「reference test」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

A person in charge of inspections visually measures the position/rotation deviation amount of the test chart image 35a relative to the reference pattern 65 from the mask composite image 67 for the test displayed on a monitor 31, and inputs the measured result to the processor device 12.例文帳に追加

検査担当者は、モニタ３１に表示されるテスト用マスク合成画像６７から、基準パターン６５に対するテストチャート画像３５ａの位置・回転ズレ量を目視で測定し、この測定結果をプロセッサ装置１２に入力する。 - 特許庁

An optional electronic component is measured by the test tool 26, from the measured value by the test tool 26, the estimated value measured by the reference tool 16 is calculated by using the first equation, the estimated value is corrected by using the second equation.例文帳に追加

任意の電子部品について、試験治具２６で測定し、試験治具２６での測定値から第１の数式を用いて基準治具１６での測定値の推定値を算出し、この推定値を第２の数式を用いて補正する。 - 特許庁

The integration of pressure is determined for suction without including a clot and is used as a reference for comparing with the integration of pressure of each test sample suction to determine whether clotted blood may not interfere with the suction of a test sample or not.例文帳に追加

圧力積分を、クロットを含まない吸引に対し決定し、各試験試料吸引の圧力積分と比較するため基準として使用し、血餅が試験試料吸引の妨げにならないかどうかを決定する。 - 特許庁

In a test mode, a reference container La is connected to a pressure supply line 10A, a container Lb to be inspected is connected to a pressure supply line 10B, a test pressure is given to the pressure supply lines 10A, 10B from an air pressure source 1, and a valve 12A and a valve 12B are then closed.例文帳に追加

テストモードにおいて、圧力供給ライン１０Ａ，１０Ｂに基準容器Ｌａ，被検査容器Ｌｂを接続し、エア圧源１から圧力供給ライン１０Ａ，１０Ｂにテスト圧を付与した後、弁１２Ａ，１２Ｂを閉じる。 - 特許庁

Measured values in a condition where the electronic component 110 is mounted on the second test jig 140 are corrected relatively to a condition where it mounted on the first test jig 130 and moreover to a condition where it mounted on the reference jig 120.例文帳に追加

電子部品１１０を第２の試験治具１４０に実装した状態での測定値を、第１の試験治具１３０に実装した状態に相対補正し、さらに、基準治具１２０に実装した状態に相対補正する。 - 特許庁

The optical test signal has a property variably defined by a feedback loop formed between a reference image sensor 112 coupled to the probe card and a control unit 140 connected between the reference image sensor 112 and the illumination source.例文帳に追加

光学テスト信号はプローブカードと結合した基準イメージセンサ１１２と、基準イメージセンサ１１２と照明ソースとの間に連結された制御部１４０の間に形成されたフィードバックループによって多様に定義された性質を有する。 - 特許庁

The image output device 101 further estimates an undetermined density adjustment value on the basis of a comparison between the density of a color mixture patch group in the test chart 201 and the density of the color mixture patch group of a reference density in a reference chart 202.例文帳に追加

さらに、画像出力装置１０１は、テストチャート２０１における混色パッチ群の濃度とリファレンスチャート２０２における基準濃度の混色パッチ群の濃度との比較に基づいて、未決定の濃度調整値を推定する。 - 特許庁

In order to perform a (p) well variation test, the memory device is provided with an IPL decoding logic circuit 60, a reference voltage generator 70, an IPL voltage reference multiplexer 80, a (p) well voltage feedback circuit 90, and a differential amplifier circuit 36.例文帳に追加

ｐウェル変化テストを実行するために、メモリ・デバイスには、ＩＰＬデコード論理回路６０、基準電圧発生器７０、ＩＰＬ電圧基準マルチプレクサ８０、ｐウェル電圧フィードバック回路９０、差動増幅器回路３６が設けられる。 - 特許庁

This interferometer 10 includes a beamsplitter 32 for splitting a source beam into a test beam 40 and the reference beam 42, an imaging device 24 for detecting an interference pattern, a mirror 38 for reflecting the test beam toward the imaging device, a micromirror 44 for reflecting a portion of the reference beam toward the imaging device and a focusing mechanism 34 for focusing the reference beam on the micromirror.例文帳に追加

干渉計１０は、ソースビーム１４を試験ビーム４０及び基準ビーム４２に分割するビームスプリッタ３２と、干渉パターンを検出する結像デバイス２４と、前記試験ビームを結像デバイスの方向に反射するミラー３８と、前記基準ビームの部分を前記結像デバイスの方向に反射するマイクロミラー４４と、及び、前記基準ビームを前記マイクロミラーに集光する集光機構３４と、を含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a bit line reference potential VBL can be stably controlled independently of the drive capability of a tester driver at the time of a device evaluation test.例文帳に追加

デバイス評価テスト時にテスタドライバの駆動能力に関係なくビット線参照電位ＶＢＬを安定して制御可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A test item extracting means 107 extracts text items that pass through the module in which the change is performed with reference to the passing module information storing means 105.例文帳に追加

テスト項目抽出手段１０７は、通過モジュール情報記憶手段１０５を参照し、変更が行われたモジュールを通過するテスト項目を抽出する。 - 特許庁

A reference block 110 which is formed so as to be closely resembled to an integrated-circuit device, to be tested, in required various points is inserted into the fixture 107 of a test head 103.例文帳に追加

被試験集積回路デバイスと所要の諸点でできるだけ近似するように作った規準ブロック１１０をテストヘッド１０３のフィクスチャ１０７に挿入する。 - 特許庁

Then fuel consumption in a fuel consumption reference test and fuel consumption based on the virtual map are compared, and correction processing of CO2 discharging specific consumption is executed so that an error becomes small.例文帳に追加

更に、燃費基準試験の燃費と仮想マップに基づく燃費とを比較し、誤差が小さくなるように、ＣＯ２排出原単位の修正処理を実行する。 - 特許庁

The testing program includes a category weighting table 25 having a statistic weighting ratio, reference weighting ratio, an upper limit value and a lower limit value, which are set to each category obtained by classifying test cases.例文帳に追加

テストケースを分類したカテゴリに対して、統計重み付け比率、基準重み付け比率、上限値、下限値が設定されたカテゴリ重み付けテーブル２５を設けた。 - 特許庁

A test picture preparing part 20 performs the framing of a picture on a display (output) part 30 (S103), and decides the available range of a reference picture and a target picture.例文帳に追加

試験画像作成部２０は、表示（出力）部３０上の画面の枠取りを行うと共に（Ｓ１０３）、基準画像及び対象画像の利用範囲を決定する。 - 特許庁

Then, reference image data outputted by reading the color of the test chart formed actually by a printer 6 is converted based on the obtained color conversion characteristics.例文帳に追加

そして、プリンタ６で実際に形成されたテストチャートの色をイメージスキャナ８が読み取って出力する参照画像データを、上記求めた色変換特性に基づいて変換する。 - 特許庁

Reference data preset to the host side are read out (S8) and collated with the decrypted test data (S9) and a collation result is transmitted to the ATM (S10, S11).例文帳に追加

ホスト側に予め設定されている参照用データを読み出し（Ｓ８）、復号したテストデータと照合し（Ｓ９）、ＡＴＭへ照合結果を送信する（Ｓ１０，Ｓ１１）。 - 特許庁

To provide an image forming device in which the inclination adjusting amount of a reference line in a skew correction mechanism is easily calculated from a test chart outputted to paper.例文帳に追加

用紙に出力されたテストチャートからスキュー補正機構における基準線の傾き調整量を容易に割り出すことができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

At shipping from a plant, reference optimal recording powers P1, P2, P3, ... measured for all the zones of a test optical disk are stored corresponding to zones Z1, Z2, Z3, ....例文帳に追加

工場出荷時に、テスト用光ディスクの全ゾーンについて測定した基準最適記録パワーＰ１，Ｐ２，Ｐ３，…が、各ゾーンＺ１，Ｚ２，Ｚ３，…に対応して記憶されている。 - 特許庁

The speaker angle calculating portion calculates an installing angle of each multichannel speaker with reference to an orientation of a microphone from a test sound collected by the microphone.例文帳に追加

スピーカ角度算出部は、マイクロフォンによって集音されたテスト音声からマイクロフォンの向きを基準とするマルチチャンネルスピーカのそれぞれの設置角度を算出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which an operation test can be performed using original reference voltage obtained after minute adjustment without largely complexing a tester.例文帳に追加

テスタを大幅に複雑化させることなく、微調整後に得られる本来の基準電圧を用いて動作試験を行うことが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The reference value is a coefficient of variation determined based on the standard deviation and the mean value which are related to a plurality of pixel values obtained from the fixing member for supporting a test object.例文帳に追加

その基準値は、被検体を支える固定部材から得られる複数の画素値に関する標準偏差と平均値とに基づいて決定される変動係数である。 - 特許庁

To simply and rapidly perform the proper estimation of an ending time and a test stop reference time with high reliability by requiring no skill.例文帳に追加

打切り時間および試験中止基準時間の適切な見積もりが、簡単にかつ迅速に行え、かつ信頼性の高いものとでき、また熟練を要しないものとする。 - 特許庁

When the light output value is larger than the dark output value and the dark output value is equal to a dark output reference value, it can be judged that the test light source operates normally (step S6).例文帳に追加

そして、明出力値＞暗出力値であり、かつ、暗出力値＝暗出力基準値のときには、試験光源は正常に動作していると判断できる（ステップＳ６）。 - 特許庁

The refrigerant amount determination means compares a current value of the operation state amount with a reference value that is the operation state amount obtained at a test operation, and determines the propriety of the amount of the refrigerant.例文帳に追加

冷媒量判定手段は、試運転時における運転状態量を基準値として、運転状態量の現在値と比較して、冷媒量の適否を判定する。 - 特許庁

To provide a method for generating a fixed reference current without requiring an external test device and without being affected by variation of an internal process.例文帳に追加

本発明は、外部テスト装置を必要とせず且つ内部プロセス変化から悪影響を受けない、一定の基準電流を発生する方法を提供すること目的とする。 - 特許庁

The operator adjusts the amplification of an amplifying circuit 16 and a reference voltage of an A/D converter 18 so as to eliminate the difference between the white input picture and the luminance of the white test pattern.例文帳に追加

オペレータは、白の入力画像と白のテストパターンの輝度の差がなくなるように、増幅回路の増幅率やＡ／Ｄコンバータの基準電圧を調整する。 - 特許庁

The timing belt is allowed to stand still in this condition until a prescribed reference time, and the whole length of each of the timing belts is measured during and after the test, and the contraction amount is calculated.例文帳に追加

この状態で所定の基準時間までタイミングベルトを静置し、試験中および試験後の各タイミングベルトの全長を測定し、収縮量を算出した。 - 特許庁

A pattern matching part 502 compares the image data of an image outputted by a test object device according to the transmitted signal with the image data of the reference image.例文帳に追加

パターンマッチング部５０２は、送信された信号に対応してテスト対象装置が出力する画像の画像データと、基準画像の画像データとを比較する処理を行う。 - 特許庁

A difference tile is generated for each test image tile and corresponding reference image tile, and the tiles are stored together in an image file to be displayed to the human user.例文帳に追加

各検査画像タイルおよび対応する基準画像タイルに対し、差分タイルが生成され、前記タイルは、一緒に画像ファイルに記憶され、人間のユーザに対して表示される。 - 特許庁

Deviation amount between the center of the image of the test chart 29 and a reference point previously set in the frame range is calculated based on an imaging signal from the imaging part 20.例文帳に追加

撮像部２０からの撮像信号に基づき、テストチャート２９の像の中心とフレーム範囲内に予め設定された基準点とのズレ量を算出する。 - 特許庁

A reference signal 23 at a known lift-off may be weighted by a corresponding calculated ratio parameter and subtracted from a test signal 32 to compensate for lift-off.例文帳に追加

既知のリフトオフにおける基準信号（２３）を対応する計算した比パラメータで重み付けしてテスト信号（３２）から差し引くことによってリフトオフを補償することができる。 - 特許庁

The tester generates moire fringes, by overlapping the image of the test mask via the objective lens and the image passing the reference grid and then observes the disturbed moire fringes.例文帳に追加

そして、検査装置は、対物レンズを介するテストマスクの像と、基準格子とを透過した像とを重ねて、モアレ縞を発生させて、このモアレ縞の乱れを観察する。 - 特許庁

At the time, the position of the test data on the data column of data to be inputted to a serializing driver 103 is made different between the n-th cycle and n+1th cycle of a reference clock.例文帳に追加

この際、シリアライズドライバー１０３に入力するデータのデータ列上におけるテストデータの位置を基準クロックのＮサイクル目とＮ＋１サイクル目とで異なる位置とする。 - 特許庁

The test utilized for determination of torts derived from the judgment of the first instance of this case rendered by Tokyo District Court on March 24, 2004 will serve as a good reference. 例文帳に追加

この点、不法行為の成否の基準は、本事件第 1審である東京地裁平成16年3月24日判決によるものであり、 1つの参考となる基準になろう。 - 経済産業省

* As there is no animal test currently recognized internationally, it is only used for reference in this project, and is not used as a basis for deciding the GHS classification.例文帳に追加

※動物試験については、現行国際的に認められたものはないので、今回の事業においては参考にとどめ、ＧＨＳ分類の判定根拠に用いない - 経済産業省

When an opening/closing lid 58 is in a closed state wherein the opening/closing lid 58 faces to an inspection face 561 and when the individual authentication is not performed, a test pattern 581 formed on the opening/closing lid 58 is read by a fingerprint sensor 56, and the test pattern 581 is compared to reference data.例文帳に追加

開閉蓋５８が検査面５６１に対向した閉状態で、個人認証が行われていないときに、開閉蓋５８に形成されているテストパターン５８１を指紋センサ５６で読み取り、そのテストパターン５８１を基準データと比較する。 - 特許庁

A test pit 13 having an incidence opening 13a in the area on which the slit image 16 is formed is provided in parallel with the sample cell 11 and the reference pit 12, and a light-receiving element 23 is provided to a sensor part 20 to receive the light passing through the test pit 13.例文帳に追加

サンプルセル１１及びリファレンス用穴１２と並べて、スリット像１６が結像する領域内に入射口１３ａを持つテスト用穴１３を設け、これを通過する光を受光するための受光素子２３をセンサー部２０に設置した。 - 特許庁

When it is evaluated that the wiring pattern 111 for test reaches a reference level for shipment as a product, the test region 102 is cut from the substrate 100 and the remaining product region 101 is shipped as the product.例文帳に追加

評価の結果、テスト用配線パターン１１１が製品として出荷することができる基準レベルに達しているとされた場合、テスト領域１０２が基板１００から切り取られ、残った製品領域１０１が製品として出荷される。 - 特許庁

The test medium D supplied by the test medium supplying part 151 is carried by the carrying mechanism 111 driven at prescribed speed and the carrying speed is corrected to be speed within a prescribed threshold value for reference speed.例文帳に追加

試験媒体供給部１５１により供給された試験媒体Ｄは所定速度で駆動された搬送機構１１１によって搬送され、その搬送速度が基準速度に対して所定のしきい値内の速度になるように補正される。 - 特許庁

In an embodiment, a first phase difference is the difference between the phase of the output 52 of a test interferometer at the time t and the phase of the output of a test interferometer at a time offsetting the known delay of a reference interferometer from the time t.例文帳に追加

１実施形態では、第１の位相差は、時間ｔにおける試験干渉計の出力(52)の位相と、時間ｔから基準干渉計の既知の遅延だけオフセットした時間における試験干渉計の出力の位相との差である。 - 特許庁

The calibration data generating part generates calibration data by verifying defocus amount outputted from a focus detection part at the focusing position of the photographic lens obtained in the focus control test with the focus control test as the reference of calibration.例文帳に追加

校正データ作成部は、焦点制御テストを校正の基準として、焦点制御テストの際に求めた撮影レンズの合焦位置において焦点検出部から出力されるデフォーカス量を検証することにより、校正データを作成する。 - 特許庁

The drive IC includes a reference voltage setting circuit for outputting reference voltage by test voltage, and a load current control section for comparing load voltage output from load resistance with the reference voltage in response to load current flowing in load and maintaining the load current at a constant level on the basis of comparison results.例文帳に追加

本発明の駆動ＩＣは、テスト電圧によって基準電圧を出力する基準電圧設定回路と、負荷に流れる負荷電流に応答して負荷抵抗から出力される負荷電圧と基準電圧とを比較し、該比較結果に基づいて負荷電流を一定に維持させる負荷電流制御部と、を含む。 - 特許庁

A surface property evaluation method evaluates a surface property of a wafer W based on first reference light reflected by a first reference plan surface 56 in a state that the wafer W is not set, or based on test light reflected by the first reference plan surface 56 after transmitting the wafer W in a state that the wafer W is set.例文帳に追加

ウエハＷをセットしていない状態において、第１参照平面５６で反射された第１参照光と、ウエハＷをセットした状態において、ウエハＷを透過して後に第１参照平面５６で反射された被検光と、に基づいてウエハＷの表面性状を評価することを特徴とする。 - 特許庁

By operating the switch circuit SW1 through a decoder circuit TD by a mode change signal MODE1-n inputted from the outside, the burn-in test reference voltage VrefB can be applied to the memory element through a sense circuit SC in a burn-in test, instead of the reference voltage VrefN for the the normal read out.例文帳に追加

外部からモード移行用信号ＭＯＤＥ１〜ｎを与えてデコード回路ＴＤを介しつつ切り換え回路ＳＷ１を操作することにより、バーンインテスト時には、通常読み出し動作時の参照電圧ＶｒｅｆＮに代えてバーンインテスト用参照電圧ＶｒｅｆＢを、センス回路ＳＣを介してメモリ素子に印加することができる。 - 特許庁