「偏波測定」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

偏光測定デバイス１０aでは、電極９ａ〜９c又は電極２２ａ〜２２ｄに印加する電圧を制御してLiNbO_３結晶の屈折率を変化させ、光導波路５を伝搬する光の偏光状態を変化させる。例文帳に追加

The polarization measuring device 10a varies a refractive index of LiNbO_3, by control of voltages applied to electrodes 9a-9c or electrodes 22a-22d, and then varies an optical polarization state of light propagating in an optical waveguide 5. - 特許庁

本発明は楕円偏光入射による複屈折板からの射出光を1/4波長板Q_2と偏光子P_2で構成される検光子系で数２の方法により測定する。例文帳に追加

The present invention measures emission light from the double refraction plate due to the elliptically polarized light incidence by a method according to the mathematical expression 2, using an analyzer system constituted of a 1/4 wavelength plate Q_2 and a polarizer P_2. - 特許庁

該識別マークの蛍光発光層からの特定波長領域の蛍光は円偏光性を有しており、左右円偏光の強度の差、またはｇ値を測定することによって真偽判定をおこなうことができる。例文帳に追加

The fluorescence of a specific wavelength region from the fluorescent light emitting layer of the identification mark has a circular polarization characteristic and authentication decision can be performed by measuring the difference in the intensity between the right-handed and left-handed circularly polarized light beams or a g value. - 特許庁

第１の偏光フィルタ１５、第２の偏光フィルタ１６のＰ波主軸と、被測定物１１の走行方向とのなす角は、分光スペクトルに振動が現れるような角度に予め設定されている。例文帳に追加

The angles formed by the running direction of the object 11 and the P wave main axes of the first polarization filter 15 and the second polarization wave filter 16 are previously set so as to appear an oscillation in the spectro-spectrum. - 特許庁

被検光学系の偏心コマ収差及び透過波面収差を１台で測定可能な構成とし、被検光学系の偏心調整及びレンズ間隔調整を高精度かつ効率的に行うための支援を行うこと。例文帳に追加

To conduct support for carrying out precisely and efficiently eccentricity regulation and lens space regulation in an inspected optical system, by making constitution capable of measuring an eccentric comatic aberration and a transmission wave front aberration in the inspected optical system, by one device. - 特許庁

光断層画像化装置において、ファラデーローテータや偏波コントローラを用いることなく、測定環境による偏光状態の変動を防止し、良好な画質の断層画像を得る。例文帳に追加

To provide a tomographic image of satisfactory image quality by preventing a polarized state of light from varying owing to a measurement environment without using a Faraday rotator or a polarization controller as to an optical tomographic imaging apparatus. - 特許庁

測定対象１１の反射光はλ／４波長板６により直線偏光に戻された後、偏光ビームスプリッタ７を透過して光位置検出手段８の受光面に入射される。例文帳に追加

The reflected light at the object to be measured 11 is returned to linearly polarized light by a λ/4 wavelength plate 6, is transmitted through a polarization beam splitter 7, and becomes incident on the light receiving plane of a light location detecting means 8. - 特許庁

電磁波吸収性能測定構造１０では、基準値測定時に、送信アンテナ１４と受信アンテナ１６とが金属板２０に対し互いに反対側に配置されており、送信アンテナ１４が送信して金属板２０の開口２２を通過した円偏波を受信アンテナ１６が受信する。例文帳に追加

In the structure 10 for measuring electromagnetic wave absorption property, a transmission antenna 14 and a receiving antenna 16 are arranged on the sides mutually opposite to a metal plate 20 during the measurement of the reference value and the circular polarized light transmitted from the transmission antenna 14 to pass through the opening 22 of the metal plate 20 is received by the receiving antenna 16. - 特許庁

Ψ_E ，Δ_E スペクトル測定データ化ステップ１０，２０は、計測対象の基板表面の薄膜を、入射光の波長を変えて各波長λ_i ごとの入射光と反射光の偏光の変化である測定スペクトルΨ_E ( λ_i )とΔ_E ( λ_i ) を得る。例文帳に追加

For ΨE, ΔE spectrum measuring data forming steps 10 and 20, measurement spectra ΨE (λ_i) and ΔE (λ_i) being changes in the polarizations of incident light and reflected light for each wavelength λ_i are obtained, with respect to the thin film on the surface of a substrate to be measured by changing the wavelength of the incident light. - 特許庁

上位装置１は上り回線の受信信号から周波数偏差を測定して、周波数偏差情報を制御情報として下り回線の伝送信号に多重して送信し、下位装置２は下り回線に多重された周波数偏差情報を検出して、受信した下り回線の信号の周波数偏差を補正する。例文帳に追加

A host device 1 measures the frequency deviation from a received signal through an uplink path, multiplexes frequency deviation information on a transmission signal of the downlink path as control information, and transmits the multiplexed signal, the subordinate device 2 detects the frequency deviation information multiplexed on the transmission signal through the downlink path, and corrects the frequency deviation of the received signal through the downlink path. - 特許庁

本発明は、引っ張り応力に対する偏波面保持ファイバ内を伝播する光の位相変化の違いを利用し、位相変調子１０、送光用偏波面保持ファイバ２３、コイル状偏波面保持ファイバ光学素子３０に適切な偏波面保持ファイバを使用することにより、高精度な測定が可能な光センサを実現する。例文帳に追加

The optical sensor allowing high-precision measurement is achieved by utilizing a difference in the phase change of light propagating through a polarization maintaining fiber with respect to tensile stress and using an appropriate polarization maintaining fiber for a phase modulator 10, a light transmitting polarization maintaining fiber 23, and a coil-shaped polarization maintaining fiber optical element 30. - 特許庁

各反射強度測定手段は、皮膜の特性吸収が生じる第１波長帯域の赤外光と皮膜の特性吸収が生じない２つ以上の第２波長帯域の赤外光とを皮膜に入射させて、各波長帯域の赤外光のｐ偏光及びｓ偏光の反射強度を測定する。例文帳に追加

Each reflection intensity measuring means allows infrared light in the first wavelength band generating characteristic absorption of the coating and infrared light in the two or more second wavelength bands not generating characteristic absorption of the coating to enter the coating, and measures each reflection intensity of the p-polarized light and the s-polarized light in the infrared light in each wavelength band. - 特許庁

受信電波のスペクトラムデータを出力する監視受信機５を備え、方探信号処理器６において、前記スペクトラムデータから得られる電界強度と周波数偏移量とに基づき、実際に受信する電波の周波数を検出して測定周波数を補正し、方探受信機３に対して補正した測定周波数を設定する。例文帳に追加

The radio wave monitoring device has a monitoring receiver 5 for outputting spectrum data of reception radio waves, corrects measurement frequencies by detecting frequencies of radio waves actually received, based on electric field strength and the amount of frequency deviation obtained from the spectrum data in a direction detection signal processor 6, thus setting the corrected measurement frequencies for the direction detection receiver 3. - 特許庁

得られたフィルム状の偏光光学素子は、赤外光の波長１μｍ〜１０μｍ領域において非常に偏光反射性が高く、この偏光光学素子を直交させて赤外線の反射率を測定したところ９９％であった。例文帳に追加

The obtained film-like polarizing optical element has an extremely high polarizing reflecting performance in a wavelength band of 1μm to 10μm of the infrared ray, and the infrared ray reflectance of the element is 99% in a state where the optical element is made orthogonal to the infrared ray. - 特許庁

該波長は、プラズマによるファラデー回転角であってその測定偏光角分解能より大きいファラデー回転角を呈する波長の長さを有する。例文帳に追加

The wavelength has a length of a wavelength of a Faraday rotation angle due to the plasma exhibiting the Faraday rotation angle larger than a measured polarization angle resolution. - 特許庁

基準ＦＭ復調器を不要とする簡単な構成で、測定対象の変調周波数が１ＧHzを超えるＦＭ信号の周波数偏移量を正確に求める。例文帳に追加

To accurately obtain a frequency shift amount of FM signals in which a modulation frequency of a measuring object exceeds 1 GHz in a simple configuration making a reference FM demodulator. - 特許庁

その結果、干渉計（１）から射出される測定光（Ｌ）の波面に対する被検物（１８）の複屈折の影響は、ランダムな非偏光の光の波面に対するそれとほぼ同じになる。例文帳に追加

Consequently, the influence of the specimen 18 to the wave front by the measuring light L emitted from the interferometer 1 affected by the double refraction is substantially the same as that to the wave front of the random nonpolarized light. - 特許庁

測定用レーザー光Ｌ_1 と波長参照用レーザー光Ｌ_2 とが偏光方向を合わせて合成され光検出手段８に入射すると、２つの光周波数の差信号をビート信号として光検出手段８が出力する。例文帳に追加

When laser beams L1 for measurement and laser beams L2 for wavelength reference are synthesized by conforming the direction of polarization and projected to a photodetecting means 8, the photodetecting means 8 outputs the differential signal of two optical frequency as a beat signal. - 特許庁

偏波モード分散の測定値の絶対値が最小となるように、コントローラ１１１で温度調節器を制御する等により、光信号１１２の波長を変える。例文帳に追加

A controller 111 controls the temperature regulator to change the wavelength of the optical signal 112 so that the absolute value of a measured value of the polarization mode dispersion may become a minimum. - 特許庁

僅かに周波数の異なる２つのヘテロダイン光を偏波面保存光ファイバ３４を介して測定光学ヘッド３５に導き、ヘテロダイン光の一部を取り出して干渉させ参照ビート信号を検出する。例文帳に追加

Two heterodyne beams having slightly different frequencies are guided to a measuring optical head 35 via a polarization surface storage optical fiber 34, and one portion of the heterodyne beams is taken out for interference to detect a reference beat signal. - 特許庁

光源１１８は、所定の紫外波長範囲（たとえば、１８５ｎｍ〜４００ｎｍ）を含む波長範囲の光を発生し、照射部１１４は、円偏光の光を被測定物ＯＢＪに照射する。例文帳に追加

A light source 118 generates light of a wavelength range including a predetermined ultraviolet wavelength range (for example, 185-400 nm), and an emission part 114 emits circularly polarized light to the object to be measured OBJ. - 特許庁

発光素子２１からのレーザー光Ｌは、偏光ビームスプリッタ２３でＰ波とＳ波に分割されて、測定光束Ｌａと参照光束Ｌｂとなる。例文帳に追加

A laser beam L from a light emitting element 21 is split into P waves and S waves by a light beam splitter 23 so as to be changed to a measuring luminous flux La and a reference luminous flux Lb. - 特許庁

本発明は、ＭＲＥ測定の結果が（縦波の場合、或いは、反射のある環境の場合でも）粘弾性物質中の機械的波動の挙動を厳密に記述する偏分方程式の時不変的解であるという洞察に基づく。例文帳に追加

The invention is based on the insight that the results of the MRE measurement are the time-independent solution of the partial differential equations describing exactly the behavior of mechanical waves in viscoelastic material (even for longitudinal waves and in a reflecting environment). - 特許庁

s-r変換器や高価なTICを用いることなく、規格化周波数偏差が0.1Hz以下の発振器間の周波数差Δуを簡単な構成で従来のDMTD法と同程度の精度で測定すること。例文帳に追加

To measure a frequency difference Δy between oscillators having a normalized frequency deviation of 0.1 Hz or less by a simple constitution with the same degree of accuracy as that of the DMTD method without the need for an s-r converter or an expensive TIC. - 特許庁

計測対象の基板表面の薄膜を、入射光の波長を変えて各波長λ_i ごとの入射光と反射光の偏光の変化である測定スペクトルΨ_E( λ_i ) とΔ_E（λ_i）を得る。例文帳に追加

Concerning the thin film on the substrate surface which is a measuring object, measuring spectrums ΨE (λ_i) and ΔE (λ_i) which are the change of polarization of incident light and reflected light relative to each wavelength λ_i are acquired by changing the wavelength of incident light. - 特許庁

計測対象の基板表面の薄膜を、入射光の波長を変えて各波長λ_i ごとの入射光と反射光の偏光の変化である測定スペクトルΨ_E (λ_i )とΔ_E （λ_i ）を得る。例文帳に追加

Concerning the thin film on the substrate surface which is an object of measurement, measurement spectrums Ψ_E(λ_i) and Δ_E(λ_i), which are the change of polarization of incident light and reflected light relative to each wavelength λ_i are acquired, by changing the wavelength of incident light. - 特許庁

偏波モード分散の影響を最小に抑え、伝送マイクロ波信号位相でケーブル伝送による遅延位相を測定できる基準信号光伝送システム及び方法を得る。例文帳に追加

To provide a system and a method for reference signal light transmission, with which a delay phase of cable transmission can be measured with a transmitted microwave signal phase, while minimizing the influence of polarization mode dispersion. - 特許庁

光ファイバ伝送路の偏波モード分散を測定することなく補償を行い、電子回路の動作周波数限界を打破して超高速伝送にも適用可能な分散補償装置を提供する。例文帳に追加

To provide a dispersion compensation device which compensates for polarization mode dispersion of an optical fiber transmission path without measuring it and breaks an operation frequency limit of an electronic circuit, to be applicable to a super-high speed transmission. - 特許庁

単一周波数で集められた量および位相情報は、偏光モード分散を決定するのに使用され、ＰＭＤ測定量を発生させるために受信光信号の中心周波数を掃引する必要がなくなる。例文帳に追加

The quantity and phase information collected on the single frequency are used for determining the PMD, and it is not required to sweep the central frequency of the received light signal for generating the PMD measured quantity. - 特許庁

制御部５１は、受信部４５からの受信データ４５ｔと基準タイミングカウンタ部３６からのカウント値３６ｔとに基づいて、移動機の基準タイミングと基地局からの受信タイミングとの位相差λを測定し、測定した位相差λに対応する周波数偏差補正値計算周期３５ｒを求め、周波数偏差補正値計算部３５に出力する。例文帳に追加

A control section 51 measures a phase difference λ between a reference timing and a reception timing from a base station on the basis of reception data 45t from a reception section 45 and a count 36t from a reference timing counter section 36, obtains a frequency deviation correction value calculation period 35r corresponding to the measured phase difference 1 and outputs it to a frequency deviation correction value calculation section 35. - 特許庁

外的要因により誘起される複屈折の大きさが、光ファイバの規格上許される内部の複屈折の大きさよりも小さくなるように光ファイバが配置された状態で、該光ファイバの複屈折を測定して光ケーブル化後の偏波モード分散を算出することを特徴とする光ファイバの偏波モード分散の測定方法。例文帳に追加

The birefringence of the optical fiber in an arranged state in such a way that the magnitude of birefringence induced by external factors may be smaller than the magnitude of internal birefringence allowed by specifications of the optical fiber is measured to compute polarization mode dispersion after the formation of the optical fiber in the optical fiber polarization mode dispersion measurement method. - 特許庁

測定装置は、電流Ｉ０が流れている導体１０の外周に周回設置された光ファィバセンサ１２を有し、センサ１２の一端側から入射させた直線偏波光を他端側で反射させた際に、電流Ｉ０の磁界で回転する直線偏波光のファラデー回転角を測定する。例文帳に追加

This measuring device comprises an optical fiber sensor 12 mounted on an outer periphery of a conductor 10 where the current I0 flows, and measures a Faraday rotation angle of a linear polarized wave light rotating in a magnetic field of the current I0 when the linear polarized wave light emitted from one end side of the sensor 12 is reflected by the other end side. - 特許庁

光ファイバの心線４ａの位置を変化させる位置変化部１９と、光ファイバの心線４ａの位置変化により生ずる光の特定の偏波成分の変動を検出し、その変動量を測定する測定部１７とを設ける。例文帳に追加

The apparatus for identifying coated optical fibers is provided with both a location changing part 19 for changing the location of a coated optical fiber 4a of an optical fiber and a measuring part 17 for detecting variations in a specific polarized component of light caused by changes in the location of the coated optical fiber 4a of the optical fiber and measuring its amount of variation. - 特許庁

高い波長分解能を必要とすることなく信号光パワーを直接測定してチャネル間の光パワーの偏差を高精度に検出する波長間光パワー偏差のモニタ方法、並びに、それ用いた光等化器および光増幅器を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide an inter-wavelength optical power variance monitoring method that directly measures signal light power, without needing high wavelength resolution and detects optical power variance between channels with high accuracy, and an optical equalizer and a light amplifier which use it. - 特許庁

第１及び第２の光路１１Ａ、１１Ｂにそれぞれ同一光源からの直線偏波光を入射させ、鏡面１２で反射して往復する直線偏波光のファラデー回転角により、通電導体２を流れる電流を測定する。例文帳に追加

The linear polarization light emitted from the same light source is put into the first and second optical paths 11A and 11B, respectively, and it is reflected on the mirror 12, and then the Faraday rotation angle of the reciprocating linear polarization light is used to measure current flowing in the energizing conductor 2. - 特許庁

試験品（ＦＳ受信機）１００の偏移周波数特性をみるときは、シンセサイザ部５から出力されるＦＳ信号の周波数偏移量を変化させながらＦＳ受信機の復調出力レベルを測定して表示部４へ表示するようにプログラム制御部２が制御する。例文帳に追加

When observing the shift frequency characteristics of a test article (FS receiver) 100, the program control part 2 performs control so that the demodulation output level of the FS receiver is measured and displayed on the display part 4 while changing the frequency shift amount of an FS signal outputted from the synthesizer part 5. - 特許庁

光信号の周波数分解されたＳＯＰを測定する方法は、ローカル発振器（ＬＯ）を同調・偏光スクランブルするステップとスクランブル生成されたＬＯ信号を光信号と混合するステップと得られたＲＦ信号を周波数と偏光について分解するステップとを含む。例文帳に追加

A method for measuring frequency-resolved SOP of an optical signal includes tuning and polarization-scrambling a local oscillator (LO), mixing the scrambled LO with the optical signal, and resolving the RF signal in frequency and polarization. - 特許庁

その際、２つに分離された直線偏光光が同じ角度で回折格子１０の回折面１０ｂに照射されるので、２つの偏光に対する回折効率は互いに等しくなり、被測定光の偏波状態が変化しても、２つの偏光のパワーの和は常に一定値に維持され、偏光依存性が解消される。例文帳に追加

In this case, since the diffraction face 10b of the diffraction grating 10 is irradiated at the same angle with bisected linearly polarized light, diffraction efficiencies to two polarized light become mutually equal, and, even if the polarized state of light to be measured is changed, the sum of powers of two polarized light is always kept at a fixed value, to thereby remove the polarized light dependency. - 特許庁

偏向電流波形発生器は、ランプ波信号Ｒを発生する水平周波数ランプ波信号発生器Ｑ２と、パラボラ状信号とＤＣ補正信号を発生するための積分器Ｕ１と、制御信号出力を発生する振幅測定手段３００とを有する。例文帳に追加

The deflection current waveform generator includes a horizontal frequency ramp wave signal generator Q2 for generating a ramp wave signal R, an integrator U1 for generating a parabolic signal and a DC correction signal, and an amplitude measuring means 300 for generating a control signal output. - 特許庁

蛍光、ラマン光または燐光あるいは試料により偏光、吸収または減衰される光のスペクトル強度を測定するに当って、測定対象となる光と同じ波長領域を含む背景光が存在する環境下であっても高い精度で点情報あるいは画像（面情報）として測定できるようにする。例文帳に追加

To make measurable spectral intensity as spot information or image (surface information) even under an environment where background light containing the same wavelength region as light to be measured is present in measuring the spectral intensity of fluorescence, Raman light, phosphorescence or light polarized, absorbed or attenuated by a sample. - 特許庁

第２の偏光を１／４波長板に通した後、搬送波と側帯波に対してπ／４で交叉する偏光成分に分離し、この強度を第３、４の光電変換手段で測定し、第１から第４の光電変換手段の出力を入力して、入射光の搬送波と側帯波の強度や位相を算出する。例文帳に追加

The second polarized light after being passed through a 1/4-wavelength plate is separated into polarized components crossing its carrier and sideband wave at π/4, third and fourth photoelectric conversion means measure intensities of the polarized components, and outputs of first to fourth photoelectric conversion means are input to calculate intensities and phases of the carrier and sideband wave of the incident light. - 特許庁

本発明に係る光スペクトラムアナライザは、光信号入力部１１から入力された光を波長に応じて分離する分光部１２と、分光部１２の分離する光の偏光状態を表すストークスパラメータを測定するストークスパラメータ測定部１３と、分光部１２の分離する波長を掃引制御する分光波長制御部１４と、を備える。例文帳に追加

The optical spectrum analyzer includes: a spectroscopic part 12 separating the light input from a light signal input part 11 in response to the wavelength; a Stokes parameter measuring part 13 measuring a Stokes parameter expressing the polarization state of the light separated by the spectroscopic part 12; and a spectroscopic wavelength controlling part 14 sweeping and controlling the wavelength separated by the spectroscopic part 12. - 特許庁

そして、接合体に含まれる圧電シートの活性部毎にインピーダンスの周波数特性を測定する測定工程と、インピーダンスが極大となる反共振周波数Ｆａとインピーダンスが極小となる共振周波数Ｆｒとの差Ｆａ−Ｆｒの偏差に基づいて、インクジェットヘッドが良品であるか否かを判定する判定工程とを備えている。例文帳に追加

There are also set a measurement process of measuring frequency characteristics of impedance for every activity part of the piezoelectric sheet included in the joint body, and a judgment process of judging whether or not an inkjet head is a good one on the basis of a deviation of a difference Fa-Fr between an antiresonance frequency Fa whereby the impedance becomes maximum and a resonance frequency Fr whereby the impedance becomes minimum. - 特許庁

信号光および制御光の偏光状態にかかわらず、安定したスイッチングを行うことができるとともに、正確な光波形を安定して測定すること。例文帳に追加

To stably switch signal light regardless of polarization states of the signal light and control light and to stably and correctly measure an optical waveform. - 特許庁

吸収を示さない測定波長における面内位相差が９５０〜１３５０ｎｍの範囲である、マトリックス中に二色性物質を含有する偏光子とする。例文帳に追加

This polarizer contains a dichroism substance in a matrix, having an in-plane phase difference in measuring wavelength showing no absorption in the range of 950-1,350 nm. - 特許庁