「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(48ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a waveform measurement device that collects data at a lower cost with high resolution at a high sample rate.例文帳に追加

高分解能、高サンプルレートでより低コストでデータ収集を可能にする波形測定器を提供することを目的とする。 - 特許庁

A storage device 46 stores the plurality of conversion tables 48A and the respective conversion tables are stored with sample images 50 respectively.例文帳に追加

記憶装置４６には複数の変換テーブル４８Ａが格納され、各変換テーブルごとにサンプルイメージ５０が格納されている。 - 特許庁

SCANNING WIDTH CALIBRATION METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM, MICROSCOPIC DEVICE USING CHARGED PARTICLE BEAM, AND SAMPLE FOR CHARGED PARTICLE BEAM CALIBRATION例文帳に追加

荷電粒子ビームの走査幅校正方法及び荷電粒子ビームを用いた顕微装置並びに荷電粒子ビーム校正用試料 - 特許庁

BIOPSY DEVICE WITH REPLACEABLE PROBE INCORPORATING STATIC VACUUM SOURCE DUAL VALVE SAMPLE STACKING RETRIEVAL AND SALINE SOLUTION CLEANING例文帳に追加

静的真空源二重バルブ標本堆積検索と食塩水洗浄を組み込んだ、交換可能なプローブを備える生検装置 - 特許庁

In this electron beam device, an electron beam emitted from an electron gun EG is converged by the object lens 9 to irradiate the sample 10.例文帳に追加

電子線装置は、電子銃ＥＧから放出された電子線を対物レンズ９で収束して試料１０を照射する。 - 特許庁

This sample holding device has a plurality of electrodes and is provided with a moving mechanism for vertically moving a part of the plurality of the electrodes.例文帳に追加

試料保持装置が複数の電極を有し、当該複数の電極の一部を上下動させる移動機構を備える。 - 特許庁

An output of an illuminance sensor 20 is sampled and held by a sample-and-hold device 24 at timing when the backlight 28 is turned off.例文帳に追加

照度センサ２０の出力は、バックライト２８が消灯しているタイミングで、サンプルホールド装置２４によりサンプルホールドされる。 - 特許庁

To provide a compact ion beam analyzing chamber by positioning a sample with a positioning device having a comparatively low height.例文帳に追加

試料の位置決めを比較的高さの低い位置決め装置で行うことで、コンパクトなイオンビーム分析用チャンバを提供する。 - 特許庁

The fluid sampling device includes a port insert, a plurality of flexible conduits, and a plurality of sample containers.例文帳に追加

本発明は、ポート挿入部と、複数の可撓性導管と、複数の試料用容器とを有する流体サンプリング装置を提供する。 - 特許庁

One embodiment of this gas detection system is provided with a gas chromatograph oven, a gas detector, a sample gas moving device, and a flow detector.例文帳に追加

ガス検出システムの一例はガスクロマトグラフオーブンと、ガス検出器と、試料ガス移動デバイスと、フロー検出器とを備えている。 - 特許庁

To provide an etching treatment device capable of treating a sample having different etching areas under optimum etching conditions.例文帳に追加

エッチング面積の異なる試料に対して、最適なエッチング条件で処理を施すことのできるエッチング処理装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, control is easy for searching the observation position of the sample and the operability of the observation device is improved.例文帳に追加

従って、試料の観察位置を探索するための調整が簡単になり、観察装置の操作性を向上させることができる。 - 特許庁

To provide a sample measuring method and device suitable for evaluation of inclination of a pattern edge.例文帳に追加

本発明の目的はパターンエッジの傾斜を評価するのに好適な試料測定方法、及び試料測定装置の提供にある。 - 特許庁

To prove a wave sensor device with a gas removal unit and a method for detecting a target substance in a liquid sample.例文帳に追加

ガス除去ユニットを備える波動センサー装置及び液体試料中の標的物質を検出する方法を提供する。 - 特許庁

To perform the measurement and evaluation of a sample surface at high throughput and prevent upsizing, complexity, and a cost increase of a device.例文帳に追加

試料表面の測定及び評価を高スループットで行い、かつ装置の大型化、複雑化、及び高価格化を防止する - 特許庁

To provide a simple and small sample measuring device that is suitable for carriage, and is also easy in calculation processings of concentrations.例文帳に追加

簡素かつ小型で運搬に適するとともに、計測後の濃度算出処理も簡易な試料測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a reaction device for nucleic acid analysis which has less channel content, higher sample fixing ratio and causes no liquid spill.例文帳に追加

流路内容量が少なく、サンプル固定率が高く、且つ液漏れが生じない核酸分析用反応デバイスを提供する。 - 特許庁

To provide a device for laser plasma X-ray spectroscopic analysis capable of identifying and measuring a quantity of a minute element in a sample.例文帳に追加

試料中の微量な元素を迅速に同定・定量することのできるレーザプラズマＸ線分光分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an excellent sample solution dropping/cleaning device that can easily collect sample solution at a predetermined spot, easily collect a residual sample component in the spot, accurately measure the weight or the like of the residual sample component, certainly recover the residual sample component and a cleaning agent, accurately perform a plurality of times of measurement, and solve problems about work and environmental protection.例文帳に追加

試料溶液を所定のスポットに容易に集めることができるうえ、そのスポットに残留試料成分を容易に集めてかかる残留試料成分の重量などを精度良く計測することができ、しかも、残留試料成分及び洗浄剤を確実に回収して複数回の測定を高精度に行え且つ作業上や環境保護上の問題解決にも資するといった、優れた試料溶液滴下洗浄装置を提供する。 - 特許庁

This high temperature-high pressure testing device is provided with an opening-closing valve for introducing compressed air from a compressed air supply device to a sample by heating the compressed air by the high temperature gas from a high temperature gas generator, introducing the high temperature gas from the high temperature gas generator to the sample and introducing one to the sample by selectively switching the compressed air and the high temperature gas.例文帳に追加

圧縮空気供給装置からの圧縮空気を高温ガス発生装置からの高温ガスにより加熱して供試品に導入するとともに、前記高温ガス発生装置からの高温ガスを前記供試品に導入し、かつ、前記圧縮空気と前記高温ガスを選択的に切換えて前記供試品に導入する開閉弁を設けた。 - 特許庁

The gas sensor device 100 comprises a first radiation source 102 for emitting radiation 116, a second radiation source 102 for emitting radiation 116, a gas measuring chamber 104 to be filled with a gas sample 110 containing a sample to be measured, and a detector device 108 that detects the radiation and generates an output signal depending on the existence and concentration of the sample.例文帳に追加

ガスセンサ装置１００は、放射１１６を放出する第１放射源１０２、放射１１６を放出する第２放射源１０２、計測される試料を含むガス試料１１０で充填されるガス計測室１０４、及び放射を検出すると共に試料の存在、濃度に依存して出力信号を発生する検出器デバイス１０８を具備する。 - 特許庁

In the gas chromatographic device, a pressure detector 16 for detecting the pressure of the sample gas when collecting the sample gas, and a correction operation part 15 for comparing a detected pressure by the pressure detector 16 with a reference pressure set beforehand at the adjusting time of the device body, and correcting each gas component concentration in the sample gas, are provided.例文帳に追加

このようなガスクロマト装置において、サンプルガスを採取するときのサンプルガスの圧力を検出する圧力検出器１６と、圧力検出器１６での検出圧力と、装置本体調整時に予め設定した基準圧力との比較を行って、サンプルガス中の各ガス成分濃度を補正する補正演算部１５とを設ける。 - 特許庁

This sample fixing table is equipped for this charged particle beam device; markings are formed on the sample fixing table; and, when an image of the sample fixing table imaged by an external imaging device is displaced from a normal position, a change of a shape (visibility in the image) according to the displacement is generated in the image of the markings.例文帳に追加

本発明による試料固定台は、荷電粒子線装置に備え付けられる試料固定台であって、試料固定台上にマーキングが設けられ、外部イメージング装置によって撮像された試料固定台の画像が正常位置から位置ずれしている場合に、マーキングの画像に位置ずれに応じた形状（画像における見え方に）変化が生じる。 - 特許庁

The device for performing the sample/hold incorporates a photo detector and a clock multiplying means (PLL); an A/D conversion means; and a monitoring means for an A/D-converted sample/hold signal (a register, or the like, connected to the bus of an external microprocessor).例文帳に追加

サンプルホールドを行うデバイスに光検出器とクロックの逓倍化手段（ＰＬＬ）、Ａ／Ｄ変換手段、Ａ／Ｄ変換されたサンプルホールド信号のモニタ手段（外部マイクロプロセッサのバスに接続されたレジスタ等）を内蔵する。 - 特許庁

This sample inspection device 100 is provided with at least one substrate 1 having a sample mounting face F1 provided with two or more of recesses 3 for storing independently two or more of liquid drops containing a measuring object to be analyzed.例文帳に追加

試料検査装置１００は、分析すべき測定対象物を含む２以上の液滴を独立に収容するための２以上の凹部３が設けられた試料載置面Ｆ１を有する基板１を少なくとも備える。 - 特許庁

The service linkage engine performs execution/linkage of operation of the selected service components, calculates a similarity between the linkage service sample and the linkage service, and presents it to the user terminal device 8 together with a result of executing the linkage service sample.例文帳に追加

そして、選択したサービスコンポーネントのオペレーションの実行・連携を行うとともに、連携サービス見本と連携サービスとの類似度を算出し、連携サービス見本の実行結果とともにユーザ端末装置８に提示する。 - 特許庁

A pattern identification device not only analyzes structure characteristics of a pattern sample to be identified but also performs linear embedding analysis of the pattern sample to be identified in a kernel space, by a semi-supervised learning mechanism.例文帳に追加

パターン識別装置は、半教師あり学習メカニズムによって、識別対象パターンサンプルの構造特性を解析すると共に、核空間内で識別対象パターンサンプルに対し線形埋め込み解析を行う。 - 特許庁

To provide a commodity selection button device for a vending machine provided with a commodity sample display function, which has a simple structure excellent in water proofing property and mechanical strength while facilitating attachment and detachment of a sheet-like film sample.例文帳に追加

シート状のフィルム見本の着脱が容易で、しかも防水性および機械的強度に優れた簡単な構造の商品見本展示機能を備えた自動販売機の商品選択釦装置を提供する。 - 特許庁

To provide a failure point sample quantity measuring device for an alternating current feeding circuit capable of fetching sample quantity information for precisely calculating a failure point distance by surely selecting failure caused near a section boundary and a failure section without influencing binding/separation of a vertical line tie switch.例文帳に追加

上下線タイ開閉器の結合−分離に影響されることなく区間境界の近傍で発生する故障や、故障発生区間を確実に選択し、故障発生点距離を正確に求める。 - 特許庁

The retardation measuring device irradiates the measurement object sample with the white light via the polarizing plate, makes the same polarizing plate transmit the light returned from this measurement object sample again, and disperses this transmitted light to measure the retardation.例文帳に追加

偏光板を介して白色光を被測定試料に照射し、この被測定試料から戻ってきた光を再度同じ偏光板で透過させ、この透過光を分光してリタデーションを測定するようにした。 - 特許庁

To provide a reception device and a synchronous processing method capable of reducing errors of an oversampling sample and a reception radio signal while suppressing the amount of operations when a synchronous processing is performed using the oversampling sample.例文帳に追加

オーバーサンプリングサンプルを用いて同期処理を実行する場合において、演算量を抑制しつつオーバーサンプリングサンプルと受信無線信号との誤差を低減できる受信装置及び同期処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image pickup device of a microscope, which can ensure a frame rate without losing the framing or focus operability even when a sample is dark and avoid disturbance in sample observation due to deteriorated S/N.例文帳に追加

標本が暗い場合でもフレーミングや合焦の操作性を損なうことのないフレームレートを確保できるとともに、Ｓ／Ｎ劣化による標本観察の妨げを回避できる顕微鏡用撮像装置を提供する。 - 特許庁

To reliably analyze a failure of a sample W or evaluate the material thereof by measuring the surface potential in a different state such as a non-operation state and an operation state of the sample W such as a multilayer ceramic device.例文帳に追加

積層セラミックデバイス等の試料Ｗの非動作状態及び動作状態等の異なる状態での表面電位を測定することにより、試料Ｗの故障解析又は材料評価を確実に行う。 - 特許庁

To provide an electrical measuring device capable of measuring the original properties of a sample by sufficiently excluding the influence of noise, with respect to the sample which is sensitive to noise and of which the original properties are impaired by noise.例文帳に追加

雑音に敏感で、かつ雑音によって本来の特性が損なわれる試料に対して、雑音の影響を十分に排除して試料本来の特性を測定し得る電気測定装置を提供する。 - 特許庁

This device/method includes the first chamber 2 connected in series to the second chamber 10, the first chamber 2 can transfer a solid test sample to the second chamber 10, and the second chamber 10 can hold the solid test sample.例文帳に追加

第２のチャンバ１０と直列に接続された第１のチャンバ２を含み、第１のチャンバ２は固体試験サンプルを第２のチャンバ１０へと移送可能で、第２のチャンバ１０は固体試験サンプルを保持可能である。 - 特許庁

In automatic focusing, the infrared illumination light generated by an automatic focusing device 2 is reflected by the dichroic mirror 17 to light up a sample 5 and reflected infrared light from the sample is reflected by the dichroic mirror 17 and detected.例文帳に追加

オートフォーカス時には、オートフォーカス装置２で発生した赤外照明光をダイクロイックミラー１７で反射して試料５を照明し、試料からの反射赤外光をダイクロイックミラー１７で反射させて検出する。 - 特許庁

To provide a device for recognition of a thin-film sample position in an electron microscope, allowing multi-axial stage movement to bring easily an objective thin film sample piece within an observation visual field.例文帳に追加

本発明は簡単に目的の薄膜試料片が観察視野に入るように多軸ステージ移動することができる電子顕微鏡における薄膜試料位置認識装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

In a method and a device for measuring one or a plurality of electrical properties of semiconductor wafer or a sample, the reaction of the semiconductor wafer or the sample to applied CV type stimulation by electricity is measured.例文帳に追加

半導体ウエハ又はサンプルの単数又は複数の電気特性を測定するための方法と装置において、付与されたＣＶタイプの電気刺激に対する前記半導体ウエハ又はサンプルの反応が測定される。 - 特許庁

One exemplary method for controlling depressurization of the vial (220) containing the gas sample includes establishing fluid communication between a sample loop (240) of a head space sampling device (200) and a head space (222) of the vial (220).例文帳に追加

ガスサンプルを収納するバイアル（２２０）の減圧を制御する例示的な一方法は、ヘッドスペースサンプリング装置（２００）のサンプルループ（２４０）とバイアル（２２０）のヘッドスペース（２２２）の間の流体連通を確立することを含む。 - 特許庁

In a device 7 for taking out the sample cassettes automatically of this invention, a plurality of the sample cassettes 11 containing samples for the material testing and respectively provided with two sets of notches 11B on the both sides, are contained in the magazine 8.例文帳に追加

本発明の自動サンプルカセット取出し装置７では、材料試験用サンプルを収容した、両側側面にそれぞれ２組の切り欠き１１Ｂを設けた複数のサンプルカセット１１をマガジン８に収容する。 - 特許庁

To obtain the optical waveguide type displacement detecting device which can accurately measure a displacement quantity without being affected by the tilt of a sample even if the sample tilts to incident light, and also has high detection sensitivity.例文帳に追加

試料が入射光に対して傾斜している場合にも、試料の傾きの影響を受けることなく変位量を正確に測定でき、しかも、検出感度の高い光導波路型変位検出装置を提供する。 - 特許庁

Hereby, the user can measure the contamination state of the sample at low cost without a time delay only by transmitting the measurement data acquired by measuring the sample by the detection device to the environmental information server through the network.例文帳に追加

これにより、ユーザは、検出装置で測定した試料についての測定データをネットワークで環境情報サーバに送信するだけで、試料の汚染状態を時間遅れなく低コストで計測することができる。 - 特許庁

To provide a device capable of acquiring stable test data in a drop impact testing machine constituted so as to perform the drop impact test of a test sample by attaching the test sample 10 to a jig 1 to drop the jig 1.例文帳に追加

試験サンプル１０を治具１に取り付け、この治具１を落下させて試験サンプルの衝撃試験を行なうようにした落下衝撃試験装置において、安定した試験データの得られる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a geological sample collecting device which can prevent the deterioration of a collected sample, can collect samples with little disturbance, and can improve excavation efficiency in a waste layer in a final disposal place and an illegal dumping site.例文帳に追加

最終処分場や不法投棄現場の廃棄物層に対し、採取試料の変質防止、乱れの少ない試料の採取、および掘削効率の向上を可能にする地質試料採取装置を提供する。 - 特許庁

A secondary electronic signal obtained from the sample 9 is detected by a detector 14a and/or a 14b, and an image of the sample is displayed on a first display surface area of an image display device 15 on the basis of the detection.例文帳に追加

試料９から得られる二次電子信号は検出器１４ａ及び／又は１４ｂにより検出され、これにもとづいて像表示装置１５の第１表示面領域には試料像が表示される。 - 特許庁