「プローブ絶縁体」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

プローブを構成する絶縁体５１の材料に弾性を持たせることにより、プローブの衝撃吸収性能を向上させ、放電による衝撃波により絶縁体５１が割れたり欠けることを防止することを可能とした。例文帳に追加

The shock absorbing performance of the probe is improved by giving elasticity to the material of the insulator 51 constituting the probe, thereby the insulator 51 can be prevented from being cracked or chipped by the shock waves caused by the electric discharge. - 特許庁

絶縁被覆プローブピン１０は、導電体のプローブピン１１と、その検出端側の部分が露出するように外周を被覆する絶縁被覆１２とを備える。例文帳に追加

An insulation-coated probe pin 10 comprises a conductive probe pin 11, and insulation coating 12 which coats the circumference except for exposed parts around the detection end. - 特許庁

ＮＭＲプローブによる温度可変測定に際し、ＮＭＲプローブの試料室の周囲に電気良導体層で覆った熱絶縁体層を配置して、ＮＭＲプローブ内部と外界とを断熱すると共に、該熱絶縁体層を覆った電気良導体層を接地電位に接続した。例文帳に追加

For variable temperature measurements using an NMR probe, a heat insulator layer covered with a good electric conductor layer is placed around the sample chamber 1 of the NMR probe to thermally insulate the inside of the NMR probe from the outside and the good electric conductor layer covered with the heat insulator layer is connected to ground potential. - 特許庁

絶縁型本体１２、絶縁型本体１２内に配されている少なくとも１つの支持体２０、支持体２０の略中心に配されているプローブ２６、および絶縁型本体１２内に配され、支持体２０に電気的に接続されている導線を備えているプローブ・デバイス１０。例文帳に追加

This probe device comprises an insulation type main body 12, at least one support 20 mounted on the insulation type body 12, the probe 26 mounted on an approximately center of the base 20, and a conductive wire mounted in the insulation type body 12 and electrically connected with the support 20. - 特許庁

電気信号測定用プローブ１のプローブヘッド４の先端部に絶縁体で平板状に形成されプローブヘッド４から突出量ｌだけ突出したガイド部材５が設けられている。例文帳に追加

A guide member 5 that is formed from an insulator flatly and projects from a probe head 4 by an amount of projection l is provided at the tip of the probe head 4 of the probe 1 for measuring electric signals. - 特許庁

プローブ基板３０に取り付けられたコンタクトプローブ複合体１は、隣り合うビーム部間及び隣り合うコンタクト部間のそれぞれには絶縁層が形成されないので、絶縁層を残したままでも、各コンタクトプローブを弾性変形させることができる。例文帳に追加

In the contact probe complex 1 mounted on the probe substrate 30, since an insulating layer is not formed, respectively between adjacent beam parts and between adjacent contact parts, each contact probe can be deformed elastically with the insulating layer left, as it is. - 特許庁

この検査治具３に備えられるプローブ２は、プローブ本体２１と、プローブ本体２１の外周部の少なくとも一部を被覆する絶縁性の被覆部２２と、プローブ本体２１内に挿入される導電性の線材２３とを備えている。例文帳に追加

This probe 2 mounted on the inspection tool 3 includes a probe body 21, an insulating coating part 22 for coating at least one part of an outer circumferential part of the probe body 21, and a conductive wire rod 23 inserted into the probe body 21. - 特許庁

支持体２０は、内端がプローブ２６に接続され、外端２４が絶縁型本体１２に接続されている、つる巻きバネであってよい。例文帳に追加

The support 20 may be a helical spring connected with the probe 26 at its inner end, and connected with the insulation type body 12 at its outer end. - 特許庁

プローブは、それらの板厚方向に貫通し支持体に支持された電気絶縁材料からなる支持バーを介して支持体に支持される。例文帳に追加

The probe is supported by a supporting bar made of electric insulation material which is supported by the support while passing through the plate thickness direction. - 特許庁

また、支持体２０は、一端がプローブに接続され、別の一端が絶縁型本体１２に接続されている複数の梁を備えるものであってもよい。例文帳に追加

Further the base may comprises a plurality of beams respectively connected with the probe at its one end and connected with the insulation type body 12 at the other end. - 特許庁

グランドシート体４は、絶縁樹脂シート１６にグランドパターン１７を形成してなり、コンタクトプローブ５よりも大きな可撓性を有する。例文帳に追加

The ground sheet body 4 is made by forming a ground pattern 17 on the insulation resin sheet 16 and has larger flexibility than that of the contact probe 5. - 特許庁

絶縁基体部を共用化して、短納期と低コストを実現することの可能なプローブカード・アセンブリ用基板を提供すること例文帳に追加

To provide a probe card assembly substrate capable of shortening a delivery period and reducing a cost by sharing an insulating base. - 特許庁

計測プローブ脱着時における絶縁媒体の処理量を低減することにより、作業を容易化することを目的とする。例文帳に追加

To facilitate operation by reducing the processing volume of an insulation medium when attaching or removing a measurement probe. - 特許庁

また、ゴム系材料の使用により、絶縁体５１の充填硬化が可能となり、プローブの製造が容易にできる。例文帳に追加

The insulator 51 can be fill-hardened by the use of a rubbery material, and the probe can be easily manufactured. - 特許庁

本発明の絶縁抵抗測定器１によれば、非測定時にこれらのプローブ３，４を測定器本体２の内部に巻き取ることができる。例文帳に追加

The insulation resistance measuring device 1 of this invention is capable of winding these probes 3 and 4 into the interior of the measuring device main body 2 when the device is not used. - 特許庁

プリント基板に結合される支持体と、支持体に結合される複数のプローブと、プローブを支持体に固定するための第１絶縁樹脂体とから構成される。例文帳に追加

This probe assembly for a probe card consists of the support body joined to the printed board, the plurality of probes joined to the support body, and a first insulation resin body for fixing the probes to the support body. - 特許庁

プローブ導体は、絶縁体中に配置され、５０オームの抵抗器のような終端が、接地導体とプローブ導体との間に電気的に配置される。例文帳に追加

The probe conductor is disposed in an insulator, and a terminating end such as a resistor of 50 Ωis electrically disposed between a contact conductor and the probe conductor. - 特許庁

電子部品の電気的特性検査に用いられるケルビン接続可能なプローブであって、電極を成す導電体の間に配置される絶縁体の厚みを低減させた場合であっても該絶縁体の機械的強度を保つことができるプローブを提供する。例文帳に追加

To provide a probe capable of keeping mechanical strength of an insulator even when the thickness of the insulator arranged between conductors forming an electrode is reduced, which is a probe capable of Kelvin connection used for electric characteristic inspection of an electronic component. - 特許庁

本発明の絶縁抵抗測定器１は、測定器本体２と、測定器本体２から延びる測定用プローブ３と、測定器本体２から延びる接地用プローブ４とを備える。例文帳に追加

The insulation resistance measuring device 1 of this invention comprises: a measuring device main body 2; a measuring probe 3 extending from the measuring device main body 2; and a probe 4 for grounding extending from the measuring device main body 2. - 特許庁

不良品の半導体集積回路素子の検査用電極の上に形成された絶縁部が検査用電極とコンタクタのプローブ端子とを確実に絶縁する一方、良品の半導体集積回路素子の検査用電極とコンタクタのプローブ端子とを確実に導通させるようにする。例文帳に追加

To enable positive isolation of an insulating part formed on an inspecting electrode of a defective semiconductor integrated circuit element from the inspecting electrode and a contactor probe terminal, and also to enable positive conduction between an inspecting electrode of a good semiconductor integrated circuit element and the contact probe terminal. - 特許庁

電極細片は遠位端と近位端と両端間の長さを有する螺旋構造を規定するように上記プローブの遠位部分の周囲に巻き付けられた長尺の絶縁基体を含み、この絶縁基体は上記螺旋構造の実質的に全長にわたって上記プローブの外表面に固定されている。例文帳に追加

An electrode strip includes an elongate insulating substrate, which is wrapped around the distal portion of the probe so as to define a helix structure having distal and proximal ends and a length therebetween, the substrate being fixed to the outer surface of the probe over substantially all of the length of the helix structure. - 特許庁

ムライト質焼結体からなる絶縁基体に対する接着強度の高い表面配線層を有するプローブカード用配線基板およびプローブカードを提供する。例文帳に追加

To provide a wiring board for a probe card which has a surface wiring layer having high adhesive strength to an insulting substrate formed of a sintered mullite-based body, and the probe card using the same. - 特許庁

プローブ１０６が、覆い部１２の本体１４の壁部と絶縁体１８とプローブアーム１１０の一部で形成されたチャンバー３０を貫通するよう配置されている。例文帳に追加

The probe 106 is positioned so as to penetrate a chamber 30 formed with the wall part of the main part 14 of a cover part 12, an insulator 18, and a part of a probe arm 110. - 特許庁

電気絶縁性を有する筒体からなり、プローブ下端を筒体の下部開口端４ｄよりも内側に保持するカバー部材４がプローブ３の外側に配置されている。例文帳に追加

A cover member 4 made of a tube body having an electrical insulating property and holding the lower end of the probe inside a lower opening end 4d of the tube body is arranged outside the probe 3. - 特許庁

プローブシートは、可撓性の絶縁性合成樹脂フィルムおよび該合成樹脂フィルム内に埋設された導電路を有するプローブシート本体と、該プローブシート本体の一方の面の接触子領域から突出して形成され前記導電路に接続された複数の接触子とを備える。例文帳に追加

The probe sheet includes the probe sheet body comprising a flexible insulating synthetic resin film and an electrically-conducting path embedded in the synthetic resin film and the plurality of contacts formed in such a way as to protrude from a contact region in one surface of the probe sheet body and connected to the electrically-conducting path. - 特許庁

電気絶縁性に優れると共に被測定体の電気的特性を検査する際の接触圧力を高めることができるプローブ針及びそのプローブ針を容易に得ることができる製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a manufacturing method capable of easily obtaining a probe needle capable of enhancing the contact pressure in inspecting the electric performance of a measurement object as well as excellent in the electric insulation. - 特許庁

絶縁基板上に形成された導体部分からなる被分析領域をアトムプローブによって分析するための検査試料を、簡便に製造できるアトムプローブ分析用検査試料の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a test specimen for atom probe analysis to simply manufacture a test specimen for analyzing an analyzed domain by means of an atom probe, the analyzed domain comprising a conductor portion formed on an insulating substrate. - 特許庁

プローブは、モニタされるＲＦ信号を運ぶＲＦマイクロストリップのような回路と接触してプローブ導体を取り巻く絶縁材料の一部を設けることにより使用される。例文帳に追加

The probe is used by providing a part of an insulating material which is brought into contact with a circuit such as an RF micro-strip conveying the RF signal to be monitored and surrounds the probe conductor. - 特許庁

本構成により層間絶縁膜の段差がプローブ摺擦のストッパとして機能するため、余分な摺擦を抑制し、プローブによる導電体層の盛り上がりを抑えることができる。例文帳に追加

By this constitution, since the steps on the inter-layer insulating film function as a stopper for scratch on the probe, excessive scratches are suppressed, and the rising of a conductive layer by the probe can be suppressed. - 特許庁

ＲＦ信号用プローブ３および電源用プローブ４は可動ピン１１と電気的に接続される金属パイプ１３の周囲が絶縁体１５、１６によりそれぞれ被覆されて金属ブロック１内に埋め込まれている。例文帳に追加

With regard to the probe 3 for RF signal and the probe 4 for power supply, periphery of a metal pipe 13 being connected electrically with the movable pin 11 is buried in the metal block 1 while being covered with insulators 15, 16. - 特許庁

カンチレバー構造のプローブ針２を基板１上に多数備えたプローブカードであって、絶縁チューブで被覆した各プローブ針２の中間部を、基板１上の接地配線８に接続した一体状の導電材６に埋め込んだ。例文帳に追加

The probe card is provided with a lot of probe needles 2 of cantilever structure on the substrate 1 in which a middle point of each probe needle 2 coated with insulation tube is buried in the integrated conductive member 6 connected with the earth wiring 8 on the substrate 1. - 特許庁

プローブピンをプローブカードに半田付けする際の残留樹脂による半田付けの不良を防止し、高価な絶縁チューブを使用しないことにより、低廉な製作コストと作業工程時間の大幅な短縮を実現することができる半導体装置検査用プローブピンを提供すること。例文帳に追加

To provide a probe pin for semiconductor device inspection which can realize low-cost manufacturing and a significant shortening of a processing period by preventing defects of soldering by residual resin at soldering of the probe pin to a probe card, and by not using an expensive insulated tube. - 特許庁

絶縁体材料で構成された分注プローブ１が洗浄槽１５内の溶液に浸漬され電気泳動用溶液が分注プローブ１内に吸引された後、電気泳動用電源装置２８によりプローブ１内の電極２７と洗浄槽１５内の電極２６に電圧が印加される。例文帳に追加

After the dispensing probe 1 constituted of an insulator material is immersed in a solution in a cleaning tank 15 and a solution for electrophoresis is absorbed by the dispensing probe 1, a voltage is applied across both an electrode 27 in the probe 1 and an electrode 26 in the cleaning tank 15 by a power supply unit 28 for electrophoresis. - 特許庁

プローブは、芯線と、該芯線の周りに配置された電気絶縁体と、該電気絶縁体の周りに配置された外被と、該外皮の一端部の周りに配置されたスリーブと、該スリーブに配置された長い一対の導電体とを含む。例文帳に追加

The probe includes a conductor: an electric insulator arranged around the conductor; coating arranged around the electric insulator; a sleeve arranged around one end section of the coating; and a pair of long dielectrics arranged at the sleeve. - 特許庁

ソース３２、ドレイン３３間のゲート絶縁物の表面に導電性電極２７を設けた絶縁ゲート電界効果トランジスタの導電性電極２７の表面に生体分子検出用プローブ２８を固定化する。例文帳に追加

The biomolecule detecting probe 28 is immobilized on a surface of a conductive electrode 27 in an insulation gate field effect transistor provided with the conductive electrode 27 on a surface of a gate insulator between a source 32 and a drain 33. - 特許庁

ソース２、ドレイン３間のゲート絶縁物４の表面に導電性電極５を設けた絶縁ゲート電界効果トランジスタ１を用い、導電性電極５の表面に生体分子検出用プローブ６を固定化する。例文帳に追加

An insulating gate electric field effect transistor 1 wherein a conductive electrode 5 is provided to the surface of the gate insulating substance 4 between a source 2 and a drain 3 is used and a biological molecule detecting probe 6 is fixed to the surface of the conductive electrode 5. - 特許庁

プローブカード用基板は、絶縁層１と、絶縁層１の表面部分に埋設された耐薬品性層２と、耐薬品性層２の上に形成されている導体パターン３とを含んでいる。例文帳に追加

A substrate for a probe card includes an insulating layer 1, a chemical resistance layer 2 buried in a surface part of the insulating layer 1, and a conductor pattern 3 formed on the chemical resistance layer 2. - 特許庁

本発明の他の態様によれば、プローブカード用基板は、絶縁層１と、絶縁層１の表面部分に埋設された介在層２と、介在層２の上に形成された導体パターン３とを含んでいる。例文帳に追加

A substrate for a probe card includes an insulating layer 1, an interposed layer 2 buried in a surface part of the insulating layer 1, and a conductor pattern 3 formed on the interposed layer 2. - 特許庁

また、リテーナ脚部２４ａ，２４ｂの絶縁導線止着部２４ｃ，２４ｄにより、軸線方向貫通孔１６ａ，１６ｂから露出する絶縁導線１８の脚部１８ｂ，１８ｃをプローブ本体１６に止着する。例文帳に追加

Besides, the leg parts 18b and 18c of the insulating lead wire 18 exposed out of the through holes 16a and 16b in the axial direction are fixed to the probe body 16 by the insulating lead wire fixing part of a retainer leg part. - 特許庁

プローブ装置は、被検査体の電極に接触する多数のプローブと、該プローブに電気的に接続した配線シートと、該配線シートに電気的に接続した接続回路と、前記配線シートと前記接続回路の間に介在した絶縁性シートと、該絶縁性シートを貫通して前記配線シートと前記接続回路とを電気的に接続した熱溶融性の金属部材とを含む。例文帳に追加

A probe device includes a large number of probes contacted to an electrode of an object to be inspected; a wiring sheet electrically connected to the probes; a connection circuit electrically connected to the wiring sheet; an insulation sheet interposed between the wiring sheet and the connection circuit; and a hot-melt metal member penetrating the insulation sheet and electrically connecting the wiring sheet and the connection circuit. - 特許庁

支持基板４は、平坦面を有する金属板４１、絶縁膜４２を挟んで金属板４１の下面側に配置される絶縁板４３、絶縁板４３に貫通するピン挿入孔４３ｂ及び支持基板全体に貫通するプローブ挿通孔を備える。例文帳に追加

The support substrate 4 is provided with a metal plate 41 having a flat surface, an insulating plate 43 disposed on a lower surface of the metal plate 41 through an insulating film 42, a pin insertion hole 43b penetrating through the insulating plate 43, and a probe insertion hole entirely penetrating through the support substrate. - 特許庁

そして、１つの導体２０が、長さＬ_２の絶縁体２６の中心を貫通して同軸の中心導体３２となり、給電部１２において導体板２２ａから突き出して給電プローブ３０となり、同軸導波管変換部１６において導波管２８の中に突き出して変換プローブ３４となる。例文帳に追加

Then one conductor 20 is penetrated through a center of the insulator 26 with a length of L_2 to act like a coaxial center conductor 32, projected from the conductor plate 22a in the feeding section 12 to act like a feeding probe 30, and projected into the waveguide 28 in the coaxial waveguide conversion section 16 to act like a conversion probe 34. - 特許庁

絶縁層を有する基板と、前記絶縁層上に形成された導電性のシード層と、前記シード層及び前記絶縁層上に直に形成され、端部が前記シード層からはみ出して前記絶縁層上に直に形成され、検体の電極に接触する前記端部の表面が丸まっている導線と、を備えることを特徴とするプローブユニット。例文帳に追加

The probe unit comprises a substrate having an insulating layer, a conductive seed layer formed on the insulating layer, and a wire that is directly formed on the seed layer and the insulating layer and where an end projects from the seed layer and is directly formed on the insulating layer and the surface of the end coming into contact with the electrode as the specimen curls. - 特許庁

フレーム板を一体化した、回路装置の電気検査に用いられるシート状プローブにおいて、簡易な工程で、絶縁性シートを有する複合体に対してフレーム板を良好に一体化することができるシート状プローブおよびその製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a sheet-like probe and its manufacturing method capable of preferably unifying a frame plate to the composite body with insulative sheet in a simple process in the sheet-like probe of the circuit device of the unified frame plate to be used in the electric inspection. - 特許庁

電気絶縁性を有する筒体からなり、プローブ下端を筒体の下部開口端４ｄよりも内側に保持すると共に、接地された導電体４ｅを外周の少なくとも下端に設けたカバー部材４がプローブ３の外側に配置されている。例文帳に追加

A cover member 4, which is formed of an electrically insulating cylinder, holds the probe lower end on an inner side from a lower part opening end 4d of the cylinder, and is provided with a grounded conductor 4e on at least a lower end of an outer circumference is arranged on an outer side of the probe 3. - 特許庁