「vertical analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A band analyzing device 10 performs vertical low-pass analysis filtering and high-pass analysis filtering to line data D12 of N lines at a vertical analysis filter 13, and performs horizontal low-pass analysis filtering and high-pass analysis filtering to low-pass and high-pass components D13 at a horizontal analysis filter 14, thus performing the wavelet transformation to each picture for composing a video signal D10.例文帳に追加

帯域分析装置１０は、垂直分析フィルタ部１３において、Ｎライン分のラインデータＤ１２に対して垂直方向の低域分析フィルタリングと高域分析フィルタリングとを行い、水平分析フィルタ部１４において、低域成分及び高域成分Ｄ１３に対して水平方向の低域分析フィルタリングと高域分析フィルタリングとを行うことにより、ビデオ信号Ｄ１０を構成する各ピクチャをウェーブレット変換する。 - 特許庁

In the unmodulated state which is not a vertical modulation time, for example, a sampling range is defined to be before the vertical modulation, and frequency analysis of a beat signal is performed in the sampling range.例文帳に追加

上り・下り変調時ではない無変調状態のとき、例えば上り・下り変調の前をサンプリング範囲とし、このサンプリング範囲のときにビート信号を周波数解析する。 - 特許庁

Though this method is an approximate analysis method, it is clearly and properly express the strict solution of a vertical stress in a multi-layer elastic body.例文帳に追加

この提案式は近似解法であるが、多層弾性体における鉛直応力の厳密解を適切に表現しうることを明らかにする。 - 特許庁

An equivalent conversion thickness theory provided by generalizing a Barber method for a two-layer ground to a method for the multi-layer ground is adopted to a vertical stress analysis for the multi-layer ground to provide an analysis method using stress distribution width.例文帳に追加

二層地盤におけるBarberの方法を多層地盤に一般化した等価換算厚理論を、多層地盤の鉛直応力解析において適用し、応力分散幅を用いた解析方法を提案する。 - 特許庁

An analysis means 13 calculates a resonance frequency of the sample 1 to calculate a vertical elastic coefficient of the sample 1 based on the resonance frequency.例文帳に追加

解析手段１３が、試料１の共振周波数を求め、その共振周波数に基づいて試料１の縦弾性係数を求めるようになっている。 - 特許庁

This diagnostic analysis graph for the oxidation stress characteristic has two-dimensional coordinates with a vertical axis as an oxidation damage degree and with a horizontal axis as antioxidation protection performance.例文帳に追加

本願発明の酸化ストレス特性の診断分析図は、酸化損傷度を縦軸とし、抗酸化防御能を横軸とした二次元座標である。 - 特許庁

Below we will perform an analysis based on a classification of forms of trade into three types; one-way trade, vertical intra-industry trade, and horizontal intra-industry trade.例文帳に追加

以下では貿易形態を、一方向貿易、垂直的産業内貿易、水平的産業内貿易の３種類に分類して分析を行う。 - 経済産業省

A scheduler 111 defines a state without the presence of a utilizable coefficient for an operation, such as the case of an image left end in horizontal analysis filtering or the case of an image upper end in vertical analysis filtering, as an "unsteady state".例文帳に追加

スケジューラ１１１は、水平分析フィルタリングにおける画像左端の場合や、垂直分析フィルタリングにおける画像上端の場合のように、利用可能な演算用係数が存在しない状態を「非定常状態」とする。 - 特許庁

To perform grouping according to a shape of a bolt hole by use of CAD data, and to stick a vertical shell onto a bolt seat surface, so as to produce mesh data allowing high-accuracy numerical analysis.例文帳に追加

ＣＡＤデータを用いて、ボルト穴の形状に応じてグルーピングするとともにボルト座面に仮想シェルを貼付して、精度高く数値解析できるメッシュデータを作成する。 - 特許庁

Also, the scheduler 111 defines the state with the presence of the utilizable coefficient for an operation, such as the case other than the image left end in the horizontal analysis filtering or the case other than the image upper end in the vertical analysis filtering, as a "steady state".例文帳に追加

また、スケジューラ１１１は、水平分析フィルタリングにおける画像左端以外の場合や、垂直分析フィルタリングにおける画像上端以外の場合のように、利用可能な演算用係数が存在する状態を「定常状態」とする。 - 特許庁

Concerning the company power analysis 1 having an over-all judgment point set to a vertical axis and the monthly settlement term set to a horizontal axis, the over-all judgment point set to the vertical axis is zoned by each area of some stages and the respective zones areas are color-displayed, distinguished by using respective colors.例文帳に追加

縦軸に総合評価点、横軸に月次の決算期が設定されている企業力分析表１を、縦軸にとった評価点軸を何段階かの領域毎にゾーニングし、ゾーニングされた各領域を色分けしてカラーリング表示する。 - 特許庁

The temperature of a printed circuit board can be detected through a thermal analysis based on the numerical analysis of the temperature, by dividing the range of the printed circuit board into the transfer direction and vertical direction, and then setting the divided regions through the shift of the reflow profiling times.例文帳に追加

プリント回路板の温度を数値解析によって検知する際に、プリント回路板を搬送方向と垂直方向とに範囲を分割し、それぞれ分割した領域ごとにリフロープロファイルの時間をずらして設定したうえで、熱解析を行うことで解決できる。 - 特許庁

A linear equation comprising the surface vertical movement on the measuring point obtained by such measurement, the time differential to the surface vertical movement and the space differential is operated by an analysis determination part 28, and flaw detection discrimination is executed by existence of a solution thereof.例文帳に追加

このような計測によって求めた計測点における表面上下動と、この表面上下動に対する時間微分と、空間微分からなる線形方程式を解析判定部２８にて演算し、その解の有無にて探傷判別をなすようにした。 - 特許庁

There is provided a suspension behavior evaluation system in which an analysis condition getting part gets information about displacement of a wheel in a vertical direction in respect to a vehicle body and information about a wheel steering angle.例文帳に追加

サスペンション挙動評価システムにおいて、解析条件取得部は、車両本体に対する鉛直方向への車輪の変位、および車輪の転舵角度を取得する。 - 特許庁

An image direction and shape determining part 102 reads an image data in from an image storage part 101, and detects a vertical direction of the image and a longitudinal/lateral shape thereof by image analysis.例文帳に追加

画像方向形状判定部１０２は、画像記憶部１０１から画像データを読み込み、画像解析により、画像の天地方向及び縦長／横長の形状とを検知する。 - 特許庁

A wavelet transform apparatus 1 disclosed herein is configured to build therein a level 1 buffer 12 to a level 4 buffer 15 for storing coefficients as a result of horizontal analysis filtering for each division level in the wavelet transform and a coefficient buffer 17 for storing parts of coefficients generated on the way of vertical analysis filtering.例文帳に追加

ウェーブレット変換装置１は、水平分析フィルタリングの結果の係数をウェーブレット変換における分割レベル毎に記憶する、分割レベル毎に独立したレベル１バッファ１２乃至レベル４バッファ１５と、垂直分析フィルタリング途中に生成される係数の一部を記憶する係数バッファ１７を内蔵して構成される。 - 特許庁

A mapping part determines the coordinates of each context and each mood in a plane whose horizontal axis is a dimension 1 and whose vertical axis is a dimension 2 by using multi-variable analysis(for example, corresponding analysis) or the like based on the combination of context and mood evaluated for a plurality of contents, and performs mapping of each context and each mood on the same plane.例文帳に追加

マッピング部は、複数のコンテンツに対して評価されたコンテクストとムードとの組み合わせに基づき、多変数解析（例えば、対応分析）などを用いて、横軸がディメンジョン(dimension)１、縦軸がディメンジョン(dimension)２の平面における各コンテクストと各ムードの座標を決定し、各コンテクストと各ムードを同一平面上にマッピングする。 - 特許庁

A video section selection means 102 selects a noise of video image of a video signal generating section 101 and a synchronism detection means 107 detects a video vertical synchronizing signal and applies the synchronizing signal to a frequency analysis means 103.例文帳に追加

ビデオ信号発生部１０１の映像部ノイズを映像部選別手段１０２で選別し、同期検出手段１０７はビデオ垂直同期信号を検出して周波数分析手段１０３に加える。 - 特許庁

To realize a desired horizontal direction space resolution, while keeping a vertical direction space resolution as high as possible, and to reduce properly an influence of a noise, in density analysis by X-ray CT data.例文帳に追加

Ｘ線ＣＴデータによる密度分析について、垂直方向空間分解能をできるだけ高く保ちつつ所望の水平方向空間分解能を実現し、なおかつノイズの影響を適切に低減できるようにする。 - 特許庁

To provide a pneumatic carrier for analysis sample in which a sampling place and operational information can be read out electrically, and a method for determining the vertical direction of the pneumatic carrier required for read out of the information electrically.例文帳に追加

試料の採取場所および操業情報を電気的に読み取ることのできる分析試料用気送子および、前記情報を電気的に読み取るために必要な分析試料用気送子の上下判別方法を提供する。 - 特許庁

In addition, based on the analysis of street names described in ancient documents in Kanzeon-ji Temple, he supposed a jobo area (area with a series of avenues running at right angles to each other) that extends about 2.6 kilometers from west to east and about 2.4 kilometers from north to south, with 12 horizontal streets and 22 vertical streets. 例文帳に追加

加えて観世音寺に伝わる古文書類に記された条坊呼称の分析から、東西各十二条、南北二十二条の、東西約2.6キロメートル、南北約2.4キロメートルに亘る条坊域を想定した。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

The plurality of optical micro plugs allow for the micro well plate to be integrated with macro analytical instrumentation for the analysis, examination, and/or testing of chemicals, reagents or samples provided within the vertical well reaction chamber openings.例文帳に追加

複数の光学的マイクロプラグは、マイクロウェルプレートを、垂直方向のマイクロウェル反応チャンバ開口部内に準備された化学物質、試薬又はサンプルを分析し、調べ、及び／又は検査するためのマクロ分析機器と組み込むことを可能にする。 - 特許庁

In the printer system 20 provided with an intensive printing function of printing and outputting the printing data of two or more pages from an application 10 altogether on one paper sheet, a character string constitution information analysis part 22 for deciding whether printing characters are vertical writing or horizontal writing is provided, and character string constitution information detected by the character string constitution information analysis part 22 is set.例文帳に追加

アプリケーション１０からの複数頁の印刷データを１枚の用紙にまとめて印刷出力する集約印刷機能を有するプリンタシステム２０において、印刷文字が縦書きか横書きかを判断する文字列構成情報解析部２２を備え、文字列構成情報解析部２２により検出した文字列構成情報を設定する。 - 特許庁

In this electrophoretic analysis method, one-dimensional migration separation in the first direction, two-dimensional migration separation in the second direction which is a direction having a component in the vertical direction to the first direction, and three-dimensional migration separation in the third direction which is a direction having a component in the vertical direction to the first and second directions are performed.例文帳に追加

第１の方向への一次元目の泳動分離と、第１の方向の垂直方向に成分を有する方向である第２の方向への二次元目の泳動分離と、第１および第２の方向の垂直方向に成分を有する方向である第３の方向への三次元目の泳動分離を行うことを具備する電気泳動分析方法。 - 特許庁

Hereby, when estimating the rainfall intensity R as the linear function of the height H; R(H)=a.H+b, the parameters a, b are identified by the regression analysis by using the vertical distribution of the rainfall determined by the radar loaded on the satellite.例文帳に追加

これで、降雨強度Ｒを高度Ｈの１次関数;Ｒ（Ｈ）＝ａ・Ｈ＋ｂとして推定するに当たり、そのパラメーターａ，ｂを、衛星に搭載されたレーダによって得られた降雨の鉛直分布を用いて、回帰分析により同定する。 - 特許庁

To provide a method for producing an anisotropic silver nanowire having a shape in which the average (maximum vertical length/maximum length) ratio reaches about ≤0.65 in measurement by image analysis using a flow type particle image analyzer, and to provide a silver nanowire.例文帳に追加

フロー式粒子像分析装置を用いた画像解析による測定において、平均（最大垂直長／最大長）比が０.６５程度以下になるような形状を有する異方性の銀ナノワイヤーの製造方法及び銀ナノワイヤーを提供する。 - 特許庁

In this way, the integration of these two types of analysis produces an overall picture of the regional economy and opens the way for formulation of comprehensive regional strategies and policies which cover various aspects without being bound by a vertical administrative system.例文帳に追加

このように両分析を統合して用いることで、地域経済の全体像を把握することが可能となり、個別の政策領域からの発想にとらわれない、地域の総合的な戦略と政策の立案を行うことが可能となる。 - 経済産業省

A scene analysis device 4 detects an edge in the horizontal direction of an input picture from a decoder 3, detects the distribution of the vertical direction of the detected edge and discriminates whether the input picture is the pitching scene in baseball or not from a feature of detected distribution.例文帳に追加

シーン解析装置４は、デコーダ３からの入力画像の水平方向のエッジ検出を行って、検出したエッジの垂直方向の分布を検出し、検出した分布の特徴から入力画像が野球における投球シーンであるか否かを判別する。 - 特許庁

To provide a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method that carry out observation and analysis of a sectional face of a wafer from horizontal to vertical directions without breaking the wafer to be a sample with higher resolution, higher accuracy, and higher throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現する。 - 特許庁

To provide a minute sample processing/observing device and a minute sample processing/observing method, which execute cress section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a minute sample working observation apparatus and a minute sample working observation method where cross-sectional observation and analysis of wafer cross section from horizontal direction up to vertical direction can be performed with high resolution, high precision and high throughput, without breaking the wafer which is to become samples.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

An imaging apparatus performs a feature point detection by image analysis such as block matching for a photographed image taken from different view point such as LR images as 3D images, and calculates an image conversion parameter that eliminates a shift of the image in the vertical direction using the feature point information.例文帳に追加

例えば３次元画像としてのＬＲ画像等、異なる視点からの撮影画像に対するブロックマッチング等の画像解析により特徴点検出を実行し、特徴点情報を利用して画像の上下方向のズレを解消する画像変換パラメータを算出する。 - 特許庁

To provide a trace sample working observation apparatus and a minute sample working observation method where cross-sectional observation and analysis of wafer cross section from horizontal direction up to vertical direction can be performed with high resolution, high precision and high throughput, without having to breaking the wafer which is to become samples.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方角からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To realize a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer to be a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

In the analysis area (a silicon oxide area 2) of an electric field vector E where a condition that a divergence and rotation are zero is satisfied, a vector E to be vertical in relation is set in the electric field vector E, the vector E is expressed by usage in a stream function Ψ and the Laplace equation of the stream function Ψ is derived.例文帳に追加

発散及び回転がゼロという条件を満足する電場ベクトルＥの解析領域（酸化シリコン領域２）において、電場ベクトルＥに垂直の関係となるベクトルＥを設定し、ベクトルＥを流れ関数Ψに用いて表現し、該流れ関数Ψのラプラス方程式を導出する。 - 特許庁

In this printed board analysis model generation device, a grouping part 20 groups a figure primitive for defining a rib shape read from CAD data 100 by a figure primitive reading part 100 in each the rib, and a figure approximation part 30 approximates the figure primitive by a figure using as least one of a horizontal line segment and a vertical line segment in each the group.例文帳に追加

図形プリミティブ読込部１０によりＣＡＤデータ１００から読み込んだリブ形状を定義する図形プリミティブを、グループ化部２０でリブごとにグループ化し、図形近似部３０でグループごとに水平線分及び垂直線分の少なくとも一方を用いた図形で近似する。 - 特許庁

To realize a micro testpiece processing and an observation device wherein cross-sectional observation and analysis of the wafer cross-section from horizontal to vertical direction can be made in high resolution and high precision with a high throughput, without splitting in pieces the wafer being a testpiece, and a micro testpiece processing and observation method.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

The state analysis apparatus 1 is provided with both a three-dimensional sensor 10 for measuring the vertical movements of the object 2 present in an object region at a plurality of points of measurement and a region forming means 22 for forming a region in which the phases of a plurality of the movements are approximately in phase.例文帳に追加

対象領域に存在する対象物２の高さ方向の動きを複数の測定点で測定する三次元センサ１０と、前記複数の動きの位相が略同位相である領域を形成する領域形成手段２２とを備えた状態解析装置１とする。 - 特許庁

When an absolute sum Sv/S of orthogonal coefficients in a region RV 802 is a threshold value or over, and an absolute sum Sd/S of orthogonal coefficients in a region RV 803 is a threshold value or over, the coefficient analysis circuit 911 discriminates that a motion vector vvec in the vertical direction is ineffective.例文帳に追加

係数解析回路９１１は領域ＲＶ８０２の直交係数の絶対値和Ｓｖ／Ｓが閾値以上の場合、領域ＲＤ８０３の直交係数の絶対値和Ｓｄ／Ｓが閾値以上の場合、垂直方向の動きベクトルｖｖｅｃが無効と判別する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for observing the processing of a minute sample where the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction can be performed with a high resolution, high precision and high throughput, without breaking a wafer being the sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

Each beat signal received by a vertical reception antenna 22 and a horizontal reception antenna 24 and acquired by multipliers 28, 30 is subjected to frequency analysis by a signal processing part 34, and four polarization components are acquired separately by utilizing the fact that each beat signal frequency is different based on delay information.例文帳に追加

垂直受信アンテナ２２、水平受信アンテナ２４で受信され乗算器２８，３０で得られたビート信号が信号処理部３４で周波数解析され、遅延情報に基づいてビート信号周波数が異なることを利用して４つの偏波成分が分離して取得される。 - 特許庁

To provide a device of processing/observing a minute sample and a method of processing/observing a minute sample, which can execute cross section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To achieve a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer which is to become a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To solve such a problem, wherein in magnetic spin of mobile objection, such as, a vertical recording head in which a medium moves, as a magnetic circuit is changed with movement, it is required that mesh is set and demagnetization field distribution and magnetic field distribution are calculated for each changing time, thereby markedly increasing the cost of analysis.例文帳に追加

媒体が移動する垂直記録ヘッドのような移動物体の磁気スピン解析においては、移動に伴い磁気回路が変化するため、変化する時間毎にメッシュを設定し反磁界分布、磁界分布を算出する必要があり、解析コストが膨大になる。 - 特許庁

To realize a micro testpiece processing and observation device in which cross-sectional observation and analysis of the wafer cross-section from horizontal to vertical direction can be made in high resolution and high precision with a high throughput, without splitting in pieces the wafer being a testpiece, and a micro testpiece processing and observation method.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁