「reference test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

This device is equipped with the reference vessel 12 capable of being inserted airtightly into the test vessel 1, an equalizing valve 3 capable of opening and closing a communicating tube for communicating the test vessel with the reference vessel, and a differential pressure gage 4 for detecting the differential pressure generated between the test vessel and the reference vessel.例文帳に追加

試験容器１内に気密に挿入可能な基準容器１２と、試験容器と基準容器間を連通する連通管を開閉可能な均圧弁３と、試験容器と基準容器間に発生する差圧を検出する差圧計４とを備える。 - 特許庁

REFERENCE HEAT SOURCE FOR ELECTROMAGNETIC WAVE TEST TO INFRARED RADIATION MEASURING DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THEREOF例文帳に追加

赤外放射計測機器の電磁波試験用参照熱源及びその試験方法 - 特許庁

The reference data is selected on the inspection result of "Good" by test welding.例文帳に追加

基準データは、テスト溶接によって「良」という検査結果が得られたデータを選定する。 - 特許庁

Further, phosphor content [mg]/test powder weight [mg]=0.071 is used as the reference value.例文帳に追加

また前記基準値は、リン含有量［ｍｇ］／試験粉末の重量［ｍｇ］＝０．０７１とする。 - 特許庁

To provide a means for establishing a reference position within a repetitive bit pattern of a test signal.例文帳に追加

テスト信号の繰り返しビットパターン内の基準位置を設定する手段を提供する。 - 特許庁

To easily create test data maintaining integrity of reference relation between pieces of data.例文帳に追加

データ間の参照関係の整合性が維持されたテストデータを容易に作成すること。 - 特許庁

The operator inputs the comparison result of the color of the test pattern T with that of the reference body R.例文帳に追加

オペレータは、テストパターンＴの色と基準体Ｒの色との比較結果を入力する。 - 特許庁

To test a memory being operated at higher speed by a test apparatus generating a reference clock of low speed in a memory test method.例文帳に追加

本発明はメモリ試験方法に関し，低速度の基準クロックを発生する試験装置により高速で動作するメモリの試験を行うことを可能にすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test apparatus which performs a test on a device under test which outputs a reference clock for use in data delivery synchronously with data reading with high precision.例文帳に追加

データの読み出しに同期してデータの受渡しに利用される基準クロックを出力する被試験デバイスを高精度に試験する半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

A reference reception signal is recorded by using a normal reference pipe, and an inspection reception signal is recorded by using the test object pipe.例文帳に追加

正常な基準管を用いて基準受信信号を記録し、検査対象管を用いて検査受信信号を記録する。 - 特許庁

Vibration of a reference unit and a test unit is caused by applying voltage such as sine wave voltage to the reference unit (S602).例文帳に追加

正弦波電圧などの電圧を参照ユニットに印加することで参照ユニット及びテストユニットの振動を引き起こす（Ｓ６０２）。 - 特許庁

A part in a specified section for performing test recording is given test recording while changing reference recording power, and the other part is given test recording by similar reference recording power to decide the optimum recording power from the result of each test recording.例文帳に追加

テスト記録を行うための特定区間中の一部には基準記録パワーを変更させながらテスト記録を行い、残りの区間には同様の基準記録パワーによりテスト記録を行って、各テスト記録の結果から最適記録パワーを決定する、ことを特徴とする。 - 特許庁

An incoming time information measurement means 13 measures a reference incoming time when the reference packet arrives and incoming times of the test packets other than the reference packet counted from the reference incoming time.例文帳に追加

着信時刻情報測定手段１３は、基準パケットが着信した時の基準着信時刻と、基準着信時刻からカウントした、基準パケット以外の試験パケットの着信時刻と、を測定する。 - 特許庁

Then, an open reference, a short reference, and a load reference are measured in succession, with the adapter in a disassembled state, at test ports to be connected with the adapter during calibration.例文帳に追加

そして、校正時にアダプタが接続されたテスト・ポートにおいて、アダプタを取り外した状態で、オープン標準、ショート標準およびロード標準を順次測定する。 - 特許庁

In this automation system, the change is added, this test run is performed newly, it is enough just to compare the reference data of the reference standard with new reference data.例文帳に追加

自動化システムに変更が加えられる場合、このテストランを新たに実施して、基準規格の基準データを新たな基準データと比較するだけで十分である。 - 特許庁

This method includes a step in which a reinitialization mode is performed while examining the recorder/player by using a disk for test having test reference information and a physical defect and test information is subsequently generated from generated defect management information, and a step in which reference information predicted form the test reference information and the physical defect is compared with the test information and verification results about the test information are provided.例文帳に追加

テスト基準情報と物理的な欠陥を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置の検定をしながら再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報と物理的な欠陥により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁

The test is conducted by using a tester having a test mask and an radiator to emit light and an objective lens to observe the test mask and a reference grid provided in a pattern observing area of the test mask.例文帳に追加

テストマスクと、テストマスクの、パターンを観察する領域に、光を照射する照射手段と、テストマスクを観察するための対物レンズと、基準格子と、観察手段とを備える検査装置を用いて、検査を行う。 - 特許庁

(3) A reference point of established coordinates is provided for the vicinity of a flight test location, and the reference point and the aircraft are both equipped with a K-GPS reception device.例文帳に追加

(3)飛行試験場所近傍に座標の確定した基準点を設け、ここと航空機の双方にK-GPS受信装置を装備する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory comprising a reference potential generating circuit which can generate a stable reference potential at the time of a test mode.例文帳に追加

テストモード時に安定した基準電位を発生することが可能な基準電位発生回路を含む半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

In an implementing stage, a test image of the target is recorded while a comparison of the test image is performed with all of the reference images to seek the position of the test image whereat the optimum matching exists between the test image and any one of the several reference images.例文帳に追加

実施段階においては、前記目標物のテスト画像が記録され、かつ、前記テスト画像と前記幾つかの基準画像のうちの任意の１つとの最適な整合が存在する前記テスト画像の位置を見つめるために、前記テスト画像と全ての基準画像との比較がなされる。 - 特許庁

A test voltage is determined therein based on the withstand voltage characteristic of the second reference superconductive cable.例文帳に追加

その際、第二基準超電導ケーブルの耐電圧特性に基づいて試験電圧を決める。 - 特許庁

A test pattern area where a test pattern is formed is set on an intermediate transfer belt 4, and a reference area is set in an area where a test pattern is not formed.例文帳に追加

中間転写ベルト４上に、試験パターンが形成される試験パターン領域が設定されるとともに、試験パターンが形成されない領域において、基準領域が設定される。 - 特許庁

To automatically and accurately inspect a test-target device without preparing reference images for judging images from the test-target device and expectation values of log output from the test-target device in advance.例文帳に追加

テスト対象装置の画像判定を行うための基準画像や、テスト対象装置のログ出力の期待値を予め準備することなく、テスト対象装置を正確に自動検証する。 - 特許庁

The test path simulates the data same to that of the normal path as an input to be received, and the test path has an individual voltage reference V_ref_test applied in a test input buffer.例文帳に追加

テスト・パスは、入力として通常パスと同じデータをシミュレートし受信するが、テスト・パスは、テスト入力バッファに適用される別個の電圧基準（Ｖ_ｒｅｆ＿ｔｅｓｔ）を有する。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for a semiconductor wafer by which a test can be conducted in a state that the contact resistance of a probe and a test pad of the semiconductor wafer is reduced to a reference value and the test can be conducted with contact resistance which is always the same.例文帳に追加

プローブ針と半導体ウェーハのテストパッドとの接触抵抗を基準値まで低減させた状態でテストすることが可能であり、常に同一の接触抵抗でテストをすることが可能となる半導体ウェーハのテスト方法及び装置を提供する。 - 特許庁

Test circuits of semiconductor integrated circuits exchange test data via a path including the data bus 12, and the test circuit of the semiconductor integrated circuit that has received the test data determines a data transfer failure according to the comparison of the received test data with reference data.例文帳に追加

データバス１２を含む経路を介して半導体集積回路のテスト回路間でテストデータを送受信し、テストデータを受信した半導体集積回路のテスト回路が、受信したテストデータと参照データとの比較結果に基づいてデータ転送障害を判定する。 - 特許庁

It is desirable that a step for performing a reinitializing mode while the prescribed defect list existing in DMA of a test disk is removed in the recording/reproducing device by using the test disk having test reference information and generating test information from generated defect management information and a step for comparing reference information predicted by the reference information with test information and supplying a verification result on test information are included.例文帳に追加

テスト基準情報を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置にて前記テスト用ディスクのＤＭＡに存在する所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準情報とテスト情報を比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階を含むことが望ましい。 - 特許庁

The reference vessel 12 is formed from a thin-walled highly heat-conductive material resistant to the maximum differential pressure, and the reference vessel 12 is inserted into the test vessel 1.例文帳に追加

基準容器１２を最大差圧に耐えかつ薄肉の良熱伝導材で形成し、この基準容器１２を試験容器１内に挿入する。 - 特許庁

The preliminary withstand voltage test is carried out at a refrigerant temperature, in the first reference superconductive cable, and the preliminary withstand voltage test is carried out at the ambient temperature, in the second reference superconductive cable, so as to find a correlation factor between withstand voltage characteristics of the respective cables.例文帳に追加

第一基準超電導ケーブルは冷媒温度で、第二基準超電導ケーブルは常温で予備耐電圧試験を行って各ケーブルの耐電圧特性の相関関係を求める。 - 特許庁

A first reference line 104 and a second reference line 106 for regulating a formation position of a test image 102 on an image-receiving paper 40 are exposed and formed together with the test image 102 to a photosensitive material.例文帳に追加

テスト画像１０２とともに、テスト画像１０２の受像紙４０上の形成位置を規定するための第１基準ライン１０４および第２の基準ライン１０６を感光材料に露光形成する。 - 特許庁

Potential difference between the reference electrode 9 and the test specimen 10 is measured to detect the corrosive environment based on excessive voltage change in the test specimen 10.例文帳に追加

基準電極９と試験片１０との間の電位差を測定し、試験片１０の過大な電位変化に基づき腐食環境を検知する。 - 特許庁

To provide a prober capable of conducting an accurate test without reference to variation in test temperature, and a semiconductor wafer testing method using the same.例文帳に追加

検査温度の変化にかかわらず、正確な検査を行なうことが可能なプローブ装置及びそれを用いた半導体ウェハの検査方法を提供する。 - 特許庁

At the time of selecting the test subject nozzle, the hydteresis data of each nozzle and the reference data are compared so as to determine whether or not the ejection test is executed for each nozzle.例文帳に追加

検査対象ノズルの選択の際には、各ノズルの履歴データと基準データとを比較して、各ノズルにつき吐出検査を行うか否かを決定する。 - 特許庁

To measure the quality of a test video signal in real time while taking temporal and spatial alignment between the test video signal and a reference video signal.例文帳に追加

試験ビデオ信号及び基準ビデオ信号との間で時間的及び空間的アライメントをとりながら、実時間で試験ビデオ信号の品質を測定する。 - 特許庁

The test stand is equipped with a reference flat plate 1 and a sample mounting flat plate 2 used for mounting the sample.例文帳に追加

この発明は、基準平板１と試料を装着する試料装着用平板２とを備えている。 - 特許庁

A system is provided that includes a test strip, a reference voltage circuit, an operational amplifier, and a processing circuit.例文帳に追加

テストストリップ、参照電圧回路、オペレーショナルアンプおよび処理回路を有するシステムが提供される。 - 特許庁

In a measuring device, an alignment module executes alignment as it is by receiving a test video frame and a reference video frame.例文帳に追加

アライメント・モジュールは試験ビデオ・フレーム及び基準ビデオ・フレームを受けてそのままのアライメントを実行する。 - 特許庁

IC TESTER, REFERENCE POSITION SETTING EQUIPMENT FOR ITS TEST HEAD, AND CONNECTION POSITION CONTROLLING METHOD FOR ITS CONNECTION MECHANISM例文帳に追加

ＩＣテスタ、そのテストヘッド用基準位置設定器具、及びその接続機構の接続位置制御方法 - 特許庁

Differences between the position and the direction in the feature of the reference record and the position and the direction in the feature of the test record are measured, and the weights of all the features in the reference record of which the difference is less than a prescribed difference when compared with the feature of the test record are totalized to find a similarity score for making the test record aligned with the reference record.例文帳に追加

そして、参照レコードの特徴の位置および方位と試験レコードの特徴の位置および方位との相違を測定し、試験レコードの特徴と比較したときに、所定の相違未満である参照レコードの全ての特徴の重みを合計して、試験レコードが参照レコードに整合する類似性スコアを求める。 - 特許庁

REFERENCE KIT FOR DIAGNOSTIC TEST AND KIT FOR TESTING NUCLEIC ACID HYBRIDIZATION, AND METHOD FOR PRODUCING THE KITS例文帳に追加

診断検定用対照キットおよび核酸ハイブリッド形成検定用キット並びにそれらの製造方法 - 特許庁

An image composition circuit 53 combines a mask image 57 for a test having a prescribed reference pattern 65 with the endoscope image 30a including a test chart image 35a to generate a mask composite image 67 for the test.例文帳に追加

画像合成回路５３は、テストチャート画像３５ａを含む内視鏡画像３０ａに所定の基準パターン６５を有するテスト用マスク画像５７を合成し、テスト用マスク合成画像６７を生成する。 - 特許庁

In this test device, the reference devices 34x-36x in the reference site 3x are measured by the measurement units 31x-33x and standard devices 7, 9.例文帳に追加

基準サイト３ｘの基準器３４ｘ〜３６ｘは、自サイト３ｘの測定ユニット３１ｘ〜３３ｘと標準器７・９との双方で測定される。 - 特許庁

When it is confirmed with the frequency counter that a difference between the frequency of the clock for test and a target frequency is within a predetermined range, an in-test level when the clock for test is generated by the VCXO is stored as a reference level in the memory, and the frequency of the clock for test is stored as a reference frequency.例文帳に追加

試験用クロックの周波数と目標周波数との差が所定の範囲内であることが周波数カウンタによって確認できたら、メモリに、この試験用クロックがＶＣＸＯによって発生された際の試験時レベルを基準レベルとして記憶させ、この試験用クロックの周波数を基準周波数として記憶させる。 - 特許庁

In the self-reference sense circuit 21, a first value is read from a test object cell before writing of writing data for the dummy cell of the test object, and a second value is read from the test object cell after writing of writing data for the test object cell.例文帳に追加

セルフリファレンスセンス回路２１は、テスト対象のダミーセルに対する書込データの書込み前にテスト対象セルから第１の値を読出して保持し、テスト対象セルに対する書込データの書込み後にテスト対象セルから第２の値を読出す。 - 特許庁

The sample for acquiring relative correction data is measured by the test tool 26 and the reference tool 16, and the first equation for calculating the estimated value of the measurement value by the reference tool 16 from the measurement value of the test tool 26 is obtained.例文帳に追加

試験治具２６と基準治具１６とで、相対補正データ取得用試料を測定し、試験治具２６での測定値から基準治具１６での測定値の推定値を算出するための第１の数式を求める。 - 特許庁