「reference test」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

Before inspecting an inspection object 1, the light quantity of a test pattern 1a is measured with an accumulation type line sensor 7, whether the measurement results are within a predetermined reference value range is judged, calibration is conducted according to the judgment, and then the inspection object 1 is inspected.例文帳に追加

検査対象１を検査する前には、テストパターン１ａの光量を蓄積型ラインセンサ７で測定し、測定結果が予め定められている基準値範囲内に入っているかを判断し、それに応じてキャリブレーショウンを行い、その後に検査対象１を検査する。 - 特許庁

To provide a real-time measurement branch type interferometer that takes a real-time measurement of light interference with high precision by suppressing disorder of a wavefront during passage through an optical element for converting a reference light and a test light into two circular polarized lights which have mutually opposite rotational directions of polarization.例文帳に追加

参照光および被検光を偏光の回転方向が互いに逆向きとなる２つの円偏光に変換するための光学素子を通過する際の波面の乱れを抑制し、実時間での光干渉測定をより高精度に行うことが可能な実時間測定分岐干渉計を得る。 - 特許庁

In this case, the probe is oriented so that the shaking direction axis L1 being the direction shaping the reference axis along the ultrasonic wave propagation route centering around the focus of the probe crosses the surface L2 of a propagation part including the surface of the test target of an ultrasonic propagation part.例文帳に追加

この場合、超音波の伝搬経路に沿った基準軸を前記探触子の焦点を中心に揺動させる方向である揺動方向軸Ｌ１を超音波伝搬部の試験体表面を含む伝搬部表面Ｌ２と交差させるように前記探触子を配向する。 - 特許庁

The manufacturing method of the piezoelectric device includes a test coating stage of applying the adhesive from the needle and a second measurement stage of measuring a coating amount deviation due to difference between the coating amount of the applied adhesive and a reference coating amount, and therefore a proper amount of adhesive can be applied to a proper position.例文帳に追加

ニードルから接着剤を塗布するテスト塗布工程、及び塗布された接着剤の塗布量と基準塗布量との塗布量ずれを測定する第２測定工程を備えているので、適切な位置に接着剤を適正な塗布量を塗布することができる。 - 特許庁

An initial population is produced by specifying a plurality of loci of reference markers, specifying the site of at least one test gene locus corresponding the postulated gene locus having mutation which may cause a specific disease, and thereby specifying a gene locus.例文帳に追加

複数の参照マーカーの座並びに変異がある特定の疾患を惹起しているかもしれない遺伝子座であると仮定されるものに相当する少なくとも１つの検査遺伝子座の部位を特定することにより、遺伝子座を特定して、初期集団をもつことである。 - 特許庁

When electricity supply is started, electricity supply test is executed, before starting full-scale supply, to determine whether "a safe state" exists from the electricity use status of the user and the standby-electricity reference value, and whether to execute the full-scale supply is decided, based on the result of the determination.例文帳に追加

電力供給開始時には、本格的な供給開始前に電力供給テストを実施し、ユーザの電力使用状況と待機電力の基準値から「安全な状態」であるかを判定し、判定結果によって本格供給を実施するか否かを決定する。 - 特許庁

On one surface of the control substrate 4 in multi-layered structure mounted with the circuit driving the liquid crystal panel, a chip mounted component, a silk display of the outside drawing of the chip mounted component, a land 21 for the chip mounted component, a silk display of a reference number, and a test land 22 for inspection are provided.例文帳に追加

液晶パネルを駆動する回路を搭載した多層構造のコントロール基板４の片面に、チップ実装部品と、チップ実装部品の外形図のシルク表示と、チップ実装部品のランド２１と、リファレンス番号のシルク表示と、検査用のテストランド２２とを設けるようにする。 - 特許庁

A correction plate 6 is arranged between the measuring lens 1 and the reference spherical reflecting mirror 7, and spherical aberration of a test transmission wavefront acquired by transmission through the measuring lens 1 and the correction plate 6 is measured actually, and the thickness of the correction plate 6 is calculated based on the measured value and the correspondence relation.例文帳に追加

測定用レンズ１と基準球面反射鏡７との間に補正板６を配置し、測定用レンズ１および補正板６を透過してなる被検透過波面の球面収差を実際に測定し、その測定値と上記対応関係とに基づき、補正板６の厚みを算定する。 - 特許庁

A reference image recording apparatus records a test pattern image on the electronic paper being a calibration object and derives paper calibration data for correcting variations in the finish of the recording image due to the electronic paper being the calibration object on the basis of the finish of the image (refer to Figure 2 (A)).例文帳に追加

基準としての画像記録装置により校正対象の電子ペーパにテストパターン画像を記録し、該画像の仕上がりに基づいて校正対象の電子ペーパに起因する記録画像の仕上がりの変動を補正するためのペーパキャリブレーションデータを導出する（（Ａ）参照）。 - 特許庁

During an analysis of recorded data, conductivity measured relative to a reference well 16 holding only a cell proliferation medium is subtracted from conductivity measured relative to another well 16, thereby improving the display of test results obtained by monitoring and recording cell culture.例文帳に追加

記録されたデータの分析の間に細胞増殖培地のみを保持する基準ウェル（１６）に対して測定された導電率を他のウェル（１６）に対して測定された導電率から減算することによって、細胞培養を監視および記録することによって得られるテスト結果の表示を改良する。 - 特許庁

In the straightening bodies 24 and 25 at the upstream side for receiving wind pressure directly, wind pressure resistance when air is excluded from a space (space on a disk) where the rotary beam 6 rotates and occupies is smaller than that of a reference body for comparison test and has less windage loss and noise by that amount.例文帳に追加

直接に風圧を受ける上流側の整流体２４，２５は、回転ビーム６が回転して占める空間（円盤上空間）から空気を排除する時の風圧抵抗が、比較試験用基準体のそれよりも小さく、それだけ、風損が少なく、騒音も小さい。 - 特許庁

According to this conversion, the influence of color conversion characteristics of the image scanner 8 is removed from the data after conversion (or a reference image data whose conversion is finished), whereby the color conversion characteristics of the printer 6 can surely be obtained by comparing the image data whose conversion is finished already with a test data.例文帳に追加

この変換によって、変換後のデータ（つまり変換済参照画像データ）からはイメージスキャナ８の色変換特性の影響が除かれるため、この変換済画像データとテストデータとを比較することにより、プリンタ６の色変換特性を正確に求めることができる。 - 特許庁

To avoid a fear of a current tapered dispensing tip end sending too much excessive amount of a reference liquid and a fear of giving a user's inconvenience and a trouble since a requirement of a sample amount of a part of commercially available test pieces reaches a sub-micron liter level.例文帳に追加

一部の商業的に利用可能な試験片のサンプル量の要件はサブマイクロリットルのレベルにまで達しているので、超過量の対照溶液が現行の先細の分注先端部によって送達される恐れがあり、使用者に不都合および厄介を生じてしまうことを回避する。 - 特許庁

Next, the normal printed matter to be reference is selected (step S21), a test normal printed matter is selected (step S22), an acquiring device S acquires these images (step S23), and a discrimination threshold T_ps is calculated on the basis of detection strength of electronic watermark detected from the acquired image data (step S24).例文帳に追加

次に、基準となる正規品の選択（ステップＳ２１）、及び、テスト正規品の選択（ステップＳ２２）を行い、取込機器Ｓによりこれらの画像を取り込み（ステップＳ２３）、取り込まれた画像データから検出された電子透かしの検出強度をもとに、判別しきい値Ｔ＿ｐｓを求める（ステップＳ２４）。 - 特許庁

An observer turns the objective lens part 134 of a remote controller 130 for a test pattern (color patch) and a reference white board 114 displayed on a video display surface 112, adjusts a viewing angle and a focus and measures the illumination light characteristics of the observation environment and monitor display characteristics.例文帳に追加

観察者がリモートコントローラ１３０の対物レンズ部１３４を、映像表示面１１２に表示されるテストパターン（カラーパッチ）や基準白色板１１４に向けて画角の調整および焦点調節を行い、観察環境の照明光特性とモニタ表示特性とを計測する。 - 特許庁

A reference path 200 is provided with a second comparator 100 comparing a test signal 20 with a second threshold Vth2 to supply a second comparison signal 100A, and a second sampling device 260 receiving both a second timing signal 270 comprising a plurality of consecutive secondary timing marks and the above second comparison signal 100A as input signals.例文帳に追加

基準経路２００は、試験信号２０を第２の閾値Ｖth2と比較し、第２の比較信号１００Ａを供給する第２の比較器１００、複数の連続する第２のタイミングマークからなる第２のタイミング信号２７０とともに第２の比較信号１００Ａを入力として受信する第２のサンプリング装置２６０を備える。 - 特許庁

An image processing server 22a transmits image data for test to a plurality of image processing servers 21a-21c of pre-stage, acquires the results of image processing, and selects any one image processing server as a process execution server from among the image processing servers of pre-stage for which a determination is made that the results exceed a reference value.例文帳に追加

画像処理サーバー２２ａは、前段の複数の画像処理サーバー２１ａ〜２１ｃにテスト用画像データを送信し、画像処理された結果を取得し、その結果が基準値以上と判断された前段の画像処理サーバーの中から、いずれか１つの画像処理サーバーを処理実行サーバーとして選択する。 - 特許庁

The device incudes: a carriage support base 21 for holding the carriage frame; a chart support base 25 for holding a test chart; a driving means 28 for positionally moving the chart support base; a control means (controller) 30 for controlling the driving means; and a determining means (computer) 35 for comparing a read signal output from the sensor with a reference value.例文帳に追加

キャリッジフレームを保持するキャリッジ支持台２１と、テストチャートを保持するチャート支持台２５と、これを位置移動する駆動手段２８と、この駆動手段を制御する制御手段（コントローラ）３０と、センサから出力される読取信号と基準値とを比較する判別手段（コンピュータ）３５とを備える。 - 特許庁

The method includes a step for generating deficiency management information, as testing information, generated after performing the initialization which is not verified on an empty testing disk in which no data are recorded and a step for confirming the testing information by using reference testing information about the initialization which is not verified to provide the test result.例文帳に追加

何のデータも記録されていない空テストディスク上に検証しない初期化を行った後に生成される欠陥管理情報をテスト情報として生成する段階及び、検証しない初期化についての基準テスト情報を使用して前記テスト情報を確認してテスト結果を提供する段階を含む。 - 特許庁

Namely, a frequency when an amplitude level reaches to a peak is detected as an actual measurement resonance frequency by varying the frequency of a test wave given to the antenna resonance circuit 81 by an oscillation circuit 85, a capacitor capacity of the antenna resonance circuit 81 is changed so as to make the actual measurement resonance frequency approaching to a reference frequency fp.例文帳に追加

即ち、発振回路８５がアンテナ共振回路８１に付与する試験波の周波数を変化させて、振幅レベルがピークに至ったときの周波数を実測共振周波数を検出し、その実測共振周波数を基準周波数ｆｐに近づけるようにアンテナ共振回路８１のコンデンサ容量を変更する。 - 特許庁

In normal operation of an elevator governor before starting an operation test, a worker gradually raises a rotation speed of a governor sheave 2 using an electric drill 5 and stores the operation sound emitted by the over-speed switch 3 and the rope catcher 4 in starting of operation respectively in the speedometer 6 as reference operation sound data.例文帳に追加

動作試験開始前のエレベータ調速機の正常動作時、作業者は、電気ドリル５を用いて調速機シーブ２の回転速度を徐々に上昇させて過速スイッチ３及びロープキャッチ４がそれぞれ作動開始時に発する動作音を基準動作音データとして速度計６に記憶させる。 - 特許庁

The testing method for making the determination of good or no-good by means of a current test in static state in a wafer level testing step 5 of the semiconductor integrated circuit is characterized in that the reference current value for judging soundness is determined for each product on the basis of characteristic values of a transistor in a basic characteristics measurement step 2 for determination.例文帳に追加

半導体集積回路のウェハ状態試験工程５での静止状態電流試験によって良否判定を行う検査方法で、その良否判定基準となる基準電流値を基礎特性測定工程２でのトランジスタの特性値を基に製品ごとに決定して判定を行うことを特徴とする。 - 特許庁

To solve a problem that an electrical length between a reference pin and a skew adjustment part has been measured upon timing calibration, which causes an increase in a circuit scale and the impossibility of calibration of a Tpd matching error of a comparator in the skew adjustment part and a comparator in a test pin, and consequently the timing can not be calibrated accurately.例文帳に追加

タイミング校正時に、基準ピンとスキュー調整部間の電気長を測定していたので、回路規模が増大し、かつスキュー調整部内のコンパレータとテストピン内のコンパレータのＴｐｄのマッチング誤差を校正できないので、タイミングを精度よく校正することができなかったという課題を解決する。 - 特許庁

After replacing the constitutional member, the image density of the test toner patch image formed based on the controlled image forming condition is detected by the image density sensor (S29), and the emission output and/or the photosensitivity are adjusted and the image density sensor is calibrated so that the detected value becomes a prescribed reference value (S30).例文帳に追加

前記構成部材の交換後に、制御した画像形成条件に基づいて形成したテストトナーパッチ画像の画像濃度を画像濃度センサにより検出して（Ｓ２９）、検出した値が所定の基準値となるように、発光出力及び／又は受光感度を調整して画像濃度センサを較正する（Ｓ３０）。 - 特許庁

To provide an abnormality detection system in which an abnormality in the physical position of a product on a wafer or an unusual phenomenon can be detected even when an inspector has not looked map data actively or when the abnormality of a product in a unit of test, e.g. in a unit of lot, does not reach a specified abnormal reference level.例文帳に追加

検査者がマップデータを能動的に見なかった場合、またはロット単位等の試験単位における製品の異常が所定の異常基準値に達していない場合であっても、ウェーハ上における製品の物理位置的な異常または異常らしき現象を検出することができる異常検出システム等を提供する。 - 特許庁

Thereby, even if a clock terminal, an address terminal, and a command terminal are connected commonly among a plurality of semiconductor memory devices in a test time in a wafer state, since a clock signal can be received from the data input/output terminal DQ, a code performing pseudo minute adjustment of reference voltage can be supplied individually for each chip.例文帳に追加

これにより、ウェハ状態でのテスト時において、複数の半導体記憶装置間でクロック端子、アドレス端子及びコマンド端子がそれぞれ共通接続されていても、クロック信号をデータ入出力端子ＤＱから受け付けることができることから、基準電圧の微調整を擬似的に行うコードをチップごとに個別に供給することが可能となる。 - 特許庁

The delivering circuit 132 includes a rate generator 144, a fail capture control 146 which specifies a defective cell and performs an output to the outside, a timing generator 148 which generates a timing signal based on a reference test frequency signal, and a pattern generator 150 which outputs an address signal for reading pattern information from the outside to the outside.例文帳に追加

受け渡し回路１３２は、レイト・ジェネレータ１４４と、不良セルを特定して、外部に出力するフェイル・キャプチャー・コントロール１４６と、基準試験周波数信号を基に、タイミング信号を発生するタイミング・ジェネレータ１４８と、パターン情報を外部から読み出すためのアドレス信号外部に出力するパターン・ジェネレータ１５０とを備える。 - 特許庁

Further since inhibiting acetylcholine degrading enzyme activity, increasing an acetylcholine concentration in hippocampus with deepest reference to learning and memory and raising a percentage of correct answers of a radial maze test using a scopolamine-induced learning disorder rat used widely as a dementia animal model, 2,5-piperazinedione, 3,6-bis(phenylmethyl)-, (3R, 6S)-(9Cl) has learning and memory improving action.例文帳に追加

さらに、2,5-ピペラジンジオン,3,6-ビス(フェニルメチル)-,(3R,6S)-(9Cl)がアセチルコリン分解酵素活性を阻害し、学習記憶に最も関連の深い海馬におけるアセチルコリン濃度を増やし、認知症動物モデルとして汎用されているスコポラミン誘発学習障害ラット用いた放射状迷路試験の正答率を上昇させることから、学習記憶改善作用を併せ持つ。 - 特許庁

The method includes a step for generating deficiency management information, as testing information, generated after performing the initialization to be verified on a testing disk obtained by generating a well- known physical deficiency on an empty testing disk and a step for confirming the testing information by using reference testing information about the initialization to be verified to provide the test result.例文帳に追加

空テストディスク上に周知の物理的な欠陥を生成することによって得られるテストディスク上に検証する初期化を行った後に生成される欠陥管理情報をテスト情報として生成する段階及び、検証する初期化についての基準テスト情報を使用して前記テスト情報を確認してテスト結果を提供する段階を含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which evaluates a PLL circuit, by applying stress to each operated component circuit in the frequency range used usually without changing the characteristics of analog circuits such as voltage controlled oscillator into low frequency, even when a reference clock signal 3 of low frequency is inputted as in the case of a burn-in test.例文帳に追加

バーンインテスト時のように低周波数の基準クロック信号３を入力した場合にも、電圧制御発振器などのアナログ回路の特性を低周波数用に切り替えることなく、通常時使用する周波数範囲で各構成回路を動作させストレスをかけることで、ＰＬＬ回路の評価を可能にする半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The optical disk 1 has spiral tracks including a plurality of tracks having a pitch smaller than a recording pitch, and has a control area 9, a test area 10 and a user area 11 where a hologram recording layer and a tracking reflection layers are stacked and address signals to accurately determine an irradiation position of information light and reference light are preliminarily recorded in the tracking reflection layer.例文帳に追加

光ディスク１のらせん状のトラックを記録ピッチより細かいピッチで複数本のトラックを有し、コントロール領域９、テスト領域１０及びユーザー領域１１には、ホログラム記録層とトラッキング反射層とが積層されており、トラッキング反射層には情報光と参照光との照射位置を正確に定めるアドレス信号が予め記録されている。 - 特許庁

According to an application program a2, a packet transmission program b3 for test of the virtual computer B sends communication packets sequentially according to the procedure of a previously created internal state/communication packet correspondence table b4, with reference to the internal state information a1', and simulates the virtual network 2.例文帳に追加

アプリケーションプログラムａ２により仮想計算機Ｂの試験用パケット送信プログラムｂ３は、情報共有メモリ領域３にコピーされた仮想計算機Ａの内部状態情報ａ１’を参照して、予め作成された内部状態・通信パケット対応表ｂ４の手順に従って順次通信パケットを送出して仮想ネットワーク２のシミュレーションを実施する。 - 特許庁

A pigment whose contrast ratio measured by a contrast ratio test paper method stipulated by a JIS K5101 is 10-15% is incorporated as a colorant in addition to a binder resin, and ≥50 capacity % by taking the total amount of the pigment as a reference is occupied by pigment particles whose Feret's circle equivalent diameter is ≥0.3 μm.例文帳に追加

バインダ樹脂に追加して、ＪＩＳ Ｋ５１０１に規定される隠蔽率試験紙法によって測定される隠蔽度が１０〜５０％である顔料を着色剤として含有するとともに、顔料の全量を基準にして５０容量％以上を、フェレ円相当径が０．３μｍ以上の顔料粒子が占有しているように構成する。 - 特許庁

The method for predicting powder fluidity relates in advance a maximum self-supporting height per unit area by a self-support test and a measured flow function (FF) about a plurality of given powders, and estimates the flow function of a certain powder from the maximum self-supporting height of the powder, in reference to the relations, to predict the fluidity of the powder.例文帳に追加

粉体の流動性を予測する方法であって、複数の所定の粉体について、自立試験における単位面積当りの自立最高高さと、実測したフローファンクション（ＦＦ）とを前もって関連づけ、ある粉体の自立最高高さからその粉体のフローファンクションを、その関連づけに基いて推定することにより、その粉体の流動性を予測する。 - 特許庁

Accordingly, during the test in a wafer state, even if clock terminal, address terminal, and command terminal are commonly connected among the plurality of semiconductor storage devices, since the clock signal can be received from the data input/output terminal DQ, a code for performing fine adjustment of the reference voltage in a pseudo-manner can be supplied by chips.例文帳に追加

これにより、ウェハ状態でのテスト時において、複数の半導体記憶装置間でクロック端子、アドレス端子及びコマンド端子がそれぞれ共通接続されていても、クロック信号をデータ入出力端子ＤＱから受け付けることができることから、基準電圧の微調整を擬似的に行うコードをチップごとに個別に供給することが可能となる。 - 特許庁

To provide an address generating circuit which can generate plural kinds of address for a reference address, an address generating device which can generate simultaneously and easily different addresses by using plural stages of this address generating circuit, and an address generating method, with respect to an address generating circuit and the like generating an address for a test device of a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリの試験装置に対するアドレスを発生するアドレス発生回路等に関して、基準アドレスに対して、複数種類のアドレスを発生することができるアドレス発生回路、および、このアドレス発生回路を複数段使用することにより、異なるアドレスを同時に、かつ容易に発生させることができるアドレス発生装置、およびアドレス発生方法を提供することである。 - 特許庁

An expected value generation circuit 22 generates an expected value pattern on the basis of output patterns of the reference semiconductor integrated circuits 32A, 32B, and 32C, and a determination circuit 24 compares the expected value pattern generated by the expected value generation circuit 22 with an output pattern of the semiconductor integrated circuit 34 to be tested to determine whether the semiconductor integrated circuit 34 to be tested passes or fails the test.例文帳に追加

期待値生成回路２２で、基準の半導体集積回路３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃの出力パターンに基づいて期待値パターンを生成し、判定回路２４で、期待値生成回路２２で生成された期待値パターンとテスト対象の半導体集積回路３４の出力パターンとを比較することにより、テスト対象の半導体集積回路３４のパス／フェイル判定を行う。 - 特許庁

To eliminate the need for external element for adjustment, reduce test costs, and reduce consumption power and chip area by adjusting a reference potential with low power supply potential dependency and low-temperature dependency which are generated in a semiconductor device by external control or automatically after power is turned on, so that the potential becomes a value for reducing the influence of the scattering of a used element.例文帳に追加

半導体装置の内部で発生する低電源電位依存性、低温度依存性を有する基準電位を、外部からの制御により、あるいは、電源投入後に自動的に、使用素子のバラツキの影響が少ない基準電位となるように調整でき、調整用の外付素子の不要化、テストコストの削減、低消費電力化、チップ面積の削減を図る。 - 特許庁

A decision is made, in units of wafer lot, whether the characteristic value of a chip obtained through wafer test falls within a reference level or not.例文帳に追加

ウエハテストによるチップ特性値が基準値内に入っているか否かをウエハロット単位等で判定し、チップ特性値が基準値内に入っていない場合にはアセンブリを保留し、その保留ロット数が予め設定した数量以上となったときに、保留ロットの特性データをデバイスを構成する他のチップの半導体チップ製造工程に送信して製造条件を変更し、その条件変更後のロットと保留ロットとを組み合わせてアセンブリする。 - 特許庁

2. Equipment (limited to those with exciting force of 5 kilonewtons or more) capable of generating vibrations with frequency range between 20 hertz and 2,000 hertz and effective rate of acceleration of 98 meters per second squared or more in a state with no test object present, or those capable of generating sounds with sound pressure level of 140 decibels or more when the reference sound pressure is 20 micropascals, or those with total rated acoustic output of 4 kilowatts or more 例文帳に追加

（二）　周波数範囲が二〇ヘルツ以上二、〇〇〇ヘルツ以下で、かつ、試験体がない状態における加速度の実効値が九八メートル毎秒毎秒以上の振動を発生させることができるもの（加振力が五キロニュートン以上のものに限る。）又は基準音圧が二〇マイクロパスカルの場合の音圧レベルが一四〇デシベル以上の音を発生させることができるもの若しくは定格の音響出力の合計が四キロワット以上のもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

(7) With respect to the amount of expenses for test and research for the business year to which the date of incorporation of the Company belongs, the main provisions of Article 42-4 paragraph (1) of the Special Taxation Measures Act (Act No. 26 of 1957) shall apply: Provided that "the amount of expenses for test and research of each business year to be included in the amount of loss in the calculation of income for the respective business year during the period from the business year (in this article referred to as "the reference year") immediately prior to the business year of the juridical person including January 1, 1967 to the business year immediately prior to said applicable business year" in the same paragraph shall be read as "the amount of expenses for test and research for the business year including April 1, 1984 of the Nippon Telegraph and Telephone Public Corporation", and that "in the case of exceeding the largest amount of" in the same paragraph shall be read as "in the case of exceeding the amount of", the provision of the same paragraph shall not apply. 例文帳に追加

７　会社の成立する日の属する営業年度の試験研究費の額については、租税特別措置法（昭和三十二年法律第二十六号）第四十二条の四第一項の規定中「当該法人の昭和四十二年一月一日を含む事業年度の直前の事業年度（以下この条において「基準年度」という。）から当該適用年度の直前の事業年度までの各事業年度の所得の金額の計算上損金の額に算入される試験研究費の額」とあるのは「日本電信電話公社の昭和五十九年四月一日を含む事業年度の試験研究費の額」と、「のうち最も多い額を超える場合」とあるのは「を超える場合」として同項本文の規定を適用するものとし、同項ただし書の規定は、適用しない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

This system for measuring optical characteristic of an object to be optically measured (DUT) 104 comprises a light source 112 for generating a light signal applied to the optical DUT 104, a reference interferometer 106, a test interferometer 108 connected with the light source 112 optically, and a computing device 110 connected with the interferometers to assist the determination of optical characteristic of the optical DUT by utilizing amplitude and phase computing component.例文帳に追加

本発明は、光学被測定物（ＤＵＴ）（１０４）の光学特性を測定するためのシステムであって、前記光学ＤＵＴ（１０４）に加えられる光信号を発生するための光源（１１２）と、基準干渉計（１０６）、及び、光源（１１２）に光学的に結合されたテスト干渉計（１０８）と、干渉計に結合され、振幅及び位相計算コンポーネントを利用して、光学ＤＵＴの光学特性の判定を助ける計算装置（１１０）が含まれる、システムを提供する。 - 特許庁