「test program」に関連した英語例文の一覧と使い方(30ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an installation program capable of reducing the time and labor of a user for the updating of the firmware of an image forming apparatus and test printing, the image forming apparatus and a printing system.例文帳に追加

画像形成装置のファームウェアのアップデート及びテスト印刷に対するユーザの手間を軽減することができるインストールプログラム、画像形成装置、及び、印刷システムを提供すること。 - 特許庁

A data conversion part 2 modifies the input database generation information 11 and input data generation information 12 so that a confirmation test of the program 35 (after correction) to be tested can be conducted.例文帳に追加

データコンバート部２は、入力データベース作成情報１１、入力データ作成情報１２を試験対象プログラム（修正後）３５の確認試験を行うことができるように変更する。 - 特許庁

The test body extraction program detects the software and the setting in the malware infected terminal to inspect whether or not the detected software and the detected setting match with software and setting of the white list.例文帳に追加

検体抽出プログラムは、マルウェア感染端末内のソフトウェア及び設定を検出し、検出したソフトウェア及び設定がホワイトリストのソフトウェア及び設定と一致するかを検査する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus which can set sufficient waiting time for each unit and simplify the contents of a program and time and effort for creating it.例文帳に追加

各ユニットに対して十分な待ち時間を設定することが可能になるとともにプログラムの内容および作成の手間を簡略化することができる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

Fundamentally, the inside of the IC chip is judged all the time to come within a prescribed temperature range (processings S3, S4), after one of the divided programs is executed, and the effective test program can be conducted thereby.例文帳に追加

基本的には、分割した一つのテストプログラム実行後、常にＩＣチップ内が所定温度範囲内にあるか判断し（処理Ｓ３，Ｓ４）、実効的なテストプログラムができるようにする。 - 特許庁

To provide a web load test program for allowing a viewer to easily select a certain response message of a certain virtual client from a list of response log information displayed.例文帳に追加

ビューワが一覧表示したレスポンスのログ情報の中から任意の仮想クライアントの任意のレスポンスメッセージを簡単に選択できるようにするウェブ負荷試験プログラムを、提供する。 - 特許庁

The system is configured such that a stocker controller and a PLC are connected in series with a conveyance controller comprising a main control device, a collected data display device, a data recording device, and a request data display device, and a test program for testing a PLC program is connected thereto.例文帳に追加

主制御装置、収集データ表示装置、データ記録装置及び要求データ表示装置からなる搬送コントローラに、ストッカー制御装置とＰＬＣとを直列的に接続し、これにＰＬＣプログラムのテストを行うテストプログラムを接続して構成する。 - 特許庁

At the time of executing program correction, correction ID is numbered for each correction factor, and at the time of registering a correction source file in a source configuration management file, information related with program correction such as correction ID, source file name, and test scenario name is stored in a corresponding chart.例文帳に追加

プログラム修正を行う場合に、修正要因毎に修正ＩＤを採番し、修正ソースファイルをソース構成管理ファイルに登録するとき、修正ＩＤ、ソースファイル名、およびテストシナリオ名などのプログラム修正に関わる情報を対応表に格納する。 - 特許庁

To provide a subjective optometer capable of setting correction data to be changed in one step without requiring an exclusive program to change the correction data for one eye only while both test windows are open.例文帳に追加

両検査窓開放状態で片眼だけ矯正データを変更したいときに、専用のプログラムを必要とせず、１ステップで矯正データの変更のセットができる自覚式検眼装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a function verification device capable of verifying with ease and high accuracy interrupts to a model designed using a hardware description language, a test bench, a simulator program, and a storage medium.例文帳に追加

ハードウェア記述言語により設計されたモデルに対する割り込みの検証を容易かつ高精度に行うことができる機能検証装置、テストベンチ、シミュレータプログラム及び記憶媒体を提供する。 - 特許庁

TEST PATTERN-GENERATING APPARATUS, METHOD FOR CUTTING LOOP, METHOD FOR CUTTING PROPAGATION PATH, METHOD FOR DETECTING DELAY FAILURE AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM RECORDED FOR MAKING COMPUTER EXECUTE THE METHOD例文帳に追加

テストパターン生成装置、ループ切断方法、伝播経路切断方法、遅延故障検出方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide a communication terminal device inspecting method capable of easily executing connection confirmation of a sound signal line without execution of a speech communication test by a wireless apparatus, and to provide a program and a communication terminal device.例文帳に追加

ワイヤレス機器での通話試験を実施することなく、音声信号ラインの接続確認を容易に実施することができる通信端末装置の検査方法、プログラム、および通信端末装置を提供する。 - 特許庁

To provide a control device of an NC machine tool for easily and accurately controlling whether to have executed test processing, in a processing program stored in the control device of the NC machine tool.例文帳に追加

ＮＣ工作機械の制御装置に格納された加工プログラムについて、試加工を行ったか否かを容易且つ正確に管理することができるＮＣ工作機械の制御装置を提供する。 - 特許庁

This device is produced by improving a debugging device for an IC tester, capable of debugging a test program for testing a target device with a plurality of display tool means displaying the respective screens on a display unit.例文帳に追加

本発明は、複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

The data generation program 30 reads a column definition file 60 (S1) to obtain a test data generation condition and generates real tables 110 and 120 (S3) by using outside data 50 and the like (S2) to store them in a database 40.例文帳に追加

データ生成プログラム３０は、カラム定義ファイル６０を読み込んで（S1）、テストデータ生成条件を把握し、外部データ５０等を利用して（S2）、実テーブル１１０，１２０を生成し（S3）、データベース４０に記憶させる。 - 特許庁

To provide a program development support system for automatically generating a form of source code from one piece of design information obtained by collecting dynamic design information and static design information, an external file, and a test item.例文帳に追加

動的設計情報と静的設計情報とをまとめた１つの設計情報からソースコードの雛型、外部ファイル、テスト項目を自動生成するプログラム開発支援システムを提供する。 - 特許庁

In a memory tester of an embodiment, a linear arithmetic register 1 and an interleave arithmetic register 2 store a linear arithmetic variable L and an interleave arithmetic variable I described in the same test program, individually.例文帳に追加

実施形態のメモリテスタは、リニア演算レジスタ１、インターリーブ演算レジスタ２が、同一のテストプログラム中に記述されたリニア用演算変数Ｌ、インターリーブ用演算変数Ｉを個々に格納する。 - 特許庁

To quickly discover the failure of peripheral equipment, and to improve the workability of system maintenance by executing a test program so that each peripheral equipment is tested successively from a site where failure rate is higher.例文帳に追加

各周辺装置について故障率の高い部位から順に試験するように試験プログラムを実行することにより、周辺装置の故障を迅速に発見しシステム保守の作業性を向上させる。 - 特許庁

To create a software function test specification, a software structure and a program according to contents described in a software function specification so as to improve software development efficiency and software product quality.例文帳に追加

ソフトウェア機能仕様書に記載した内容に応じてソフトウェア機能試験仕様書と、ソフトウェア構造と、プログラムを作成することで、ソフトウェア開発の効率向上とソフトウェア製品の品質向上を図る。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor storage device capable of efficiently discriminating a memory cell having disturbance generation possibility and discriminating defective products, and to provide a test program and the semiconductor storage device.例文帳に追加

ディスターブが生じる可能性のあるメモリセルを効率よく判定することができ、不良品を判定できる半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To automatically adjust control parameters even when a machine configuration of a target system changes by automatic generation of a test motion program through acquisition of physical information of the target system.例文帳に追加

対象となる系の物理情報を取得して試験動作用プログラムを自動生成することにより対象となる系の機械構成が変わったときでも制御パラメータを自動調整するようにすること。 - 特許庁

To provide a model preparation program, a model preparation device, and a model preparation method for preparing a model for communicating with a verification object device for executing a test which is not estimated as interface specifications.例文帳に追加

インターフェース仕様に想定されていないテストを行うための、検証対象装置と通信を行うモデルを作成するモデル作成プログラム、モデル作成装置、モデル作成方法を提供する。 - 特許庁

Next, the test program is stored in a first address of a memory section which is provided in the semiconductor circuit and the argument set with the predetermined value is stored in a second address of the memory section.例文帳に追加

次に、前記テストプログラムを前記半導体回路内に設けられる記憶部の第１のアドレスに格納し、かつ、前記所定の値が設定された引数を前記記憶部の第２のアドレスに格納する。 - 特許庁

You can combine lpr(1) with the lptest(1) program, introduced in section Checking Printer Communications to generate some test text. 例文帳に追加

このコマンドは、印字するためのジョブを投入する働きをします。 lpr(1) コマンドを「 プリンタとの通信状況を調べる」で紹介した、あるテスト用のテキストを生成してくれる lptest(1) プログラムと一緒に使うこともできます。 - FreeBSD

A program memory section 24 is prepared in a pattern generator generating testing patterns and one of a plurality of memory sections prepared in the semiconductor testing device to memorize test conditions of DUT.例文帳に追加

プログラムメモリ部２４は、試験パターンを生成するパターンジェネレータに設けられており、ＤＵＴの試験条件を記憶するために半導体試験装置に複数設けられているメモリ部等の１つである。 - 特許庁

To provide a method and a program, that can dynamically test a buffering/selection system and receive transmission as bursts in the case of a peak bandwidth in excess of a mean bandwidth T.例文帳に追加

平均帯域幅Ｔで、またＴを超えることがあるピーク帯域幅のときはバースツとして伝送を受信する、バッファリング／セレクション装置を動的にテストする方法およびプログラムを提供すること。 - 特許庁

When accepting a response, such as a questionnaire from a viewer in a program using a bidirectional service, a response is inputted from a user interface 18 by an operator who performs test reproduction.例文帳に追加

双方向サービスを利用した番組内において、視聴者からアンケートなどの応答を受け付けている場合に、テスト再生を行っているオペレータによりユーザインターフェイス１８から応答が入力される。 - 特許庁

To support preparation of a medical treatment program in a broad sense such as a treatment plan and health promotion plan of a patient while reducing the burden on the patient and utilizing a result of a genetic test once conducted at the maximum.例文帳に追加

患者負担を低減すると共に一度行われた遺伝子検査の結果を最大限に活用しつつ、患者の治療計画、健康増進計画など広義の医療計画の作成を支援する。 - 特許庁

A program has a means for randomly executing a test execution process and a means for managing the control and termination of the process, and has a mechanism for automatically conducting these means, in the system verification of the logical circuit.例文帳に追加

論理回路のシステム検証において、テスト実行プロセスをランダム実行させる手段と、プロセスの実行、終了を管理する手段とを有し、それらの手段を自動的に行う仕組みを有するプログラム。 - 特許庁

To efficiently and surely detect the occurrence of a fault in an exchange application program and to continuously execute an automatic test even when a fault occurs.例文帳に追加

効率よく確実に交換アプリケーションプログラムの障害発生を検出でき、しかも障害発生時にも継続して自動試験を行うことができる交換ソフトウェアの自動試験システムを実現する。 - 特許庁

At the time of data writing test to the EEPROM of a non- contact or contact type IC card, a writing data generation program and a command are transmitted from an IC card tester to the IC card (603).例文帳に追加

非接触型または接触型ＩＣカードのＥＥＰＲＯＭへのデータ書き込み試験において、ＩＣカードテスタから、ＩＣカードに対して書き込みデータ発生プログラムおよびコマンドを送信する（６０３）。 - 特許庁

The inspection program can sufficiently be verified since the inspection program is verified by reproducing all the processing flows, which can not be conventionally confirmed, in advance by inverting an expectation value of a test pattern (S10) and adding a mode (S101) to perform the inspection when the semiconductor integrated circuit inspection program is verified.例文帳に追加

半導体集積回路検査プログラムを検証する際に、試験パターンの期待値を反転させて（Ｓ１０２）検査を行うモード（Ｓ１０１）を追加することにより、従来では確認できなかった全ての処理フローについて事前に再現して検査プログラムの検証を行うことができるため、検査プログラムの検証を不足なく行うことができる。 - 特許庁

A main frame 100 is equipped with: a tested program 101 used as a test object; an editor 102; this comparing data creation program 103; a working data storage area 110; and a processing result storage area 120 for a storage area of information outputted from each program other than working data such as form printing data.例文帳に追加

メインフレーム１００は、テスト対象となる被テストプログラム１０１と、エディタ１０２と、比較用データ生成プログラム１０３とを備えるとともに、作業用データ格納領域１１０と、帳票印字用データ等、作業用データ以外に各プログラムから出力される情報の格納領域としての処理結果格納領域１２０とを備える。 - 特許庁

To provide a program development stage retrieval system and method capable of grasping the developed situation of the development stage of the downstream process of program development only by retrieving one repository server by managing repository information corresponding to each development stage from source program generation to module test success.例文帳に追加

ソースプログラム作成からモジュールのテスト合格までの各開発段階に対応したリポジトリ情報を管理することにより、１つのリポジトリサーバを検索するだけでプログラム開発における下流工程の開発段階について、この開発状況を把握できるプログラム開発段階検索システム及びプログラム開発段階検索方法を提供する点にある。 - 特許庁

An interactive stub device includes a means 2 for analyzing a telegram sent to the outside from the program to be tested and detecting the necessary data item in order to test the program which performs a process using data given from the outside, and a means 4 for embedding a value of input data corresponding to the detected data item in the telegram to be sent to the program to be tested.例文帳に追加

外部から与えられるデータを用いて処理を行うプログラムのテストのために、テスト対象プログラムから外部に送られる電文を解析して、必要とされるデータ項目を検出する手段２と、検出されたデータ項目に対応する入力データの値を、テスト対象プログラム側に送るべき電文に埋め込む手段４とを備える。 - 特許庁

This benchmark test device 1 has: a hardware condition input reception means 21 receiving input of a hardware condition; a benchmark program generation means 33 generating a benchmark program based on the hardware condition input to the hardware condition input reception means; and a simulation execution means 34 executing simulation based on the benchmark program generated by the benchmark program generation means, and outputting a benchmark.例文帳に追加

ハードウエア条件の入力を受け付けるハードウエア条件入力受付手段（２１）と、ハードウエア条件入力受付手段に対して入力されたハードウエア条件に基づいてベンチマークプログラムを生成するベンチマークプログラム生成手段（３３）と、ベンチマークプログラム生成手段により生成されたベンチマークプログラムに基づくシミュレーションを実行してベンチマークを出力するシミュレーション実行手段（３４）と、を備えるベンチマークテスト装置（１）。 - 特許庁

In this program to be tested resources competition testing method for verifying an operation about competition of computer resources for a program 2 to be tested being a test target operating on a computer, a competitive program 4 having a function for creating a competing state of the computer resources gives disturbance to processing of the program 2 to be tested to verify the operation by intentionally using applicable resources to the computer resources.例文帳に追加

コンピュータ上で動作するテスト対象の被テストプログラム２に対し、コンピュータ資源の競合に関して動作検証する被テストプログラム資源競合テスト方法において、コンピュータ資源に対して意図的に該当資源を使用することで、コンピュータ資源の競合状態を作り出す機能を有する競合プログラム４により、被テストプログラム２の処理に外乱を与えて前記動作検証を行う。 - 特許庁

Thereby, the length of a branch history that is applied for branch prediction is dynamically determined with executing program codes to improve branch prediction performance, so that execution performance of CPU commands is improved and branch prediction performance is optimized not depending on types of test program codes.例文帳に追加

これにより、プログラムコードを行いつつ分岐予測に適用される分岐履歴の長さを動的に決定して分岐予測性能を向上させることによって、ＣＰＵの命令語の実行性能を向上させ、テストプログラムコードの種類に関係なく分岐予測性能を最適化させる。 - 特許庁

To provide a system, a method and a program capable of easily selecting and executing a test scenario to be reused, and simplifying a retesting work even at the time of executing program correction such as enhance or failure correction including the change of the relation of a module.例文帳に追加

エンハンスや不良修正などのプログラム修正に対して、モジュールの関係が変更になるようなプログラムの修正であっても、再利用したいテストシナリオを簡単に選択して実行でき、再テスト作業を簡略化することができるシステム、方法、およびプログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

A pseudo memory defective pattern is automatically generated and a test is performed based on the pseudo memory defective pattern information, a model program, and a model pattern 12, while redundancy analysis is performed by a redundancy analyzing program 7, the redundancy analyzed result is stored in a relieving code output result file 13.例文帳に追加

擬似メモリ不良パターン情報と雛型プログラム及び雛型パターン１２に基づいて、擬似メモリ不良パターンを自動生成してテストを行なうとともに、冗長解析プログラム７により冗長解析を行ない、その冗長解析結果を救済コード出力結果ファイル１３に格納する。 - 特許庁

To obtain a device and method for testing ICs capable of executing IC tests in an optimal test sequence so as to shorten the execution time of all IC test items in the case of performing a plurality of IC tests and a storage medium in which a program for executing the IC tests is stored.例文帳に追加

本発明の課題は、複数のＩＣ試験を行う場合に、全ＩＣ試験項目の実行時間が短くなるように最適な試験順序にてＩＣ試験を実行することのできるＩＣ試験装置、ＩＣ試験方法、及びそのＩＣ試験を実行するためのプログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

Comparison processing 7 for attributes comprises: comparing an attribute extract result 5 extracted by circuit operation attribute extracting processing 2 in specifications with an attribute extract result 6 extracted by circuit test attribute extracting processing 3 for a test program on an attribute basis; and generating an attribute comparison result collecting a difference between the attributes.例文帳に追加

属性の比較処理７では、仕様書内の回路動作属性抽出処理２にて抽出された属性抽出結果５と、テストプログラムの回路テスト属性抽出処理３にて抽出された属性抽出結果６とを属性毎に比較し、属性の差異を収集した属性比較結果を生成する。 - 特許庁

To provide a test pattern generation method for failure verification and its device to simply prepare a test pattern with respect to a logic circuit by using an ATPG without introducing a scan circuit even if a sequence circuit is included in the logic circuit, and to provide a failure verification method and its device, and a program.例文帳に追加

論理回路に順序回路が含まれていても、スキャン回路を導入することなく、ＡＴＰＧを用いて論理回路に対するテストパターンを簡易に作成することができる故障検証用テストパターン生成方法及びその装置、故障検証方法及びその装置、並びにプログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a console system for an IC test device, its control method, and a storage medium wherein the usage environment for conventional display device and input device is utilized with new display device and input device by setting a software, without changing the control program for an IC test device.例文帳に追加

本発明は、ＩＣ試験装置の制御プログラムを変更することなく、従来使用していた表示装置・入力装置の使用環境を、ソフトウェアの設定によって新規に導入した表示装置・入力装置で実現可能なＩＣ試験装置用のコンソール装置、その制御方法、及び記憶媒体を提供する。 - 特許庁

A test execution means 12 executes the tests for the object program 11 based on the test scenario, and a result determination means 16 compares the output data output from the tests held at an output holding means 15, with correct answer data held at a correct-answer holding means 17 and determines whether both data agree with each other.例文帳に追加

この試験シナリオに基づいて試験実行手段１２で対象プログラム１１に対する試験を実行し、そのときに出力され、出力保持手段１５に保持された出力データを、正解保持手段１７に保持されている正解データと結果判定手段１６で比較して一致するか否かを判定する。 - 特許庁