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英和・和英辞典で「テストは もういい!」に一致する見出し語は見つかりませんでしたが、
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「テストは もういい!」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 68



例文

テスト基板には、非テストデバイスを搭載させるソケットと、上記非テストデバイスの出力端子と入力端子とスイッチとの間をそれぞれ接続する第1及び第2信号線が設けられる。例文帳に追加

The test board is provided with a socket for mounting a non-test device, and first and second signal lines connected between an output terminal, an input terminal of the non-test device and a switch, respectively. - 特許庁

テスト対象回路(700)と、上記テスト対象回路のスキャンを可能とするスキャンチェイン(650)と、上記スキャンチェインに供給されるテストパタンを形成するための第1乱数発生回路(100)とを設ける。例文帳に追加

A semiconductor device includes a test object circuit (700), scan chains (650) that enable scanning of the test object circuit, and a first random generation circuit (100) that forms a test pattern supplied to the scan chains. - 特許庁

該育毛剤は、テストステロン5α−リダクターゼ阻害作用を有する態様が好ましい。例文帳に追加

The hair-restoring agent is preferably to be a mode having a testosterone 5α-reductase inhibiting action. - 特許庁

第1のクロックCK1で動作するメモリ105をテストするために、第2のクロックCK2で動作し、テストデータを生成する第1のテストパターン生成部101と、第2のクロックCK2の反転クロックである第3のクロックCK3で動作し、テストデータを生成する第2のテストパターン生成部102とを設ける。例文帳に追加

In order to test a memory 105 operated by a first clock CK1, this circuit is provided with a first test pattern generation section 101 operated by a second clock CK2 to generate test data, and a second test pattern generation section 102 operated by a third clock CK3 which is the inverted clock of the second clock CK2 to generate test data. - 特許庁

テストパターン発生回路(13)において、パラレル信号に対応する複数チャネル分のランダムパターンを発生するための第1論理回路群を設け、テストパターン発生回路で発生されたテストパターンをパラレル形式で送信回路(12)に供給する。例文帳に追加

A test pattern generating circuit 13 is provided with a first logical circuit group for generating random patterns for a plurality of channels corresponding to parallel signals, and test patterns generated by the test pattern generating circuit are fed to a transmitting circuit 12 in parallel. - 特許庁

テスト回路である論理回路4をテストするBIST回路3には、制御回路11、テストパターン発生回路12、第1のパターン生成回路13、第2のパターン生成回路14、信号圧縮パターン生成回路15、及び故障検出解析回路16が設けられる。例文帳に追加

A BIST circuit 3 which tests the logic circuit 4 under test comprises a control circuit 11, a test pattern generation circuit 12, a first pattern generation circuit 13, a second pattern generation circuit 14, a signal compression pattern generation circuit 15 and a failure detection analysis circuit 16. - 特許庁

テスト回路チップ21は、カード本体11の内部に設けられた配線を介してプローブ端子12と接続されており、プローブ端子12を介してテスト対象LSIチップと信号の授受を行う。例文帳に追加

Each test circuit chip 21 is connected to the probe terminal 12 via a wire provided for the inside of the card main body 11 and transmits and receives a signal to and from the LSI chip to be tested via the probe terminal 12. - 特許庁

画像形成装置に像担持体13上に所定のテストパターン像を形成するテストパターン像発生手段11と、テストパターン像の濃度分布を計測する濃度分布計測手段151と、計測された濃度分布からテストパターン像の複数の画像ノイズ特性を検出する画像ノイズ特性算出検出手段152とを設ける。例文帳に追加

The image forming apparatus is provided with a test pattern image generating means 11 for forming a prescribed test pattern image on an image carrier 13, a density distribution measuring means 151 for measuring density distribution of the test pattern image, and an image noise characteristic calculating detecting means 152 for detecting the plurality of image noise characteristics of the test pattern image from the measured density distribution. - 特許庁

テストモード信号発生回路56に外部電源電位EXVDDが所定の電位を超えたことを検知するテスト設定制御部58を設ける。例文帳に追加

A test setting control section 58 detecting an external power source potential EXVDD exceeding the prescribed potential is provided in a test mode signal generating circuit 56. - 特許庁

駆動回路は、第1信号線と複数の被駆動素子との間に各々設けられるドライバトランジスタと、これらのドライバトランジスタのオンオフを制御する制御回路と、駆動回路をテストするテスト回路とを備えている。例文帳に追加

A driving circuit comprises driver transistors which are respectively provided among a first signal line and a plurality of driven elements, a controlling circuit for controlling ON-OFF of the driver transistors and a testing circuit for testing the driving circuit. - 特許庁

第1テストスイッチSWt1は、第1入力端子16と第1検査パッドPAD1間に設けられる。例文帳に追加

A first test switch SWt1 is provided between the first input terminal 16 and the first inspection pad PAD1. - 特許庁

システムLSI102の内部に、通常動作用のDRAM制御回路108とは別に、テスト用DRAM制御回路112を設ける。例文帳に追加

In the system LSI 102, a DRAM control circuit 112 for a test is provided separately from a DRAM control circuit 108 for a normal operation. - 特許庁

テストパッドTP1は、第1のメモリ12とコントローラ14を接続するバス18に設けられている。例文帳に追加

A test pad TP1 is provided on a bus 18 connecting the first memory 12 to the controller 14. - 特許庁

回路K_1からの第1テスト出力値は、チップ外部に設けられた図示しない比較手段へ入力され所定の期待値と比較される。例文帳に追加

The first test output value from the circuit K_1 is inputted to a comparison means, not illustrated, provided outside of a chip to compare with a predetermined expected value. - 特許庁

荷重受け装置10と荷重載せ台1は、基準分銅を高精度にテストする質量比較測定器に使用される。例文帳に追加

The load receiving device 10 and the load placing stand 1 are used for this mass comparing measuring device for testing a reference dead-weight highly accurately. - 特許庁

光ディスク10はデータ領域18より内周側に設けられ、テスト記録を行うための内周側PCA12aと、データ領域より外周側に設けられ、テスト記録を行うための外周側PCA22と、PCA12a、22にテスト記録した領域のアドレス情報を記録するアドレス情報領域を有するRMD領域12bとを備える。例文帳に追加

An optical disk 10 is provided with an inner peripheral side PCA 12a extended inward of a data area 18 and performing test recording, an outer peripheral side PCA 22 extended outward of the data area and performing test recording, and a RMD area 12b having an address information area for recording address information of the area in which test recording is performed for the PCA 12a, 22. - 特許庁

抗老化剤、エストロゲン様作用剤、抗男性ホルモン剤、育毛剤、テストステロン5α−レダクターゼ阻害剤、皮膚化粧料及び頭髪化粧料例文帳に追加

ANTI-AGING AGENT, ESTROGENIC AGENT, ANTIANDROGENIC AGENT, HAIR GROWTH TONIC, TESTOSTERONE 5α-REDUCTASE INHIBITOR, SKIN COSMETIC, AND HAIR COSMETIC - 特許庁

本発明によるテスト装置は、装置本体10に設けられた本体側コネクタ部10aが装置本体10内の自己診断部12に接続され、本体側コネクタ部10aにケーブル側コネクタ部20aが接続された場合に、製品テスト部11及び前記テストケーブル20が正常か否かを自己診断部12が診断する構成である。例文帳に追加

The test apparatus, in which a body-side connector 10a attached to the apparatus body 10 is connected to a self diagnosis part 12 in the apparatus body 10, is configured so that the self diagnosis part 12 diagnoses whether or not a product test part 11 and the test cable 20 are in a normal condition when a cable-side connector 20a is connected to the body-side connector 10a. - 特許庁

会員は会員端末26を介してシステムサーバ17にアクセスして、データベース18に格納されている一般適性判断テストデータベース21,特定適性判断テストデータベース22及び一般課題情報データベース23から所望の情報を取出してこれに回答する。例文帳に追加

A member accesses a system server 17 through a member terminal 26, and takes out and replies to desired information from a general aptitude determination test database 21, a specific aptitude determination test database 22 and a general subject information database 23 stored in a database 18. - 特許庁

該装置における搬送装置は、マガジン内部の第1位置から、マガジンの少なくとも部分的に外側で、ハウジングの内側に位置する第2の位置まで、テストエレメントを搬送するために設けられており、テストエレメントの搬送は、2つの移動中に起きる。例文帳に追加

The transporting device in the analyzer is provided for transporting the test element from a first position in the magazine to a second position which is at least partially outside of the magazine and positions in the housing, the transportation of the test element takes place in the two movements. - 特許庁

第1の目的は、コネクタピン先端の摩耗を抑制して当該コネクタピンの寿命を向上させ、第2の目的は、テスト用面部へのテストピンの当接作業を容易とし、歩留まり及び作業性を向上させることができるコネクタを提供する。例文帳に追加

To provide a connector of which a yield ratio and a workability can be improved by improving life of a connector pin through restraint of abrasion of a tip of the connector pin as a first purpose and facilitating contacting work of a test pin to a testing face part as a second purpose. - 特許庁

テスト容易化のために設けられたスキャンレジスタ14を直列に接続して構成された複数のスキャンチェーンの第1段に配置されている複数の前記スキャンレジスタ14とEXORゲート31とを接続してテストパターン発生器100としての機能を満たす。例文帳に追加

This test facilitating circuit is functioned as a test pattern generator 100 by connecting the plurality of scan registers 14 arranged at a first stage of a plurality of scan chains constructed by connecting the scan registers 14 in series for facilitating test, to EXOR gates 31. - 特許庁

黒用の像担持体3BKに形成された黒テストパターンの画像濃度を検知する第1の濃度検知手段17と、カラー用の像担持体3Y,3M,3Cから転写ベルト4に転写された有彩色テストパターンの画像濃度をそれぞれ検知する第2の濃度検知手段18を設ける。例文帳に追加

The image forming apparatus is provided with a first density detection means 17 for detecting image density of a black test pattern formed on the black image carrier 3BK, and a second density detection means 18 for detecting the image density of a chromatic test pattern transferred on the transfer belt 4 from the color image carriers 3Y, 3M and 3C respectively. - 特許庁

警告:テストの間は、うまくいかなくてもう一度メールを取ってくる必要になった時のことを考えて、リモートサーバーにメールを置いておくためのオプションである-kをfetchmailに渡しておくといいでしょう。例文帳に追加

Warning: While testing, it's a good idea to tell fetchmail to keep (-k) the mail on the remote server in case something goes wrong and you need to fetch it again. - Gentoo Linux

半導体装置1は、テスト信号出力回路11A〜11D、・・・が、パッドP1〜P5、・・・に所望の電位またはハイインピーダンス状態を与えるテスト用信号を出力し、レジスタ12A〜12D、・・・が、パッドP1〜P5、・・・と内部回路100とを接続する配線L1〜L5、・・・上の信号を取り込む。例文帳に追加

In this semiconductor device 1, test signal output circuits 11A to 11D, and ... output a test signal providing a desired potential or a high impedance state to pads P1 to P5, ..., and resisters 12A to 12D, ... input a signal on wirings L1 to L5, ... which connect the pads P1 to P5, ... with an internal circuit 100. - 特許庁

表示灯前面レンズ部2に小さな穴6をあけ、さらに表示灯本体1にはランプテスト用に第1の接触子8と第2の接触子9を取付け、その間には隙間を設ける。例文帳に追加

A small hole 6 is formed on a front lens part 2 of the indicating lamp, a first contact 8 and a second contact 9 for a lamp test are mounted on a main body 1 of the indicating lamp, and a clearance is provided therebetween. - 特許庁

クエルカス(Quercus)属に属する植物またはその抽出物を含有するテストステロン5α−レダクターゼ阻害剤、育毛剤、ニキビの予防および/または治療剤、前立腺疾患の予防および/または治療剤。例文帳に追加

The teststerone 5α-reductase inhibitor, the hair growth tonic, the preventive and/or therapeutic agent for pimples and the preventive and/or therapeutic agent for prostatic diseases contain a plant of the genus Quercus or an extract of the same. - 特許庁

さらに、IC内部に配置された第1のテスト回路(224等)が設けられており、第1のパッドの第1の受信器に関する少なくとも1つの受信器トリップ・レベル特性に対応する情報を提供するようになっている。例文帳に追加

In addition, a first test circuit (224 or the like) arranged inside the IC is installed, and provides information corresponding to at least one receiver trip level characteristic relative to the first receivers in the first pad. - 特許庁

さらに、第1メタル配線層7に従来技術のようにはウェハテスト用の金属電極パッドを設けていないのでチップ面積を小さくできる。例文帳に追加

Further, the first metal wiring layer 7 is not provided with a metal electrode pad for the wafer test as in prior arts, it is possible to make the chip area smaller. - 特許庁

新規なテストステロン5α−レダクターゼ阻害剤、育毛剤、ニキビの予防および/または治療剤、前立腺疾患の予防および/または治療剤を提供する。例文帳に追加

To obtain a new teststerone 5α-reductase inhibitor, and provide hair growth tonic, preventive and/or therapeutic agents for pimples and for prostatic diseases. - 特許庁

さらに、信号処理回路部DSPには、第1及び第2のテスト画像信号の供給時に、表示パネル1の全面が所定の電力以下で発光するように、第1及び第2のテスト画像を、表示パネル1の一部のみ表示領域1Wのみに制限して表示させる表示エリア制限回路30が設けられている。例文帳に追加

Furthermore, the signal processing circuit part DSP is provided with a display area limiting circuit 30 for displaying the 1st and 2nd test images that are limited only to a part of the display panel 1, to a display area 1W. - 特許庁

したがって、幾何学的模様における高摩擦インク材13の面積比率を調整するだけで、摩擦係数が所望の大きさである搬送テスト用媒体10を簡単且つ安価に製造できる。例文帳に追加

Accordingly, by only adjusting the area ratio of the high-friction ink material 13 in the geometric pattern, the carry-testing medium 10 of the desired friction coefficient can be easily manufactured at a low cost. - 特許庁

抗男性ホルモン剤、育毛剤、テストステロン5α−レダクターゼ阻害剤、アンドロゲン受容体結合阻害剤及び頭髪化粧料に、リクイリチゲニン及び/又はイソリクイリチゲニンを有効成分として含有せしめる。例文帳に追加

The antiandrogenic agent, the hair grower, the testosterone 5α-reductase inhibitor, the androgen receptor binding inhibitor and the hair cosmetic each comprises liquiritigenin and/or isoliquiritigenin as an active ingredient. - 特許庁

テストクーポン10には、第一のスルーホール1と、ずれの検出対象となる配線層L2〜L11の各々に一つずつ対応する第二のスルーホール2a〜2jとが設けられる。例文帳に追加

In a test coupon 10, there are provided a first through-hole 1, and second through-holes 2a to 2j which one by one correspond to each of wiring layers L2 to L11 used as detection subjects of the deviation. - 特許庁

テストボード上の少なくとも3点には各パッド13の設計値からの位置ずれを補正するための補正量を求める位置補正用パッド15a〜15cが設けられる。例文帳に追加

Position correcting pads 15a to 15c for obtaining the correction amount for correcting position shifting from a design value of each pad 13 are provided in at least three points on a test board. - 特許庁

供給装置10は、帯状フィルム40を収蔵すると共に当該帯状フィルム40をテスト着弾部7に供給することができ、かつ、装置本体1外に設けられている。例文帳に追加

A supply unit 10 has the strip film 40, is capable of supplying the strip film 40 to the test landing portion 7 and is arranged outside the body 1 of the apparatus. - 特許庁

安全性の高い天然物の中からテストステロン5α−レダクターゼ阻害作用又はアンドロゲン受容体結合阻害作用を有する物質を見出し、それを有効成分とする抗男性ホルモン剤、育毛剤、テストステロン5α−レダクターゼ阻害剤、アンドロゲン受容体結合阻害剤及び頭髪化粧料を提供する。例文帳に追加

To find out a substance having testosterone 5α-reductase inhibitory activity or androgen receptor binding inhibitory activity, from among highly safe natural products, and to provide an antiandrogenic agent, a hair grower, a testosterone 5α-reductase inhibitor, an androgen receptor binding inhibitor and a hair cosmetic, each comprising the substance as an active ingredient. - 特許庁

前記テストライトを行うにあたって、トラッキングエラー信号等のプリフォーマット部の再生信号の振幅A1,A2に対応付けて各テストライト領域での最適記録パワーPw1,Pw2を求めておき、実際の記録時には、所望トラックへのトラックジャンプ時に検出されたトラッキングエラー信号の振幅Aから対応する最適記録パワーPwを補間演算する。例文帳に追加

For test writing, optimum recording power values Pw1 and Pw2 of test write areas are found, corresponding to amplitudes A1 and A2 of the reproduced signal of a preformat part, such as tracking error signals and when actual recording is carried out, corresponding optimum recording power Pw is calculated through interpolation from the amplitude A of the tracking error signal at a jump to a desirable track. - 特許庁

次に、前記テストプログラムを前記半導体回路内に設けられる記憶部の第1のアドレスに格納し、かつ、前記所定の値が設定された引数を前記記憶部の第2のアドレスに格納する。例文帳に追加

Next, the test program is stored in a first address of a memory section which is provided in the semiconductor circuit and the argument set with the predetermined value is stored in a second address of the memory section. - 特許庁

複数の被試験デバイスDUT1〜DUT4を一度にテストする半導体集積回路装置のテストシステムにおいて、被試験デバイスDUT1〜DUT4とLSIテスタ100とを結ぶ信号線の間に、被試験デバイスDUT1〜DUT4ごとにそれぞれ遅延時間の異なる遅延ユニットDLY1〜DLY4を設ける。例文帳に追加

In an LSI test system for testing a plurality of LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 at one sitting, between the signal lines connecting the LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 and the LSI tester 100, each of delay units DLY1 through DLY4 with different delay times is provided to each LSY devices DUT1 through DUT4. - 特許庁

前記構成のメモリアレイ100に対して、書込みアクセスにおいてデータ線111,112,113,114方向、及びワード線101,102,103,104方向に複数のメモリセルを同時にアクセスするアクセスシーケンサ、及び制御信号生成回路としてのテストデコーダ300を設け、前記テストデコーダ300を用いて、書込みアクセス処理効率の向上を図り、テストアクセス時間を削減する。例文帳に追加

A semiconductor memory provided with an access sequencer for simultaneously accessing a plurality of memory cells in the direction of data lines 111 to 114 and the direction of word lines 101 to 104 at the time of a write access to the memory array 100 of the above constitution and a test decoder 300 which is a control signal generation circuit improves write access processing efficiency and shortens test access time by using the test decoder 300. - 特許庁

本装置は、被試験対象と電気的に接続し、側面に複数の第1接点を設けるDUT基板と、テストヘッド上をスライドし、DUT基板の第1接点に電気的に接続する複数の第2接点を設ける接続部とを備えたことを特徴とする装置である。例文帳に追加

This apparatus includes the DUT substrate to be electrically connected to the test object and having a plurality of first contacts on a side thereof, and a connecting portion sliding on the test head and having a plurality of second contacts to be electrically connected to the first contacts of the DUT substrate. - 特許庁

電圧測定用パッドpvは、電流線LI1〜LImを介してトランジスタM1〜Mmに外部からテスト用電流を供給するための電流供給用パッドp1〜pmと別に設けられ、電流線LI1〜LImの電位を外部から測定するために設けられる。例文帳に追加

A pad pv for measuring voltage is arranged for externally measuring potential of the current lines LI1-LIm, separately from current supply pads p1-pm, for externally supplying test current to the transistors M1-Mm through the current lines LI1-LIm. - 特許庁

例文

毛乳頭細胞増殖促進剤、テストステロン5α−リダクターゼ阻害剤、アンドロゲン受容体結合阻害剤、血管内皮増殖因子産生促進剤、骨形成タンパク質−2産生促進剤、インスリン様増殖因子−1産生促進剤、育毛剤及び頭髪化粧料例文帳に追加

HAIR PAPILLA CELL PROLIFERATION PROMOTER, TESTOSTERONE 5α-REDUCTASE INHIBITOR, ANDROGEN RECEPTOR BINDING INHIBITOR, VASCULAR ENDOTHELIAL GROWTH FACTOR PRODUCTION PROMOTER, BONE MORPHOGENETIC PROTEIN-2 PRODUCTION PROMOTER, INSULIN-LIKE GROWTH FACTOR-1 PRODUCTION PROMOTER, HAIR-GROWING AGENT AND HAIR COSMETIC - 特許庁

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