「光電子スペクトル」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

電子エネルギー損失分光分析装置およびそのスペクトルシフト補正方法例文帳に追加

ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTROCHEMICAL ANALYZER AND ITS SPECTRAL SHIFT CORRECTING METHOD - 特許庁

ＸＡＦＳ分析装置１の電子収量スペクトル検出部２５において試料Ｓから放出された光電子及びオージェ電子に基づいてＸ線吸収スペクトルを得る。例文帳に追加

One X-ray spectrum is obtained from the photoelectrons and Auger electrons emitted from the sample S in an electron yield spectrum detecting section 25 of an XAFS analysis apparatus 1. - 特許庁

透過電子線は電子分光装置（１１）でエネルギー分光され、電子エネルギー損失スペクトルが得られる。例文帳に追加

The transmitted electron beam is subjected to energy spectral analysis by a spectroscope 11 to obtain an electron energy loss spectrum. - 特許庁

透過した電子のビームは、電子エネルギー損失スペクトルを作る高分解能の電子分光器に向けられる。例文帳に追加

The beam of transmitted electrons is directed into a high-resolution electron spectrometer which produces an electron energy-loss spectrum.  - 科学技術論文動詞集

電子エネルギー損失分光装置、及びそれを備えた電子顕微鏡、及び電子エネルギー損失スペクトル測定方法例文帳に追加

ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH, AND ELECTRON ENERGY LOSS SPECTRUM MEASURING METHOD - 特許庁

自家蛍光のスペクトル分析可能な電子内視鏡、及びこの電子内視鏡を備えた電子内視鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide an electronic endoscope which can analyze a spectrum of autonomous fluorescence and an electronic endoscope apparatus equipped with the same. - 特許庁

イメージング装置４３は、高次高調波のスペクトル強度を演算し、演算により得られた高次高調波のスペクトル強度と、標的に依存しない再結合電子波束のエネルギー分布との比を演算することにより、標的Mの光再結合断面積スペクトルの実測値を演算する。例文帳に追加

The imaging device 43 computes the spectra intensity of the higher-order harmonics and computes the ratio between the spectral intensity of the higher-order harmonics acquired by operation and the energy distribution of a recombined electron wave flux which is independent of the target, to thereby compute a measured value of an optical recombined sectional area spectrum of the target M. - 特許庁

試料９を透過した電子線１２の光路上に組成が既知である標準物質１６を薄膜状にしたものを着脱可能に配することにより、試料９のＥＥＬＳスペクトルと標準物質１６のスペクトルを重ね合わせた形でＥＥＬＳスペクトルを取得する。例文帳に追加

By arranging in free detachment a standard matter 16 with a known composition made in a thin-film shape on a light path of electron beams transmitting a sample 9, an EELS spectrum is obtained in the form of an EELS spectrum of the sample 9 and that of the standard matter 16 overlapped. - 特許庁

X線照射によって、測定領域0201および参照領域0202より個別に放出された光電子0205および0206を、検出器0108によって捕獲することによって得られた２つのXPSスペクトルの差よりなる差分XPSスペクトルを求めることで、測定領域中の微小分析点のXPSスペクトルを得る。例文帳に追加

When a differential XPS spectrum consisting of a difference between two XPS spectra obtained by catching photoelectrons 0205, 0206 separately emitted by X-ray irradiation from the measurement area 0201 and the reference area 0202 by means of a detector 0108 is found, an XPS spectrum of the minute analysis point in the measurement area is obtained. - 特許庁

光励起による蛍光スペクトルに対して優れた狭線化を示し、多様な電子物性を実現し、発光スペクトルを任意に変化させて様々な発光色を実現することが可能な有機レーザー材料を提供すること。例文帳に追加

To provide an organic laser material capable of exhibiting excellent narrowing effect on a fluorescence spectrum due to photoexcitation, realizing various electronic physical properties, and realizing various luminescent colors by changing luminescent spectrum arbitrarily. - 特許庁

少なくとも金属と窒素を炭素を構成元素とし、ラマン散乱スペクトル及び／またはＸ線光電子スペクトルにおいて、特定のバンドのピーク強度を有する含金属窒化炭素物とする。例文帳に追加

The carbon nitride substance containing a metal comprises at least a metal, nitrogen and carbon as its constituent elements and has peak intensity of specific bands in its Raman scattered spectrum and/or its X-ray photoelectron spectrum. - 特許庁

電子分光器を有する透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS HAVING ELECTRON SPECTROSCOPE, SAMPLE HOLDER, SAMPLE STAGE, AND METHOD FOR ACQUIRING SPECTRAL IMAGE - 特許庁

電子の照射により放出される光の発光スペクトルを、分光器から成る検出手段１３により検出する。例文帳に追加

An emission spectrum of light emitted by the radiation of electrons is detected by detection means 13 comprising a spectroscope. - 特許庁

可視光照射下で測定された電子スピン共鳴スペクトルにおいてｇ値２．０３１〜２．０４９の範囲にピークを示し、可視光照射下で測定された電子スピン共鳴スペクトルにおける該範囲のスピン濃度が、暗黒化で測定された電子スピン共鳴スペクトルにおける該範囲のスピン濃度よりも大きい酸化チタンが得られる。例文帳に追加

A titanium oxide obtained herein shows a peak in the g value range between 2.031 and 2.049 in an electron spin resonance spectrum measured under irradiation with visible light and the spin concentration within the range in the electron spin resonance spectrum measured under irradiation with visible light is larger than that within the same range in an electron spin resonance spectrum measured under dark conditions. - 特許庁

電子カメラ用の対物レンズを通過する光を、予め定められたスペクトルの光線へ修正するための方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for correcting light passing through the objective for an electronic camera into a light beam having a predetermined spectrum. - 特許庁

対物レンズ１０内を通過し電子カメラに達する光線のスペクトルを修正する方法である。例文帳に追加

This is a method for correcting the spectrum of the light beam reaching the electronic camera after passing through the objective 10. - 特許庁

電子分光器および透過型電子顕微鏡を用いて、エネルギー損失量と測定位置情報が直交する二軸で形成されるスペクトル像について、スペクトル像の測定倍率および測定位置を高効率かつ高精度に行う。例文帳に追加

To correct measurement magnification and measurement position of a spectral image with high efficiency and with high accuracy using an electronic spectroscope and a transmission electron microscope, regarding the spectral image formed with two axes where an amount of energy loss and a measurement position information are orthogonal to each other. - 特許庁

スラブ型の光導波路を利用したスペクトル測定装置を用いて測定した有機電子素子形成用材料の乾燥過程における経時的なスペクトルデータが、不連続点を有さない緩やかな変化を示す有機電子素子用材料の提供により、上記課題を解決した。例文帳に追加

A material for forming the organic electronic element, of which spectral data of the passage of time at its drying process measured with the use of a spectral measurement device utilizing a slab-type light guide shows gradual changes without discontinous points is obtained. - 特許庁

エネルギーフィルタ方式の透過型電子顕微鏡を用いて、試料の元素分布或いはスペクトルを撮影する場合に、分光計を通して撮影される元素分布或いはスペクトルに関する分光データの撮影時間を試料のドリフトに対応し得るように時分割する。例文帳に追加

When pictures are taken of element distribution of a sample and spectrum using the transmission type electron microscope of a energy filtering type, photography time of spectrum data concerning the element distribution or the spectrum pictured through a spectrometer, is time-shared so that it can respond to a drift of the sample. - 特許庁

測定対象物から放出された光電子のエネルギースペクトルを短時間に正確に取得することができるＸ線光電子分光装置およびＸ線光電子分光方法を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray photoelectron spectroscopy device and an X-ray photoelectron spectroscopy method capable of accurately acquiring the energy spectrum of photoelectrons discharged from a measurement object in a short time. - 特許庁

４）本膜を透過型電子顕微鏡により像、電子回折図形および電子エネルギー損失分光法スペクトルを観察、解析し、従来にない新しい構造と組成を有する極薄単離膜が生成していることを確認する。例文帳に追加

(4) It is confirmed that the ultra-thin isolation membrane having an unprecedented new structure and composition is formed by observing and analyzing images, electron diffraction diagrams and electron energy loss spectroscopy spectrums of the membrane by use of a transmission electron microscope. - 特許庁

汎用のＦＴ−ＩＲ分光計の試料室内に装着できる赤外スペクトル分析用光電子装置および光電子工学的像拡大システムを提供する。例文帳に追加

To provide an optoelectronic device for infrared spectrum analysis mountable in a sample chamber of a widely-used FT-IR (fourier transform infrared) spectrometer, and to provide an optoelectronic image magnifying system. - 特許庁

検出角度１０°でのＸ線光電子分光法によるＡｌＮ基板の表面の光電子スペクトルにおいて、Ａｌ_2s電子とＮ_1s電子のピーク面積の比（Ａｌ_2s電子のピーク面積／Ｎ_1s電子のピーク面積）が０．６５以下であるＡｌＮ基板である。例文帳に追加

The peak area ratio between Al_2s electron and N_1s electron (peak area of Al_2s electron/peak area of N_1s electron) is 0.65 or less in the photoelectron spectrum of the surface of an AlN substrate according to X-ray photoelectron spectroscopy at an inspection angle of 10°. - 特許庁

また、検出角度１０°でのＸ線光電子分光法によるＧａ_xＩｎ_1-xＮ基板の表面の光電子スペクトルにおいて、Ｃ_1s電子とＮ_1s電子のピーク面積の比（Ｃ_1s電子のピーク面積／Ｎ_1s電子のピーク面積）が３以下であるＧａ_xＩｎ_1-xＮ基板である。例文帳に追加

Further, in the photoelectron spectrum of the Ga_xIn_1-xN substrate by X-ray photoelectron spectroscopy with a detection angle of 10°, the peak area ratio of C_1s electron to N_1s electron (peak area of C_1s electron/peak area of N_1s electron) is ≤3. - 特許庁

構成元素として酸素と窒素とを含み、電子線で励起した際の発光スペクトルにおいて、波長４００ｎｍから５００ｎｍの範囲にピーク波長を有する電子線励起用の蛍光体である。例文帳に追加

The fluorophor for electron beam excitation use contains both oxygen and nitrogen as its constituent elements and has a peak wavelength within the range of 400-500 nm in its emission spectrum when excited by electron beams. - 特許庁

試料のガス反応処理を分析室で行え、その場合でも、Ｓ／Ｎ比の良いスペクトルを短時間に得ることができる電子分光装置および電子分光器ならびに試料分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide an electron-spectroscope device, an electron spectroscope and a sample analysis method which are capable of conducting gas reaction treatment in an analytical laboratory and further obtaining a spectrum having a superior S/N ratio in a short time even if it is conducted in such a case. - 特許庁

上記目的を達成するために、本発明は、少なくとも光触媒を含有する光触媒組成物であって、紫外線を照射しながら電子スピン共鳴スペクトルを測定した際、前記紫外線の照射開始から６００秒以内に、ヒドロキシラジカル由来の電子スピン共鳴スペクトルの信号強度が１秒間で１０００倍以上に増加する部分を含むことを特徴とする光触媒組成物を提供する。例文帳に追加

The photocatalyst composition contains a photocatalyst at least and a portion where the signal intensity of a hydroxy radical-derived electron spin resonance spectrum is increased ≥1,000 times for one second within 600 seconds since the irradiation of the photocatalyst composition with ultraviolet rays is started when the electron spin resonance spectrum is measured while irradiating the photocatalyst composition with ultraviolet rays. - 特許庁

解析装置２００は、電子分光器１５０から二次電子スペクトルのデータを受け取り、当該データを解析することによって、測定試料の性質を評価するための情報（評価値）を求める。例文帳に追加

The analysis device 200 receives the data of the secondary electron spectra from the electronic spectroscope 150, and by analyzing the data, finds information for evaluating the nature of the measurement sample (evaluation value). - 特許庁

電子分光器および透過型電子顕微鏡を用いて、エネルギー損失量と測定位置情報が直交する二軸で形成されるスペクトル像について、スペクトル像の測定倍率および測定位置を高効率かつ高精度に補正可能な倍率・位置補正方法および倍率・位置補正システムを提供する。例文帳に追加

There are provided a method for correcting magnification and position and a system for correcting magnification and position, both of which can correct measurement magnification and measurement position of a spectral image with high efficiency and with high accuracy using an electronic spectroscope and a transmission electron microscope, regarding the spectral image formed with two axes where the amount of energy loss and the measurement position information are orthogonal to each other. - 特許庁

可視光線照射後に測定した電子スピン共鳴スペクトルから求められるスピン濃度Ｘが１．５０×１０^16ｓｐｉｎ／ｇ以上である酸化チタン、それを用いてなる光触媒体および光触媒体コーティング剤。例文帳に追加

The spin concentration X of titanium oxide measured by electron spin resonance spectrum after the radiation of visible light is 1.50×1016 spin/g or more. - 特許庁

該実施中に、電極１１により放電し、該放電による発光を観測窓１３を通して、光電子増倍管１５にて受光して、スペクトルを測定する。例文帳に追加

In these processes, electrical discharge is made to take place between electrodes 11, light generated by the above electrical discharge is received by a photomultiplier 15 through an observation window 13, and its spectrums are measured. - 特許庁

電子的モジュールは光学的モジュールに直接接続し、ロックインアンプ、電源サプライ、及びA/D変換器及びコネクタを備えたコントローラを含み、蛍光物質の蛍光スペクトルを測定する。例文帳に追加

Each light emission channel has a photodiode with a preamplifier and an optical filter.Each electronic module directly connects to an optical module, and includes a controller having a lock-in amplifier, a power supply, an A/D converter, a connector, and the fluorescence spectrum of a fluorescent substance is measured. - 特許庁

電子写真用感光体の特性評価装置において、感光体照射面における光スペクトル変化に対応可能な特性評価方法及び特性評価装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a characteristic evaluation method and a characteristic evaluation device that can respond to changes in spectra of light on an irradiated surface of a photoreceptor in a characteristic evaluation device for an electrophotographic photoreceptor. - 特許庁

ＷＯ_３結晶を含み、Ｘ線光電子分光によって測定される価電子帯エッジの値に、バンドギャップエネルギーの値を加えて得られるエネルギーの値の範囲中に、光電子スペクトルのピークが存在するようにして可視光応答光触媒を得る。例文帳に追加

This visible light responsive photocatalyst is manufactured by being arranged so that the peak of a photoelectron spectrum is found in the range of an energy value, including WO_3 crystal, obtained by adding the value of a band gap energy to the value of valence band edge measured by X-ray photoelectron spectroscopy. - 特許庁

Ｘ線光電子分光法で測定された繊維表面のＯ1sスペクトルが、結合エネルギー５３２．７〜５３４．０ｅＶの間に極大ピークを有する炭素繊維である。例文帳に追加

This carbon fiber has the maximum peak within the range of 532.7 to 534.0 eV of bond energy in O1s spectrum of the surface thereof measured by X-ray photoelectron spectroscopy. - 特許庁

蛍光Ｘ線のスペクトルの分解能が十分で、したがって、元素の化学結合状態または電子構造を十分詳細に解析することができるＸ線分光装置などを提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray spectroscopic instrument, or the like for analyzing the chemical bond state or an electron structure of an element in full detail, because the resolution of the spectrum of fluorescent X rays is satisfactory. - 特許庁

EELSスペクトルは、電子銃のエネルギーの拡がり、分光器の収差などによって引き起こされる装置による広がりr(ΔE)で畳み込まれる(コンボリューションされる)。例文帳に追加

The EELS spectrum is convolved with an instrumental broadening r(ΔE) caused by the energy spread of the electron gun and the aberration of the spectrometer, etc.  - 科学技術論文動詞集

そして、電位勾配方向の変化に対応して測定された光電子スペクトル群から、投影からの再構成の原理に基づく計算処理により、元素分布を求める。例文帳に追加

From a photoelectron spectrum group measured in response to variation of the potential gradient direction, element distribution is determined by calculation processing based on the principle of reconfiguration from projection. - 特許庁

希土類元素を含有した被測定物にレーザーまたは電子線を照射して、発生した蛍光スペクトルのピーク波数が応力によってシフトする量を測定することによって応力を測定する。例文帳に追加

The measuring object including a rare earth element is irradiated with a laser or an electron beam, and the quantity of a peak wavenumber of a generated fluorescent spectrum, shifted by a stress is measured, to thereby measure the stress. - 特許庁

Ｃｕ−Ｋα線に対するＸ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角２θ（±０．３゜）７．６、１４．５及び２６．７゜にピークを示す結晶型オキシチタニウムフタロシアニン及びそれを用いた電子写真感光体。例文帳に追加

The crystalline oxytitanium phthalocyanine shows peaks at 7.6, 14.5 and 26.7° Bragg angle 2θ(±0.3°) in the X ray diffraction spectrum for Cu-Kα line, and the compound is used for the electrophotographic photoreceptor. - 特許庁

Ｃｕ−Ｋα線に対するＸ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角２θ（±０．３°）＝８．６°、１１．４°、１５．７°及び２５．７°にピークを示す結晶型ジクロロスズフタロシアニン及びそれを用いた電子写真感光体。例文帳に追加

The electrophotographic photoreceptor is prepared by using crystalline dichloro-tin phthalocyanine of which the X-ray diffraction spectrum with Cu-Kα ray has peaks at Bragg angles 2θ (±0.3°) of 8.6°, 11.4°, 15.7°, and 25.7°. - 特許庁

ＣｕＫαを線源とするＸ線回折スペクトルにおけるブラッグ角１２．３°、２０．５°、２５．３°、及び、２８．３°にピークを示す結晶構造を有するピランスロン化合物を用いる電子写真感光体。例文帳に追加

This electrophotographic photosensitive member uses a Piransron compound, having a crystal structure showing peaks at the Bragg angles of 12.3°, 20.5°, 25.3°, and 28.3° in an X-ray diffraction spectrum that has CuKα as radiation source. - 特許庁

本発明は、光照射によって有機色素に基づく電子吸収スペクトルを変化させることができる機能性薄膜、及びそのような機能性薄膜の製造方法の提供を目的とする。例文帳に追加

To provide a functional thin film capable of changing an electronic absorption spectrum based on an organic dye upon irradiation with light, and to provide a method for producing such a functional thin film. - 特許庁

試料上で電子線を走査させたとき、ロックインアンプ１３は各画素ごとに２次電子エネルギースペクトルの２次微分量を求め、エラーアンプ１７はその２次微分量が零となるように電子分光器１１の電極に印加する電圧値をフィードバック制御によって設定する。例文帳に追加

When scanning the electron beam on a specimen, a lock-in amplifier 13 gets the second order derivative of a secondary electron energy spectrum for each pixel, and an error amplifier 17 sets the value of voltage applied to the electrode of an electron spectrometer 11 by feedback control so that the second order derivative becomes zero. - 特許庁

ガラス状カーボンの組織中にＳｉが原子レベルで均一に分散複合し、Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ）による光電子スペクトルのピーク値から求めたＳｉ原子の２ｐ軌道の束縛エネルギーが１０１〜１０３ｅＶの範囲にあることを特徴とするＳｉ分散ガラス状カーボン材。例文帳に追加

In the Si dispersed vitreous carbon material, Si is uniformly dispersed and combined in the structure of the vitreous carbon in atomic level and the bound energy of 2p orbit of Si atom, which is determined from the peak value of a photoelectron spectrum by an X-ray photoelectron spectroscopy(XPS), is 101-103 eV. - 特許庁