「static test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

MATCHING CIRCUIT DEVICE WITH CELL TEST FUNCTION FOR PREVENTING STATIC DISCHARGE例文帳に追加

セルテスト機能を具えた静電放電防護整合回路装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS STATIC ELECTRICITY BREAKDOWN VOLTAGE TEST METHOD, AND DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路、その静電気耐圧試験方法及び装置 - 特許庁

To conduct selection of high quality having wide test coverage by switching in order a serial mode and a parallel mode to be operated, in a burn-in test using a static burn-in test device.例文帳に追加

スタティックバーインテスト装置を用いたバーインテストにおいて、シリアルモードとパラレルモードを順次切り替えて動作させることにより、テストカバレージの大きな高品質な選別を行なう。 - 特許庁

To provide a static semiconductor memory device capable of shortening the test time of a data retention test, thereby improving productivity.例文帳に追加

データリテンションテストのテスト時間を短縮して、生産性を向上させることができるスタティック型半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A static power current IDDQ is measured at a plurality of strobe points with application of a test signal to a CMOS integrated circuit 50 under test.例文帳に追加

試験対象のＣＭＯＳ集積回路５０にテスト信号を印加して静止電源電流Ｉ_DDQ を複数のストローブ点で測定する。 - 特許庁

In addition, stable load control can be performed also in an electric-oil actuator 1 based on displacement control in the static load test or in the static pressurization processing.例文帳に追加

また、動的荷重試験や動的加圧加工において、変位制御を基本とする電−油アクチュエータ１でも安定した荷重制御を行うことができる。 - 特許庁

Regarding the plurality of good samples, static power supply current (IDDQ) for each test vector is measured while a plurality of test vectors are switched over (S102).例文帳に追加

複数の良品サンプルについて、複数のテストベクタを切り換えながら、テストベクタごとの静的電源電流（ＩＤＤＱ）を測定する（Ｓ１０２）。 - 特許庁

To provide a static electricity tester added with the function of displaying a discharge current waveform so that a place where electro-static discharge current is propagated can be determined as soon as electro-static discharge test is performed.例文帳に追加

静電気放電の試験の実施と同時に、静電気放電電流の伝播箇所が特定できるように、放電電流波形を表示する機能を付加した静電気試験装置を提供する。 - 特許庁

To shorten time of development and time of execution of a test in a static electric source current measuring test in a system LSI with a built-in processor.例文帳に追加

プロセッサーを内蔵するシステムＬＳＩにおいて、静止電源電流測定試験時の試験の開発時間と実施時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

This compsn. exhibits an elasticity ratio of modulus M100 to static shear modulus Gs at the third time in a repeated 100% tensile deformation test with an autograph of 1.4 or higher and a ratio of modulus M300 at the third time in a repeated 300% tensile deformation test to M100 of 3.6 or lower.例文帳に追加

１００％モジュラスＭ_100 と静的剪断弾性率Ｇｓとの比（Ｍ_100／Ｇｓ）が１．４以上である免震積層体用ゴム組成物。 - 特許庁

To reduce a frame area in a liquid crystal display provided with static electricity protecting function of protecting a thin-film transistor for switching from static electricity, and test functions.例文帳に追加

スイッチング用薄膜トランジスタを静電気から保護するための静電気保護機能およびテスト機能を備えた液晶表示装置において、額縁面積を小さくする。 - 特許庁

An ultrasonic static image obtained by inspecting the test body 6 beforehand by the ultrasonic wave is stored in a memory 9.例文帳に追加

あらかじめ超音波で被検体６を検査して得られた超音波静止画像をメモリ９に記憶しておく。 - 特許庁

To easily obtain the rigidity of the ground in a horizontal direction of a pile compared with a conventional horizontal static loading test.例文帳に追加

従来の水平静的載荷試験に比べて、杭の水平方向の地盤の剛性を簡単に求めること。 - 特許庁

Additionally, a static load is imposed on the soil layer J2 in which a repeat test is performed, so that strength can be measured.例文帳に追加

また、繰り返し試験を行った中間土層Ｊ２に静的な荷重を載荷して強度を測定する。 - 特許庁

The universal type line test device 1 is provided with test circuits that conduct an insulation resistance test and a static capacitance test between a couple of core wires and between each core wire and ground, and a cross-contact test between each core wire and other wire without the need for changing the connection between a couple of core wires of a test object line and a ground wire.例文帳に追加

ユニバーサル型回線試験器１は、試験対象回線の一対の心線及び接地線との接続を替えること無しに、一対の心線間や、各心線と対地間の絶縁抵抗試験、静電容量試験、各心線に対する他の回線の混触試験をするための試験回路を備えることである。 - 特許庁

To properly estimate the plateau stress when the dimension of a required test piece is different from that of a standard test piece with respect to a porous metal having a closed cell structure, without performing the static compression test in the dimension of the required test piece.例文帳に追加

クローズドセル構造のポーラス金属について標準試験片寸法とは異なる所要試験片寸法の場合でのプラトー応力を、該所要試験片寸法での静的圧縮試験を行うことなく適正に予測できるようにすること。 - 特許庁

To surely survey to a target depth even when a sand gravel layer for which penetration by ordinary static penetration test equipment is impossible exists inside the test ground.例文帳に追加

試験地盤内に通常の静的貫入試験装置では貫入不可能な砂礫層などが存在しても、目的の深度まで確実に調査できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that is protected from static electricity introduced through bump pads and probe test pads.例文帳に追加

バンプパッドおよびプローブテスト用パッドを介して流入する静電気から保護され得る半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an organic field light emitting device including a light test circuit designed to have a structure resistant to static electricity.例文帳に追加

静電気に強い構造に設計された点灯検査回路を備えた有機電界発光表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a static type semiconductor memory in which a memory cell whose standby current is defective can be detected in an operation test.例文帳に追加

動作テストにおいてスタンバイ電流不良のメモリセルを検出できるスタティック型半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The system is provided with: a test capsule 2 with a built-in permanent magnet; and a position detector 3 for detecting the position of the test capsule 2 based on the strength of a static magnetic field from the permanent magnet built in the test capsule 2.例文帳に追加

永久磁石が内蔵されたテストカプセル２と、テストカプセル２に内蔵された永久磁石から生じる静磁場の強度に基づいてテストカプセル２の位置を検出する位置検出装置３とを備える。 - 特許庁

To provide a flooring made of a fiber which is capable of preventing static electricity by simply placing it on a floor, and a test method for measuring its static electricity preventive function without causing differences among people involved in testing.例文帳に追加

単に床に置くだけで静電気を除電することができる繊維製床敷物の提供、並びに個人差を生ずることなく除電性能を測定する試験方法を提供する。 - 特許庁

To properly estimate the plateau stress at a required dynamic strain speed higher than a static strain speed due to a static compression test with respect to a porous metal having a closed cell structure, without performing a compression test at the dynamic strain speed.例文帳に追加

クローズドセル構造のポーラス金属について、静的圧縮試験による静的ひずみ速度よりも速い所要の動的ひずみ速度でのプラトー応力を、該動的ひずみ速度での圧縮試験を行うことなく適正に予測できるようにすること。 - 特許庁

To provide a horizontal load testing method of a pile measuring a horizontal resistance of many piles by one-time static horizontal load test.例文帳に追加

１回の静的水平載荷試験により多数の杭の水平抵抗を求める杭の水平載荷試験方法を提供する。 - 特許庁

To beneficially effectively carry out a supporting force confirmation test of a pile although it depends on a static pile head loading test and remarkably reduce the term of driving the pile including the test teerm.例文帳に追加

杭の支持力確認試験を、静的な杭頭載荷によるものでありながら、コスト的に有利に行うことができ、しかも、試験も含めた杭の施工の工期を大幅に短縮することができる杭の支持力確認方法を提供する。 - 特許庁

Hereby, even when a load domain loaded by a static load test or by a static pressurization processing is different greatly, a rotational frequency wherein the servomotor can show a sufficient torque in loading can be guaranteed.例文帳に追加

これにより、静的荷重試験や静的加圧加工によって載荷する荷重領域が大きく異なっても、載荷においてサーボモータが十分なトルクを発揮できる回転数を保証することが可能となる。 - 特許庁

To provide a method for carrying out a static load test of a pile easily at a low cost, using a posting vehicle for use in installing piles.例文帳に追加

杭の設置に使用される建柱車を用いて簡便且つ低コストで杭の静的載荷試験を実施する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a horizontal load testing method of pile for searching for dispersion in level resistance of the pile by a single static horizontal loading test.例文帳に追加

１回の静的水平載荷試験により杭の水平抵抗のばらつきを求める杭の水平載荷試験方法を提供する。 - 特許庁

To reduce an influence of overvoltage caused by static electricity on a processing circuit arranged in a preceding stage of a driving circuit and a test circuit.例文帳に追加

駆動回路や検査回路の前段に設けられた処理回路に対して静電気による過電圧が与える影響を低減する。 - 特許庁

To provide a thermostat for inhibiting vibration to the test chamber of a blower while using the blower for securing high blowing static pressure and sufficient amount of wind to the test chamber.例文帳に追加

試験室に対する高い送風静圧と十分な風量を確保可能な送風機を使用しつつも、送風機の試験室に対する振動を抑制することができる恒温槽を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which various static breakdown strength capability can be tested with a WLBI test.例文帳に追加

本発明の目的は、ＷＬＢＩ試験において様々な静電耐圧能力を試験可能な半導体記憶装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a variable speed three-point bending impact testing device having a small-sized simple structure, capable of performing a test from a static breaking test up to an impact test at high displacement speed of 20 m/s by one testing machine, and detecting a load behavior, a displacement behavior or the like in a test piece breaking process.例文帳に追加

１台の試験機で静的破壊試験から２０ｍ／ｓといった高変位速度での衝撃試験までを行うことができるとともに、試験片破壊過程における荷重挙動、変位挙動などの検出が可能な、小型かつシンプルな構造の可変速三点曲げ衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit device which has such an ESD (electro-static discharge) protection capability as to satisfy specifications of a surge test according to the subdivision of a process.例文帳に追加

プロセスの微細化に対応して、サージ試験の規格を満たすＥＳＤ保護能力を有する半導体集積回路装置を得られるようにする。 - 特許庁

A statistical processing section 2 statistically processes measurement results of packet loss and jitters to find a static of quality deterioration and provides it for a connectability test section 3.例文帳に追加

統計処理部２は、パケットロスやジッタの測定結果を統計的に処理して品質劣化の統計量を求め、これを接続性試験部３へ提供する。 - 特許庁

SYSTEM HAVING FUNCTION OF AUTOMATICALLY INCREASING ENGINE TORQUE FOR CONTROLLING DRIVING SLIP IN STARTING PROCESS ON TEST COURSE DIFFERENT IN STATIC FRICTION COEFFICIENT AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

静摩擦係数が異なる走行路での始動プロセスにおける自動エンジン・トルク上昇機能付きの駆動時滑りを制御するシステム及びその方法 - 特許庁

Hitherto, a data bus line performing static operation is provided for a normal mod and a data bus line performing dynamic operation is provided separately for a test operation mode, but in this device, the same data bus line is used, static operation is performed in the normal operation mode, and dynamic operation is performed in the test operation mode.例文帳に追加

従来、通常モードのために、スタティック動作を行うデータバス線を設け、試験動作モードのために、ダイナミック動作を行うデータバス線を別に設けていたが、本発明では、同じデータバス線を用い、通常動作モードではスタティック動作をさせ、試験動作モードでは、ダイナミック動作をさせるようにする。 - 特許庁

In this way, an actual aerodynamic load can be accurately reproduced by applying the load with the dimension and the direction matching the lowered position of the flap 12, so that a static load test, a dynamic load test, and a durability test for the flap 12 can be automatically carried out with less labor in a short time.例文帳に追加

これによりフラップ１２の下げ位置に応じた大きさおよび方向の荷重を加えて実際の空力荷重を正確に再現することができるので、フラップ１２の静荷重試験、動荷重試験および耐久試験を小さな労力で、かつ短い時間で自動的に行わせることができる。 - 特許庁

To inexpensively realize a high performance head inspection by providing a dynamic electric test part and a static electric test part to which an external magnetic field can be applied in an electric tester in a magnetic head inspection device mounting a recording device and a magnetoresistive reproducing device.例文帳に追加

記録素子と磁気抵抗効果再生素子を搭載した磁気ヘッドの検査装置として、エレキテスター内に動的エレキテスト部と外部磁界印加可能な静エレキテスト部を備え、ヘッドの高性能検査を安価に実現する。 - 特許庁

To obtain an electron beam application device for lowering landing energy when irradiating electron beams for suppressing damages and static charge to an observation test-piece and capable of continuous variations as well.例文帳に追加

観察試料へのダメージと帯電を抑制するために、電子ビームの照射時のランディングエネルギーを下げ、且つ連続可変が可能な電子線応用装置を得る。 - 特許庁

(a) The static contact angle, which is obtained by a 1/2θ method when 4 μL of mixed liquid for a wet tension test with a surface tension of 34 mN/m is dropped, is in the range of 5-20°.例文帳に追加

（ａ）表面張力が３４ｍＮ／ｍのぬれ張力試験用混合液を４μＬ滴下したときの１／２θ法で求めた静的接触角が５〜２０度である。 - 特許庁

(b) The static contact angle, which is obtained by a 1/2θ method when 4 μL of mixed liquid for a wetting tension test with a surface tension of 50 mN/m is dropped, is in the range of 5-50°.例文帳に追加

（ｂ）表面張力が５０ｍＮ／ｍのぬれ張力試験用混合液を４μＬ滴下したときの１／２θ法で求めた静的接触角が５〜５０度である。 - 特許庁

To provide a driver monolithic liquid crystal panel which is excellent in resistance to static electricity trouble and exactly conducts test of operation during manufacture and a simple method for manufacturing the same.例文帳に追加

静電気トラブル耐性に優れ、製造中に動作検査を的確に行うことが可能なドライバーモノリシック液晶パネルと、その簡便な製造方法を提供する。 - 特許庁

To realize an electrostatic breakdown test of semiconductor devices which can enhance the reliability on measurement of a breakdown endurance amount by static discharging of the semiconductor devices.例文帳に追加

半導体デバイスについての静電気の放電による破壊耐量の測定の信頼性を高めることができる半導体デバイスの静電破壊試験を実現する。 - 特許庁

General information regarding the SUT, and/or the component with possibility of the SUT, and/or the test applicable to the SUT, and/or relation among them is described in the static information.例文帳に追加

静的情報は、SUT、及び/又は、SUTの可能性のある構成要素、及び/又は、SUTに適用可能なテスト、及び/又は、それらの間の関係に関する一般的な情報を記述するものである。 - 特許庁

The subject under test SU whose photography region is moved to an imaging space B where a static magnetic field is formed is provided with scan remaining time information concerning the remaining time necessary for performing scan.例文帳に追加

静磁場が形成されている撮像空間Ｂへ撮影領域が移動された被検体ＳＵに、スキャンの実施に要する残り時間に関するスキャン残存時間情報を提供する。 - 特許庁