「検査修正装置」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

欠陥検査又は欠陥修正される基板が大型化しても、各種処理を効率よく行うことができる検査修正装置を実現する。例文帳に追加

To achieve an inspection correction device for efficiently performing various processing even when defect inspection or a defect correction object substrate is large-sized. - 特許庁

成型品の３次元検査方法、型修正方法、成型品の３次元検査装置、型修正装置、成型品の３次元検査プログラム及び型修正プログラム並びにそのプログラムを記録したコンピュータ読みとり可能な記録媒体例文帳に追加

METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR THREE-DIMENSIONAL INSPECTION OF MOLDED ITEM; METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR CORRECTING MOLD; AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM RECORDING THE PROGRAMS - 特許庁

カラーフィルタ方式のOLEDパネルでも、単一波長で、かつ高い信頼性で検査・修正が可能であり、歩留まりを向上させることのできる薄膜表示素子の検査修正方法及び検査修正装置を提供する。例文帳に追加

To provide a thin film display device inspection/correction method and inspection/correction apparatus which can perform inspection and correction for even a color filter based OLED panel in a single wavelength with high reliability, thereby helping to improve a yield rate. - 特許庁

修正確認検査項目を元に周辺・類似機能を確認する検査プログラムを抽出するプログラム検査装置例文帳に追加

PROGRAM VERIFICATION DEVICE TO EXTRACT CHECKING PROGRAM TO VERIFY PERIPHERAL AND SIMILAR FUNCTIONS BASED ON CONFIRMATION AND INSPECTION ITEM FOR MODIFICATION - 特許庁

防塵装置、防塵装置付きステンシルマスクおよび露光方法、検査方法と欠陥修正方法例文帳に追加

DUST-PROOFING DEVICE, STENCIL MASK WITH DUST-PROOFING DEVICE, EXPOSURE METHOD, INSPECTION METHOD AND DEFECT CORRECTING METHOD - 特許庁

ＥＵＶ露光装置用多層膜ミラーの作成後に波面収差の不具合を検査及び修正する。例文帳に追加

To inspect and correct fault due to wave aberration after a multilayer mirror for EUV aligner is formed. - 特許庁

プローブカードのプローブ針を容易に修正することを可能とするプローブ検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a probe test apparatus capable of easily correcting a probe needle of a probe card. - 特許庁

単相誘導電動機のエアギャップ偏心検査装置及びエアギャップ修正方法例文帳に追加

DEVICE FOR INSPECTING AIR GAP ECCENTRICITY OF SINGLE-PHASE INDUCTION MOTOR, AND AIR GAP CORRECTING METHOD - 特許庁

そして、このディスプレイ１５に表示された検査結果データに基づいてオペレータが目視で再検査を行い、検査装置２の検査結果データに誤りがあったときに、該検査結果データをデータ修正入力手段により修正入力する。例文帳に追加

Then reinspection is performed by the visual observation of the operator based on the inspection result data displayed on this display 15, and the inspection result data is corrected to be inputted with a data correction inputting means when the inspection result data of the inspection device 2 has an error. - 特許庁

被検査対象物の外観を検査する外観検査手段としての検査装置２の検査結果データを、情報処理手段としての修正端末３のディスプレイ１５に表示する。例文帳に追加

The inspection result data of an inspection device 2 as a visual inspection means inspecting the appearance of an object to be inspected is displayed on the display 15 of a correction terminal 3 as an information processing means. - 特許庁

半導体検査装置、半導体欠陥解析装置、半導体設計データ修正装置、半導体検査方法、半導体欠陥解析方法、半導体設計データ修正方法およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INSPECTING APPARATUS, SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYZER, SEMICONDUCTOR DESIGN DATA CORRECTING APPARATUS, SEMICONDUCTOR INSPECTION METHOD, SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYZING METHOD, SEMICONDUCTOR DESIGN DATA CORRECTING METHOD, AND COMPUTE-READABLE RECORDING MEDIUM - 特許庁

このような構成によって、検査時及び修正後の再検査時に温風によって液晶パネル１を加熱することが可能となり、単一の装置によって検査、修正及び再検査の３つの工程を効率良くかつ確実に行うことができる。例文帳に追加

Such a constitution makes it possible to heat up the liquid crystal panel 1 with warm wind at the time of inspection and re-inspection after correction, and also possible to efficiently and surely carry out three processes of inspection, correction, and re-inspection with the single device. - 特許庁

製品検査においては、実際に製造され点状欠陥が修正された液晶表示装置を駆動し、液晶表示装置の画面に実際の修正画素部と、シミュレーションによる擬似的な修正画素部とを同時に表示し、比較検査を行う。例文帳に追加

In the product inspection, comparison check is carried out by driving an actually manufactured liquid crystal display device 10 where the point-like defect is corrected, and displaying the actually corrected pixel part and the pseudo-corrected pixel part by the simulation on the screen of the liquid crystal display device 10 at the same time. - 特許庁

着色工程＃１００で着色されたカラーフィルタ基板に対して、欠陥の有無を検査する欠陥検査装置１１と、欠陥検査装置１１で検査した結果、カラーフィルタ基板に欠陥がある場合に、その欠陥部分を修正する欠陥修正装置１４とを備えるカラーフィルタ欠陥修正一貫ラインである。例文帳に追加

The continuous line for correcting the defect in the color filter is provided with a defect inspecting device 11 to inspect presence or absence of any defect with respect to a color filter substrate colored in a coloring step 100 and a defect correcting device 14 to correct a defective part in the case the defect is present in the color filter substrate as a result of inspection with the defect inspecting device 11. - 特許庁

選択肢のうち「画像修正」が選択された場合は、表示された画像を修正する操作を受け付け、修正後の画像を用いて検査装置内で再度の読取処理を実行する。例文帳に追加

If the image correction option is selected among the options, an operation for correcting the displayed image is accepted, and an inspecting apparatus uses the corrected image and implements the reading process again. - 特許庁

検査データの再現性と修正精度を向上し、高速バランスの修正回数を減少でき、生産台数の向上を図ることができる過給機の高速バランス修正装置とその方法を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and method for correcting the high-speed balance of a supercharger, capable of enhancing the reproducibility and correction accuracy of inspection data, reducing the number of times of the correction of high-speed balance and enhancing the number of products. - 特許庁

半導体基板に対して光学的な検査と電気的な検査を組み合わせ、μ単位の非常に精密な故障発生位置を検出する半導体基板の検査装置を提供すると共に、修正機構と組み合わせることによって、切り離す面積を最小にして効率の良い修正を実施することができる欠陥修正機構を具備した検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for inspecting a semiconductor substrate which detects an extremely precise defective occurrence position in microns through a combination of optical inspection and electrical inspection on a semiconductor substrate, and has a defective correcting mechanism capable of carrying out effective correction with a minimum area to be separated in combination with a correcting mechanism. - 特許庁

そして、欠陥検査装置を用いて設計パタン３の欠陥検査およびモニタパタン５の欠陥検査を行い、欠陥検査装置によってモニタパタン５の欠陥が検出可能であることを確認した後、欠陥検査において検出された設計パタン３の欠陥を修正する。例文帳に追加

The defect inspection of the design pattern 3 and the defect inspection of the monitor pattern 5 are performed by using the defect inspection apparatus and after the defect of the monitor pattern 5 is confirmed to be detectable by the defect inspection apparatus, the defect of the design pattern 3 detected in the defect inspection is corrected. - 特許庁

基板内選択的電気化学処理装置と基板内選択的化学処理装置及びアクティブ基板の検査修正方法例文帳に追加

SELECTIVE ELECTROCHEMICAL PROCESSOR WITHIN SUBSTRATE, SELECTIVE CHEMICAL PROCESSOR WITHIN SUBSTRATE, AND EXAMINATION AND CORRECTION METHOD OF ACTIVE SUBSTRATE - 特許庁

エレクトロルミネッセンス表示装置の欠陥検査方法及び欠陥修正方法及びエレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法例文帳に追加

DEFECT INSPECTION METHOD OF ELECTROLUMINESCENT DISPLAY, DEFECT CORRECTION METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTROLUMINESCENT DISPLAY - 特許庁

バスライン抵抗装置もしくは電気的特性検査装置４、および外観検査による欠陥検査装置３など、複数種類の検査装置から欠陥位置データを取得して、照合部９にて照合することによって、修正対象をより絞り込んだデータを作成する。例文帳に追加

Defect position data is acquired from a plurality of kinds of examination devices such as a bus line resistance device or an electric characteristic examination device 4 and a defect examination device 3 for appearance examination and is collated in a collation part 9 to generate data obtained by narrowing down the correction objects more. - 特許庁

欠陥修正機能付き顕微鏡装置１は、被検査対象物の欠陥を観察するための観察顕微鏡２０と、欠陥を修正するためのレーザ装置とを有している。例文帳に追加

The microscope device 1 with the function of correcting the defects has an observation microscope 20 for observing the defects of an inspected object and a laser device for correcting the defects. - 特許庁

像質評価装置により検査を行った結果、修正すべき欠陥が発見されたがその位置の特定が修正装置では困難な場合に、位置合わせ用マークを形成する。例文帳に追加

As in a case that a defect required to be corrected has been found but the defect is hardly located with a correction device as a result of an inspection by an image quality evaluation device, a positioning mark is formed. - 特許庁

自動欠陥検査装置で検出したカラーフィルタ基板内の欠陥の中から、カラーフィルタ基板を欠陥修正機投入する前に突起異物を判定することによって欠陥修正機で確認する欠陥数を減少させ、最小限の修正装置で効率的な欠陥修正作業を行うことを可能とするカラーフィルタ基板の修正突起異物判定方法を提供するを提供する。例文帳に追加

To provide a correction projection foreign matter determination method of a color filter substrate, wherein the method reduces the number of defects to be confirmed by a defect correction machine by determining a projection foreign matter from among defects in the color filter substrate to be detected by an automatic defect inspection device before inputting the color filter substrate into the defect correction machine, and performs an efficient defect correction work by the minimum correction devices. - 特許庁

表示用パネルの上下を逆にすることなく、修正とその確認のための点灯検査とを共通の装置で行うことを可能にすることにある。例文帳に追加

To ensure that correction and the lighting inspection for confirmation thereof are performed by a common apparatus without turning upside down a panel for display. - 特許庁

第８世代や第１０世代のガラス基板に対する欠陥検査や欠陥修正に対応できる基板保持装置を実現する。例文帳に追加

To provide a substrate holding device that can cope with defect inspection or defect correction for eighth or tenth generation glass substrate. - 特許庁

薄板を傷付けることなく搬送でき、角度ずれを容易に修正でき、サイズ変化に容易に対応できる薄板検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a thin plate inspection device capable of feeding a thin plate without damaging the same, capable of easily correcting angular shift and capable of easily corresponding to a size change. - 特許庁

表示用パネルの上下を逆にすることなく、点灯検査と修正とを共通の装置で行うことを可能にすることにある。例文帳に追加

To perform lighting inspection and correction by using a common device without turning a panel for display upside down. - 特許庁

同種の処理内容になる検査をまとめて表示することによりパラメータの修正作業を容易にした画像処理装置を提供する。例文帳に追加

To provide an image processor for facilitating correcting a parameter by simultaneously displaying inspections having similar processing content. - 特許庁

表示装置に黒を表示するに際して、検査回路と信号修正回路を用いて、正確に黒を表示する。例文帳に追加

When black is displayed on a display device, an inspecting circuity and a signal correcting circuit are used to accurately display black. - 特許庁

患者情報の修正又は画像処理を施す際における検者の負担を軽減することが可能な画像検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an image inspecting device which can reduce the burden on the inspecting person in the correction of the patients' information or its image processing. - 特許庁

検査日程管理装置１は、入力装置、もしくは、ＬＡＮ５を介して保守業者のユーザ端末４より受け付けた操作者（保守業者）の指示に従い、発電プラント設備の検査日程を示す検査日程データを作成したり、あるいは、作成済みの検査日程データを修正したりする。例文帳に追加

An inspection daily schedule management device 1 prepares inspection daily schedule data showing an inspection daily schedule for a power generation plant facility according to an instruction from an input device or an instruction of an operator (maintenance company) received from a user terminal 4 of a maintenance company through a LAN 5, or corrects prepared inspection daily schedule data. - 特許庁

画像情報のみを用いて、画像の振れを修正し、画像を安定化でき、水中検査装置の操作性が向上する画像処理方法，画像処理装置およびそれを搭載した水中検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an image processing method, an image processing device and an underwater checkup apparatus mounted with the same that can correct oscillation of and stabilize images by using only image information, and contribute to operating ease of underwater checkup apparatuses. - 特許庁

画像情報のみを用いて、画像の振れを修正し、画像を安定化でき、水中検査装置の操作性が向上する画像処理方法，画像処理装置およびそれを搭載した水中検査装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide an image processing method, an image processor, and an underwater inspection device with the image processor, for correcting the deflection of an image by using only image information, and for stabilizing the image, and for improving the operability of the underwater inspection device. - 特許庁

製造プロセスの安定化、検査修正工程の自動化を図ることができる半導体装置等の製造方法及びその装置並びに検査方法及びその装置に関する。例文帳に追加

To provide a manufacturing method of a semiconductor device or the like, its device, an inspection method and its device, capable of stabilizing a manufacturing process, and automatizing an inspection correction process. - 特許庁

欠陥検査装置で検査されたカラーフィルタ基板の欠陥をカラーフィルタ修正装置にて修正する際、カラーフィルタ基板を精度良く、短時間に位置決めするためのカラーフィルタ基板の位置決め方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a positioning method of a color filter substrate for positioning a color filter substrate in a short time with good accuracy when a defect of the color filter substrate inspected by a defect inspection device is corrected by a color filter correction system. - 特許庁

マスク製造工程における検査、修正プロセスを省略することができ、高価な欠陥検査装置や欠陥修正装置を必要とせず、確実な納期で安価にマスク製作することが可能となるマスク製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing a mask by which processes of inspection and correction in the mask manufacturing processes can be omitted and a mask can be manufactured at low cost keeping an ensured delivery time without requiring an expensive defect inspection apparatus or a defect correcting apparatus. - 特許庁

製造プロセス情報Ｊ１に基づいて各半導体装置の検査に好適なテストプログラムが選定され、電気的検査が実行されるので、電気的検査の効率が高められて検査時間が短縮され、テストプログラムの修正、改定等の負担が軽減される。例文帳に追加

Since the test program suitable for the inspection of each semiconductor device is selected on the basis of the manufacture process information J1 and the electrical inspection is executed, the efficiency of the electrical inspection is improved, the inspection time is shortened and the burdens of the correction and alteration, etc., of the test program are reduced. - 特許庁

測定ミスの修正に手間取ることなく、データの測定が容易でかつ作業量を低減可能な検査情報記憶装置及び検査表作成装置を提供するを提供する。例文帳に追加

To provide an inspection information storage device and an inspection table creating device which can easily measure data and reduce the workload without taking time to correct a measurement miss. - 特許庁

プリント配線板の製造工程途中での外観検査、異物除去、修正を効率よく実施するための、プリント配線板の孔づまり修正方法及び修正装置並びにプリント配線板の製造方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a correction method and device for hole clogging for a printed wiring board for effectively achieving external appearance inspection, foreign matter removal, and correction in the course of a manufacturing process of the printed wiring board, and provide a manufacturing method of the printed wiring board. - 特許庁

このとき、データ修正入力手段が、音声認識手段としての音声認識装置２０を有するので、オペレータの発生した音声がマイクロホン２１を介して修正端末３に入力され、キーボード１３の操作を行なわなくても検査結果データの修正入力作業ができる。例文帳に追加

At that time, the data correction inputting means has a voice recognizing device 20 as a voice recognizing means, and therefore the voice vocalized by the operator is inputted to the terminal 3 via a microphone 21, and the correction inputting work of the inspection result data can be performed without the operation of a keyboard 13. - 特許庁

コネクタハウジングが不完全嵌合であっても、これを簡単に検知し修正することができ、しかも嵌合作業や嵌合検査の自動化にも寄与することが可能なコネクタの嵌合検査方法と装置を提供する。例文帳に追加

To provide a clench inspection method and device capable of simply detecting and correcting an incorrect fitting of connector housings if any, and that, contributing even to automatization of a clench work or a clench inspection. - 特許庁

電気検査等で検出された欠陥に対して、従来の修正装置での観察では認識が困難であった欠陥種を顕在化し、画素を正常化あるいは半黒点化できる電子回路パターンの欠陥修正装置の提供。例文帳に追加

To provide a defect correction device of an electronic circuit pattern, the correction device actualizing defect species which are difficult to be recognized by observation using a conventional correction device relative to defects detected by an electric inspection or the like, and normalizing a pixel or forming a semi-black point therefrom. - 特許庁

本発明の目的は、画像情報のみを用いて、画像の振れを修正し、画像を安定化でき、水中検査装置の操作性が向上する画像処理方法，画像処理装置およびそれを搭載した水中検査装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide an image processing method and apparatus, capable of correcting deflection of an image using only image information and stabilizing the image to improve the operability of an underwater inspection device, and to provide the underwater inspection device mounted with the image processing apparatus. - 特許庁

カラーフィルタ部分の欠陥修正を容易に実現できるとともに、製造過程で複数回の検査工程を必要とせず、欠陥修正後に液晶表示装置に用いても表示が不良とならないカラーフィルタ基板の実現を課題とする。例文帳に追加

To obtain a color filter substrate which facilitates correction of a defect in a color filter portion, which does not require a plurality of times of inspection steps in the manufacturing process and which shows no display failure even when used for a liquid crystal display device after correcting a defect. - 特許庁