「small defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a device for processing data correction which corrects a defect of defective data from a defective photoelectric converting element at high speed and whose circuit scale can be made small.例文帳に追加

欠陥のある光電変換素子からの欠陥画素データの欠陥補正を高速に行い且つ回路規模を小さくすることが可能なデータ補正処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a small laminated ceramic electronic component, which has high reliability and no structure defect, and in which an internal electrode and ceramic layers can be made thin.例文帳に追加

高信頼性で、構造欠陥がなく、内部電極およびセラミック層の薄層化を可能とする小型の積層セラミック電子部品の製造方法を提供する。 - 特許庁

To manufacture good quality silicon carbide bulk single crystal having no micro-pipe defect and a small number of lattice defects at a melt temperature of ≤2000°C and at a high growth rate.例文帳に追加

マイクロパイプ欠陥を含まない、格子欠陥の少ない良質な炭化珪素バルク単結晶を、２０００℃以下の融液温度で、高い成長速度で製造する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a stamper for an optical disk and a substrate for the disk for manufacturing the disk having a small variation in the reflectance and a high recording characteristic without any defect.例文帳に追加

反射率変動が少なく記録特性の高い光ディスクを欠陥無く製造する光ディスク用スタンパの製造方法及び光ディスク用基板を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern correcting method in which an electrode broken part can be corrected by using a thin wire of about 10 μm and contamination of a periphery of a defect part is small.例文帳に追加

１０μｍ前後の細線で電極断線部などを修正することができ、かつ、欠陥部周辺の汚染が小さなパターン修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern forming apparatus flexibly adaptable to a diversified small-quantity production and easily forming a smooth and defect-free pattern on a desired position.例文帳に追加

少量多品種生産に柔軟に対応でき、かつ滑らかで欠陥のないパターンを所望位置に形成し易いパターン形成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an electrode structure for a small sized surface acoustic wave element where defect of an interdigital transducer is suppressed due to a discharge caused by a pyroelectric effect in the manufacture process.例文帳に追加

製造過程で焦電効果に起因して発生する放電によるインタディジタルトランスデューサーの破損を抑制する弾性表面波素子の電極構造を提供する。 - 特許庁

To provide a practical method and device for detecting a small surface irregularity defect, capable of detecting surely a small concave and convex defect having a contour of the irregularity of several micrometers which is difficult to an automatic detection like the detection by a grinding stone, in an object to be inspected with a coarse surface roughness and a visual inspection which is usually difficult.例文帳に追加

表面粗さの粗い被検査対象物において通常視認困難で、砥石がけ検査により検出しているような自動検出が困難な凹凸が数μm程度でなだらかな輪郭を持つ微小凹凸性疵を確実に検出できる実用的な微小凹凸表面欠陥の検出方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a silicon single crystal, by which the silicon single crystal, characterized in that the variation of the crystal defect distribution in the radial direction is small over the whole crystal length and the whole surface of a cut surface cut in the radial direction has one kind of crystal defect area, can be easily manufactured.例文帳に追加

結晶全長にわたって径方向の結晶欠陥分布の変化が小さく、径方向の切断面の全面が１種類の結晶欠陥領域であるシリコン単結晶を容易に製造できるシリコン単結晶製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for inspecting a defect of a packaging capable of surely and easily inspecting the defect of the packaging even to a work in which an extremely small electronic component is stored on a carrier tape, and a cover tape is stuck on the carrier tape to make the packaging.例文帳に追加

キャリアテープに極小の電子部品が収納され、そのキャリアテープにカバーテープを貼着して包装されてなるワークに対しても、その包装不良を確実に、かつ、容易に検査することができる包装不良検査方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and device for inspecting multilayered mask for defect by which even an extremely small defect that is formed on a multilayered reflection type mask and is difficult to be detected by means of a means using a visible/ ultraviolet laser can be inspected at a high speed by using a compact light source that can be utilized easily by anybody.例文帳に追加

可視・紫外レーザーを用いる手段では検出が困難な多層膜反射型マスク上の極微小欠陥を、高速で検査可能とし、かつコンパクトで誰でも簡単に利用できる光源を用いて実現することを可能とする。 - 特許庁

To provide a method of forming a semiconductor layer which has small defect density, good quality and large ion bonding property as a GaN layer etc. has on a semiconductor layer as a silicon carbide layer etc. which has small ion bonding property and strong covalent bonding property.例文帳に追加

炭化珪素層等のイオン結合度が小さく共有結合性の強い材料からなる半導体層上に、欠陥密度が小さく良質な、ＧａＮ等のイオン結合性の大きな半導体層を形成する方法を提供する。 - 特許庁

To provide an illuminator for light sensor and a defect detector employing it in which even a small irregular defect can be detected at low cost through a simple arrangement without making strict the arranging angle, installation criterion, and the like, of camera or illuminator.例文帳に追加

カメラや照明装置の配置角度等、設置基準が厳しくなることなく、簡易な構成にて、しかも低コストで、小さな凹凸欠陥でも検出することができるラインセンサ用照明装置およびそのラインセンサ用照明装置を用いてなる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a 6-freedom-degree robot arm mechanism securing a wide action range by resolving a defect of having a small action range, while holding the rigidity, or an advantage of a parallel mechanism.例文帳に追加

パラレルメカニズムの長所である剛性を保ちつつ、動作領域が小さいという欠点を解消し、動作領域を広くとれる６自由度のロボットアーム機構を提供する。 - 特許庁

To provide a high-reliability flat plate type electrochemical cell which is easily made high in energy density, small-sized and thin and free of a defect in connection with a collector due to deformation and breakage of a lead terminal.例文帳に追加

高エネルギー密度且つ小型・薄型化が容易で、リード端子の変形、破損による集電体との接続不良発生が無く信頼性の高い平板型電気化学セルの提供。 - 特許庁

To manufacture a high-quality photomask blank having extremely little defect below a film by removing a foreign matter or the like depositing on the surface of a transparent substrate with a small amount of use of etching liquid.例文帳に追加

透明基板の表面に付着した異物等を、少ないエッチング液の使用量で好適に除去して、膜下欠陥が極めて少ない高品質なフォトマスクブランクを製造できること。 - 特許庁

To provide a cold rolled steel sheet for a can small in defect in can- making caused by oxide based inclusions even under severe working conditions and furthermore mass-producible at a low cost.例文帳に追加

厳しい加工条件下においても酸化物系介在物に起因する製缶不良が少なく、しかも低コストで大量生産可能な缶用冷間圧延鋼板を提供する。 - 特許庁

To provide a photomask that can easily be manufactured and inspected, has small deterioration in transfer shape of a light shielding pattern, and can prevent a light shielding pattern defect due to discharge.例文帳に追加

簡易に作製及び検査することができ、遮光パターンの転写形状の劣化が小さく、かつ放電による遮光パターン欠陥を防止することができるフォトマスクを提供すること。 - 特許庁

To provide an image processing method, apparatus, and program capable of automatically repairing a defect region caused by attachment of a very small substance onto a medium from a digital signal obtained by reading an image formed on the medium.例文帳に追加

媒体上に形成された画像を読み取って得たデジタル画像から、媒体上に微小物質が付着されたことに起因する欠陥領域の修復を自動的に行う。 - 特許庁

To provide an insulating film which is suitable for mass-production, less contaminated, composition-controlled, dense, extremely small in defect and grain boundary, and structure-controlled along the depth, and has excellent insulation characteristics.例文帳に追加

量産に適した、コンタミの少ない、組成制御された、ち密で、欠陥、粒界の極めて少ない、深さ方向に構造制御された、良好な絶縁特性を持つ絶縁膜の提供。 - 特許庁

To obtain a laminated chip inductor which can be improved in product yield by surely preventing conduction defect, even if the chip is small-sized, satisfactory in high frequency characteristics, and suitably mounted on a bulk adaptive chip.例文帳に追加

小型チップであっても導通不良を確実に防止して製品歩留まりの向上が図れ、高周波特性が良い、バルク対応のチップ実装に好適な積層チップインダクタを提供する。 - 特許庁

To realize a pixel inspection device and a pixel inspection method that precisely inspect at least a defect of pixel even when the number of photoreceiving elements to one pixel of a display equipment to be inspected is small.例文帳に追加

被検査表示機器の１画素に対する受光素子数が少なくとも、画素の欠陥を精度良く検査する画素検査装置および画素検査方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a pixel defect correction device capable of accurately correcting a defective pixel in exactly real time or a small number of processing times even when there is the defective pixel among eight peripheral adjacent pixels.例文帳に追加

周囲の隣接する８画素中に欠陥画素がある場合でも、正確にリアルタイムに、若しくは、少ない処理回数で補正が可能な画素欠陥補正装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fine pattern correction device which can correct the defect of a fine pattern in a short period of time, and is low in its price, small in its installation area and high in its correction quality.例文帳に追加

微細パターンの欠陥を短時間で修正することができ、装置価格が低く、装置設置面積が小さく、修正の品質が高い微細パターン修正装置を提供する。 - 特許庁

To improve wear resistance of a small-diameter member, by avoiding defect and damage of a coated hard material in an edge part due to plasma generated in a forming process of the coating hard material process, and by maintaining adhesion of a film.例文帳に追加

被覆硬質材の形成プロセスで発生するプラズマによるエッジ部での被覆硬質材の欠陥やダメージを回避し、密着性を維持し、小径部材の耐摩耗性を改善する。 - 特許庁

To provide a low-frequency sound compensating apparatus, capable of realizing regeneration of a heavy low-frequency sound which has small distortion and is rich by correcting a regeneration defect of the low-frequency sound of a loudspeaker in view of listening.例文帳に追加

スピーカの低音再生不良を聴感上修正し、歪みの少ない豊かな重低音の再生を実現することができる低音補償装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a composition for memory hard disk polishing having a high polishing speed and giving an excellent surface with small roughness and no defect and a polishing method using the same.例文帳に追加

大きい研磨速度を有し、表面粗さが小さく、表面欠陥のない優れた表面をもたらす、メモリハードディスク研磨用組成物およびそれを用いた研磨方法を提供する。 - 特許庁

The through hole of a small opening diameter to the thickness of the sheet-shape part can thus be bored, and at the same time a flash 53 of the opening 51 can be prevented from causing a lamination defect.例文帳に追加

これにより、薄板状部品の板厚に対して開口径の小さい貫通孔を穿設できるとともに、開口５１のバリ５３が、積層不良を引き起こすことを防止できる。 - 特許庁

To solve the problem that the substrate area becomes large by the trace of the rescue wiring on the array substrate which relieves disconnection defect, and the effective display area becomes small.例文帳に追加

断線不良を救済するアレイ基板上のレスキュー配線のトレースにより基板面積が大きくなり有効表示領域が小さくなってしまうという問題を解決すること。 - 特許庁

To improve relief efficiency in the case of defect occurrence by making a minimum unit of a defective block small even when a stack type memory cell like a BiCS memory is used.例文帳に追加

ＢｉＣＳメモリのような積層型のメモリセルを用いた場合においても、不良ブロックの最小単位を小さくすることができ、不良が発生した際の救済効率を向上させる。 - 特許庁

A CDS circuit 100 samples a small signal outputted from a pixel with a small storage amount of signal charges by emitting R and B rays to the solid-state image pickup element provided with a complimentary color checkered filter so as to discriminate presence or absence of a transfer defect from the sampled data.例文帳に追加

補色市松フィルタを配置した固体撮像素子にＲ光やＢ光を照射して、信号電荷の蓄積量の小さい画素から出力される小信号をＣＤＳ回路１００でサンプリングし、そのデータ値から転送欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

Consequently, even if each domain area showing the defect in each image is small, the domain area showing the detect part in the synthesized image becomes larger by overlapping the two images.例文帳に追加

よって各画像において欠陥を示す領域の面積が小さくても、２つの画像を２つの画像を重ね合わせることによって、合成後の画像において欠陥部を示す領域の面積は大きくなる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a laminated ceramic capacitor of a small size and a large capacity having an excellent dimensional accuracy and having less short-circuiting failure and less internal structure defect even when the capacitor is made to be thin and highly laminated.例文帳に追加

寸法精度に優れ、薄層高積層化してもショート不良、内部構造欠陥の少ない小型大容量の積層セラミックコンデンサの製造方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To maintain adhesion and to improve wear resistance of a small-diameter member by avoiding defect and damage of a coating hard material at an edge due to plasma generated in a formation process of the coating hard material.例文帳に追加

被覆硬質材の形成プロセスで発生するプラズマによるエッジ部での被覆硬質材の欠陥やダメージを回避し、密着性を維持し、小径部材の耐摩耗性を改善することである。 - 特許庁

To provide an image forming device preventing the occurrence of rolling-in of toner removing means (so-called blade rolling-in) consisting of an elastic body and cleaning defect, and making adaptable to a cleaning roller of a small diameter, too.例文帳に追加

弾性体よりなるトナー除去手段の巻き込み（いわゆるブレードの巻き込み）の発生やクリーニング不良を防止するとともに、小径のクリーニングローラにも対応できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a small-sized optical control element having a group speed delay effect and a dispersion control effect, which is capable of giving a controllable light propagation mode while keeping a group speed delay effect of a coupled defect waveguide.例文帳に追加

結合欠陥導波路の群速度遅延効果を保ちつつ、制御可能な光伝搬モードを与えられる、小型の群速度遅延効果と分散制御効果を有する光制御素子を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe device, capable of detecting a small defect 5 existing in a mechanical part or a test piece 4 which is a material for the mechanical part, by enhancing a sensitivity of the ultrasonic probe 1.例文帳に追加

超音波探触子１を高感度化することにより、機械部品や機械部品用の素材である試験片４に存在する小さな欠陥５を検出できる超音波探触子を提供する。 - 特許庁

To provide a polishing composition capable of polishing a quickly polishing target material even if grain diameter of alumina is small, and reducing surface defect of the polishing target material after being polished.例文帳に追加

アルミナの粒径が小さくても迅速に研磨対象物を研磨することができ、尚かつ研磨後の研磨対象物の表面欠陥を低減することができる研磨用組成物を提供する。 - 特許庁

To provide an instrument for measuring a defect of periodic structure in a inspected object, without depending on a method of detecting diffraction light of specified order, when the diffraction light of the each order is generated at a small angle.例文帳に追加

各次数の回折光が小さい角度で生じる場合、特定の次数の回折光を検出する方法によらず、被検査物の周期構造の欠陥を検出する装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a medical liquid container and a preparation-containing medicament container, not causing sealing defect of a sealing part of the peripheral edge of a medicament housing chamber and alteration of a small quantity of a medicament housed.例文帳に追加

薬液収納室周縁のシール部分のシール不良や、収容する少量の薬剤を変質させたりすることのない、医療用薬液容器および薬剤入り医療用薬液容器を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor electrostatic capacity sensor by which the non-defect rate hardly lowers due to uneven distance or projections in spacing even if the distance between a fixed electrode and a movable electrode is made small.例文帳に追加

固定電極と可動電極との間隔を狭くしても、間隔寸法むらや間隔内突起で良品率が低下しない半導体式静電容量型センサの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing metallic particles for an anisotropic conductive film having high hardness, small in the defect of contact and having a uniform shape instead of the conventional conductive particles in which resin particles are applied by Au plating.例文帳に追加

従来の樹脂粒子にAuメッキを施した導電粒子に代わる、高硬度で、接触不良が少ない均一な形状を有する異方性導電膜用金属粒の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor substrate that forms an epitaxial layer of a high quality having a low defect density on a silicon layer or a silicon substrate by using a small number of steps at a low cost.例文帳に追加

シリコン層又はシリコン基板上に、欠陥密度が低く高品質なエピタキシャル層を、少ない工程で低コストに形成することが可能な半導体基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To improve wear resistance of a coated small-diameter member, by avoiding defect and damage of a hard film in an edge part due to plasma generated in a hard film coated process, and by maintaining adhesion of the film.例文帳に追加

硬質皮膜被覆プロセスで発生するプラズマによるエッジ部での硬質皮膜の欠陥やダメージを回避し、皮膜の密着性を維持し、被覆小径部材の耐摩耗性を改善することである。 - 特許庁

To provide an airtightness inspection method of a casing allowing finding of an airtightness failure by an extremely small defect such as a pin hole while preventing the reduction of inspection efficiency as much as possible.例文帳に追加

検査効率の低下を極力防止しつつ、ピンホール等の極めて小さい欠陥による気密不良を発見することが可能となる容器の気密性検査方法を提供することである。 - 特許庁