「reference test」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a reference voltage generating circuit in which defect can be actualized without affecting to operation of an internal circuit in a burn-in acceleration test.例文帳に追加

バーイン加速試験で内部回路の動作に支障を与えず不良を顕在化することができる参照電圧生成回路を提供する。 - 特許庁

In a receiver 10, a reception local circuit 20 is composed of a reference oscillator 34, a DDS 40, and a test signal generation unit 48.例文帳に追加

受信機１０において、基準発振器３４、ＤＤＳ４０及びテスト信号生成部４８により受信ローカル回路２０が構成される。 - 特許庁

Then, based on positions of the fractured faces and their interval, the image processor 50 connects the fractured faces in the two test-piece regions with reference to the binary image, and the restriction of the test pieces 2 near the fractured faces is measured.例文帳に追加

そして、画像処理装置５０は、破断面の位置及び間隔に基づいて、二値画像に対して二つの試験片領域の破断面を繋ぎ合わせた後、破断面の近傍における試験片２の絞りを計測する。 - 特許庁

These algorithms remove a reference impedance offset between test pieces by using a mathematical technique, and corrects an offset drift in scanning, and can balance the system by using only a set of test pieces of unclear quality.例文帳に追加

これらのアルゴリズムは、数学的な手法を用いて、試験片間の基準インピーダンスオフセットを除去し、走査中、オフセットドリフトを補正し、不明な品質の一組の試験片だけを用いて、システム平衡化を可能にする。 - 特許庁

In addition, when the number of abnormal heads is not equal to or more than the prescribed number, the magnetic disk device 10 performs write of only heads that are stored as a normal state with reference to the test write results stored in the test write result table 12a.例文帳に追加

また、磁気ディスク装置１０は、異常なヘッドの数が規定数以上でない場合には、試験ライト結果テーブル１２ａに記憶された試験ライト結果を参照し、正常と記憶されているヘッドのみライトを行う。 - 特許庁

The calibrator comprises a weighing part 1, internal reference weights 3, internal balancing weights 4, a measuring controller 2, an internal reference weight adjuster mechanism 17, an internal balancing weight adjuster mechanism 18, and external reference weight load changer mechanism 19 for automatically calibrating the internal reference weight or external weight under test, utilizing external reference weights 44.例文帳に追加

秤量部１、内蔵標準用分銅３、内蔵吊り合わせ用分銅４、測定制御部２、内蔵標準用分銅加除機構１７、内蔵吊り合わせ用分銅加除機構１８、外部標準用分銅荷重交換機構１９を備え、外部標準用分銅４４を利用して自動的に内蔵標準用分銅又は外部被検分銅の自動校正を行う。 - 特許庁

Or, the specific agent is added to the water for determining the presence or absence of corrosiveness by using the test electrode made of copper or a copper alloy, the counter electrode, the reference electrode, and the constant-current supply before the current value between the test and counter electrodes when a constant voltage is applied between the test and counter electrodes is measured.例文帳に追加

あるいは、銅または銅合金からなる試験極、対極、基準電極と定電流電源を用い、腐食性の有無を判定する水に特定の薬剤を添加したのち、試験極／対極の間に定電圧を印加したときの試験極／対極間の電流値を計測する。 - 特許庁

To measure a center position of chip ball arrangement such as BGA mounting in conveyance of an IC test handler, to correct a shift from a reference position, to allow accurate insertion into a test socket, to reduce nondefectives determined as defectives, to prevent an IC chip and the test socket from being destructed, and to maintain the number of the processed items.例文帳に追加

本発明は、ＩＣテストハンドラの搬送に於いて、ＢＧＡ実装などのＩＣチップボール配置の中心位置を計測し、基準位置とのずれを補正し、テストソケットに正確に挿入し、良品の不良判定を減少させ、ＩＣチップ、テストソケットの破壊を防止し、かつ、処理数を落とさない。 - 特許庁

A hidden relationship between items of clinical test data is extracted by using an interactive interface that determines and displays a health degree out of a client's test data based on previously stored test data and reference values which are the upper and lower limits of a range determined to be normal.例文帳に追加

あらかじめ格納していた検査データと正常と判断させる範囲の上限・下限よりなる基準値とを基に、クライアントの検査データから健康度を判断して表示するインタラクティブインタフェースを用い、臨床検査データの項目間の隠れた関係を抽出する。 - 特許庁

Furthermore, the design supporting device 10 is provided with: a testing part 38 which determines whether or not the reference data can execute the processing group in a batch based on a test item preliminarily set according to the design procedure; and an output part which outputs the test result of the testing means as a test result report 44.例文帳に追加

さらに、予め設計手順に応じて設定された検査項目に基づいて、基準データが処理群の一括実行が可能かを判断する検査部３８と、検査手段による検査結果を検査結果レポート４４として出力する出力部と、を有する。 - 特許庁

Information and a reference value input and calculated in the engineering process are processed by a process control part, the process control part calculates all the tests to be executed by the test module and results obtained in the test process by the test module are provided to the process control part.例文帳に追加

エンジニアリングプロセス内に入力され、算出される情報及び基準値は、プロセス制御部によって処理され、プロセス制御部は、テストモジュールによって実行されるべき全てのテストを算出し、テストモジュールによりテストプロセスで得られた結果は、プロセス制御部に提供される。 - 特許庁

In the semiconductor testing circuit 101, the comparators 141 and 142 compare a response signal with the reference signal by offsetting the test signal included in a synthetic signal and the test signal included in the comparison signal, by inputting the comparison signal and the synthetic signal of synthesizing the test signal and the response signal outputted from the test object device 20.例文帳に追加

半導体試験回路１０１では、コンパレータ１４１，１４２は、試験信号と試験対象装置２０から出力された応答信号とを合成した合成信号と、比較信号とを入力され、合成信号に含まれる試験信号と比較信号に含まれる試験信号とを相殺し応答信号と基準信号とを比較する。 - 特許庁

A control unit 110 is configured to, in the low temperature/low humidity environment when the photosensitive drum 1 is new, measure a reference value as a peak voltage of a test electrostatic image 1s at 500 places on the surface of the photosensitive drum 1, and store the reference values.例文帳に追加

制御部１１０は、感光ドラム１の新品時の低温低湿環境で、感光ドラム１の表面の５００箇所につき、試験静電像１ｓのピーク電圧である基準値を測定し格納しておく。 - 特許庁

The first reference superconductive cable filled with the refrigerant at prescribed pressure, and the second reference superconductive cable filled with the the gas at the prescribed pressure in stead of the refrigerant are prepared in the preliminary withstand voltage test.例文帳に追加

予備耐電圧試験では、冷媒を所定の圧力にて充填した第一基準超電導ケーブルと、冷媒の代わりに気体を所定の圧力にて充填した第二基準超電導ケーブルとを用意する。 - 特許庁

Each input circuit 16 receives an input signal from a port 20, and receives a reference signal from a reference signal generator 12 in the test and measurement apparatus 10 directly and via a calibration port 24 and the port 20.例文帳に追加

各入力回路１６は、ポート２０から入力信号を受け、且つ、試験測定機器１０内の基準信号発生器１２からの基準信号を直接的に又は校正ポート２４及びポート２０を介して受ける。 - 特許庁

To provide a temperature correction system which can easily calculate a corrected flow rate of a reference temperature, and can test whether the calculation of corrected flow rate of reference temperature is being correctly performed as a whole system.例文帳に追加

基準温度の補正流量を容易に算定することができるとともに、基準温度の補正流量の算定が、システム全体として正しく行われているかをテストすることができる温度補正システムを提供する。 - 特許庁

This variable impedance test probe 20 comprises a first signal conductor 252, a first grounding reference conductor 92, and a first dielectric element 72 disposed between the first signal conductor 252 and the first grounding reference conductor 92.例文帳に追加

本発明の可変インピーダンステストプローブ(20)は、第１の信号導体(252)、第１の接地基準導体(92)、および第１の信号導体(252)と第１の接地基準導体(92)との間に配置された第１の誘電体要素(72)を含む。 - 特許庁

The reference manifestation amount of specific coupling material is measured from a reference sample formed by specific coupling of material derived from a standard organism to the specific coupling material of the test piece area by area.例文帳に追加

試験片の特異的結合物質に基準となる標識生体由来物質を特異的に結合させてなる基準サンプルから特異的結合物質の基準発現量をそれぞれの領域ごとに測定する。 - 特許庁

Defective information is obtained via the Internet, and a defective information analyzing part 1-21 analyzes whether it is defective enough to be added to the format of defective information and a test item based on the reference of a reference database 1-24.例文帳に追加

インターネット経由で不良情報を入手し、不良情報解析部１−２１で基準データベース１−２４の基準を元に不良情報の形式とテスト項目に追加する不良であるかを解析する。 - 特許庁

The pair of oscillators 8, 9 are shifted to the test reference direction F and the pair of oscillators 8, 9 are made to transmit and receive the ultrasonic waves.例文帳に追加

これら一対の振動子８，９をこの検査基準方向Ｆに移動させると共にこれら一対の振動子８，９に超音波を送受信させる。 - 特許庁

During a test period, comparing circuits in the internal potential generating circuits 200.1-200.4 compare a level in accordance with a level setting signal with the comparison reference potential.例文帳に追加

テスト期間中は、内部電位発生回路２００．１〜２００．４内の比較回路は、レベル設定信号に応じたレベルと比較基準電位との比較を行う。 - 特許庁

In addition, the amplitude of the detected output signal is compared with a reference value, thus judging as to whether the junction state between the test pin 17 and pattern 17a is confirming.例文帳に追加

さらに、検出された出力信号の振幅を基準値と比較し、テストピン１７とパターン１７ａとの接合状態の良否を判定する。 - 特許庁

A control part 44 generates a Moire' pattern by an arithmetic operation of both a reading pattern formed when the image sensor 40 reads the test pattern and a reference pattern.例文帳に追加

制御部４４は、イメージセンサ４０がテストパターンを読み取って形成される読み取りパターンと、基準パターンとの演算によりモワレパターンを生成する。 - 特許庁

It is thereby possible to detect the flow rate without having to use sensor output when the flow rate of the test fluid is zero as a sensor output reference.例文帳に追加

これにより、被検流体の流量がゼロのときのセンサ出力を、センサ出力の基準として用いることなく、流量検出を行えるようにする。 - 特許庁

To accurately measure the surface position of an object to be tested by independently adjusting the relative position and the optical path-length difference between reference light and test light.例文帳に追加

参照光と被検光との相対位置及び光路長差を独立して調整することにより、被検物の面位置を高精度に計測する。 - 特許庁

A solid state imaging element 100 comprises a pixel array portion 1, a test voltage applying portion 2, a reference voltage producing circuit 9, and an operation point control portion 8.例文帳に追加

固体撮像素子１００は、画素アレイ部１と、テスト電圧印加部２と、参照電圧生成回路９と、動作点制御部８とを備える構成とする。 - 特許庁

A reference signal TREFIN and signals TPa-TPx being an object of adjustment are given through a transmission path on a test tool by a tester.例文帳に追加

テスタからはテスト治具上の伝送経路を介して、基準信号ＴＲＥＦＩＮと調整の対象となる信号ＴＰａ〜ＴＰｘが与えられる。 - 特許庁

Using the inner layer reference hole mark 4 thus read out as the origin, the position of each inner layer land of test coupons 3 provided at four corners of each inner layer is measured automatically.例文帳に追加

読取った内層基準孔マーク４を原点として、内層各層の四隅に設けたテストクーポン３の各内層ランド位置を自動計測する。 - 特許庁

For an automatic correction process, automatic correction processing sections 60 are connected to a set reference channel and a target channel and a test signal is input.例文帳に追加

自動補正処理において、設定した基準ｃｈと対象ｃｈに自動補正用処理部６０が接続され、テスト信号が入力される。 - 特許庁

To provide an IC test system capable of photographing a reference mark which has been unable to be photographed when the contact ring with a round hole, ins spite of forming the hole in a rectangular shape.例文帳に追加

コンタクトリングの孔を矩形状に形成し、丸孔の場合では撮影できない基準マークの撮影が可能なＩＣテストシステムを提供する。 - 特許庁

A coding section 408 codes the generated symbol position cross-reference data with test region coding stipulated by the JBIG2 to produce the coded data.例文帳に追加

符号化部４０８は、生成されたシンボル・位置対応データを、ＪＢＩＧ２に規定されるテキスト領域符号化により符号化して符号データを生成する。 - 特許庁

To control the attitude of an imaging device so that a viewpoint position which is a relative positional relation between a test object and the imaging device becomes identical to a reference viewpoint position.例文帳に追加

検査対象と撮像装置との相対的な位置関係である視点位置が基準視点位置と同じになるように、撮像装置の姿勢を制御する。 - 特許庁

Following that, an acceptability of a medium characteristic is judged based on a reference signal and a sample signal of the magneto-optical signal obtained from the test reproduction area.例文帳に追加

次いで、テスト再生領域から得られる光磁気信号の参照信号及びサンプル信号に基づいて媒体特性の合否判定を行う。 - 特許庁

A load removal test is performed in a plurality of times to a sample TP0 used as a reference, beforehand, by changing the indentation depth of an indenter 101 in a plurality of kinds.例文帳に追加

予め基準となる試料ＴＰ０に対し、圧子１０１の押し込み深さを複数通りに変えて複数回の負荷除荷試験を行う。 - 特許庁

A working electrode 22, a paired electrode 23 and a reference electrode 24 made of gold electrodes disposed mutualy nearly and dipped in a test water 2 constitute an electrode unit 3.例文帳に追加

検水２に浸漬される近接配置された金電極からなる作用極２２、対極２３及び参照極２４は電極ユニット３を構成する。 - 特許庁

A local Pearson mutual correlation coefficient module 46 forms a local Pearson mutual correlation coefficient image based on the representative test line and the representative reference line.例文帳に追加

ローカル・ピアソン相互相関係数モジュール46は代表試験ライン及び代表基準ラインに基づいてローカル・ピアソン相互相関係数画像を生成する。 - 特許庁

The reproducing laser light intensity is then determined based on the reference signal and sample signal of the magneto-optical signal obtained from the test reproducing region.例文帳に追加

次いで、テスト再生領域から得られる光磁気信号の参照信号及びサンプル信号に基づいてユーザー情報の再生レーザー光強度を決定する。 - 特許庁

The wavelength of reference light produced by a laser light source 12 is shifted, in such a manner that a plurality of test wavelengths λt with adjoining periods separated are output.例文帳に追加

隣接周期λａを隔てた複数の試験波長λｔが出力されるようレーザ光源１２が生成する参照光の波長をシフトさせる。 - 特許庁

The test decode signals TMadd1-n are converted into serial data TMcodeSD by a serial-parallel converter circuit 25 in synchronization with a reference clock TMCLK.例文帳に追加

テストデコード信号ＴＭａｄｄ１〜ｎは、基準クロックＴＭＣＬＫに同期して、パラレル・シリアル変換回路２５によりシリアルデータＴＭｃｏｄｅＳＤに変換される。 - 特許庁

To provide a memory device that can generate the reference voltage not affected by the voltage fluctuations of the power supply and is suitable for a burn-in test.例文帳に追加

電源電圧の変動の影響を受けない参照電圧が生成される記憶装置であって、バーンインテストを行うのに適した記憶装置を実現する。 - 特許庁

A system for performing the function test of the microcomputer by impressing a test signal by a tester to the microcomputer and detecting its expected value is provided with a test synchronizing signal generation circuit 1 generating the timing of detecting an input signal asynchronously inputted to the reference clock of the microcomputer as a test synchronizing signal, and the test synchronizing signal by the circuit 1 is supplied to the tester.例文帳に追加

マイクロコンピュータにテスタによるテスト信号を印加し、その期待値を検出することによりマイクロコンピュータのファンクションテストを行うものにおいて、マイクロコンピュータの基準クロックに対して非同期に入る入力信号を検出するタイミングをテスト同期信号として発生するテスト同期信号発生回路１を設け、テスト同期信号発生回路１によるテスト同期信号を前記テスタに供給する。 - 特許庁

There are provided the method of measuring the blood component concentration by the infrared spectroscopy using an internal reference method, and a blood test apparatus (0100) comprising an internal reference substance application part (0101), a measurement part (0102) and a calculation pat (0103) for performing standardization or the like by an internal reference substance.例文帳に追加

内部標準法を用いた赤外分光法による血液成分濃度の測定方法、及び、内部標準物質塗布部（０１０１）と、測定部（０１０２）と、内部標準物質により規格化等を行う算出部（０１０３）と、を有する血液検査装置（０１００）を提供する。 - 特許庁

To provide a test method in which data is discriminated as defective data when phase difference between a reference clock and the data satisfies the prescribed conditions, in a semiconductor device in which a reference clock is outputted synchronizing with a read-out output of data, and this reference clock is used for delivery and reception of data.例文帳に追加

データの読み出し出力と同期して基準クロックを出力し、この基準クロックをデータの受渡しに供する半導体デバイスにおいて、基準クロックとデータとの間の位相差が所定の条件の満たすとき不良と判定する試験方法を提案する。 - 特許庁

To provide a display marker for a reference gage for a radiographic test of a marker for names various kinds of reference gages (line pair chart) used for evaluating digitalization in radiographic test film photographing comprising combination of English characters and numeral characters, and formed of a radiation non-transmittable member.例文帳に追加

放射線透過試験フィルム撮影においてそのデジタル化の評価を可能にするために使用される多種類の基準ゲージ（ラインペアチャート）の呼称のためのマーカであり、英字と数字の組み合わせからなり、放射線不透過の部材から形成される放射線透過試験用基準ゲージの表示マーカを提供する。 - 特許庁

A selector 22 selects one reference voltage VREFS from divided voltages Vref1A to VrefNA from a voltage dividing circuit 16 and a reference voltage VrefS from a reference voltage generating circuit 21 according to a test mode enable signal TMen and reference voltage selecting signals Vref1en to VrefNen.例文帳に追加

セレクター２２は、テストモードイネーブル信号ＴＭｅｎおよび参照電圧選択信号Ｖｒｅｆ１ｅｎ〜ＶｒｅｆＮｅｎに応じて、電圧分割回路１６からの分割電圧Ｖｒｅｆ１Ａ〜ＶｒｅｆＮＡおよび参照電圧発生回路２１からの参照電圧ＶｒｅｆＳの中から１つの基準電圧ＶＲＥＦＳを選択する。 - 特許庁