Defectsを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 10273件
To provide a semiconductor device in which minute defects in itself or in its electrodes can be detected in a stage before a substrate attachment process is carried out and to provide its inspection method.例文帳に追加
半導体素子や電極の微小欠陥を基板組付け工程の前の段階で検出可能な半導体素子およびその半導体素子の検査方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an epitaxial silicon carbide single crystal substrate having a high quality silicon carbide single crystal thin film with few defects on a silicon carbide single crystal substrate, and to provide a method for producing the same.例文帳に追加
炭化珪素単結晶基板上に高品質で欠陥の少ない炭化珪素単結晶薄膜を有するエピタキシャル炭化珪素単結晶基板及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a wetting agent for semiconductor and a composition for polishing capable of improving the wettability of a semiconductor substrate surface and of conspicuously reducing fine defects such as the adhesion of particles.例文帳に追加
半導体基板表面の濡れ性を向上させ、パーティクルの付着等の微小な欠陥を著しく低減させることができる半導体用濡れ剤および研磨用組成物の提供。 - 特許庁
To provide an electrode material free from the defects of conventional techniques and having an improved storage life and cycle stability at high temperatures, especially at room temperature or higher.例文帳に追加
従来技術の欠点を有しておらず、また高温における、特に室温以上の温度における改良された保存寿命およびサイクル安定性を有する電極材料を提供する。 - 特許庁
The number of defects such as LLPD and COP in the silicon single crystal can be reduced by incorporating hydrogen in an amount of ≥0.6 ppm into a quartz glass crucible for pulling the silicon single crystal.例文帳に追加
本発明は、単結晶シリコン引上げ用の石英ガラスルツボに水素を0.6ppm以上含有させることによって、シリコン単結晶中のLLPDおよびCOPをさげることができる。 - 特許庁
To suppress the deviation of pixel operation positions when image processing is performed for correcting scale factor deviation to an image to which screen processing is completed, and to prevent the generation of image quality defects.例文帳に追加
スクリーン処理済みの画像に対して倍率ずれを補正するための画像処理を施した場合における画素操作位置の偏りを抑制し、画質欠陥の発生を防止する。 - 特許庁
To process an inorganic material nanostructure to artificially produce pores or defects in a large amount in a short time and to significantly promote an industrial usage of the material.例文帳に追加
無機材料ナノ構造体に細孔若しくは欠陥を人為的に大量に且つ、短時間に加工することができ、工業的利用を大幅に促進させることができるようにする。 - 特許庁
To make it possible to substantially reduce interface defects between a semiconductor substrate and an insulating film by means of heat treatment for obtaining excellent reliability as a device.例文帳に追加
熱処理により半導体基板側と絶縁膜との間の界面欠陥を大幅に低減することができ、デバイスとしての信頼性を優れたものとすることができるようにする。 - 特許庁
To provide a method and a device for precisely evaluating two dimensional distribution of crystal structure defects of a semiconductor sample by a photoluminescence method in nondestructive and noncontact manner.例文帳に追加
フォトルミネッセンス法により、非破壊、非接触で半導体試料の結晶構造欠陥の2次元分布の評価を高精度で行うことを可能にする方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To provide a perpendicular continuous casting method of an aluminum alloy billet to reliably prevent crack defects in the initial casting stage by a simple method without using any complicated facility.例文帳に追加
複雑な設備を用いず、簡便な方法で鋳造初期段階における割れ欠陥を確実に予防できるアルミニウム合金ビレットの垂直連続鋳造方法を提案する。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus for pixel evaluation of a display panel, which detect the presence or the absence of defects at its pixel level by using a simple process and can comprehend the properties of respective pixels.例文帳に追加
画素レベルでの欠陥の有無を簡単な処理で検出するとともに、各画素の特性を把握することを可能にした表示パネルの画素評価方法及びその装置を提供する。 - 特許庁
To provide a spark plug manufacturing method capable of providing a spark plug with an insulator having a breakdown voltage performance by determining existence of defects of the insulator.例文帳に追加
絶縁体の欠陥の有無を判別することにより、耐電圧性能を有する絶縁体を備えたスパークプラグを提供することのできるスパークプラグの製造方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a positive resist composition using electron beams or X rays having high resolution and capable of forming a rectangular and excellent pattern profile and improving development defects.例文帳に追加
高解像力を有し、矩形状の優れたパターンプロファイルを与えることができ、しかも現像欠陥か改善されたポジ型電子線またはX線レジスト組成物を提供すること。 - 特許庁
A defect evaluation part 20 performs arithmetic processing of periodic magnetic field information extracted by the periodic information extraction means 15 and evaluates defects of the specimen such as scars and cracks.例文帳に追加
欠陥評価部20は、周期情報抽出手段15によって抽出された周期的な磁場情報を演算処理し、被検体のきず及びや割れなどの欠陥を評価する。 - 特許庁
To provide a water-cooled copper crucible for the consumable electrode type vacuum arc melting capable of minimizing a cut part by suppressing the generation of defects at the bottom part of an ingot.例文帳に追加
インゴットのボトム部における欠陥の発生を抑制することにより、切除部分を小さく抑制できる消耗電極式真空アーク溶解用水冷銅るつぼを提供する。 - 特許庁
In the composite waveguide 12, linear hole arrays of three columns are interposed in parallel to the two line defects and one array in the middle is formed with larger holes than those on both sides.例文帳に追加
複合導波路12の間には、2本の線欠陥に平行に3列の直線状のホールの配列が挟まれており、中央の1列は両側よりも大きなホールで形成されている。 - 特許庁
To provide an apparatus and method of frame synchronization in broadband wireless communication systems so as to remove defects or deficiencies existent in the prior art apparatuses and methods of frame synchronization.例文帳に追加
先行技術のフレーム同期装置及び方法にある上記の欠陥や欠点を除去するための、ブロードバンド無線通信システムにおけるフレーム同期装置及び方法を提供する。 - 特許庁
To suppress/prevent failures of causing weld defects due to weld metal being blown off during jetting of residual moisture in performing repair welding by a laser beam underwater.例文帳に追加
水中でレーザ光によって溶接補修を行なう場合に、残留した水分が噴出す際に溶接金属を吹き飛ばして溶接不良が発生する不具合を、抑制・防止する。 - 特許庁
To obtain an electrostatic charge image developer which achieves high stability of image density and can suppress the occurrence of image quality defects even under environmental variation during use in a real machine.例文帳に追加
実機使用時における環境変化に対しても、高い画像濃度の安定性が得られ、画質欠陥の発生を抑制することが可能な静電荷像現像剤を得ることである。 - 特許庁
To provide a resin-molded laminated varistor which is free of peeling and bonding defects, even when a mechanical or abrupt electrical load is impressed on a lead terminal.例文帳に追加
リード端子に機械的または急激な電気的な負荷がかかった場合においても、剥離や接合不良が生じない樹脂モールド型の積層バリスタを提供することを目的とする。 - 特許庁
To produce a thermoplastic elastomer foam without generating defects such as profile deformation, an edge cut phenomenon, the insufficiency of foaming magnification or the like during continuous production.例文帳に追加
連続生産を行った場合に発生するプロファイル変形、エッジカット現象、発泡倍率不足等の不良の起こらない、熱可塑性エラストマー発泡体の製造方法を提供すること。 - 特許庁
To prevent the generation of crystal defects from the corner part of a trench (groove) formed on a semiconductor substrate by relaxing thermal stress, when a thermal oxide film is formed on the inner surface of the trench.例文帳に追加
半導体基板に形成されたトレンチ(溝)内面に熱酸化膜を形成したときに熱応力を緩和し、トレンチの角部から結晶欠陥が発生するのを防止する。 - 特許庁
To produce a silicon single crystal with slight formation of crystal defects such as an oxidation induced stacking fault(OSF) by removing impurities such as moisture or oxygen contained in an argon gas atmosphere in a furnace.例文帳に追加
炉内アルゴンガス雰囲気中に含まれる水分、酸素等の不純物を除去することにより、OSF等の結晶欠陥の発生が少ないシリコン単結晶を提供する。 - 特許庁
To provide a color image forming apparatus in which the occurrence of image defects, such as density unevenness and toner scattering, is suppressed and a good color image can be obtained irrespective of a coating weight of toner.例文帳に追加
トナーの付着量にかかわらず、濃度ムラ、トナー飛び散りなどの画像欠陥の発生が抑制され、良好なカラー画像が得られるカラー画像形成装置を提供すること。 - 特許庁
A detection part 52 detects defects from a RF signal, a focus error signal, and a tracking error signal from the inner periphery to the outer periphery using a signal from a reproduction part 50.例文帳に追加
検出部52は、再生部50からの信号を用いて光ディスクの内周から外周に向けてRF信号、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号からそれぞれ欠陥を検出する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a silicon carbide single crystal capable of obtaining a high quality single crystal by suppressing the propagation of defects and strain present in the seed crystal.例文帳に追加
種結晶に存在する欠陥や歪みの伝播を抑制することにより高品質な単結晶を得ることが可能となる、炭化珪素単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁
A laser scattering detector detects the top surface of the defect emphasis protrusion, and the type of the crystal defects is identified by the dimension information of the detected top surface.例文帳に追加
欠陥強調突起部の頂面部をレーザー散乱式検出装置にて検出し、その検出された頂面部の寸法情報により結晶欠陥の種別を識別する。 - 特許庁
To stably produce a grain oriented silicon steel sheet having a uniform forsterite film free from defects and excellent in adhesion over the whole width and whole length of a coil and also having excellent magnetic properties.例文帳に追加
コイル全幅および全長にわたって欠陥のない均一で密着性に優れたフォルステライト被膜を有し、かつ磁気特性にも優れた方向性電磁鋼板を安定して製造する。 - 特許庁
Methods and devices are described using different defect detection standards to detect and map defects of different sizes and in specific regions that can affect a drive operation.例文帳に追加
サイズが異なり、特定の領域においてドライブ動作に影響し得る欠陥を検出してマップするために、異なる欠陥検出基準を用いる方法及び装置が説明される。 - 特許庁
This method contains a stage of removing transition defects by forming a self- matched trench 30 adjacent to the SOI area 22 between the SOI region and the bulk region 24.例文帳に追加
この方法は、SOI領域22とバルク領域24の間にSOI領域に隣接した自己整合トレンチ30を作成することによって遷移欠陥を除去する段階を含む。 - 特許庁
To provide a method of cleaning a semiconductor wafer for appropriately removing projecting defects formed by stress operating on a surface when polishing the surface of the semiconductor wafer.例文帳に追加
半導体ウェハの表面を研磨した際に表面に作用する応力により形成された凸状の欠陥を適切に除去可能な半導体ウェハの洗浄方法を提供する。 - 特許庁
To provide plate tiles capable of facilitating handling by suppressing the amount of protrusion of engaging protrusions, avoiding accidental defects in the engaging protrusions as much as possible, and facilitating manufacture.例文帳に追加
係合突起の突出量を抑えて取り扱いを容易にし、且つ、係合突起の不用意な欠損を可及的に回避すると共に、製造も容易な平板瓦を提供する。 - 特許庁
To provide a molding die capable of preventing the projection of flashes from the surface of a molded article even when the flashes being one of molding defects occur, and a formed molded article.例文帳に追加
成形不良の一つであるバリが発生した場合でも、成形品表面からのバリの突出を防止することができる成形型および発泡成形品を提供すること。 - 特許庁
To provide a method of and an apparatus for manufacturing a particulate structure permitting formation of a good structure with reduced structural defects by utilizing self-aggregating properties of particulates.例文帳に追加
微粒子の自己集積を利用して、構造欠陥の少ない、良好な微粒子構造体を得ることの可能な微粒子構造体の製造方法及び製造装置を提供する。 - 特許庁
One method includes classifying defects on a specimen using inspection data generated for the specimen combined with defect review data generated for the specimen.例文帳に追加
一方法は、試料のために生み出された検査データを、この試料のために生み出された欠陥レビューデータと組み合わせたものを使用して、この試料上の欠陥を分類することを含む。 - 特許庁
A device 6 for discriminating and processing welding conditions detects defects of welded parts based on the levels of the plural electrical signals from the photodiodes 3, 5.例文帳に追加
溶接状態判定処理装置6は、フォトダイオード3からの複数の電気信号のレベルとフォトダイオード5からの複数の電気信号のレベルとに基づいて溶接箇所の欠陥検出を行う。 - 特許庁
To provide a thermoplastic resin composition yielding an aromatic polycarbonate resin/fatty acid-based polyester alloy with improved impact resistance and good appearance freed from defects including the development of silver, pearl gloss and flow marks.例文帳に追加
芳香族ポリカーボネート樹脂/脂肪酸ポリエステルアロイの耐衝撃性を向上させ、シルバーの発生や真珠光沢・フローマークの発生等の外観不良の改善を目的とするものである。 - 特許庁
To provide a powder painting method of forming a coating film free from defects such as pin holes, crater like unevenness on the surface of a cement based precast member without damaging the property thereof.例文帳に追加
セメント系プレキャスト部材の物性を損なうことなく、その表面に、ピンホール、クレーター状凹凸といった欠陥のない塗膜を形成できる粉体塗装方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for producing a polypropylene resin film having excellent heat-resistant dimensional stability, little fisheye defects and proper transparency and suitable as a base film of a protection film.例文帳に追加
耐熱寸法安定性に優れ、フィッシュアイが少なく、適度な透明性を有し、保護フィルムの基材フィルムとして好適であるポリプロピレン系樹脂フィルムの製造方法を提供する。 - 特許庁
To solve both of coping to complicated shapes and uniformity on an exposure surface which are defects in conventional technology in pattern formation by the proximity exposure of photosensitive resist.例文帳に追加
感光性レジストの近接露光によるパターン形成において、従来技術の欠点であった形状の複雑化への対応、及び露光面内の均一化を同時に解決すること。 - 特許庁
The HDD 1 predicts the number of defects at a stage where a portion of tracks is tested, and stops the test to thereby omit a useless test time when the predicted value exceeds a reference number.例文帳に追加
HDD1は、一部のトラックについてテストした段階で欠陥数を予想し、その予想値が基準数を超える場合にテストを中止することで、無用なテスト時間を省略する。 - 特許庁
Etching properties of the slurry itself are reduced by an interaction between colloidal titanium oxide and iron (III) ion produced from the iron (III) compound and occurrence of defects such as dishing, erosion, etc. can be controlled.例文帳に追加
コロイダル酸化チタニウムと鉄(III)化合物から生成する鉄(III)イオンとの相互作用により、スラリー自体のエッチング性が低下し、ディッシング、エロージョン等の欠陥の発生が抑制できる。 - 特許庁
To stably produce a ceramic green sheet having excellent surface smoothness and little pinhole defects, etc., even in the case of producing a sheet having thin thickness.例文帳に追加
厚みの薄いセラミックグリーンシートを製造する場合にも、表面の平滑性が良好で、ピンホール欠陥などの少ないセラミックグリーンシートを安定して製造することができるようにする。 - 特許庁
To provide a method for screening laminated ceramic capacitors that can test whether the laminated ceramic capacitors have connection defects between internal and external electrodes, within a relatively short period of time.例文帳に追加
比較的短時間で、内部電極と外部電極との間に接続不良のある積層セラミックコンデンサを判定することができる、積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法を得る。 - 特許庁
A method is provided that includes a defect detection step to detect one or more defects in a software application composed of heterogeneous languages using a configurable web services architecture.例文帳に追加
設定可能なウェブサービスアーキテクチャにより異種言語から成るソフトウェアアプリケーションにおける1又はそれ以上の欠陥を検出する欠陥検出段階を有する方法が提供される。 - 特許庁
To provide a forming method of a semiconductor film having reduced crystal defects and excellent crystallinity, and a semiconductor device and a display device manufactured by using the forming method.例文帳に追加
結晶欠陥が低減されて結晶性が良好な半導体膜の形成方法及びその成方法を用いて製造された半導体装置並びにディスプレイ装置を提供する。 - 特許庁
After forming a p anode layer 2 and an anode electrode 3 in one principal plane of an n type semiconductor substrate 1, an electron beam is irradiated to introduce crystal defects in the semiconductor substrate 1.例文帳に追加
N型半導体基板1の一方の主面にPアノード層2とアノード電極3を形成した後、電子線を照射して半導体基板1の中に結晶欠陥を導入する。 - 特許庁
To provide a binder for covering metallic vessels, usable as a single binder having no defect of conventional technologies or only having decreased defects.例文帳に追加
従来技術の欠点を有していないかまたは少なくとも低減した程度でしか有していない単独バインダーとして使用できる、金属製容器用被覆のためのバインダーの提供。 - 特許庁
To provide a manufacturing method by which a single-crystal thin film of large-diameter diamonds, silicon carbide, and gallium nitride containing less defects can be grown.例文帳に追加
大口径のダイヤモンド、シリコンカーバイド、窒化ガリウムの単結晶薄膜を成長させることができ、また、欠陥の少ない単結晶薄膜を成長させることができる製造方法を提供する。 - 特許庁
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