「reference beam」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

Regarding operation, subsurface image can be formed by a reference mark or by other area for determining the position of the beam on the element.例文帳に追加

操縦に関しては、表面下の像は素子上のビームの位置を決定するための基準マーク又は他の部位によって形成されることができる。 - 特許庁

The beam splitter splits the laser light into reference light and signal light, and the modulating means modulates the signal light and generates modulated signal light.例文帳に追加

ビームスプリッタは、レーザー光を参照光及び信号光に分離し、変調手段は、信号光を変調して変調された信号光を生成する。 - 特許庁

The focus F of the laser beam L with respect to the work 49 is held constant within a range oscillatable around a reference axis connecting the contact sections 54 on both sides.例文帳に追加

両側の接触部54を結ぶ基準軸を中心として揺動可能な範囲内で被溶接物49に対するレーザ光Ｌの焦点Ｆを一定に保持する。 - 特許庁

In the reference beam interferometer for determining a position of a movable stage, an evacuated pipe is inserted into the longer one of two interferometer legs.例文帳に追加

本発明は可動ステージの位置を決定するための参照ビーム干渉計に関し、真空にされた管が２つの干渉計レッグの長い方に挿入される。 - 特許庁

To provide an optical filter for an interferometer system for supplying a reference beam not relatively receiving the effect of aberration and capable of monitoring alignment.例文帳に追加

比較的収差の影響を受けない基準ビームを供給するとともに、アライメントを監視可能とする、干渉計システム用光学フィルタの提供。 - 特許庁

Using a diffusive element to create a reference beam in self-referenced holography can provide advantages to the self-referenced holographic recording system.例文帳に追加

自己参照ホログラフィにおいて参照ビームを生成するのに拡散素子を使用すると、自己参照ホログラフィック記録システムにとって利点が得られる。 - 特許庁

A laser beam may be used to provide a virtual reference axis 602 traveling in an in-axis direction of motion of lenses 508 in a zoom assembly during zoom operation.例文帳に追加

レーザビームは、ズーム操作の間にズーム組立体のレンズ５０８が移動するインアキシス方向に進む仮想基準軸６０２を提供するために用いられる。 - 特許庁

A reference beam, which is spatially modulated and diffracted by an interference pattern formed on the holographic memory, is received by a photodetector 130.例文帳に追加

参照光はホログラフィックメモリに形成されている干渉パターンによって空間的に変調され、かつ回折されて、フォトディテクタ１３０で受光される。 - 特許庁

The displacement vector Si from the reference point Ri to the intersection Qi of the target plate 5 with the perpendicular laser beam 6B is detected by a camera 4 fixed to the slip form.例文帳に追加

参照点Riから、測定時のターゲット板５と鉛直レーザビーム6Bとの交点Qiまでの変位ベクトルSiを、スリップフォームに固定のカメラ４で検出する。 - 特許庁

The micromirror has a lateral dimension not exceeding the approximate lateral dimension of a central lobe of the reference beam focused thereon by the focusing mechanism.例文帳に追加

前記マイクロミラーは、集光機構により集光された基準ビームの中心ローブのほぼ横方向寸法を越えない横方向寸法を有する。 - 特許庁

Laser level which is disposable on a reference surface comprises a housing, a pendulum rotatably connected in the housing, a first laser diode arranged on the pendulum and ejecting the first laser beam along the first path, and a lens arranged on the pendulum on the first path and converting the first laser beam to the first plane beam forming a line on the reference surface.例文帳に追加

基準表面上で使い捨て可能なレーザー水準器は、ハウジングと、ハウジングに回動可能に連結された振り子と、振り子に配置され第１のレーザービームを第１の経路に沿って発射する第１のレーザーダイオードと、振り子に第１の経路上で配置され第１のレーザービームを基準表面上でラインを形成する第１の平面ビームに変換するレンズとを含んでいる。 - 特許庁

This system comprises a light emitting diode; a 1st reference fiber which receives beam from the light-emitting diode and not to be in contact with the sample; a sensing fiber; an additional reference fiber; a 1st detector for sensing outputs from both the 1st reference fiber and the additional reference fiber; and a 2nd detector for sensing output from the sensing fiber.例文帳に追加

本発明のシステムは、発光ダイオードと、発光ダイオードからのビームを受光しかつ試料に接触していない第１基準ファイバと、センシングファイバと、追加基準ファイバと、第１基準ファイバおよび追加基準ファイバからの出力をセンシングする第１の検出器と、センシングファイバからの出力をセンシングする第２の検出器とを有する。 - 特許庁

A radio wave environment deciding part 11 switches the switches SW1 and SW3 to output a receiving process signal so that the received signals include a signal that is equal to a prescribed reference signal, calculates the correlation between the beam and reference signals and outputs the beam signal having the largest correlative coefficient.例文帳に追加

電波環境判断部１１は、受信信号は所定の参照信号と同一の信号を含み、ビーム信号と参照信号との間の相関係数を計算し、最大の相関係数を有するビーム信号を出力するようにスイッチＳＷ１，ＳＷ３を切り換えて受信処理信号として出力する。 - 特許庁

In the image forming apparatus, electrifying DC output is detected, for example, and developing DC output and laser beam quantity are controlled with the detected voltage as reference voltage, that means, any one of the electrifying DC output, the developing DC output and the laser beam quantity is set as reference so as to control the other output.例文帳に追加

たとえば帯電ＤＣ出力を検知し、その検知電圧を基準電圧として現像ＤＣ出力、レーザー光量を制御するなど、帯電ＤＣ出力、現像ＤＣ出力、レーザー光量のうち、どれかひとつの出力を基準として他の出力を制御することを特徴とする画像形成装置。 - 特許庁

When a pattern is drawn along concentric tracks on a substrate, an electron beam is blanked by using a first clock signal generated based on a first reference angle in a first region in a sector, while in a second region in the sector, the electron beam is blanked by using a second clock signal generated based on a reference length.例文帳に追加

基板上の同心円トラックに沿ってパターンを描画する際に、セクタ内の第１領域内では、第１基準角度に基づいて生成された第１クロック信号を用いて電子線をブランキングさせ、セクタ内の第２領域内では、基準長さに基づいて生成された第２クロック信号を用いて電子線をブランキングさせる。 - 特許庁

This transmission electron microscope can form an electron beam hologram H by a control device 17 by bringing an electron beam biprism 15 into a state in which interference is caused between an object wave E1 and a reference wave E2 by grounding an object wave side electrode 15a and a reference wave side electrode 15b and impressing positive potential V1 to a filament 15c.例文帳に追加

制御装置１７により、電子線バイプリズム１５を、物体波側電極１５ａと参照波側電極１５ｂとを接地し、フィラメント１５ｃに正の電位Ｖ１を印加し、物体波Ｅ１と参照波Ｅ２とを干渉させる状態にすることにより、電子線ホログラムＨを形成することができる。 - 特許庁

A hologram 1 which is mainly composed of plural concentric circles by a reference beam made incident perpendicularly on the one surface of the disk and is reconstitutable to patterns 3 around the reference beam 2 as a center axis is formed in the central part or at the intersected points of two intersecting symmetrical lines on at least the one surface of the disk.例文帳に追加

ディスクの少なくとも片面の中心部又は２本の交差する対称線の交点には、上記片面に直角に入射する参照ビーム２によって主に複数の同心円から構成され、且つ上記参照ビーム２を中心軸とするパターン３に再生可能なホログラム１を形成している。 - 特許庁

Accordingly, the atomic oscillator 100 with high precision is obtained, which is not influenced by the change in luminous intensity of the laser beam when a reference oscillation frequency control means 60 controls the reference frequency of a VCXO 50 based on the intensity of projection light detected by a laser beam detector 30.例文帳に追加

したがって、基準発振周波数制御手段６０によって、ＶＣＸＯ５０の基準周波数をレーザー光検出器３０で検出された射出光の強度に基づいて制御する際に、レーザー光の発光強度の変化に影響されることがなく、高精度な原子発振器１００を得ることができる。 - 特許庁

When a reflector 201 of the preceding vehicle 200 lies at a level lower than the laser beam lower-limit height, a controller 16 calculates a reference radiation elevation angle and outputs a signal to an inter-vehicle distance sensor 11 so that the laser beam lower-limit height at the rear end of the preceding vehicle 200 corresponds to the reference radiation direction.例文帳に追加

先行車両２００のリフレクタ２０１がレーザ光下限高さよりも低い位置にある場合には、先行車両２００の後端部におけるレーザ光下限高さが基準照射方向となるように、コントローラ１６が基準照射仰俯角を演算して車間距離センサ１１に信号を出力する。 - 特許庁

There is provided an image forming device in which dependent beams b to d in which image density is adjusted are used by using one of a plurality of beams a to d for simultaneously scanning on a single photoreceptor by keeping a predetermined interval in a sub-scanning direction Z as a reference beam a of image density and using the other beams as the reference beam of image density.例文帳に追加

単一の感光体上を副走査方向Ｚに所定の間隔を保って同時に走査する複数のビームａ〜ｄのうち一つを画像濃度の基準ビームａとし、他を該基準ビームの画像濃度を基準として画像濃度を調整した従属ビームｂ〜ｄとした画像形成装置。 - 特許庁

Firstly, the reference signals A (the reference signals B ), received beam signals having the principal axis to the direction of propeller, are generated from the received signals of the A group vibrators 6A1 to 6A7 (the B group vibrators 6B1 to 6B7).例文帳に追加

まず、Ａ群の振動子６Ａ１〜６Ａ７の受信信号（Ｂ群の振動子６Ｂ１〜６Ｂ７の受信信号）からプロペラ方向に主軸を有する受信ビーム信号である参照信号Ａ（参照信号Ｂ）を生成する。 - 特許庁

The matter light Lg subjected to Littrow diffraction by a diffraction lattice G and the reference light formed by a reference light forming system 3 for evaluating the minute cycle structure are synthesized by a polarizing beam splitter 7 to form an interference fringe on a screen 6a.例文帳に追加

回折格子Ｇでリトロー回折した物体光Ｌｇと、微小周期構造評価用参照光生成系３で生成された参照光とが偏光ビームスプリッタ２７で合成され、スクリーン６ａ上に干渉縞を形成する。 - 特許庁

A light path length adjustment section 20 adjusts the reference light path length LPref so that a light path length difference between a signal light path length LPsig and a reference light path length LPref becomes a coherent distance of the light beam L1 or shorter.例文帳に追加

続いて光路長調整部２０は、信号光路長ＬＰｓｉｇと参照光路長ＬＰｒｅｆとの光路長差が光ビームＬ１の可干渉距離以下になるよう参照光路長ＬＰｒｅｆを調整する。 - 特許庁

A detection part 20 detects interference signals based on interference light beams between respective measurement light beams returned to a head part 30 by moving the condensing lens 3 by the moving stage 4 and the reference light beam returned from a reference surface 31.例文帳に追加

検出部２０は、移動ステージ４により集光レンズ３を移動させてヘッド部３０に戻された各測定光と、参照面３１から戻された参照光との干渉光に基づく干渉信号をそれぞれ検出する。 - 特許庁

A reference signal generation part 68 counts the switching signal of APC lighting beam, switches a switching device 85 on the basis of a select signal SEL from an APC timing control part 67 and outputs reference signals of corresponding colors in time division.例文帳に追加

基準信号生成部６８は、ＡＰＣ点灯ビーム切替信号を計数し、ＡＰＣタイミング制御部６７からのセレクト信号SEL に基づき切替器８５を切り替えることで、対応する色の基準信号を時分割で出力する。 - 特許庁

A reference lighting time specifying section 104 specifies the reference lighting time of each block from the dark potential distribution and a medium sensitivity distribution of a photoreceptor drum, a light amount distribution relative to the main scanning direction of a laser beam and the output dither pattern.例文帳に追加

基準点灯時間特定部１０４は、感光体ドラムの暗電位分布、及び中間感度分布、レーザービームの主走査方向に対する光量分布、並びに出力ディザパターンから各ブロックの基準点灯時間を特定する。 - 特許庁

To provide a laser measuring device capable of correctly setting a rotation position where a laser beam is irradiated in a prescribed direction as a "reference position," and calculating a relative position of a detection object based on the reference position with higher accuracy.例文帳に追加

レーザ光が規定方向に照射される回動位置を正確に「基準位置」として設定することができ、その基準位置に基づいて検出物体の相対位置をより精度高く算出し得るレーザ測定装置を提供する。 - 特許庁

A figure pattern consisting of a plurality of (e.g. four) concentric circles is formed on a reference sample WP and an image (scanned image) is formed based on an electron signal obtained by scanning the reference sample WP with an electron beam.例文帳に追加

基準試料ＷＰの表面に、複数（例えば４つ）の同心円からなる図形パターンを形成し、この基準試料ＷＰを電子線でスキャンすることによって得られる電子信号に基づいて画像（スキャン画像）を形成する。 - 特許庁

The minute-diameter light sources 3 being set at the object registering reference positions 12, minute-diameter light beams are emitted upward and the registering at the initial step is conducted by aligning the light beam with the plate registering reference positions 22 of the screen 2.例文帳に追加

微小径光源３を被写体位置合せ基準位置１２に設置して上方に向って微小径光線を照射し、微小径光線とスクリーン２の版位置合せ基準位置２２を一致させて段取り初期の位置合せを行う。 - 特許庁

A reflector alignment system uses an alignment beam AB1 which is transmitted in the projection system PL having a group of mirrors for measuring dummy relative positions of two reference makers fixed to a reference frame RF on both sides of the projection system.例文帳に追加

反射体アライメント・システムは、ミラー群を備える投影システムＰＬ中を伝わるアライメント・ビームＡＢ１を使用して、投影システムの両側で基準フレームＲＦに固定された２つの基準マーカの見かけの相対位置を測定する。 - 特許庁

A focusing lens (objective lens 3) is moved in the direction of an optical axis to thereby meet the focus of laser beams (servo beam) for focus reference determination with a focus reference surface (reflection surface 72a) while moving the focus along with the focus of recording beams.例文帳に追加

フォーカス用レンズ（対物レンズ３）を光軸方向に動かすことで、フォーカス基準決定用のレーザ光（サーボ光）の焦点を、記録光の焦点とともに移動させつつ、フォーカス基準面（反射面７２ａ）に合わせる。 - 特許庁

The light reflected from the illumination region is reflected by the mirror 223 and interferes with the reference light reflected by a reference mirror 222 in the beam splitter 221, and the interference light is received by an image sensor 121 for acquiring an interference fringe image.例文帳に追加

照射領域からの反射光はミラー２２３にて反射してビームスプリッタ２２１において参照ミラー２２２にて反射した参照光と干渉し、干渉光はイメージセンサ１２１に受光されて干渉縞画像が取得される。 - 特許庁

A master medium 11 is irradiated with the reference light beam R_i to produce diffracted light S_i, so that a duplication medium 12 is exposed to transfer a hologram by interference fringes of total 2n of recording light beams comprising the reference light beams R_i and object light beams S_i.例文帳に追加

参照光ビームＲ_ｉをマスター媒体１１に照射し回折光Ｓ_ｉを生じさせ、各参照光Ｒ_ｉと各物体光Ｓ_ｉの計２ｎ個の記録光ビームの干渉縞により複製媒体１２にホログラムを露光する。 - 特許庁

The two signals reflected by the reflecting mirrors are coupled by the beam splitter (13) again to be inputted to a measuring detector (18) and a reference detector (19) to be converted into an input signal amplitude and a reference signal amplitude.例文帳に追加

それら反射鏡で反射された２つの信号はビームスプリッタによりそれぞれ再結合され測定検出器（１８）と基準検出器（１９）とへ入力されて、入力信号振幅と基準信号振幅とに変換される。 - 特許庁

The method also includes detecting a tracking signal of a reflected tracking beam from a reference layer of the holographic disk in an event that the power measurement of the primary signal is below the threshold value of power, where the tracking beam of radiation has a second wavelength.例文帳に追加

主信号の電力測定値が電力閾値を下回った場合に、ホログラフィックディスクの基準層からの反射トラッキングビームのトラッキング信号を検出するステップを含み、トラッキングビームの照射は第２の波長を有する。 - 特許庁

An optical path length regulating means 11 for changing an optical path length controlled by a focal point control section 2d changes the optical path length of a measurement beam or a reference beam in response to a control signal of the focus control section.例文帳に追加

焦点制御部２ｄによって制御される光路長を変化させる光路長調整手段１１は、測定ビームまたは参照ビームの光路長を前記焦点制御部の制御信号に応じて変化させる。 - 特許庁

Then, the acquisition part 400 causes the body beam and the reference beam included in respective non-interference light beams obtained by the division, to interfere with each other with phases varying according to light beams obtained by the division, thereby obtaining interference fringes of different phases.例文帳に追加

さらに、位相シフト干渉縞取得部４００は、分割された各無干渉光束に含まれる物体光と参照光とを分割された光束ごとに異なる位相で干渉させて異なる位相の干渉縞を得る。 - 特許庁

The measured light 31 and reference light 41 outputted from the beam splitter 46, passing through a λ/2 plate 47 and a polarizing beam splitter 48, are detected by a photo-detection part 53 and these detection signals are diferrenced, amplified, and shaped.例文帳に追加

偏光ビームスプリッタ４６から出力された被測定光３１および参照光４１は、λ／２板４７および偏光ビームスプリッタ４８を経て光検出部５３により検出され、この検出信号は差分・増幅・整形される。 - 特許庁

The reference beam receives light amount adjusted/polarized adjustment with beam amount/polarizing member groups 5R, 5G and 5B, then is made parallel light with collimating lenses 8R, 8G and 8B, and irradiated on a photosensitive face of a prism 14.例文帳に追加

参照光は光量・偏光調整部材群５Ｒ、５Ｇ、５Ｂにより光量調整と偏光調整を受けた後、コリメータレンズ８Ｒ、８Ｇ、８Ｂにより平行光とされて、プリズム１４の感光面に照射される。 - 特許庁

Laser light, emitted from a two-wavelength laser source 10, is made to pass through a quarter-wave plate 20 and an isolator 35 and is changed into a reference beam f_1 and a measuring beam f_2 isolated spatially, and they are led to an interferometer 45 through optical fibers.例文帳に追加

２波長レーザ源１０から出射されるレーザ光は４分の１波長板２０、アイソレータ３５を経て空間的に分離された基準ビームｆ_1、測定ビームｆ_2とされ、光ファイバを通して干渉計４５に導かれる。 - 特許庁

Because of disk tilting or disk imperfections, in some embodiments, a tracking beam is directed to a tracking position in the disk, and deviation of the tracking beam from the tracking position may indicate tracking and focusing errors of the recording and reference beams.例文帳に追加

ディスクティルティングまたはディスク不完全性のために、いくつかの実施形態では、トラッキングビームがディスクのトラッキング位置に誘導され、トラッキング位置からのトラッキングビームの逸脱は記録、参照ビームのトラッキング、合焦誤りを示すことができる。 - 特許庁

The light beam entering the rear end sensor 22 is used as a reference beam for correcting the subscanning positional displacement by the detected signal of the synchronous detecting sensor 21 and the detected signal of the rear end sensor 22 and other light beams of a plurality of light beams entering the synchronous detecting sensor 21 is used for correcting the subscanning positional displacement by referring the table (schematic illustration) showing the correlation with the reference beam.例文帳に追加

後端センサ２２に入射した光ビームは、同期検知センサ２１の検出信号と後端センサ２２の検出信号とにより副走査位置すれの補正を行うための基準ビームとして用いられ、同期検知センサ２１に入射する複数光ビームのその他の光ビームは、基準ビームとの相関を示したテーブル（略図）を参照することにより副走査位置の補正ずれを行うために用いられる。 - 特許庁

When the measured electrical resistance value reaches a reference value after alternately repeating the ion beam machining step and electrical resistance measuring step, a controller 20 discriminates that the wiring 4 of the sample 3 has been disconnected and terminates the focused ion beam machining, by continuously causing the ion beam 2 to be deflected to a Faraday cup 8 side by controlling the ion optical device 1.例文帳に追加

イオンビーム加工工程と電気抵抗測定工程とを交互に繰り返し、測定した電気抵抗値が基準値に到達したら試料が断線したと判断し、制御装置２０がイオン光学装置１を制御して、イオンビーム２をファラデーカップ８側に偏向させ続け集束イオンビーム加工を終了する。 - 特許庁

Distance measuring laser beam L emitted from a distance measuring laser beam source 20 is made to a substantially parallel light through a collimator lens 22, and the arrangement positions of the laser beam source 20 and the collimator lens 22 are adjusted so that the parallel light is incoming obliquely to the surface of the measuring object W laid in a reference attitude.例文帳に追加

距離測定用レーザ光源２０から出射された距離測定用レーザ光Ｌは、コリメータレンズ２２を介して略平行光とされ、基準姿勢にある被測定物体Ｗの表面に斜めから入光するよう距離測定用レーザ光源２０及びコリメータレンズ２２の配置位置が調整されている。 - 特許庁

This beam confirming auxiliary tool comprises a black box 1, a condensing lens 3 fitted to the black box 1 to condense the laser beam from a laser marking unit, a focusing plate 5 fitted at the laser beam condensing position by the condensing lens 3 of the black box 1, and a reference line 7 marked on the focusing plate 5 and capable of being observed from the outside of the black box 1.例文帳に追加

暗箱１と、暗箱１に取り付けられレーザー墨出し器からのレーザービームを集光する集光レンズ３と、暗箱１の集光レンズ３によるレーザービーム集光位置に取り付けられたピント板５と、ピント板５に表記され暗箱１外から観察することができる基準線７とからなる。 - 特許庁