「reference test」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

Normally, the supply blowers 12 and 24 and the exhaust blowers 16 and 28 are operated at the reference number of rotation obtained by a test, etc.例文帳に追加

通常は、給気ブロア１２、２４および排気ブロア１６、２８が、試験等により求めた基準回転数で運転している。 - 特許庁

In a lateral test, also parts other than the central part of the source 100 are turned on, and auxiliary light is generated with reference to the lateral light.例文帳に追加

側方試験時には、落射照明源１００の中央部分以外も点灯し、側方光に対して補助光を発生する。 - 特許庁

In a video signal quality measurement instrument, an alignment processor 16 determines whether it is possible to align the test video signal to the reference video signal spatially and temporally.例文帳に追加

アライメント・プロセッサ１６は、試験ビデオ信号を基準ビデオ信号に空間的且つ時間的にアライメント可能かを判断する。 - 特許庁

Plural corresponding values in the reference histogram HEXP are subtracted from the plural values in the test result histogram HCUT (61) to generate a dispersion histogram HDIF.例文帳に追加

試験結果ヒストグラムの複数の値から基準ヒストグラムの複数の対応値を減算して（61）、分散ヒストグラムHDIFを発生する。 - 特許庁

This comparator circuit is equipped with at least one transconductance step for receiving two test voltages and two reference voltages.例文帳に追加

コンパレータ回路は、２つの試験電圧および２つの基準電圧を受け取る、少なくとも１つの相互コンダクタンス段を備えている。 - 特許庁

the reference interval for a test may be different for different groups of people (for example, men and women). 例文帳に追加

属する集団が異なる場合は、検査の基準範囲も異なる可能性がある（例えば、男性の集団と女性の集団）。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To provide a fuse circuit that allows adjustment of critical voltage which becomes a reference for detecting the condition of the fuse during test.例文帳に追加

テスト時に、ヒューズの状態を検出するのに基準となる臨界電圧を調整できるヒューズ回路を提供すること。 - 特許庁

A coding section 406 codes the produced symbol position cross-reference data by test region coding to produce coded data.例文帳に追加

符号化部４０６は、生成されたシンボル・位置対応データを、テキスト領域符号化により符号化して符号データを生成する。 - 特許庁

An AWS (auto write strategy) is performed in a test area of a disk by a reference write strategy to correct a write strategy before writing.例文帳に追加

書き込みを行う前に基準ライトストラテジによりディスクのテストエリアでＡＷＳを行ってライトストラテジの補正を行う。 - 特許庁

A plurality of distance references are used by changing a reference for measuring a distance between a test sample and a class a little so that it is possible to introduce the similar but different distance references for measuring a distance between the test sample and a hyperplane and that between the test sample and a hypersphere.例文帳に追加

テストサンプルとクラスとの距離を測る基準を少し変えた複数の距離基準を用いることである．テストサンプルと超平面との距離，テストサンプルと超球面との距離といった似かよった異なる距離基準の導入である． - 特許庁

An environment test apparatus 17 monitors the change in a pressure of a primary side flow channel of a heat exchanger 1 in the environment test apparatus 17 to detect a reduction in pressure due to damage, and determine the presence or absence of damage in the environment test apparatus 17 based on the prescribed reference.例文帳に追加

環境試験装置１７内における熱交換器１の一次側流路の圧力の変化を監視することで、破損による減圧を感知し、所定の基準に基づき、環境試験装置１７内の破損の有無を判別する。 - 特許庁

As the transfer gate 213 is turned-on responding to a test signal at the time of the device evaluation test, a potential of an output node B1 in an output stage 700 is controlled by applying voltage to the reference node A2 through the pad 401 by a test driver.例文帳に追加

デバイス評価テスト時はテスト信号に応答してトランスファゲート２１３がオンとなるため、パッド４０１を介してテスタドライバで基準ノードＡ２に電圧を印加することで、出力段７００内の出力ノードＢ１の電位を制御する。 - 特許庁

Then, a test data generation unit generates test data for each data item according to at least one of the attribute indicated by the data type acquired by the database information acquisition unit or the screen information acquisition unit and the reference relation indicated by the reference information acquired by the database information acquisition unit.例文帳に追加

そして、テストデータ生成部が、データの項目ごとに、データベース情報取得部又は画面情報取得部によって取得されたデータ種別の属性及び参照情報の参照関係のうち少なくとも一方に応じたテストデータを生成する。 - 特許庁

This semiconductor testing device has a semiconductor testing circuit 101 having a driver 110 for making and outputting a test signal corresponding to a test pattern to a test object device 20, replica drivers 120 and 130 for generating a comparison signal by synthesizing the test signal and a reference signal and resistances 122a, 122b, 132a and 132b.例文帳に追加

本発明にかかる半導体試験装置は、試験パターンに対応する試験信号を生成し試験対象装置２０に出力するドライバー１１０と、試験信号と基準信号とを合成した比較信号を生成するレプリカドライバー１２０，１３０および抵抗１２２ａ，１２２ｂ，１３２ａ，１３２ｂとを備えた半導体試験回路１０１を有する。 - 特許庁

The reference chip compares the test data with the returned test data and discriminates whether the test target chip operates steadily, thus dispensing with separate, expensive test equipment and obtaining effect for reducing the cost of products.例文帳に追加

本発明に係るテストシステムはテストデータを生成するレファレンスチップと、前記テストデータが入力されて前記レファレンスチップに前記テストデータを返却するテストターゲットチップとを含み、前記レファレンスチップは前記テストデータと前記返却されたテストデータとを比較して前記テストターゲットチップが定常に動作するか否かを判別することを特徴とする。 - 特許庁

A reading part 500 reads and executes a scenario stored in a scenario DB, and generates test data(signal), and a model generation part 501 generates image data of a reference image used for the verification of a test result.例文帳に追加

読込部５００は、シナリオＤＢに記憶されているシナリオを読み出して実行し、テストデータ（信号）を生成し、モデル生成部５０１は、テスト結果の検証に用いる基準画像の画像データを生成する。 - 特許庁

To provide a device for measuring jitter of signal under test, which can compute optimum reference band for observing the signal under test to minimize measurement error and measuring time.例文帳に追加

被測定信号のジッタを測定するジッタ測定装置において、被測定信号を観測するべき最適な参照帯域を算出することにより、測定誤差を最小化し、且つ測定時間を最小化する。 - 特許庁

Also, the test pressure is distributed and inputted into an air pressure passage 46, and a fixed reference pressure is outputted from the air pressure passage 46.例文帳に追加

このとき、テスト圧は空圧経路４６にも分配して入力されており、この空圧経路４６からは、所定の基準圧が出力される。 - 特許庁

To shorten inspection time for an inspection of a scanner to read an image of a reference sheet and that of a test sheet, which is an object of measurement.例文帳に追加

基準シートの画像と、測定対象となるテストシートの画像を、スキャナに読み取らせる検査の検査時間を短縮させること。 - 特許庁

To sharply improve test efficiency by recording the correction value of a reference voltage generating circuit in a semiconductor device without using a fuse blowing device.例文帳に追加

ヒューズブロー装置を用いずに基準電圧発生回路の補正値を半導体装置内に記録し、テスト効率を大幅に向上させる。 - 特許庁

1. Methods for labeling the containers used for reagents, test solutions, culture media, reference standards, standard solutions, and standard microorganism strains (hereinafter referred to as "reagents, etc.") 例文帳に追加

一　試薬、試液、培地、標準品、標準液及び標準微生物の株（以下「試薬等」という。）の容器にすべき表示の方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a coloring test paper, which can be readily colored and discriminated (identified) with reference to a solvent such as a chlorine-based solvent, an alcohol, an amine or the like.例文帳に追加

塩素系溶剤、アルコール、アミンなどの溶剤に対して、簡易に呈色識別（同定）できる呈色試験紙を提供する。 - 特許庁

A trial writing processing part 8 records and reproduces a test signal avoiding the area, where the deviation is detected, with reference to the memory 11.例文帳に追加

試し書き処理部８は、メモリ１１を参照して、デビエーションを検出した領域を回避してテスト信号を記録及び再生する。 - 特許庁

A test chart T is captured while the lens unit 9 faces a reference imaging element 21, and the lens unit 9 is positioned at the just-focus position.例文帳に追加

レンズユニット９を基準撮像素子２１に対向させてテストチャートＴを撮像し、ジャストフォーカス位置にレンズユニット９を位置決めする。 - 特許庁

The peak voltage of a detection signal of the test electrostatic image 1x is compared with a reference value measured in a state where the photoreceptor drum 1 is new.例文帳に追加

試験静電像１ｘの検出信号のピーク電圧を感光ドラム１の新品状態で測定した基準値に比較する。 - 特許庁

An accumulation means 12 accumulates the test video signal and the reference video signal with setting information showing desired quality measurement processing.例文帳に追加

蓄積手段１２は、試験ビデオ信号及び基準ビデオ信号を、所望品質測定処理を示す設定情報と共に蓄積する。 - 特許庁

A reference area S including a part of the test pattern is set on the read image expressing the content of an image of the read image data, and a comparison area C1 to be compared with the reference area on the read image is set.例文帳に追加

読取画像データの画像内容を表す読取画像上でテストパターンの一部を含む基準領域Sを設定し、読取画像上で基準領域と比較する比較領域C1を設定する。 - 特許庁

For example, as illustrated in Fig.4, a powder of B (reference No. 14) and molten Ag (reference No. 15) are observed in a bonding layer 13 in a bonding test specimen, which demonstrates that the brazing material for bonding in atmosphere has been melted.例文帳に追加

たとえば図４から判るように、接合試験片の接合層１３には、Ｂ粉末（符号１４）および溶融Ａｇ（符号１５）が観察され、大気接合用ろう材が溶融したことを確認した。 - 特許庁

A mode of inspecting a stop at a reference position which makes it possible to inspect whether or not the sheet member stops at the reference position and to correct the stop position is provided as a test mode in regard to conveyance of the sheet member by a conveying device.例文帳に追加

搬送装置によるシート部材の搬送に関するテストモードとして、シート部材が基準位置に停止するか否か検査してその補正を可能とする基準位置停止検査モードを有する。 - 特許庁

The first reference line 104 and second reference line 106 formed to the image-receiving paper 40 are detected by a reflecting type photosensor 148, so that the formation position of the test image 102 is automatically grasped.例文帳に追加

反射型フォトセンサ１４８により、受像紙４０に形成された第１基準ライン１０４および第２の基準ライン１０６を検知し、テスト画像１０２の形成位置を自動的に把握する。 - 特許庁

When the equipment 400 receives results of a test, the equipment 400 compares a decision reference value which is variably set on the basis a test condition containing a geographic condition or an environmental condition with the results of the test and decides existence of abnormality.例文帳に追加

また、加入者回線試験・中継装置４００は、試験結果を受け取ると、地理的条件あるいは環境的条件を含む試験条件に基づいて可変に設定された判定基準値と試験結果とを比較し異常の有無の判定を行う。 - 特許庁

A test process comparing part 18 compares a progress reference value determined by the test process determining part 12, with the result of the analysis outputted by the test result analyzing part 16, judges the situation of the progress, and outputs the comparison result data indicating the result of the judgment.例文帳に追加

テスト工程比較部１８は、テスト工程設定部１２によって設定された進捗基準値とテスト成績分析部１６によって出力された分析結果とを比較して進捗状況を判断し、この判断結果を示す比較結果データを出力する。 - 特許庁

A level detector 12 of a DRAM (dynamic random access memory) resets a flip-flop 27, 28, when the external reference voltage VR2 becomes lower than the threshold potential in the voltage test mode, to produce the internal power-supply potential VCCP according to the external reference potential VR2, and releases the voltage test mode.例文帳に追加

ＤＲＡＭのレベル検出器１２は、外部基準電位ＶＲ２に従って内部電源電位ＶＣＣＰを生成するための電圧テストモードにおいて、外部基準電位ＶＲ２がしきい値電位よりも低下したことに応じてフリップフロップ２７，２８をリセットし、電圧テストモードを解除する。 - 特許庁

Then, the CPU 10 finds the reference value of the optimum recording power, based on the states of reproduced respective test signals, and moves the PU unit 15 to the data write-in position of the data area of the disk 2 and performs recordings of test signals of plural steps around the reference value to the data area.例文帳に追加

その再生された各テスト信号の状態に基づいて最適記録パワーの基準値を求め、ＰＵユニット１５をデータ領域のデータ書き込み位置へ移動させ、そのデータ領域へ上記基準値を中心にした複数段階のテスト信号の記録を行なう。 - 特許庁

A phase difference derived from a phase difference between test and reference surfaces is distinguished from that derived from a spatial path difference between reference and test beams by performing measurement at different wavelengths, because these phase differences change in different ways as the measuring wavelength changes.例文帳に追加

試験表面と参考表面の間の反射位相差由来の位相差は異なる波長での測定を行うことで参考光束と試験光束の間の空間経路差に由来する位相差と区別され、なぜならそれらは測定波長変化に伴い異なった変化を示すためである。 - 特許庁

As a remedy for the change with time, a correction circuit 40a saves the relation between the reproduction test signal level Vtest0 of an initial period and a reference level Vref0 and forms a correction signal Sc1 for approximating the relation between the present reproduction test signal level Vtest and the reference level Vref to the saved relation.例文帳に追加

経時的変化の対策として、補正回路４０ａは、初期の再生テスト信号レベルＶtest_0 と基準レベルＶref_0との関係を保存し、現在の再生テスト信号レベルＶtestと基準レベルＶref との関係を保存したものに近づけるための補正信号Ｓｃ_1 を生成する。 - 特許庁

A specific agent is added to water 1 for determining the presence or absence of corrosiveness by using a test electrode 2 made of copper or a copper alloy, a counter electrode 3, a reference electrode 4, and a constant-current supply 5 before the potential difference between the test and reference electrodes when a constant current flows is measured by an electrometer 6.例文帳に追加

銅または銅合金からなる試験極２、対極３、基準電極４と定電流電源５を用い、腐食性の有無を判定する水１に特定の薬剤を添加したのち、定電流を流したときの試験極／基準電極の電位差を電位計６で測定する。 - 特許庁

A method includes the steps of implementing a three-dimensional imaging scan, such as a computerized tomography scan, on the material and a reference standard; and displaying test images of the material and reference images of the reference standard in a plurality of two-dimensional scan screens generated by scanning.例文帳に追加

材料と参照基準に対してコンピュータ断層スキャン等の三次元撮像スキャンを実施し、スキャニングによって生成された複数の二次元走査画面において材料の試験画像と参照基準の参照画像とを表示するステップが含まれる。 - 特許庁

A statistic test section 14 decides whether or not the dispersion of the normal white noise component is displaced from a specified range in a reference distribution.例文帳に追加

統計検定部１４は、正規白色雑音成分の分散が基準分布における所定の範囲から外れているか否かを判定する。 - 特許庁

To provide a test-data generation apparatus, by which the operation of a semiconductor device with reference to the input of data is evaluated at low costs and easily.例文帳に追加

データの入力に対する半導体装置の動作評価を低コストで容易に実現するための試験用データ生成装置を提供する。 - 特許庁

The reproduction test signal level Vtest is compared with a reference level Vref in a comparator circuit 25 and in case of Vref or above, an alarm circuit 26 is operated.例文帳に追加

その再生テスト信号レベルＶtestが比較回路２５において基準レベルＶref と比較され、Ｖref 以上のときは警報回路２６を動作させる。 - 特許庁

The scanned first and second test images provide revision data for matching color correction tables of the first image marking engine and the second image marking engine, wherein the data glyph and the reference patches of the scanned image data are compared with retrieved color correction tables for generating compensation values.例文帳に追加

走査画像データのデータグリフ及び参照パッチは、検索されたカラー補正テーブルと比較され、補償値を生成する。 - 特許庁

The sense amplifier compares the test current flowing through the bit lines with a reference current, and outputs output data corresponding to the result of the comparison.例文帳に追加

センスアンプは、ビット線を流れるテスト電流とリファレンス電流との比較を行い、当該比較の結果に応じた出力データを出力する。 - 特許庁

The system to carry out the method further comprises a signal generator to transmit test signals to the distal tip and reference electrodes.例文帳に追加

方法を実施するシステムは更にテスト信号を遠位の先端の及び基準の電極へ伝送するために信号発生器を具備している。 - 特許庁

The determination part 12 for adjustment determines pass/fail at a prescribed reference timing by receiving a test signal output from the driver pin block 11.例文帳に追加

調整用判定部１２は、ドライバピンブロック１１から出力される試験信号を受信して所定の基準タイミングでパス／フェイルを判定する。 - 特許庁