「pattern failure」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

Also, when it is determined that a left pattern to be a complete failure is identical to the determined selection pattern selected by the operation button 66 (S210: YES), drawing is performed to determine whether or not a final stop pattern is acquired again (S211).例文帳に追加

また、完全ハズレとなる左図柄が操作ボタン６６により選択された確定選択図柄と同じであると判断した場合には（Ｓ２１０：ＹＥＳ）、最終停止図柄を再取得するか否かの抽選を行う（Ｓ２１１）。 - 特許庁

To provide a printer system capable of preventing pattern failure due to changing of a volume of a bracket fixed to a printing roll and to provide a pattern forming method capable of forming a precise pattern by using that.例文帳に追加

印刷ロールに取り付けられたブラケットの体積が変わることによるパターン不良を防止することができる印刷装置システム、及びこれを用いて精密なパターンを形成することができるパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

It is sufficient that the main control device 30 determines a big prize pattern or a failure pattern which is formed by a single symbol as a determination pattern, so its load in processing is reduced as compared with the case of deciding a combination of three symbols.例文帳に追加

主制御装置３０は単一の図柄で構成される大当たり図柄又は外れ図柄を確定図柄として決めればよいので、例えば３つの図柄による組合せを決める場合に比べて処理上の負担が減る。 - 特許庁

When it is determined that a left pattern to become a complete failure is determined to be the same as a determined selection pattern selected by the operation button 66 (S210: YES), drawing is performed to determine whether or not to acquire a final stop pattern again (S211).例文帳に追加

そして、また、完全ハズレとなる左図柄が操作ボタン６６により選択された確定選択図柄と同じであると判断した場合には（Ｓ２１０：ＹＥＳ）、最終停止図柄を再取得するか否かの抽選を行う（Ｓ２１１）。 - 特許庁

When both range signal patterns RngBufPos[0], RngBufPos[m] are coincident with the range signal pattern in failure, it is investigated whether or not the range signal of the contact for outputting the coincident range signal pattern is varied (S44), and when it is not varied, it is determined as a failure.例文帳に追加

そして両レンジ信号パターンＲｎｇＢｕｆＰｏｓ[0]，ＲｎｇＢｕｆＰｏｓ[m]が故障時レンジ信号パターンと一致ししているときは、一致したレンジ信号パターンを出力する接点のレンジ信号が変化しているか否かを調べ（Ｓ４４）、変化していないときは、故障と判定する。 - 特許庁

A BIST circuit 3 which tests the logic circuit 4 under test comprises a control circuit 11, a test pattern generation circuit 12, a first pattern generation circuit 13, a second pattern generation circuit 14, a signal compression pattern generation circuit 15 and a failure detection analysis circuit 16.例文帳に追加

被テスト回路である論理回路４をテストするＢＩＳＴ回路３には、制御回路１１、テストパターン発生回路１２、第１のパターン生成回路１３、第２のパターン生成回路１４、信号圧縮パターン生成回路１５、及び故障検出解析回路１６が設けられる。 - 特許庁

In a game machine which generates big winning when patterns on an effective line set at a special pattern display device 4 are equalized, in the case of the failure of ready, a left pattern and a right pattern start reverse variation (1) and a medium pattern starts reverse variation similarly to the left and right patterns (2) after this.例文帳に追加

特別図柄表示装置４に設定された有効ライン上の図柄が揃った場合に大当りとなる遊技機において、リーチはずれとなった場合に左図柄と右図柄とが逆転変動しはじめ（１）、遅れて、中図柄が左右図柄と同様にして逆転変動しはじめる（２）。 - 特許庁

Accordingly, by applying electric voltage to the first test pattern, and analyzing the difference between resistance in cases with and without metal failure in the metal patterns, a form or a size of the metal failure is detected.例文帳に追加

これにより、前記第１テストパターンに電圧を印加して、前記金属パターンの金属フェイルがない場合とある場合との抵抗差異を分析して、金属フェイルの形態やサイズを検出することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for improving the precision of failure analysis by detaledly discussing validity and effectiveness of a test pattern in practical chips, and to provide its failure analysis method.例文帳に追加

実際のチップにおいてテストパターンの妥当性と有効性を詳細に検討でき、不良解析の精度を向上させることができる半導体装置およびその不良解析方法を実現する。 - 特許庁

To relax a dot defect in appearance when a pixel is caused to be the dot defect due to pattern failure or the like in a liquid crystal display device.例文帳に追加

液晶表示装置において、画素がパターン不良等で点欠陥になった場合に、その点欠陥の見え方を緩和させる。 - 特許庁

When the value of the win/failure random number agrees with a big win number, a performance pattern for the win is selected and its performance operation is executed.例文帳に追加

当否乱数の値が、大当り番号と一致している場合は、当り用の演出パターンを選択しその演出動作を行う。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a molded body with a fine pattern on its surface, while adequately preventing wrinkles and transfer failure.例文帳に追加

皺や転写不良の発生を充分に抑えることができる、微細パターンを表面に有する成型体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To prevent failure of a resist pattern in using a barrier film containing nano-particles consisting of an inorganic oxide for liquid immersion lithography.例文帳に追加

液浸リソグラフィに無機酸化物からなるナノ粒子を含む液体を用いる際のレジストパターンのパターン不良を防止できるようにする。 - 特許庁

To prevent failure of a resist pattern in using a barrier film containing nano-particles consisting of an inorganic oxide for a liquid immersion lithography.例文帳に追加

液浸リソグラフィに無機酸化物からなるナノ粒子を含むバリア膜を用いる際のレジストパターンのパターン不良を防止できるようにする。 - 特許庁

To provide a test pattern preparation device for reducing test patterns for an LSI (Large-Scale Integration) tester without lowering the rate of failure detection.例文帳に追加

故障検出率を低下させずに、ＬＳＩテスタ用テストパターンを削減することが可能なテストパターン作成装置を提供すること。 - 特許庁

Then, if a change in the leakage current is detected, a region is identified where the insulation failure occurs in the insulative region of the pattern.例文帳に追加

そして、漏れ電流の変化を検出すると電極パターンの絶縁部のうち絶縁不良が発生している部位であると特定する。 - 特許庁

To provide a photomask and a method for manufacturing the photomask capable of suppressing reading failure of a mark pattern when a fine pattern figure is formed on a process object by using a transfer pattern composed of a semi-transmitting part and a light-transmitting part.例文帳に追加

半透光部と透光部で形成される転写パターンを用いて、被加工体に微細なパターン形状を形成する場合に、マークパターンの読み取り不良を抑制できるフォトマスク及びその製造方法を提供することを目的の一とする。 - 特許庁

To provide an actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition allowing formation of a pattern in which pattern collapse is suppressed, which hardly induces development failure and exhibits excellent stability with lapse of time, and also to provide a method for forming a pattern, using the composition.例文帳に追加

パターン倒れが抑制され、かつ現像不良が発生しにくく、更に経時安定性に優れたパターンを形成することが可能である感活性光線又は感放射線樹脂組成物、及びそれを用いたパターン形成方法を提供すること。 - 特許庁

When a pattern corresponding to a "success" is displayed in the display part, or when the last reserved random number is determined to be a "failure" and a pattern corresponding to the "failure" is stopped/displayed in the display part, pachinko balls are shot to the game area according to the turning operation of the control handle.例文帳に追加

表示部に「当たり」に対応した図柄が表示されるか、又は保留されていた最後の乱数が「はずれ」と判定され、表示部に「はずれ」に対応した図柄が停止表示されると、操作ハンドルの回動操作に伴ってパチンコ球を遊技領域に発射させる。 - 特許庁

When the result of performance of a display game is in a failure display mode and a notice pattern 1331 appears, a redisplaying game associated with the concealed pattern 1332 is executed by changing the notification pattern 1331 to a concealed pattern 1332, concealing one of identification information by the concealed pattern 1332, and leading out identification information again in an empty area.例文帳に追加

表示遊技の実行結果が外れ表示態様であって予告図柄１３３１が出現したとき、この予告図柄１３３１を隠蔽図柄１３３２に変更し、該隠蔽図柄１３３２で識別情報の何れかを隠蔽し、空き領域で新たに識別情報を導出して、隠蔽図柄１３３２に関連した再表示遊技を実行する。 - 特許庁

Symbol variation determination means 115 refers to the first variation pattern table when non-satisfying predetermined adjustment conditions by a win/failure lottery value retained in retention control means 116, after satisfying the adjustment conditions, refers to the second variation pattern table and selects the variation pattern of the symbols corresponding to the win/failure lottery value.例文帳に追加

図柄変動決定手段１１５は、保留制御手段１１６において保留された当否抽選値により所定の調整条件が充足されない間は第１の変動パターンテーブルを参照し、その調整条件が充足された以降は第２の変動パターンテーブルを参照して、当否抽選値に対応する図柄の変動パターンを選択する。 - 特許庁

To certainly extract a failure of a wiring pattern, and to increase the yield by enabling determination of a good article when the degree of deformation of the wiring pattern is a degree where a practical problem does not occur.例文帳に追加

配線パターンの不良を確実に抽出し、配線パターンの変形の程度が実用上で問題を生じない程度であるときには良品と判断できるようにして歩留まりを高める。 - 特許庁

To provide the inspection system of an electronic device for inspecting the presence of a connection failure of a circuit pattern such as a semiconductor package, by measuring the return loss of the circuit pattern by an incidence signal from a resonator.例文帳に追加

共振器からの入射信号による回路パターンのリターンロスを測定して、半導体パッケージなどの回路パターンの接続不良有無を検査する電子デバイスの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a design method of a dummy pattern capable of suppressing operation failure which is caused by a parasitic resistance of a metal wiring pattern PT of a semiconductor integrated circuit device, while suppressing increase in chip area.例文帳に追加

チップ面積の増大を抑えつつ半導体集積回路装置の金属配線パターンＰＴの寄生抵抗に起因する動作不良を抑制可能なダミーパターンの設計方法を提供する。 - 特許庁

The first pattern generation part 114 inputs a first pattern in a first semiconductor chip D (ST152), and a first determination part 116 determines a failure and propriety of the first semiconductor chip D (ST154).例文帳に追加

第１パターン発生部１１４が第１パターンを第１半導体チップＤに入力し（ＳＴ１５２）、第１判定部１１６が第１半導体チップＤの不良可否を判断する（ＳＴ１５４）。 - 特許庁

Specific variation patterns are intentionally set when a failure readiness to win is judged when a time shortening mode is valid, a variable display is made in a specific display pattern corresponding to the specific variation pattern.例文帳に追加

時間短縮モードの有効状態で外れリーチが判定されたときには特定の変動パターンが作為的に設定され、特定の変動パターンに応じた特定の表示パターンで可変表示が行われる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device including a dummy pattern which attains an excellent effect in improving a process failure caused by a pattern dependency in a planarization process or an etching process, and also to provide a method of manufacturing the semiconductor device.例文帳に追加

平坦化工程またはエッチング工程でのパターン依存性に起因した工程不良を改善する効果に優れたダミーパターンを含む半導体素子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

The tables for determining failure variation pattern types have different determination values allocated for variation pattern types including variation patterns for other than the super ready-to-win status according to the total count of saved prize ball data.例文帳に追加

また、はずれ用変動パターン種別判定テーブルは、スーパーリーチ以外の変動パターンを含む変動パターン種別に対しては、合算保留記憶数に応じて異なる判定値が割り当てられている。 - 特許庁

On the other hand, the second pattern generation part 124 inputs a second pattern in a second semiconductor chip F (ST162), and a second determination part 126 determines a failure and propriety of the second semiconductor chip F (ST164).例文帳に追加

一方、第２パターン発生部１２４が第２パターンを第２半導体チップＦに入力し（ＳＴ１６２）、第２判定部１２６が第２半導体チップＦの不良可否を判断する（ＳＴ１６４）。 - 特許庁

To provide a method for forming a fine pattern of a semiconductor element which can prevent failure of a photoresist pattern such as undercutting and footing which are to be caused by mutual mixing between an organic antireflection film and photoresist.例文帳に追加

有機反射防止膜とフォトレジストとの間の相互混合によるアンダーカッティングやフッティングのようなフォトレジストパターンの不良を防止できる半導体素子の微細パターンの形成方法を提供する。 - 特許庁

A sixth process performs the failure simulation by switching to the test pattern acquired in the fourth process while using the prescribed test pattern to the correcting circuit at timing corresponding to the undetected failures .例文帳に追加

第６の工程は、修正回路に対して所定のテストパターンを用いながら未検出故障相当のタイミングでは第４の工程で求めたテストパターンに切り換えて故障シミュレーションを行う。 - 特許庁

The striking-through and the failure of the color tone can be prevented from being generated by injecting the ink on a blanket roll from an ink-jet mechanism to form a pattern and increasing the viscosity of the ink and transferring the pattern on the paper from the blanket roll.例文帳に追加

インキジェット機構からインキをブランケットロールに射出し、絵柄を形成して、インキの粘度を増して、ブランケットロールから用紙に絵柄を転写することで、裏抜けや色調不良を防ぐ。 - 特許庁

The pattern display means 21, when the big win symbols Za are displayed on the pattern show a display means in the formation of the ready-to-win, is controlled to display identifying the big win symbols Za from failure symbols.例文帳に追加

図柄表示手段２１は、リーチ形成時に図柄表示手段に大当り図柄Ｚａが表示されたときに、その大当り図柄Ｚａをハズレ図柄と識別する表示を行うように制御される。 - 特許庁

Ordering 1303 of the likeliness of the occurrence of a failure and weighting of failures are executed in consideration of physical information of a mask pattern in a chip and actual performances of a cell and a functional block, thereby performing highly accurate and efficient failure inspection 1306 and laying out based on an actual failure.例文帳に追加

チップ内におけるマスクパターンの物理的な情報、また、セルや機能ブロックの実績を考慮して、故障の起こりやすさの順番づけ１３０３及び故障の重みづけを行ない、実際の故障に基づく高精度かつ高効率の故障検査１３０６やレイアウトを行なう。 - 特許庁

To enable highly accurate and effective failure inspection based on an actual failure, and laying out, and contribute to reducing failures such as an initial failure, in consideration of physical information of a mask pattern in the chip of a semiconductor integrated circuit, and actual performances of a cell and a functional block.例文帳に追加

半導体集積回路のチップ内におけるマスクパターンの物理的な情報、セルや機能ブロックの実績を考慮し、実際の故障に基づく高精度かつ高効率の故障検査やレイアウトを行なう事を可能として、初期不良などの故障の低減に寄与できるようにする。 - 特許庁

When detecting that the failure occurs in the computer, a failure information extraction part 132 extracts a failure pattern including an error number, a message ID, an object, and an event from a system log 141 and an operation information log 142 in reference to an extraction condition table 145.例文帳に追加

コンピュータに障害が発生したことを検出すると、障害情報抽出部１３２が、システムログ１４１及び稼働情報ログ１４２から、抽出条件テーブル１４５を参照して、エラー番号、メッセージＩＤ、オブジェクト、及びイベントからなる障害パターンを抽出する。 - 特許庁

A basic conceptual drawing for the protective relay system is constituted by relay operations 10-1 to 10-n for deciding failure by a system electric quantity from a bus 6, a relay operation output pattern state change detection means 11, a system failure recognizing means 12, and a failure mode deciding means 13.例文帳に追加

本発明の保護継電装置の基本概念図であり、バス６よりの系統電気量により事故判定を行うリレー演算１０−１〜１０−ｎ、リレー演算出力パターン状変検出手段１１、系統の故障認識手段１２、故障モード判定手段１３から構成される。 - 特許庁

Thus, since it becomes clear that the established patterns are the ones immediately before the power failure, the joy of acquiring big winning is fully obtained in the case that a big winning pattern is displayed when the power failure is restored and the reduction in the fun of the game due to the influence of the power failure is prevented from occurring.例文帳に追加

このため、当該確定図柄が停電直前のものであることが明確になるので、停電の復帰時に大当り図柄が表示された場合に大当りを獲得した喜びが十分に得られ、停電の影響で遊技のおもしろさが削がれることを防止できる。 - 特許庁

Further, when it is determined that some failure exists, correlation between a frequency analysis result of data next to the maximum peak of the failure component and an abnormal-noise frequency pattern predetermined for each failure cause is evaluated to estimate possible causes based on the evaluation result.例文帳に追加

さらに、異常ありと判定した場合には、異常成分の最大ピーク付近のデータを周波数分析した結果と、予め各異常原因ごとに求めておいた異音周波数パターンとの相関を評価し、その評価結果に基づいて異常の原因を推定する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for analyzing a failure which can easily specify the position of a failure portion obtained from the rear surface side of a wafer on a wiring pattern image obtained from the front surface side.例文帳に追加

ウェハの裏面側から取得した故障箇所の位置を、表面側から取得した配線パターン像上で特定することが容易に可能な故障解析装置および故障解析方法を提供する。 - 特許庁

Further, by evaluating correlation with read-write test results in advance, a final failure part may be specified upon the inspection and measurement of the pattern cross sectional shape to prevent the generation of failure in advance.例文帳に追加

さらに、リードライトテスト結果との相関を予め評価しておくことにより、パターン断面形状の検査・測定時に最終的な不良箇所の特定を可能とし、不良の発生を事前に防止することができる。 - 特許庁

To provide an attaching structure of parts to a printed circuit board in which sufficient bonding strength can be obtained without any occurrence of connecting failure or peeling failure of a pattern even when force is applied to the part and without being mounted as inclined.例文帳に追加

部品に力が加わっても接続不良やパターンの剥離不良が発生せず、部品が傾いて取り付けられることがなく、十分な接合強度が得られるプリント基板への部品の取付構造を提供する。 - 特許庁

By determining the failure of the position sensor by using the variation pattern of the "on signal" or the "off signal", when the manual valve has four selection ranges, the failure of the position sensor is determined by three switches S1, S2, and S3.例文帳に追加

「オン信号」または「オフ信号」の変化パターンを用いてポジションセンサの故障を判定することにより、マニュアルバルブが四つの選択レンジを有するとき、三つのスイッチＳ１、Ｓ２、Ｓ３でポジションセンサの故障が判定される。 - 特許庁

One normal symbol variation pattern is determined from a plurality of normal symbol variation patterns for failure/short normal symbol winning according to common processing, when normal symbol failure is determined and when short normal symbol winning is determined.例文帳に追加

また、普図ハズレと決定されているときとショート普図当りと決定されているときとで、共通の処理に従って、複数のハズレ／ショート普図当り用の普図変動パターンの中から１つの普図変動パターンを決定する。 - 特許庁

To solve the problem of the presence of a pattern where a short-circuit failure is not detected during main bit line leakage inspection to screen an initial short-cirucit failure in a semiconductor storage device constituted of a memory array where main bit lines intersect each other.例文帳に追加

主ビット線を交差させたメモリアレイ構成をとる半導体記憶装置において、初期短絡故障をスクリーニングするための主ビット線リーク検査で、短絡故障を検出できないパターンが存在する。 - 特許庁