「reference test」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

By using the digitized image of an uncorrected formed image generated by the picture reproducing system of a test image as the learning pattern of a neural network, digital image data including the test image are defined as learning reference data in a direct learning process.例文帳に追加

ニューラルネットワークを使用し、テスト画像の画像再生システムにより発生された未修正結像のディジタル化画像をニューラルネットワークの学習パターンとして用い、テスト画像の格納されているディジタル画像データを直接学習プロセスでの学習基準データとして定める。 - 特許庁

Using an electric capacity constituent and a resistance constituent between a working electrode 2 containing a test solution and a reference electrode 3, a stable value of a potential difference is predicted from a measured value of the potential difference generated between the both electrodes because of the electrochemical response to the test solution.例文帳に追加

被験液３０を含む作用電極２と参照電極３間の電気容量成分と抵抗成分とを用いて、被験液に対する電気化学応答により両電極間に発生する電位差の実測値から、その電位差の安定値を予測する。 - 特許庁

This semiconductor device and the testing method therefor has a rank data 11 for indicating a test result of a ranking test executed based on a plurality of reference values in a wafer condition, a fuse part 15 storing the rank data 11, and a control circuit 16 for reading out the rank data 11 from the fuse part 15, for use in a product test carried out after packaged.例文帳に追加

本発明の半導体装置およびそのテスト方法は、ウェハ状態において複数の基準値に基づいて行われるランク分けテストのテスト結果を示すランクデータ１１と、ランクデータ１１が格納されたヒューズ部１５と、パッケージング後に行われる製品テストで利用するために、ランクデータ１１をヒューズ部１５から読み出す制御回路１６を有する。 - 特許庁

An arbiter 120 receives bus request signals from a test controller 100 and one or more master logic units 100, 140, 145, 150, and 155 and applies prescribed priority reference (discriminating relative priority between respective master logic units and test controller) so as to control access to a bus 110 by the test controller 100 and master logic unit.例文帳に追加

アービタ（１２０）は、試験制御装置（１００）と1つ以上のマスター論理ユニット（１００，１４０，１４５，１５０，１５５）からバス要求信号を受信し、また、前記試験制御装置と前記マスター論理ユニットによるバス（１１０）へのアクセスを制御するために所定の優先基準（各マスター論理ユニットと前記試験制御装置の相対的な優先順位を識別する）を適用する。 - 特許庁

Parameters required for operating the IC tester are sequentially set up to a register in a test header using the normal built-in software using the built-in software built in a pin electronics 1 of the test head 12 according to a test program 30 created by a user, and a parameter management system 34 saves the normal parameters as reference parameters 44.例文帳に追加

ユーザの作成したテストプログラム３０に従って、テストヘッド１２のピンエレクトロニクス１８に組み込まれている組み込みソフトウェアを用いて、テストヘッド内のレジスタに、ＩＣテスタの駆動に必要なパラメータを、正常な組み込みソフトウェアを用いて順次設定し、パラメータ管理システム３４は、この正常なパラメータを、リファレンスパラメータ４４として保存する。 - 特許庁

A prescribed test signal is applied to a measuring electrode, and whether the measuring electrode offers a correct measured value or not based on the response signal (actual value) to the prescribed test signal and/or based on the reference variable (actual value) obtained from the response signal to the prescribed test signal.例文帳に追加

測定電極に対して所定のテスト信号を与え、前記所定のテスト信号に対する応答信号（実際値）に基づいて、および/または前記所定のテスト信号に対する応答信号から求められた基準変量（実際値）に基づいて、前記測定電極が正確な測定値を提供しているか否かを決定するようにする。 - 特許庁

Gradation levels included between V1-V2 of the reference power supply terminal are made a target of the test, so that each adjacent gradation output level can retain a potential difference of about 200 mV (a potential difference between reference supply terminals 10,000 mV/gradation levels 51) with each other.例文帳に追加

この基準電源端子のＶ１〜Ｖ２間に含まれる階調レベルをテスト対象とすることで、それぞれの隣接階調出力レベルは相互に約２００［ｍＶ］（基準電源端子間電位差１００００［ｍＶ］／５１階調レベル）の電位差を保つことができる。 - 特許庁

A calculation control device 200 forms OCT images of the fundus oculi Ef from the result of the detection of new interference light LC in conformity of the new signal light LS through the test eye E and the new reference light LR through a reference mirror 174.例文帳に追加

演算制御装置２００は、被検眼Ｅを経由した新たな信号光ＬＳと、参照ミラー１７４を経由した新たな参照光ＬＲとに基づく新たな干渉光ＬＣの検出結果に基づいて眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。 - 特許庁

A first chromium mass concentration C and a first reference mass concentration A are extracted from a first test substance made by adding a predetermined amount of calcium to a predetermined amount of pellets, which are a raw material for molding a molded body; a reference value X is calculated on the basis thereof.例文帳に追加

成形体を成形するための原料である所定量のペレットに所定量のカルシウムを加えた第１の対象物質から、第１のクロムの質量濃度Ｃと第１の基準質量濃度Ａとを抽出し、これらから基準値Ｘを算出する。 - 特許庁

For every frequency, the sample for residual error correction data acquisition is measured with the test tool 26 and the reference tool 16, then the second equation for calculating error included in the estimation value of the measurement value measured by the reference tool 16 calculated by the first equation is obtained.例文帳に追加

周波数ごとに、試験治具２６と基準治具１６とで、残留誤差補正データ取得用試料を測定し、第１の数式を用いて算出した基準治具１６での測定値の推定値に含まれる誤差を算出するための第２の数式を求める。 - 特許庁

Thus, a particular test result for forming direct index into Huffman table symbol values can be obtained, while reducing the size of a reference table used for such a purpose.例文帳に追加

これにより、ハフマン・テーブルの記号値への直接索引を生成する特定の試験結果が得られる一方、このような目的に使う参照テーブルのサイズを大幅に小さくすることができる。 - 特許庁

Difference between movements of continuous images is associated with a reference frame and a smoothing filter is applied to such a difference of samples of images adjacent to a test image (S-3, S-7).例文帳に追加

連続した画像の動きの間の差が、基準フレームに関連付けられ、平滑化フィルタが、テスト画像に隣接した画像のサンプルのこのような差に適用される（Ｓ−３、Ｓ−７）。 - 特許庁

Setting means 14 and 15 set the software stored in the storage area 173 to be used when the received software is decided to satisfy the reference in this test.例文帳に追加

設定手段１４、１５が、この試験で、受信されたソフトウェアが基準を充たしていると判定された場合は、記憶エリア１７３に記憶されているソフトウェアを使用するように設定する。 - 特許庁

At the time of performing a test, the transfer gate 304 is turned off by non-activation of the sample signal SAMPL, the reference potential Vreft accumulated in the capacitor 307 is outputted fron a node B3.例文帳に追加

テスト実施時、サンプル信号ＳＡＭＰＬの不活性化によりトランスファゲート３０４はオフとなり、キャパシタ３０７に蓄積された基準電位ＶｒｅｆｔがノードＢ３から出力される。 - 特許庁

The respective test items are associated with technical knowledge to be mastered, and a reference value of the number of achievements necessary for mastering the technical knowledge is set in the achievement storage part DB 2.例文帳に追加

各検査項目は修得すべき技術知に対応付けられており、実績記憶部ＤＢ２には当該技術知を修得するのに必要な実績回数の基準値が設定される。 - 特許庁

A digital signal system 40 creates a timing signal based on the reference clock signal, and supplies a test signal (frequency f_t) in synchronization with the timing signal to a device 10 to be measured.例文帳に追加

ディジタル信号系４０は、基準クロック信号に基づいてタイミング信号を作成し、タイミング信号に同期した試験信号（周波数ｆ_t ）を被測定デバイス１０へ供給する。 - 特許庁

The power supply voltage V1 and timing of operation reference signals CLK, DQS are varied, and a test program is executed via an information processor 3 on which a memory board 2A is mounted.例文帳に追加

本発明は、電源電圧Ｖ１及び動作基準信号ＣＬＫ、ＤＱＳのタイミングを可変して、メモリボード２Ａを実装する情報処理装置３を介して試験プログラムを実行する。 - 特許庁

The irradiation beam 4 is scanned from P1 to P6 under this condition, and a change of an obtained reflected light beam signal 7 is measured to confirm the presence of the test paper 8 and to detect the reference position.例文帳に追加

この状態で照射光ビーム４をＰ１からＰ６まで走査して、得られる反射光信号７の変化を測定し、試験紙８の有無の確認及び基準位置検出を行う。 - 特許庁

The external amplifier transistor 312 is disposed on a gate control line 318 side from a reference voltage generating section 320, and the pixel selection transistor 314 for test is disposed on a vertical signal line 19 side.例文帳に追加

画素外アンプトランジスタ３１２を基準電圧生成部３２０からのゲート制御線３１８側に配置し、テスト用画素選択トランジスタ３１４を垂直信号線１９側に配置する。 - 特許庁

Ultrasonic waves are transmitted to and received from a defect or the like 200 by oscillators 8, 9 to thereby detect an end 200a toward the test reference direction F of the defect or the like 200.例文帳に追加

欠陥等２００に対し振動子８，９より超音波を送受信することにより、この欠陥等２００の検査基準方向Ｆに対する端部２００ａを検出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory having a voltage generating circuit built in which can switch a voltage to be a reference when intermediate voltage is generated at the time of a normal mode and at the time of a test mode.例文帳に追加

通常モード時とテストモード時とで、中間電圧を発生する際の基準となる電圧を切換可能な電圧発生回路を内蔵した半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

When the accuracy matrix is acquired, a neighborhood probability distribution can be described preferably by a multivariate Gauss model, relative to each of the time-series data for the test and the normal time-series data for reference.例文帳に追加

精度行列が得られると、テスト用時系列データと参照用正常時系列データの各々について、好適には多変量ガウスモデルによって近傍性の確率分布が記述できる。 - 特許庁

An image quality analysis module 28 mutually compares the 1st and 2nd parameter values and outputs an image quality evaluation value result expressing the deterioration of the test video signal from the reference video signal.例文帳に追加

画像品質分析モジュール２８は、第１及び第２パラメータ値を比較して、基準ビデオ信号に対する試験ビデオ信号の劣化を表す画像品質評価値結果を出力する。 - 特許庁

A video quality measurement processor 20 carries out desired quality measurement to a frame where the test video signal to the reference video signal are aligned, and provides a video quality result in real time.例文帳に追加

ビデオ品質測定プロセッサ２０は、試験ビデオ信号及び基準ビデオ信号のアライメントされたフレームに所望品質測定を実行して、実時間でビデオ品質結果を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of easily obtaining a reference test material required at the time of inspection of the hydrogen embrittlement of a metal material by an eddy current flaw inspecting method and easily inspecting the hydrogen embrittlement.例文帳に追加

金属材料の水素脆化を渦流探傷法で検査する際に必要な基準試験材を容易に入手可能とし、水素脆化を容易に検査する方法を提供する。 - 特許庁

A switch circuit SW1 is provided in a MRAM containing, for example, a TMR element Rij and an N channel MOS transistor Mij to apply either the reference voltage VrefN or the burn-in test reference voltage VrefB larger than the reference voltage VrefN to a memory element.例文帳に追加

例えばＴＭＲ素子ＲｉｊおよびＮチャネルＭＯＳトランジスタＭｉｊをメモリ素子として含むＭＲＡＭの場合において、参照電圧ＶｒｅｆＮをメモリ素子に印加するか、あるいは、参照電圧ＶｒｅｆＮよりも大きな値のバーンインテスト用参照電圧ＶｒｅｆＢをメモリ素子に印加するかを切り換えることが可能な切り換え回路ＳＷ１を設ける。 - 特許庁

The group delay of the DUT is measured by modulating test and reference portions of a local oscillator signal at different frequencies to create modulation sidebands 205, applying the modulated test portion of the local oscillator signal to DUT 120,420, 920, 1020, and 1120, and then optically mixing the two modulated signals.例文帳に追加

DUTの群遅延は、局部発振器信号のテスト部分と基準部分を異なる周波数で変調して、変調側波帯(205)を生成し、局部発振器信号の被変調テスト部分をDUT(120,420,920,1020,1120)に印加し、次に、２つ被変調信号を光学的に混合することによって測定される。 - 特許庁

When a test input signal H is input to the test pad 3c when flash measured, the circuit 4 pulls down a Low input request pad 3a to a ground (GND) level, and the circuit 5 pull ups a High input request pad 3b to a reference voltage (VDD) level.例文帳に追加

フラッシュ測定時にテストパッド３ｃへテスト用入力信号Ｈを入力すると、プルダウン回路４ではＬｏｗ入力要パッド３ａを接地（ＧＮＤ）レベルまで引き下げ、且つプルアップ回路５ではＨｉｇｈ入力要パッド３ｂを基準電圧（ＶＤＤ）レベルまで引き上げる。 - 特許庁

Furthermore, an HMI device 2 also is provided with an APS input point data part and an APS output point data part, and during simulation, other test data are received, in addition to normal data; and a data reference destination for picture display is switched to perform normal plant monitoring and confirmation of the test result.例文帳に追加

また、ＨＭＩ装置２にもＡＰＳ用入力点データ部、ＡＰＳ用出力点データ部を設け、シミュレーション中は通常データの他に試験データを受信し、画面表示のためのデータ参照先を切り替えることで、通常のプラント監視と試験結果の確認をできるようにした。 - 特許庁

A clock generating circuit includes a clock-generating unit 20 for generating a plurality of clocks having predetermined phase differences, respectively, from the phase of a reference clock; and a self-test circuit BIST for measuring phase differences of a pair of clocks whose phases are adjacent, among the plurality of clocks, respectively, in an operation test.例文帳に追加

クロック生成回路は，基準クロックの位相に対して所定の位相差をそれぞれ有する複数のクロックを生成するクロック生成ユニット２０と，動作テストのときに，複数のクロックのうち位相が隣接する１対のクロックの位相差をそれぞれ測定するセルフテスト回路ＢＩＳＴとを有する。 - 特許庁

The concentration of at least one marker substance among eleven types of marker substances in a body fluid of an animal which has developed or can develop visceral fat obesity to which the test substance is administered is compared with a reference value to evaluate the efficacy of the reduction of an increase in the visceral fat of the test substance.例文帳に追加

被験物質を投与された内臓脂肪型肥満を発症している又は発症し得る動物の体液中における１１種のマーカー物質の少なくとも１つの濃度を基準値と比較し、被験物質が有する内臓脂肪増加抑制効果を評価する。 - 特許庁

A reflection tape 25 indicating a rotation reference position of the color wheel 18 is stuck to a position deviated from a normal position and if the purity of the right and left test patterns differs, the timing for setting the data for the right and left test patterns in the DMD 14 is so adjusted as to be made faster or slower.例文帳に追加

カラーホイール１８の回転基準位置を示す反射テープ２５が正規位置からずれた位置に貼られており、左右のテストパターンの赤色の純度が異なる場合は、ＤＭＤ１４に左右のテストパターン用のデータを設定するタイミングを早くするように、または遅くするように調整する。 - 特許庁

To disclose a technology for accurately testing the characteristics of a memory array by rechanging reference voltage and timing to be adjusted for a test of memory cells in particular in a software manner without requiring a different process regarding a test mode controller that utilizes a nonvolatile ferroelectric memory.例文帳に追加

本発明は不揮発性強誘電体メモリを利用したテストモード制御装置に関し、特にメモリセルのテストのため調整されるレファレンス電圧及びタイミングを別途のプロセスなくソフトウェア的に再変更し、メモリセルアレイの特性を正確にテストするようにする技術を開示する。 - 特許庁

A reference output section 15 applies H. 261 coding/decoding to video test signals by the required number of kinds in advance, samples and stores the resulting signals when they are stable at a still picture level and outputs the sampled and stored data according to video switching information (c) as video reference data (e).例文帳に追加

リファレンス出力部１５は予め必要な種類分の映像テスト信号をＨ．２６１符号化／復号化し、静止画レベルで安定している時にサンプリングして記憶したデ−タを映像切替情報ｃにしたがって映像リファレンスデ−タｅとして出力する。 - 特許庁

A test system 200 controls magnitude of voltage difference indicated between bit lines by enabling a first dummy cell 130 to transfer first reference electric charges on a first bit line and enabling a second dummy cell 140 to transfer second reference electric charges on a second bit line.例文帳に追加

テストシステムは第一基準電荷を第一ビット線上へ転送させるために第一ダミーセルをイネーブルさせ且つ第二基準電荷を第二ビット線上へ転送させるために第二ダミーセルをイネーブルさせることによって、ビット線間に表れる電圧差の大きさを制御する。 - 特許庁

The operational amplifier is connected to the reference voltage circuit to provide a predetermined fraction of a reference voltage substantially equal to the test voltage applied to the first line, and has an output terminal configured for one of a connected or disconnected state to the first line.例文帳に追加

オペレーショナルアンプは、第１ラインに印加される試験電圧とほぼ等しい参照電圧の所定の一部分を供給するために、参照電圧回路に接続され、第１ラインに対して接続状態または切断状態のいずれかに設定される出力端子を有する。 - 特許庁

By a two-dimensional relative treatment with a reference picture based on a series of transmission images obtained by inclining the test piece for each certain angle, an identical field of view is selected and cut out, thereby the position shifting is corrected.例文帳に追加

試料を一定の角度ごとに傾斜させて得られる一連の透過像からリファレンス画像との二次元相関処理によって同一視野を選択して切り出して試料の位置ずれを補正する。 - 特許庁

A brightness value of light from the specimen on a test piece is calculated beforehand, and a correction coefficient for allowing a brightness distribution in each concentration to agree with a brightness distribution of a reference concentration is calculated, and each correction coefficient is linearly approximated.例文帳に追加

事前に、試験片上の検体からの光の輝度値を算出し、濃度ごとの輝度分布を基準濃度の輝度分布に一致させる補正係数を算出し、各補正係数を直線近似する。 - 特許庁

Computer simulation for reading the time corresponding to the value, which is calculated by subtracting the reliability of L10 life or the like from 100% to set it to a test stop reference time upon damage of a piece, is performed from the cumulated distribution.例文帳に追加

この累積分布から、１００％からＬ１０寿命等の信頼度を減算した値に対応する時間を読み取って１個破損時の試験中止基準時間とするコンピュータシミュレーションを行う。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing means for simultaneous, simple reference by accurately grasping the position of each mast by a highly reliable method in the process of the installation safety test of the mast.例文帳に追加

マストの設置安全性試験の過程において信頼性の高い手法で各マストの位置を正確に把握し、同時に簡単に参照することができるような試験方法及び手段を提案する。 - 特許庁

A test of messages (4) whether or not reference information (5) satisfies validity criteria is started by a time, by an event, or by a remote manipulation via a mobile radio network.例文帳に追加

基準情報（５）が有効基準を満たしているか否かについてのメッセージ（４）の検査を、時刻により開始するか、またはイベントにより開始するか、または移動無線ネットワークを介して遠隔操作で開始する。 - 特許庁

A parametric generator 130 fetches description information from the text definition file and arranges on the basis of this reference information a segment description code describing the segment of the specific test pattern, in memory 132.例文帳に追加

パラメトリック発生器１３０は、テキスト定義ファイルから記述情報を取り出し、この基準情報に基づいて、特定テスト・パターンのセグメントを記述するセグメント記述コードをメモリ１３２に配置する。 - 特許庁

The correction rate of the opening volume of ink fountain keys of respective colors and the ink transfer volume are adjusted so that the measured density values conform to the reference density values of respective colors of printing samples based on a test printing plate.例文帳に追加

試験用刷版による印刷サンプルの各色の測定濃度値と基準濃度値とが一致するように各色のインキツボキーの開き量の補正量とインキ送り量の調整を行う。 - 特許庁

Reading is started (step 10), the line sensor is moved as shown by an arrow Y (step 108) to make a first scan (step 110), and a read signal of a test pattern is analyzed to set reference (step 112).例文帳に追加

読み取りを開始し（ステップ１００）、ラインセンサを矢印Ｙ方向に移動し（ステップ１０８）、第１のスキャンを行い（ステップ１１０）、テストパターンの読取信号を解析し、基準を設定する（ステップ１１２）。 - 特許庁

A a reference test chart and a CMYK mixed color patch formed by an image forming apparatus are read by a color sensor and a single color density correction table for CMYK is corrected based on the read result of the both.例文帳に追加

リファレンスのテストチャート、及び画像形成装置で形成したＣＭＹＫ混色パッチをカラーセンサで読み取り、両者の読み取り結果を元にＣＭＹＫの単色濃度補正テーブルを補正する。 - 特許庁