「近接場顕微鏡」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

ガラスファイバを用いた近接場光学顕微鏡用プローブにおいて、ガラスファイバのクラッド層１４４外面側に隣接し、該クラッド層の屈折率とほぼ同じ屈折率を有する散乱層１５０を備えたことを特徴とする近接場光学顕微鏡用プローブ１４０。例文帳に追加

This probe 140 for near field optical microscope is characterized by being equipped with a scattering layer 150 adjacent to the outer surface side of a clad layer 144 of glass fibers, having approximately the same refractive index as that of the clad layer 144, concerning the probe for near field optical microscope using the glass fibers. - 特許庁

近接場光顕微鏡、近接場光イメージング方法、近接場光イメージング装置、近接場光イメージング法をコンピュータに実行させるプログラム、記録媒体および高密度記録情報メディア読み取り装置例文帳に追加

NEAR-FIELD LIGHT MICROSCOPE, NEAR-FIELD LIGHT IMAGING METHOD, NEAR-FIELD LIGHT IMAGING DEVICE, AND PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE NEAR-FIELD LIGHT IMAGING METHOD, RECORDING MEDIUM, AND HIGH-DENSITY RECORDING INFORMATION MEDIA READING DEVICE - 特許庁

このような近接場光学顕微鏡では、Far Field領域における試料からの光信号は除外されて、完全な近接場領域での高分解能の近接場光学像を得ることができる。例文帳に追加

The near-field optical microscope can obtain the high-resolution near-field optical image in a perfect near- field area by excluding optical signals from samples in a far-field area. - 特許庁

プラズモンプローブの製造方法、近接場光発生器、光アシスト式磁気記録ヘッド、光アシスト式磁気記録装置、近接場光顕微鏡装置、近接場光露光装置、光記録装置例文帳に追加

METHOD FOR MANUFACTURING PLASMON PROBE, NEAR-FIELD LIGHT EMITTING DEVICE, LIGHT ASSIST MAGNETIC RECORDING HEAD, LIGHT ASSIST MAGNETIC RECORDING SYSTEM, NEAR-FIELD LIGHT MIROSCOPIC DEVICE, NEAR-FIELD EXPOSURE DEVICE, AND OPTICAL RECORDING SYSTEM - 特許庁

小型で高精度な制御ができる、探針を用いた近接場顕微鏡を発展させた近接場光リソグラフィーとして構成した近接場光によるパターン形成方法およびその装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and a device for forming a pattern with proximity field light arranged as a proximity field light lithography developed from a proximity field microscope employing a probe in which highly accurate control can be ensured while reducing the size. - 特許庁

単純な工程で、安価なコストで作製することが可能となる近接場光プローブの作製方法、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置を提供する。例文帳に追加

To provide a manufacturing method of a near field opticalprobe which can be manufactured at low cost by simple process, a near field opticalprobe, a near field optical microscope, a near field light fine processing device and a near field optical record playback device. - 特許庁

近接場ラマン分光システムのカンチレバー１５は、一般的な原子間力顕微鏡のカンチレバーであって、その自由端の先端に近接場プローブ１０を備えている。例文帳に追加

The cantilever 15 of a near-field Raman spectroscopic system 40 is the general cantilever of an atomic force microscope and includes the near-field probe 10 at the leading end of the free end. - 特許庁

近接場光を生成または選択的に透過させる微細構造を試料に直接接触させることなく、高分解能観察可能な走査型近接場光学顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning near-field optical microscope which is capable of performing high-resolution observation without bringing a fine structure for generating or selectively transmitting near-field light into direct contact with a sample. - 特許庁

近接場光により試料から放射される信号光のプローブ・試料間距離依存性を調べることができる近接場光学顕微鏡の信号光測定システムを提供する。例文帳に追加

To provide a system for measuring a signal-light by a near-field optical microscope that allows a user to find dependency of signal light, emitted from a sample by near-field light, on the distance between a probe and the sample. - 特許庁

ノイズレベルが低く鮮明な光学コントラストが得られる近接場光検出光学系を提供し、光記録再生装置および近接場光学顕微鏡の再生分解能を向上する。例文帳に追加

To provide a near-field light sensing optical system, whose noise level is low and by which a clear optical contrast can be obtained and to improve the reproducing resolution of an optical recording and reproducing apparatus and a near-field optical microscope. - 特許庁

近接場光顕微鏡で試料の微細光特性を分析することができ、光情報記憶装置で高密度の光を記録することが可能な近接場光プローブの製作方法を提供する。例文帳に追加

To provide a near-field optical probe manufacturing method capable of analyzing fine optical properties of samples with a near-field optical microscope and recording high-density light with an optical information storage device. - 特許庁

プローブ先端部の近接場光と試料とのカップリングにより発生する散乱光の角度依存性を検出できる走査型近接場光学顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning near field optical microscope capable of detecting the angle dependence of scattering light generated by the coupling of the near field light from the tip part of a probe with a sample. - 特許庁

もしくはガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中近接場光学顕微鏡の探針から近接場光を照射した局所過熱、または液中走査プローブ顕微鏡の加熱した探針を接近させた局所過熱により表面に注入されたガリウムを析出させ、ガリウムと特異的に結合するキレート剤で除去する。例文帳に追加

Or, the gallium injected into the surface is crystallized and removed by a chelating agent which specifically couples with gallium by local heating by irradiation with proximity field light from a probe of a submerge proximity field optical microscope with addition of a chelating agent which specifically couples with gallium, or by local heating by allowing the heated probe of a submerge scanning probe microscope to approach the surface. - 特許庁

ｎｍオーダの局所領域において電場変調による光学応答性としてのスペクトルを得、線形及び非線形の物理特性を解析するようにした電場変調スペクトル近接場光学顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide an electric field modulation spectrum near-field optical microscope devised to analyze linear and nonlinear physical characteristics by obtaining a spectrum as optical responsiveness by electric field modulation in a local region of an nm order. - 特許庁

従来よりも良好なＳＮ比で測定可能な近接場光顕微鏡に使用できる、分解能が高くかつ検出効率も高い近接場光プローブ、近接場光プローブの作製方法および作製装置を提供する。例文帳に追加

To provide a near-field optical probe high in resolution and high in detection efficiency, which can be employed in a near-field optical microscope capable of carrying out a measurement with a S/N ratio better than conventional ones, and to provide a method and an apparatus for manufacturing the near-field optical probe. - 特許庁

本発明は、光トラッププローブを安定的に捕捉でき、かつ検出される近接場光検出信号において高いＳ／Ｎを得ることを可能とする光トラッププローブ近接場光学顕微鏡装置及び近接場光検出方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide an optical trap probe near-field light microscope, capable of obtaining a high S/N ratio in a near-field light detection signal captured stably and detected by an optical trap probe, and to provide a near-field optical detection method. - 特許庁

レーザーをプローブ先端などへ直線偏光のＰ偏光成分を変調して照射できるようにし、更には、プローブが試料と常に接触しながら測定する場合においても、ＳＮＯＭ信号としての散乱光を変調し得て、試料の光物性を観察することのできる走査型プローブ顕微鏡、所謂近接場光学顕微鏡を得ようとする。例文帳に追加

To provide a scanning probe microscope, the so-called proximity field optical microscope which can modulate P-polarized component of linear polarization to allow laser radiation on probe tip etc., and also can modulate scattered light as a SNOM signal to observe optical properties of a sample, even when the probe measures the sample while always contacting it. - 特許庁

分子単位で特定の生体分子のみを発光させることにより、生体分子の個々の具体的な位置関係を判別することができる方法及び近接場光顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a method for determining detailed positional relationships among individual biological molecules by causing only a particular biological molecule to emit light in molecule units and provide a near field light microscope. - 特許庁

従来の近接場光学顕微鏡は、ナノメートルスケールでの観察は行えるものの、多くの物質、特に有機物が自家蛍光を発する深紫外線領域での観察が行えなかった。例文帳に追加

In a conventional nearfield optical microscope, observation can be performed in the nanometer scale, but not performed particularly in a deep ultraviolet area where the organic material emits self-fluorescence. - 特許庁

散乱型近接場顕微鏡用のプローブ作製において、表面増強ラマン散乱を効率良く誘起する均一な金属粒子を、再現性よくコーティングする方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for coating uniform metal particles, which highly efficiently induce surface-enhanced Raman scattering, with satisfactory reproducibility in the manufacture of a probe for scattering-type near-field microscopes. - 特許庁

またはオゾン雰囲気下での走査近接場光学顕微鏡探針からの局所VUV光照射でDLCが酸化され揮発性成分となって除去されることを利用し、陽極酸化と同様な方法で黒欠陥を除去する。例文帳に追加

The black defect is removed by the same method as anodic oxidation by using that DLC is oxidized by partial VUV light irradiation from a scanning proximity place optical microscope probe in an ozone atmosphere, it becomes the volatile component and is removed. - 特許庁

散乱型近接場光学顕微鏡において、励起レーザー光が紫外・深紫外レーザー光であり、プローブ先端の材料に励起レーザーの波長で誘電率が−２以下である金属を採用する。例文帳に追加

In the scattering near-field optical microscope, an excited laser beam is an ultraviolet/deep-ultraviolet laser beam and a metal is employed as a material for a probe end, the metal having dielectric constant of -2 or lower at the wavelength of the excited laser. - 特許庁

誘電体共振器に探針を結合して温度や外部環境の影響を最小化し、感度と分解能が向上したマイクロ波の近接場顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a microwave near-field optical microscope for improving the sensitivity and resolution, by connecting a probe to a dielectric resonator and minimizing the influence of the temperature and the external environment. - 特許庁

プローブの試料への衝突による破損を防ぎ、確実かつ短時間でプローブを試料に対して接近させることが可能な近接場光顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a near-field optical microscope capable of preventing a probe from being broken due to impacting on a sample and surely making the probe close to the sample in a short time. - 特許庁

本発明は、カンチレバーの構造を工夫することにより、より広い角度範囲の散乱光を検出可能にした近接場光学顕微鏡及びそれに用いられるカンチレバーを提供する。例文帳に追加

To provide a near-field optical microscope to detect the scattering light in an extensive angular range, and a cantilever used therefor by improving the structure of the cantilever. - 特許庁

近接場走査型光学顕微鏡（ＮＳＯＭ）システムを用いて、複数のホールを有するフォトニック結晶構造の共振周波数を赤チューニングするための方法である。例文帳に追加

To provide a method for red-tuning the resonance frequency of a photonic crystal structure that includes a plurality of holes by using a near-field scanning optical microscope (NSOM) system. - 特許庁

本発明はプラズモン伝播形光ＳＰＭにおいて、信号対雑音比が低下させずに近接場光を用いて試料の形状と光学特性を測定する走査プローブ顕微鏡の測定方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a measurement method of a scanning probe microscope for measuring a shape and optical characteristics of a sample using near field light without reducing a signal-to-noise ratio in a plasmon propagation beam SPM. - 特許庁

本発明は、比較的小さな開口数を持つ集光レンズを使用していても大きな角度で広がる散乱光を率よく検出することができるようにした走査型近接場光学顕微鏡を提供するを提供する。例文帳に追加

To provide a scanning near-field optical microscope which can efficiently detect a scattering light spreading with a large angle, even if using a condenser lens of a relatively small numerical aperture. - 特許庁

本発明は、高分解能及び高コントラストを実現可能としたプローブ先端近傍を照射する照射光の入射角度を決定する方法及び走査型近接場光学顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a method for determining the angle of incidence of the irradiating light to irradiate a portion in the vicinity of a tip of a probe to realize the high resolution and high contrast, and a scan near-field optical microscope. - 特許庁

弾性定数が低く、共振周波数の高い近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置を提供する。例文帳に追加

To provide a near-field optical probe with a low elasticity constant and a high resonance frequency and its manufacturing method, and a microscope, a recording/reproducing device, and a fine-machining device using them. - 特許庁

本発明の一態様によると、被検体に光を照射する手段と、前記被検体と一定の距離を保ち走査をする粒子状プローブと、前記被検体からの近接場光の強度を検出する手段とを有する走査型光学顕微鏡であり、前記粒子状プローブからの近接場光を検出することにより、前記粒子状プローブの位置を検出するプローブ位置検出手段を設けたことを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。例文帳に追加

A scanning optical microscope comprising means for irradiating a specimen with light, a granular probe for scanning the specimen while keeping a constant distance therefrom, and means for detecting the intensity of proximity field light from the specimen is further provided with means for detecting the position of the granular probe by detecting the proximity field light therefrom. - 特許庁

本発明は、原子〜ナノメートルの空間分解能を持つケルビンフォース顕微鏡により、このこの近接場光により励起される表面プラズモンの電位分布を調べることにより、近接場光の空間分布を計測するものであり、空間分解能と近接場の検出感度に優れる近接場光検出方法およびその装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a near-field light detection method and a device therefor having excellent spatial resolution and detection sensitivity of a near field, measuring a space distribution of near-field light by examining an electric potential distribution of surface plasmon excited by the near-field light by a Kelvin force microscope having spatial resolution of an atom to a nanometer order. - 特許庁

近接場光学顕微鏡に用いて好適な光ファイバプローブを提供するとともに、高精度な先鋭部を有する光ファイバプローブを容易にかつ安価に製造することが可能な光ファイバプローブの製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide an optical fiber probe suitable for use in a proximity optical microscope, and a manufacturing method for the optical fiber probe capable of manufacturing easily and inexpensively the optical fiber probe having a highly precise sharp part. - 特許庁

本発明は、入射光の波長を変調することで試料からの信号に変調を加え、変調された信号からＳＮＯＭ信号を抽出することでＳ／Ｎよい画像を得る信号検出手段を備えた近接場光学顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a proximity field optical microscopic apparatus equipped with a signal detection means modulating the wavelength of incident light to apply modulation to the signal from a sample and extracting an SNOM signal from the modulated signal to obtain an image having a good S/N ratio. - 特許庁

信号光検出の検出効率を向上させるとともに、信号光をバックグラウンド光成分から分離して検出することにより、信号対雑音比が高く、面内分解能の優れたプローブを具備した走査型近接場顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning type near field optical device provided with a probe enhanced in detection efficiency for signal light detection, having a high ratio of a signal to a noise by separating signal light from a background light component to be detected, and excellent in an in-plane resolution. - 特許庁

共振体に設けられた反射手段６４に入射光１８を照射したときの光放射圧Ｐにより共振体の周波数特性が変化することを利用した光放射圧測定装置、共振周波数調整方法、開口径検査装置及びそれを備えた近接場光学顕微鏡例文帳に追加

The optical radiation pressure measuring device, the resonance frequency regulating method, the aperture diameter inspection device and the near field microscope provided with the aperture diameter inspection device utilize that a frequency characteristic of the resonance body is changed by the optical radiation pressure P when incident light 18 is irradiated on a reflecting means 64 provided on the resonance body. - 特許庁

走査型近接場顕微鏡に用いる光集光系において、複数の光導波路または光検出器を搭載できる多方位同時検出光集光器を使う事で、得られる光情報の中から、これまで不可能であった、凹凸、材質などに依存した成分を分離する事が可能にする。例文帳に追加

To separate a constituent that depends on recess and projection, material quality, and the like from obtained light information by using multiple- azimuth simultaneous detection condensing equipment for mounting a plurality of optical waveguides or photo detectors in a condensing system used for a scanning type proximity field microscope. - 特許庁

材料の複素誘電率の非破壊的決定用及び近接場光学顕微鏡用のプローブは、明確な輪郭を有する、測定材料のサンプリング容積内にプローブ領域を制限する、誘電体支持部材上に形成された平衡型多導体伝送線構造に基づいている。例文帳に追加

A probe for a non-destructive determination of a complex dielectric constant of a material and for a near field optical microscope is based on a balance type multi-conductive transmission line structure formed on a dielectric support material which has a definite profile and limits a probe region within a sampling volume of a measuring material. - 特許庁

近接場光プローブをレーザ光の照射により曲げ加工を行う場合に、照射されるレーザ光によって探針先端が溶融して丸まることが防止され、高い分解能の近接場光プローブを作製することが可能となる近接場光プローブの作製方法と近接場光プローブの作製装置、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置を提供する。例文帳に追加

To provide a manufacturing method and device for near field opticalprobe which can manufacture the near field opticalprobe with high resolu tion which prevents the probe tip from being melted and curled by laser irradia tion in a bending process of the near field opticalprobe by irradiation of the laser light and can manufacture the near field opticalprobe with high resolution. - 特許庁

本発明の一態様によると、試料に光を照射する手段と、試料にプローブを近接させ走査する走査手段と、照射により発生した散乱光を集光するもので、それぞれ、異なる光軸を持った複数の集光光学系と、前記複数の集光光学系にそれぞれ設けられた複数の散乱光検出機構とを有することを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。例文帳に追加

This scanning near-field optical microscope according to one embodiment includes means for illuminating a sample with light, scanning means for bringing a probe close to the sample and scanning the sample, a plurality of collecting optical systems with different optical axes for collecting the scattering light generated by the illumination, and a plurality of scattering light- detecting mechanisms set respectively the plurality of the collecting optical systems. - 特許庁

カンチレバー型近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置であって、該微小開口ヘ光源からの光を導波させ、または／及び該微小開口から導入された光源からの光を導波させるための表面プラズモンポラリトン伝送路が、前記カンチレバーに設けられようにする。例文帳に追加

In the cantilever-type near-field optical probe and its manufacturing method, and the microscope, recording/reproducing device, and fine- machining device using them, a surface plasmon polariton transmission line for guiding light from a light source to a small opening or guiding light from the light source being introduced from the small opening is provided at the cantilever. - 特許庁

また、本発明の別態様によると、試料の観察部位に照射光を照射する、入射角度を調節可能な光源と、上記試料で反射された上記照射光を検出する検出手段とを具備し、上記検出手段で検出した反射光強度の上記入射角に対する角度依存性を測定可能に構成されていることを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。例文帳に追加

The scan near-field optical microscope comprises a light source for irradiating light on the location to be observed of the sample and adjusting the angle of incidence, and a detecting means to detect the irradiating light reflected by the sample, and can measure the angle dependency to the angle of incidence of the intensity of the reflected light detected by the detecting means. - 特許庁

本発明の目的は光放射圧を簡便かつ正確に測定可能な光放射圧測定装置、共振体の共振周波数を容易に調整可能な共振周波数調整方法、共振体の微小開口を評価する開口径検査装置及びそれを備えた近接場光学顕微鏡を提供することにある。例文帳に追加

To provide an optical radiation pressure measuring device capable of easily and accurately measuring an optical radiation pressure, a resonance frequency regulating method capable of easily adjusting a resonance frequency of a resonance body, an aperture diameter inspection device evaluating a minute aperture of the resonance body, and a near field microscope provided with the aperture diameter inspection device. - 特許庁