「reference test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

METHOD AND APPARATUS FOR ESTIMATING ENDING TIME IN LIFE TEST AND TEST STOP REFERENCE例文帳に追加

打切り試験における打切り時間および試験中止基準見積もり方法・装置 - 特許庁

TEST APPARATUS FOR CONNECTOR PIN POSITION AND CONNECTOR WITH BUILT-IN REFERENCE ELECTRODE例文帳に追加

コネクタピン位置検査装置及び基準電極内蔵コネクタ - 特許庁

The automatic test device 3 operates with reference to the stored data and displays test results and past test data.例文帳に追加

自動試験装置３はその保存されたデータを参照して動作し、試験結果と過去の試験データとを表示する。 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR PRESCRIBED TEST ITEM WITH REFERENCE TO APPARATUS TO BE MEASURED例文帳に追加

被測定装置に対する所定試験項目の試験装置 - 特許庁

This method includes a step in which the recorder/player extends the additional extra space of a test disk by using the test disk having test reference information and test information is generated from the test disk, and a step in which reference information predicted with the test reference information is compared with the test information and verification results about the test information are provided.例文帳に追加

テスト基準情報を有するテストディスクを用いて記録及び再生装置でテストディスクの追加余裕空間を拡張し、テストディスクからテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁

A printer performs test print with a test print signal corresponding to a reference gray (Step S11).例文帳に追加

プリンタは、基準グレーに対応したテスト印刷信号によってテスト印刷を行う（ステップＳ１１）。 - 特許庁

The reference pin and each test pin are connected by a first switch and the electrical length between the reference pin and each test pin is measured by using the comparator in the test pin.例文帳に追加

第１のスイッチによって基準ピンと各テストピンを接続し、テストピン内のコンパレータを用いて基準ピンと各テストピン間の電気長を測定するようにした。 - 特許庁

METHOD OF COMPARING FEATURE OF TEST RECORD WITH FEATURE OF REFERENCE RECORD例文帳に追加

試験レコードの特徴を参照レコードの特徴と比較する方法 - 特許庁

To shorten a period of test to be performed using reference potential.例文帳に追加

参照電位を用いて実行されるテストの時間を短縮化する。 - 特許庁

A representative line module 44 receives the test video frame and the reference video frame and generates a representative test line and a representative reference line.例文帳に追加

代表ライン・モジュール44は試験ビデオ・フレーム及び基準ビデオ・フレームを受け、代表試験ライン及び代表基準ラインを生成する。 - 特許庁

Prior to the start of a breaking elongation test to the test piece, after measuring a distance between reference lines attached to the test piece as an initial inter-reference-line distance L0 (step S1), the breaking elongation test to the test piece is executed (step S2).例文帳に追加

試験片Ｓに対する破断伸び試験の開始に先立って該試験片に付された標線間の距離を初期標線間距離Ｌoとして計測した後（ステップＳ１）、試験片に対する破断伸び試験を実行する（ステップＳ２）。 - 特許庁

It also comprises a memory means (for example, RAM6)for storing reference data in which test pattern data of the vibration test of the test body and a reference transmission characteristics data of the vibrator in vibration test in accordance with the test pattern data are correlated.例文帳に追加

供試体の振動試験の試験パターンデータと、当該試験パターンデータに応じた振動試験における加振部の基準伝達特性データとが対応付けられた基準データを記憶する記憶手段（例えば、ＲＡＭ６）を備える。 - 特許庁

THUNDER IMPULSE WITHSTAND VOLTAGE TEST SYSTEM, REFERENCE WAVEFORM CALCULATION PROGRAM, AND THUNDER IMPULSE WITHSTAND VOLTAGE TEST METHOD例文帳に追加

雷インパルス耐電圧試験システムおよび基準波形算出プログラム、並びに雷インパルス耐電圧試験方法 - 特許庁

I will probably go buy a reference book for that certification test. 例文帳に追加

私はその資格試験のための参考書を買いに行くかもしれない。 - Weblio Email例文集

In addition, offset of the test results histogram to the reference histogram is determined.例文帳に追加

また、基準ヒストグラムに対する試験結果ヒストグラムのオフセットを求める。 - 特許庁

The reference pulse is supplied at a fixed time point to the test pattern.例文帳に追加

基準パルスをテストパターンに対して固定の時間位置で供給する。 - 特許庁

USER AUTHENTICATION BY COMBINATION OF SPEAKER REFERENCE AND REVERSE TURING TEST例文帳に追加

話者照会および逆チューリングテストの組合せによるユーザー認証 - 特許庁

Hitherto, optimum reference voltage is set for each chip only at the time of test for trimming of reference voltage.例文帳に追加

従来、基準電圧のトリミングは検査時にのみチップ毎に最適な基準電圧を設定していた。 - 特許庁

The semiconductor test device detects a test efficiency value being the optimum value in numerical values exceeding a reference test efficiency value and the matching time corresponding to the test efficiency value by comparing each of the test efficiency values at each matching time with the reference test efficiency value, and performs processing setting them at a matching time out time.例文帳に追加

そして、各マッチ時間ごとの試験効率値のそれぞれを基準試験効率値と比較して基準試験効率値を超える数値の中で最適値となる試験効率値と、この試験効率値に対応するマッチ時間を検出し、マッチタイムアウト時間に設定する処理を行う。 - 特許庁

The test data generation circuit generates test data and writes them in the memory synchronously with the reference clock and outputs write data corresponding to test data synchronously with the reference clock.例文帳に追加

テストデータ生成回路はテストデータを生成し、基準クロックに同期して前記メモリに書き込むと共に、基準クロックに同期してテストデータに対応する書き込みデータを出力する。 - 特許庁

A transmission time information measurement means 12 uses one of the test packets for a reference packet and measures a reference transmission time at transmission of the reference packet and a transmission time of the test packets other than the reference packet counted from the reference transmission time.例文帳に追加

送信時刻情報測定手段１２は、試験パケットの中の１つを基準パケットとし、基準パケットの送信時の基準送信時刻と、基準送信時刻からカウントした、基準パケット以外の試験パケットの送信時刻と、を測定する。 - 特許庁

An off-set of the test result histogram HCUT to the reference histogram HEXP is also found.例文帳に追加

また、基準ヒストグラムに対する試験結果ヒストグラムのオフセットを求める。 - 特許庁

To shorten a test time for setting a threshold voltage of a reference memory cell.例文帳に追加

リファレンスメモリセルの閾値電圧を設定するための試験時間を短縮する。 - 特許庁

REFERENCE STANDARD FOR DIGITIZATION OF RADIOGRAPHIC TEST FILM AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

放射線透過試験フィルムのデジタル化用基準ゲージ及びその製造方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, QUALITY DETERMINATION REFERENCE SETTING DEVICE, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

試験装置、良否判定基準設定装置、試験方法及び試験プログラム - 特許庁

The feature of the test record is aligned substantially with the feature of the reference record.例文帳に追加

試験レコードの特徴を、参照レコードの特徴とほぼ整列させる。 - 特許庁

A reference potential generating circuit 107 for a test mode outputs a reference potential Vreft from an output node B1 by activation of a test mode signal TM.例文帳に追加

テストモード用基準電位発生回路１０７は、テストモード信号ＴＭの活性化により、出力ノードＢ１から基準電位Ｖｒｅｆｔを出力する。 - 特許庁

sometimes patients whose test results are outside of the reference interval may be healthy, and some patients whose test results are within the reference interval may have a health problem. 例文帳に追加

ときには、検査結果が基準範囲から外れた患者が健康であったり、基準範囲内の患者が健康上の問題を抱えていたりすることもある。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

sometimes patients whose test results are outside of the reference values may be healthy, and some patients whose test results are within the reference values may have a health problem. 例文帳に追加

ときには、検査結果が基準値から外れた患者が健康であったり、基準値内の患者が健康上の問題を抱えていたりすることもある。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

The transconductance step produces two test currents in proportion to the test voltages and two reference currents.例文帳に追加

相互コンダクタンス段は、試験電圧に比例した２つの試験電流および２つの基準電流を生成している。 - 特許庁

The functional test pattern is inputted to a reference device 2 and a device under test 4, and both devices 2 and 4 are operated likewise.例文帳に追加

機能テストパターンは基準デバイス２と被検査デバイス４に入力し、各デバイス２，４は同じように動作する。 - 特許庁

Reference image data of a prescribed test chart and object image data generated by imaging a test chart are acquired.例文帳に追加

所定のテストチャートの基準画像データとテストチャート撮像により生成された対象画像データを取得する。 - 特許庁

the reference values for a given test is based on test results for 95% of the healthy population. 例文帳に追加

ある検査の基準値は、健康な人で構成される集団の95％における検査結果に基づき決定される。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

The nonvolatile memory device is provided with a read circuit (self-reference sense circuit 21) of a self-reference sense system used only during test of the reference cell (dummy cell).例文帳に追加

不揮発性記憶装置は、参照セル（ダミーセル）のテスト時にのみ用いられるセルフリファレンス方式の読出回路（セルフリファレンスセンス回路２１）を備える。 - 特許庁

The analysis means analyzes test image data acquired by reading a test image, detects a reference shadow generation region from a test image region that corresponds to the test image data based on the result of analyzing the test image data, and detects reference shadow image data that corresponds to the reference shadow generation region.例文帳に追加

前記解析手段は、テスト画像の読み取りにより得られるテスト画像データを解析し、前記テスト画像データの解析結果に基づき、前記テスト画像データに対応するテスト画像領域から基準影発生領域を検出し、前記基準影発生領域に対応する基準影画像データを検出する。 - 特許庁

A reference histogram HEXP of an ideal output signal of a test circuit is prepared.例文帳に追加

被試験回路の理想的な出力信号の基準ヒストグラムHEXPを準備する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR RETRIEVING TEST BLOCK FROM BLOCKWISE STORED REFERENCE IMAGE例文帳に追加

ブロックで保存された参照画像からテストブロックを取得する方法及び装置 - 特許庁

Each test unit receives the analog output signals of M driving units and selects one of them as a test signal according to a select signal and sends a status signal representing abnormality to a external tester in the case of a voltage of the test signal being higher than a high reference voltage or lower than a low reference voltage.例文帳に追加

テスト信号の電圧がハイ参考電圧より高いか或いはロー参考電圧より低い時、テストユニットは異常を代表する状態信号を外接のテスターに送る。 - 特許庁

A test signal is generated according to a test program 10 and transmitted 11 to a terminal 2 to be tested and a reference terminal 3.例文帳に追加

試験プログラム１０に従って試験信号を作成して被試験端末２及び基準端末３に送信１１する。 - 特許庁

the reference interval for a given test is based on test results for 95% of the healthy population. 例文帳に追加

ある検査の基準範囲は、健康な人で構成される集団の95％における検査結果に基づき決定される。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

A pair of oscillators 8, 9 are disposed in plane-symmetry with respect to a reference surface 300 perpendicular to the test reference direction F.例文帳に追加

検査基準方向Ｆに直交する基準面３００について、一対の振動子８，９を面対称に配置する。 - 特許庁

An edge discrimination reference setting means 1036 changes the edge discrimination reference for test image to set it a plurality of times.例文帳に追加

エッジ判別リファレンス設定手段１０３６は、テスト画像用のエッジ判別リファレンスを変更して複数回設定する。 - 特許庁

The reference-signal generating circuit 34 provides the reference signal PSE in response to the test signal DQM input through the external connecting pad 32 in a test mode under the state of the package.例文帳に追加

基準信号発生回路34はパッケージ状態におけるテストモードでは外部連結パッド32を通して入力されるテスト信号DQMに応答して基準信号PSEを提供する。 - 特許庁

The test strip includes a first working electrode, reference electrode and second working electrode.例文帳に追加

試験ストリップは、第１作用電極、参照電極、第２作用電極を有する。 - 特許庁

A test case includes cache entry reference and an early stage cache entry value (cache initialization record).例文帳に追加

テストケースは、キャッシュエントリ参照・初期キャッシュエントリ値（キャッシュ初期化記録）を含む。 - 特許庁