pattern, a message of content registered in association with the failure pattern is sent to a registered destination (S1006, S1109, S1010).例文帳に追加
その結果、一致すれば、障害パターンに対応付けて登録された内容のメッセージを、登録された宛先に送信する(S1006,S1109,S1010)。 - 特許庁
In the case of failure, a failure picture pattern is displayed in a special picture pattern display area 9A and a determined picture pattern not matching left, right and middle picture patterns is displayed in a decorative picture pattern display area 9B.例文帳に追加
はずれ時には、特別図柄表示エリア9Aにはずれ図柄が表示され、飾り図柄表示エリア9Bには左右中図柄が一致していない確定図柄が表示される。 - 特許庁
In failure, a failure pattern is displayed in a special pattern display area 9A and a definite pattern in which left, right, and middle patterns are not matched with one another is displayed on a decorative pattern display area 9B.例文帳に追加
はずれ時には、特別図柄表示エリア9Aにはずれ図柄が表示され、飾り図柄表示エリア9Bには左右中図柄が一致していない確定図柄が表示される。 - 特許庁
In the case of failure, a failure picture pattern is displayed in a special picture pattern display area 9A and a determined picture pattern not matching left, right and middle picture patterns is displayed on a decorative picture pattern display area 9B.例文帳に追加
はずれ時には、特別図柄表示エリア9Aにはずれ図柄が表示され、飾り図柄表示エリア9Bには左右中図柄が一致していない確定図柄が表示される。 - 特許庁
To provide a test pattern preparation device, a test pattern preparation method, a failure detection rate calculation device, and a failure detection rate calculation method for preparing a test pattern for highly precisely detecting the bridge failure of an LSI.例文帳に追加
LSIのブリッジ故障を高精度に検出するテストパターンを作成できるテストパターン作成装置、テストパターン作成方法、故障検出率算出装置故障検出率算出方法を提供する。 - 特許庁
To prevent film reduction of a resist and the occurrence of failure in a resist pattern.例文帳に追加
レジストの膜減り及びレジストパターンの不良の発生を防止する。 - 特許庁
METHOD FOR SORTING FAILURE PATTERN AND FOR CALCULATING YIELD LOSS例文帳に追加
失敗パターンを分類し並びに歩留まり損失を計算する方法 - 特許庁
The test pattern generation method, test pattern generation system, and test pattern generation device generate the test pattern through the use of a failure simulation execution means for executing failure simulation, and a test pattern generation means for generating the test pattern.例文帳に追加
テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置において、故障シミュレーションを実行する故障シミュレーション実行手段と、テストパターンを生成するテストパターン生成手段とを用いて、テストパターンを生成する。 - 特許庁
A logic operation conversion judging part 124 judges whether a plotting instruction matches a failure pattern, and when the plotting instruction matches the failure pattern, registers the ROP code of the plotting instruction being the start point for conversion and the classification of the instruction as a failure pattern into a failure pattern storing part 127.例文帳に追加
論理演算変換判定部124は、描画命令が、失敗パターンと一致するかを判定し、失敗パターンと一致するときには、変換を行なうための起点となった描画命令のROPコードと命令種別を失敗パターンとして失敗パターン記憶部127に登録する。 - 特許庁
To easily and surely relieve a wiring pattern from an opening failure.例文帳に追加
配線パターンのオープン不良を簡易かつ確実に救済可能とする。 - 特許庁
Afterwards, when restoring the power failure, the main control device reads the pattern just before the power failure from the RAM, and outputs the pattern to a display control device.例文帳に追加
この後、停電が復帰すると、メイン制御装置がRAMから停電直前の図柄を読出し、表示制御装置に出力する。 - 特許庁
To provide a failure pattern estimation method capable of estimating a failure pattern that is likely to occur in a vehicle, with high accuracy.例文帳に追加
車両に発生している可能性の高い故障パターンを、高い精度で推定することができる故障パターン推定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a pattern verifying method which precisely and easily verifies processing failure of a pattern caused by a pattern shape.例文帳に追加
パターン形状に起因するパターンの加工不良を正確かつ容易に検証できるパターン検証方法を提供すること。 - 特許庁
To detect bridge failure, without having to use additional test pattern for detecting bridge failure and reduce omissions of bridge failure detection.例文帳に追加
ブリッジ故障検出用の追加的なテストパタンを用いることなくブリッジ故障の検出を可能とし、また、ブリッジ故障の検出漏れを減らす。 - 特許庁
When the presentation is apportioned as the special failure presentation, a specific pattern is selected from a plurality of kinds of special failure presentations.例文帳に追加
特殊外れ演出への振分け時、複数種類の特殊外れ演出パターンから特定パターンを選択する。 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATION METHOD FOR FAILURE VERIFICATION AND ITS DEVICE, FAILURE VERIFICATION METHOD AND ITS DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加
故障検証用テストパターン生成方法及びその装置、故障検証方法及びその装置、並びにプログラム - 特許庁
To improve failure in a metal pattern in a multiple metal wiring structure.例文帳に追加
多重金属配線構造において金属パターンの不良を改善する。 - 特許庁
Whether medium information read from a boarding medium coincides with the failure occurrence pattern stored in the storage means is determined, and, when it is determined that the medium information coincides with the failure occurrence pattern, a failure avoidance action designated by the failure prevention rule corresponding to the failure occurrence pattern is executed.例文帳に追加
乗車媒体から読み取った媒体情報が記憶手段に記憶されている障害発生パターンと一致するか否かを判定し、媒体情報と障害発生パターンとの一致を判定した場合に、当該障害発生パターンに対応する障害防止ルールで指定された障害回避アクションを実行する。 - 特許庁
A special pattern display device 7 is provided for determining and displaying a big prize pattern or a failure pattern excluding the big prize pattern for the special profit setting purpose of a player after variation display of a judgement pattern which makes judgement of success/failure.例文帳に追加
当りはずれの判定を行うための判定図柄を変動表示した後、遊技者に特別の利益を設定する大当り図柄または大当り図柄以外のはずれ図柄を確定表示する特別図柄表示装置7を備える。 - 特許庁
To provide a failure detection circuit and a failure detection method capable of easily detecting the failure with a test pattern prepared in a memory BIST circuit.例文帳に追加
メモリBIST回路が持つテストパターンにより容易に故障検出することが可能な故障検出回路、および故障検出方法を提供する。 - 特許庁
A failure assuming part 105 generates a failure list 106 in a form to exclude the failure which is not detected by the test pattern 102, based on the toggle information 104.例文帳に追加
故障仮定部105は、そのトグル情報104から、テストパターン102では検出できない故障を除外する形で故障リスト106を生成する。 - 特許庁
To provide a device for preparing the test pattern of a logic circuit capable of obtaining a high rate of failure detection with a compact test pattern.例文帳に追加
コンパクトなテストパターンで高い故障検出率を得る論理回路のテストパターン作成装置を提供する。 - 特許庁
At power failure time, a backup power source is impressed on a RAM of a main control device, and a pattern just before the power failure is backed up.例文帳に追加
停電時にはメイン制御装置のRAMにバックアップ電源が印加され、停電直前の図柄がバックアップされる。 - 特許庁
To provide a droplet discharge apparatus capable of reducing drawing failure of a pattern.例文帳に追加
パターンの描画不良を無くすことができる液滴出装置を提供する。 - 特許庁
A pattern storage means 103 holds an expansion type variable pattern including a presentation mode of presenting a pattern candidate which is at least one pattern among patterns constituting a pattern combination showing the result of success/failure lottery in a success/failure lottery means 112.例文帳に追加
パターン記憶手段130は、当否抽選手段112における当否抽選の結果を示す図柄組合せを構成する図柄のうち少なくともひとつの図柄となる図柄候補が提示される演出態様が含まれた拡張型変動パターンを保持する。 - 特許庁
To reduce the size of a test pattern almost without lowering a failure detection rate.例文帳に追加
故障検出率を殆ど下げることなく、テストパターンのサイズを大幅に削減する。 - 特許庁
To provide a pattern determining method that facilitates quickly determining whether a processing failure occurs, prior to pattern formation.例文帳に追加
加工不良となるか否かをパターン形成前に容易かつ迅速に判定するパターン判定方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a failure simulation device with which a test pattern is evaluated from the viewpoint of a strength failure generated in an element.例文帳に追加
素子に発生する強度故障の観点からテストパターンを評価することが可能な故障シミュレーション装置を提供する。 - 特許庁
To provide a positive resist composition for suppressing failure of a pattern, when resolving a minute pattern, and to provide a pattern forming method using it.例文帳に追加
微細なパターンを解像しようとするときのパターン倒れを抑制したポジ型レジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁
A test pattern for failure verification, comprising the input test pattern and the expectation value test pattern, thus generated, is used to verify the logic circuit.例文帳に追加
このようにして生成された入力テストパターンおよび期待値テストパターンからなる故障検証用テストパターンを用いて論理回路の検証を行う。 - 特許庁
The random number value for selecting the variable pattern is used for drawing a win variable pattern (refer to ST 67 in Figure 19) and drawing a failure variable pattern (ST 76 and 80).例文帳に追加
変動パターン選択用乱数値は、当たり変動パターンの抽選(図19,ST67参照)、ハズレ変動パターンの抽選(ST76,80)に用いられる。 - 特許庁
A failure of an internal circuit having a possibility of causing a failure in an inspection using a test pattern is extracted as a preliminary suspectable failure by a preliminary suspectable failure extraction means 102, and a failure simulation is executed to the preliminary suspectable failure by a failure certification means 104, to thereby detect candidates of the internal circuit failure causing each failure in the inspection.例文帳に追加
テストパターンを用いた検査におけるフェイルの原因となる可能性のある内部回路の故障を初期被疑故障抽出手段102により初期被疑故障として抽出し、この初期被疑故障に対して故障検証手段104により故障シミュレーションを実施して検査における各フェイルの原因となる内部回路故障の候補を検出する。 - 特許庁
INSPECTION DEVICE OF FILM CARRIER TAPE FOR ELECTRONIC COMPONENT MOUNTING, AND METHOD FOR CONFIRMING PATTERN FAILURE例文帳に追加
電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置およびパターン不良の確認方法 - 特許庁
METHOD OF DETECTING FAILURE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF GENERATING DC TEST PATTERN例文帳に追加
半導体集積回路の故障検出方法およびDCテストパターン発生方法 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a semiconductor device, capable of preventing pattern failure.例文帳に追加
パターン不良を抑制することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING FAILURE AND DEFECT OF ROUGH PATTERN TRANSFERRED FROM ORIGINAL OF NANO IMPRINT LITHOGRAPHY例文帳に追加
ナノインプリントリソグラフィの原版から転写された凹凸パターンの欠損欠陥修正方法 - 特許庁
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