1153万例文収録!

「pattern failure」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > pattern failureの意味・解説 > pattern failureに関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

pattern failureの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 466



例文

To provide a pressing member for an LED substrate capable of preventing falling-off of a power feeding lead wire from a terminal of a circuit pattern and capable of avoiding lighting failure of an LED even if it is used for a long period.例文帳に追加

給電リード線が回路パターンのターミナルから外れるのを防止し、長期間使用してもLEDが点灯不能になるのを回避するLED基板押さえ部材を提供する。 - 特許庁

Such a failure is prevented that the position of the registration pattern for inspection is erroneously detected, irrespective of dust and dirt on the intermediate transfer belt 5, consequently, the image position is accurately and stably corrected.例文帳に追加

中間転写ベルト5上に傷や埃などがあっても、検査用レジストパターンの位置を誤って検出することはなくなるので、正確な画像位置補正が安定的にできる。 - 特許庁

To provide an image pickup device capable of performing good smear compensation not to generate a failure such as generation of a new fixed pattern noise even when a pixel fault exists in a vertical OB.例文帳に追加

垂直OBに画素欠陥が存在しても、新たな固定バターンノイズの発生などの不具合を生じさせない良好なスミア補正を行うことができる撮像装置を提供する。 - 特許庁

A method collects an RLF report together with a related connection pattern and a location report (S10), and identifies a travel path crossing a cell edge where a radio link failure occurs (S20).例文帳に追加

当該方法は、関連する接続パターン及び位置報告と共にRLF報告を収集し(S10)、無線リンク障害が生じているセル端を横切る走行路を識別する(S20)。 - 特許庁

例文

To provide a structure and a method for manufacture and inspection for suppressing product failure and degradation in product quality caused by a dummy electrode pattern in an electrooptical device.例文帳に追加

電気光学装置におけるダミー電極パターンに起因する製品不良や製品品位低下を抑制することのできる構造及び製造方法並びに検査方法を提供する。 - 特許庁


例文

A failure detection system includes in a portable terminal an acceleration sensor and a shock database for storing a shock pattern that is a time change of acceleration at the time of reception of a shock or oscillation.例文帳に追加

障害検出システムは、携帯端末に加速度センサと、衝撃あるいは振動を受けたときの加速度の時間変化である衝撃パターンを格納する衝撃データベースとを備える。 - 特許庁

To prevent omission of a function coverage item in the logic circuit function verification function of a system LSI using a random test pattern and a function coverage and the overlook of any failure accompanying the omission.例文帳に追加

ランダムなテストパターンと機能カバレッジを利用したシステムLSIの論理回路機能検証機能における機能カバレッジアイテムの抜け、また、これに伴う不具合の看過を防止する。 - 特許庁

To provide a failure verification device verifying a test pattern related to a fault caused by a delay and shortening the time required for a fault verification.例文帳に追加

遅延が原因となる故障に関してテストパターンを検証することができると共に、故障検証に要する時間を短縮化することができる故障検証装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vacuum chuck wherein the fallout of a work caused by the vacuum break of the whole of its sucking pattern is prevented and failure caused by the damage of the work or by the positional discrepancy of the held work can be eliminated.例文帳に追加

吸着パターン全体の真空破壊によるワークの脱落を防止し、ワークの破損や保持位置のずれによる不良をなくすことができる真空チャックを提供する。 - 特許庁

例文

To provide an etchant composition for a copper-containing material, which prevents a shape failure of a wire in a circuit with a fine pattern and can manufacture a printed wiring board (or film) that does not cause a short circuit.例文帳に追加

微細パターンの回路配線の形状不良を防止し、ショート発生のないプリント配線板(あるいはフィルム)を製造し得る銅含有材料用エッチング剤組成物を提供する。 - 特許庁

例文

When the power failure occurs while patterns are made to fluctuate and is restored thereafter, the CPU of a main substrate sends out a command for indicating a stop pattern and an error display command to a display control substrate.例文帳に追加

図柄が変動していたときに停電が発生しその後復旧すると、主基板のCPUは、停止図柄を示すコマンドとエラー表示コマンドとを表示制御基板に送出する。 - 特許庁

When the signal outputted from the signal output means is previously determined so that the pattern of the signal synthesized by the functional part 3 depends on whether the failure occurs in the functional part 3, whether the failure occurs in the functional part 3 is accurately determined.例文帳に追加

これにより、機能部品3により合成される信号のパターンが、機能部品3に故障が発生しているか否かに応じて異なるように、信号出力手段から出力する信号を決めておけば、機能部品3に故障が発生しているか否かを正確に判断することができる。 - 特許庁

By associating measurement reports with each other from users moving in both directions along the path (S30), the method determines whether or not a specific pattern for a coverage hole can be identified (S40), and distinguishes the coverage hole (S60) from a radio link failure caused by a handover failure (S50).例文帳に追加

経路に沿って両方向に移動しているユーザからの測定報告を相互に関連付けることにより(S30)、カバレッジ・ホールに特有のパターンが識別されうるか否かが判断され(S40)、ハンドオーバ失敗の結果として生じている無線リンク障害から(S50)のカバレッジ・ホールを区別する(S60)。 - 特許庁

Taking into consideration physical information of a mask pattern within a chip and the actual results of cells or functional blocks, sorting 1303 failures and weighting of failures are carried out, and a failure inspection 1306 with high precision and high efficiency based on an actual failure or a layout is carried out.例文帳に追加

チップ内におけるマスクパターンの物理的な情報、また、セルや機能ブロックの実績を考慮して、故障の起こりやすさの順番づけ1303及び故障の重みづけを行ない、実際の故障に基づく高精度かつ高効率の故障検査1306やレイアウトを行なう。 - 特許庁

To carry out failure inspection with high precision or high efficiency based on an actual failure or carry out layout in consideration of physical information of a mask pattern and the actual results of cells or functional blocks within a chip of a semiconductor integrated circuit, to contribute to reduction of failures such as initial failures, etc.例文帳に追加

半導体集積回路のチップ内におけるマスクパターンの物理的な情報、セルや機能ブロックの実績を考慮し、実際の故障に基づく高精度かつ高効率の故障検査やレイアウトを行なう事を可能として、初期不良などの故障の低減に寄与できるようにする。 - 特許庁

To improve the manufacturing yield of a highly thin and thin-machined thin-film transistor device by reliably pattern-forming a metal film on an insulating substrate for preventing wiring failure by short-circuiting between wiring, or preventing the conduction failure due to the remainder of patterns at the contract part of a conductor layer.例文帳に追加

絶縁性基板上にて金属膜を確実にパターン形成して、配線間のショートによる配線不良を防止し、あるいは半導体層のコンタクト部のパターン残りによる導通不良を防止して、高精細、微細加工の薄膜トランジスタ装置の製造歩留まりを向上する。 - 特許庁

This failure position detecting method includes irradiating an X ray 3 from an X ray source 1 toward a semiconductor device 7, scanning, measuring a current value which flows out from a conductive layer (TEG pattern 8) of the semiconductor device 7 by a current meter 6, and detecting a failure position in the conductive layer.例文帳に追加

半導体装置7にX線源1からX線3を照射し、走査して、この半導体装置7の導電層(TEGパターン8)から流出する電流の値を電流計6で測定し、導電層内の欠陥位置を検出するようにした欠陥位置検出方法。 - 特許庁

In the game at the second stage executed after ending in failure at the first stage, a success appears even when a predetermined pattern is stopped and displayed at a position on the outer variable display portion 32 corresponding to the extension of a line where the game ends in failure via the reach state at the first stage.例文帳に追加

第1段階で外れになって実行された第2段階のゲームで、外枠可変表示部32のうち第1段階でリーチ状態を経由して外れになったラインの延長上に該当する箇所に所定の図柄が停止表示されたときにも当たりが出現する。 - 特許庁

When the decided result read in S510 is not a big win decision ('1') (S520: NO), operation is moved to S550 to select a failure variation pattern, and after failure patterns are selected S560 through a prescribed ready-to-win display mode, patterns are displayed while being stopped and determined to finish main processing.例文帳に追加

S510において読み出した判定結果が大当り判定(「1」)ではない場合は(S520:NO)、S550に進み、外れ変動パターンを選択し、S560にて外れ図柄を選択して所定のリーチ表示態様を経た後に、図柄を停止表示させ確定させ、本処理を終了する。 - 特許庁

A test order setting part 62 provided in the tester 36 calculates a failure rate for each test item based on a plurality of tested results obtained by testing a plurality of solid-state imaging devices, and rearranges a test order of each test item in order of a high failure rate to reset the test pattern.例文帳に追加

テスタ36に設けられた検査順序設定部62は、複数の固体撮像素子を検査することによって得られた複数の検査結果を基に、検査項目毎の不良率を算出して、この不良率の高い順に各検査項目の検査順序を並べ替え、テストパターンを再設定する。 - 特許庁

In the game at the second stage executed after ending in failure at the first stage, a success appears even when a predetermined pattern is stopped and displayed at a position on the outer frame variable display portion 32 corresponding to the extension of a line where the game ends in failure via the reach state at the first stage.例文帳に追加

第1段階で外れになって実行された第2段階のゲームで、外枠可変表示部32のうち第1段階でリーチ状態を経由して外れになったラインの延長上に該当する箇所に所定の図柄が停止表示されたときにも当たりが出現する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device in which connecting reliability is high, and any void generation failure or connection failure is not generated, and an adhesive to be used for this, in an alloy formation connecting method by thermal eutectic between a metallic projection on the electrode pad of a semiconductor element and the wiring pattern of a wiring board.例文帳に追加

半導体素子の電極パッド上の金属突起と配線基板の配線パターンとの熱共晶による合金形成接続法において、接続信頼性が高く、ボイド発生不良や接続不良が発生しない半導体装置の製造方法とそれ用の接着剤を提供する。 - 特許庁

Hydrofluoroether (HFE) is used as an organic solvent for example, so that the contact angle of the organic solvent to a pattern is set at 70° to reduce attraction producing among the patterns as much as possible as well as to prevent pattern failure.例文帳に追加

このような有機溶剤としては、例えばハイドロフルオロエーテル(HFE)を用いることにより、パターンに対する当該有機溶剤の接触角を70°程度にすることができ、パターン間に生じる引力を極力低減させ、パターン倒れを防止することができる。 - 特許庁

To provide a printer using a DC brushless motor, in particular, a printer that prevents toner from adhering to a transfer belt in a stripe pattern, and thereby not causing image failure in a band pattern, as well as a drive control method of the printer.例文帳に追加

本発明はDCブラシレスモータを使用する印刷装置に関し、特に転写ベルトへのスジ状のトナーの付着を防止し、用紙にバンド状の画像障害を生じさせることのない印刷装置、及び印刷装置の駆動制御方法を提供するものである。 - 特許庁

The failure prediction system 1 comprises a log analysis part 39 which executes data mining to event logs 35 related to events caused in the object device 10 of prediction to extract a precursor pattern specified, for example, by the occurrence order of events, and predicting occurrence of failure in the object device 10 when the precursor pattern is detected in an object log of analysis.例文帳に追加

障害予測システム1は、予測対象装置10に生じたイベントに関するイベントログ35に対しデータマイニングを実施して、たとえばイベントの発生順序によって特定される前兆パターンを抽出し、解析対象ログに前兆パターンが検出されたときに予測対象装置10に障害が発生すると予測するログ解析部39を備えている。 - 特許庁

To provide a method for detecting failure of database patterns of a photomask in which different space widths are applied according to critical dimensions of lines of the patterns of the photo mask to detect patterning failure varied according to illuminating systems, sub-films and thicknesses of resist, and to preliminarily detect failure, such as collapse or bridges, generated from the different lengths of pattern lines having the same critical dimension.例文帳に追加

フォトマスクパターンのライン臨界大きさ別に差等的なスペース幅を適用することで、照明系、サブ膜、レジスト厚さなどによって変わるパターニング不良を検査することができ、同一の臨界大きさを有するが、パターンラインの相異なる長さにより発生する崩れまたはブリッジなどの不良を予め検査できるフォトマスクデータベースパターンの不良検査方法を提供する。 - 特許庁

A second game executing means 120 executes the second stage of the pattern matching game that the pattern is stopped after circulated and displayed on an outer frame variable display portion 32 around the center variable display portion 31 when the game ends in failure via a reach (ready-for-winning) state as a result of the first stage.例文帳に追加

第2遊技実行手段120は、第1段階の結果がリーチ状態を経由した外れのとき、中央可変表示部31の周囲を囲む外枠可変表示部32上でぐるぐると図柄を周回表示させてから停止させるという図柄合わせゲームの第2段階を実行する。 - 特許庁

In an inspection test by turning on electricity for the wiring pattern 4, if there is defective soldering such as insufficient strength due to lack of solder amount and failure to solder, the solder 7 will not allow a conductive path between the land 3 and the wiring pattern 4 and soldering with regard to the land 3 is detected as being 'open'.例文帳に追加

配線パターン4の通電による検査において、半田量の不足による強度不足や、半田付けのし忘れなどの半田付け不良の場合には、半田7がランド3と配線パターン4との間を導通させないので、ランド3に関する半田付けはオープンとして検出される。 - 特許庁

The test pattern generation method includes a property generation step for outputting a property that describes an operation of a circuit based on circuit information and failure information of a detection object in the circuit, and a format verification step for outputting a test pattern of the circuit based on the property.例文帳に追加

本発明のテストパターン生成方法は、回路情報と、回路における検出対象の故障情報とに基づいて、回路の動作を記述するプロパティを出力するプロパティ作成工程と、前記プロパティに基づいて、回路のテストパターンを出力する形式検証工程とを含む。 - 特許庁

To correct variation pattern noise peculiar to a work affected by heating temperature for a work having small variation pattern noise peculiar to the work that the work itself has, especially a work having low emissivity, a work having a small temperature increase, or a work having a slight failure in heat radiation performance.例文帳に追加

ワーク自体が持つワーク固有の変動パターンノイズ、特に放射率が低いワーク、温度上昇の小さいワークあるいは放熱性能の異常が軽微であるワークについて、加熱温度の影響を受けるワーク固有の変動パターンノイズを補正することができるようにする。 - 特許庁

The pattern specified by the performance specification command H03 can specify the operation timing during the big win game based a the big win 2R so as to become a common pattern for specifying the operation timings of the symbol variable game in the case of the failure and the big win game based on the big win 2R.例文帳に追加

また、演出指定コマンドH03により特定されるパターンは、大当り2Rに基づく大当り遊技中の動作タイミングを特定可能であって、はずれの場合の図柄変動ゲームと、大当り2Rに基づく大当り遊技との動作タイミングを特定する共通のパターンとなる。 - 特許庁

If a variation pattern for failure presentation P1 is determined, the integrated CPU may often determine an assignment imposing pattern with an apparently high degree of difficulty in which the effective period is short and the number of kinds of the ready-to-win symbol combinations to be displayed as the assignment is large among the assignment imposing patterns.例文帳に追加

また、統括CPUは、はずれ演出用の変動パターンP1が決定された場合、課題付与パターンの中で、有効期間が短く、且つ、課題として表示させるリーチの図柄組み合わせの種類が多いという見かけ上難易度の高い課題付与パターンを決定しやすい。 - 特許庁

To provide an inspection method capable of grasping clearly an abnormality such as a failure wherein, when the surface of a cut workpiece has a circular pattern such as a spiral groove, the spiral groove is not removed.例文帳に追加

切削加工品の表面に螺旋状の溝などの円形パターンがあっても、かかる螺旋状の溝が除去されていない不良などの異常を鮮明に把握できる検査方法を提供する。 - 特許庁

TEST PATTERN-GENERATING APPARATUS, METHOD FOR CUTTING LOOP, METHOD FOR CUTTING PROPAGATION PATH, METHOD FOR DETECTING DELAY FAILURE AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM RECORDED FOR MAKING COMPUTER EXECUTE THE METHOD例文帳に追加

テストパターン生成装置、ループ切断方法、伝播経路切断方法、遅延故障検出方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To form bit lines wherein the composition and formation conditions of a bit line hard mask pattern and a bit line nitride film spacer are varied and bit lines are formed, to improve a process margin of an SAC process and decrease an SAC process failure.例文帳に追加

SAC工程のマージンを高め、SAC工程失敗を低減させるため、ビットラインハードマスクパターン及びビットライン窒化膜スペーサの成分及び形成条件を変化させてビットラインを形成する。 - 特許庁

To provide a printer head, a printer and a method for manufacturing a printer head which are applicable to a thermal ink jet printer, for example, in order to avoid short circuit failure of a wiring pattern.例文帳に追加

本発明は、プリンタヘッド、プリンタ及びプリンタヘッドの製造方法に関し、例えばサーマル方式によるインクジェットプリンタに適用して、配線パターンの短絡事故を有効に回避することができるようにする。 - 特許庁

To prevent heat from being generated, etc., in the power supply when only one converter is in operation, in failure, such as wiring pattern breaking, without impairing the feature of the switching power supply.例文帳に追加

配線パターンの断線等の異常状態が発生した場合に、スイッチング電源の特徴を損なうことなく、一方のコンバータのみが動作するような状態で生じる電源の発熱等を防止する。 - 特許庁

At such a time, a non-display status or a status difficult to see is not set but patterns are varied between a big win pattern and preceding and following failure patterns to clearly present the status of variation to a player.例文帳に追加

このとき、無表示状態又は視認困難な状態を置かないで、大当たり図柄とその前後のハズレ図柄との間で図柄を変動させ、変動の状態を遊技者に明示する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can prevent the melted pattern destruction of a via chain caused by accumulation of charged particles and can diagnose a nonconduction failure location.例文帳に追加

本発明は、荷電粒子の蓄積によるビアチェーンのパターン溶融破壊を防止することができ、非導通不良の箇所の不良診断を行うことができる半導体素子を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for producing an uneven pile fabric capable of coloring into multi-colored pattern and rich in stereoscopic effect and elegance at an inexpensive cost without risk of failure.例文帳に追加

凹凸状のパイル地を製造するに当たって、コストが安く、失敗のリスクがなく、多色柄に着色できて立体感あふれる雅趣に富んだ凹凸状のパイル地の製造方法の提供を目的とする。 - 特許庁

The semiconductor device including a cell array has provided with a process failure detection circuits, having a layout pattern of the substantially same shape as that of the cell of the cell array in a dummy region provided in the periphery of the cell array.例文帳に追加

セルアレイを含む半導体装置において、セルアレイの周囲に設けられたダミー領域にセルアレイのセルと略同一形状のレイアウトパターンを有するプロセス不良検出回路を設ける。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device such as a NAND type flash-memory device or the like capable of preventing occurrence of a short circuit failure between gate electrodes SG even though a dummy contact is formed by an auxiliary pattern.例文帳に追加

補助パターンでダミーコンタクトが形成されてもゲート電極SGとの間で短絡不良が発生するのを防止できるNAND型フラッシュメモリ装置等の半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a multi-display system for rearranging a window displayed on a failed display in a normal display without preliminarily setting a display pattern in a failure.例文帳に追加

事前に故障時の表示パターンを設定することなく、故障したディスプレイに表示されていたウィンドウを正常なディスプレイ内に再配置することが可能なマルチディスプレイシステムの提供を目的とする。 - 特許庁

To provide photomask data correction techniques to extract a defective portion of a wafer process on a design layout and to compensate resolution failure of a resist pattern in a lithography process for manufacturing a semiconductor.例文帳に追加

設計レイアウト上のウェハプロセスの不具合箇所抽出を可能とするとともに、半導体製造リソグラフィ工程におけるレジストパタン解像不良を補うフォトマスクデータ補正技術を提供する。 - 特許庁

To manufacture a pattern sheet comprising a base sheet that has grooves filled with ink, with improved ink use efficiency while preventing problems relating to a stripe or belt-like ink scraping failure or excess ink.例文帳に追加

基材シートの溝にインクが充填されているパターンシートを、筋状、帯状のインクの掻き取り欠陥や余剰インクに関わる問題を生じさせず、インクの利用効率を向上させて製造する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a copper-clad laminate which causes no failure in a close adherence of wiring pattern formed by plating, moreover easily treating waste liquid, and causing no environmental problem.例文帳に追加

メッキによって形成する配線パターンが密着不良を生じることがなく、しかも廃液処理が容易で環境上の問題が生ずることもない銅張り積層板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a recording material which overcomes such a shortcoming that the sharpness of a pattern deteriorates due to the blurring phenomenon and fixing failure of an image line and has a gloss in both image part and non-image part.例文帳に追加

画線の滲みや定着不良に基づくパターンの鮮明性が低下するという欠点を克服し、かつ画像部及び非画像部のいずれにおいても光沢を有する記録材料を提供する。 - 特許庁

At a failure variation stop timing t_4, a performance symbol indicating a failure is displayed on a valid line in the middle-stage variation row, and at a win variation stop timing t_6, a restart symbol is set for every special variation pattern so that the performance symbol indicating a win is displayed on the valid line on the middle-stage variation row.例文帳に追加

外れ変動停止タイミングt_4においては、中段変動行には外れを示す演出図柄が有効ライン上に表示され、当たり変動停止タイミングt_6においては、中段変動行に当たりを示す演出図柄が有効ライン上に表示されるように再開図柄が特殊変動パターンごとに設定される。 - 特許庁

To provide a page description data processing apparatus and method, a program, and a printed matter production method that are capable of preventing a print failure which may occur in performing rasterizing processing on print data including a dashed line pattern.例文帳に追加

破線パターンを含む印刷データに対してラスタライズ処理を行う際に生じ得る印刷不具合を防止できるページ記述データ処理装置、方法及びプログラム並びに印刷物生産方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a Pachinko game machine, which allows a player to visualize a wider display area in a limited opening area, and which does not cause such a failure that a display content in a pattern display part is hardly visualized.例文帳に追加

限られた開口面積においてより広い表示面積を遊技者に視認させ得ることができ、また図柄表示部における表示内容が視認しづらくなるといった不具合も生じないパチンコ機を提供する。 - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS