「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(107ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor device manufacturing method for preventing crystal defects caused by thermal processings from being generated in the neighborhood of a trench in a silicon layer, and to provide a semiconductor device.例文帳に追加

シリコン層におけるトレンチの近傍に熱処理に起因する結晶欠陥が発生することを防止できる、半導体装置の製造方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide semiconductor phosphor particles having high effect in light emission and excellent in reliability by capping surface defects of crystalline particles, and a simple method for producing the same.例文帳に追加

結晶粒子の表面欠陥をキャッピングすることによって、発光効率が高く信頼性に優れた半導体粒子蛍光体、およびその簡便な製造方法を提供する。 - 特許庁

The colored part of color pixels where defects are produced is removed by pixel unit, and ink is deposited and hardened in the removed region by an ink jet method to form a new color part.例文帳に追加

欠陥が生じた着色画素の着色部を画素単位で除去し、インクジェット方式によって該除去領域にインクを付与して硬化させ、新たな着色部を形成する。 - 特許庁

To provide a wafer for semiconductor devices wherein the life of a heterobipolar transistor can be improved by blocking defects appearing in a collector contact layer fromn propagating to upper layers than this layer.例文帳に追加

コレクタコンタクト層中で発生した欠陥をそれより上の層へ伝搬しないようにすることにより、ヘテロバイポーラトランジスタの寿命を改善できる半導体装置用ウェハを提供する。 - 特許庁

To simply and instinctively know the distribution and tendency of defects appearing on the whole semiconductor wafer on which a plurality of imaging elements are formed without requiring complicated operation.例文帳に追加

複数の撮像素子が作りこまれた半導体ウエハ全体に現われる欠陥の分布や傾向を、煩わしい作業を伴うことなく、簡単且つ直感的に把握可能にする。 - 特許庁

To provide a perlite heat insulation molded board that is used for rustproof laths for preventing the occurrence of product defects due to rust, in an incombustible heat insulating material mainly used for external heat insulation of wooden buildings.例文帳に追加

主に木造建築における、外断熱に使用する不燃断熱材において、錆びないラスを使用し、錆による欠陥の発生を防止できるパーライト断熱成型板を提供する。 - 特許庁

To provide a ring end face defect inspection apparatus for improving efficiency and obtaining improved precision and reproducibility, by automating the inspection of the end face defects of a metal ring 2.例文帳に追加

金属リング２の端面欠陥の検査を自動化できるようにし、以て、効率の改善と、良好な精度及び再現性が得られるリング端面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

(f) Among non-destructive inspection devices that are capable of inspecting defects three-dimensionally and use ultrasound or X-ray tomography, those designed for inspecting composite materials 例文帳に追加

ヘ　三次元的に欠陥を検査することができる非破壊検査装置であって、超音波又はエックス線断層撮影法を用いるもののうち、複合材料を検査するように設計したもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

To industrially advantageously provide a carbon nanotube without defects in compatibility with an activator, having excellent dispersion stability, and treated with a base, and a carbon nanotube dispersion containing it.例文帳に追加

これらの欠点がない優れた分散安定性を有する塩基性処理されたカーボンナノチューブ、およびそれを含有するカーボンナノチューブ分散液を工業的に有利に提供することにある。 - 特許庁

To provide a fuel modifier which compensates defects of combustion oils for conventional petroleum fuels, improves efficiency of combustion of fuels at a low cost, and can alleviate environmental pollution factors.例文帳に追加

従来の石油系燃料用の助燃剤の不備を補い、低コストで、燃料の燃焼効率を向上させ、公害要因を軽減することができる燃料改質剤を提供する。 - 特許庁

Further, the number of defects of a foil produced from the polymer blend is reduced by blending the polyethylene and the cycloolefin polymer in a molten state or mixing a polyethylene solution and a cycloolefin polymer solution.例文帳に追加

さらに、ポリエチレンとシクロオレフィンポリマーのメルトでの配合またはポリエチレン溶液およびシクロオレフィンポリマー溶液の混合が、このブレンドから製造される箔の欠陥数を減少する。 - 特許庁

Such the large crystals are provided as growing substrates for growing gallium nitride based semiconductor layers, and semiconductor membranes free from lattice defects are formed over wide area on the substrate.例文帳に追加

このような大きな単結晶を窒化ガリウム系の半導体層形成用の成長基板に提供し、基板上には、広い面域に渡って格子欠陥のない半導体膜が形成される。 - 特許庁

To provide a woven or knitted fabric having improved pill resistance and dye affinity which are the defects of a conventional combined filament yarn/blended yarn, or a woven or knitted fabric including PPS (polyphenylene sulfide), and also having improved heat insulation efficiency.例文帳に追加

従来のＰＰＳを含む混繊・混紡糸また織編物の欠点である抗ピル性、染色性を改善し、さらに保温効率を向上させた織編物を提供するものである。 - 特許庁

To provide a CVD device capable of removing granular foreign matters and capable of producing a magnetic recording medium small in defects at the time of forming a DLC film by a CVD method.例文帳に追加

ＣＶＤ法によりＤＬＣ膜を成膜するにあたり、粒子状の異物を除去でき、欠陥の少ない磁気記録媒体を作製できるＣＶＤ装置を提供すること。 - 特許庁

To reduce wiring defects of a lead-out wire below a seal area while precisely controlling a gap by putting a gap material in the seal area with respect to a matrix drive type electrooptic device.例文帳に追加

マトリクス駆動方式の電気光学装置において、シール領域にギャップ材を入れてギャップを精度良く制御しつつ、シール領域下の引き出し配線の配線不良を低減する。 - 特許庁

Therefore, recombination of carriers on the uppermost surface of the lower cell 14 can be reduced, because uncombined hands existing on the uppermost surface of the cell 14 are coupled with the insulating layer 22, and as a result, lattice defects can be reduced.例文帳に追加

これにより、下部セル１４の最上面に存在する未結合手と絶縁層２２とが結合し、格子欠陥を減少でき、この部分におけるキャリアの再結合を減少できる。 - 特許庁

To provide a black toner which is used for the image formation of an electrophotographic method capable of forming a satisfactory image without causing any image defects such as transfer omission and fogging upon print preparation.例文帳に追加

プリント作成時に、転写抜けやカブリ等の画像不良を起こすことのない良好な画像形成が可能な電子写真方式の画像形成に使用される黒色トナーの提供。 - 特許庁

A potential contrast image is acquired to detect defects, in a state of enhancing an electric resistance difference between a normal part and a defective part sufficiently, taking advantage of the electric charges induced by irradiation with an electron beam.例文帳に追加

電子ビーム照射による帯電を利用し、正常部と欠陥部の電気抵抗値の差を十分増大させた状態で電位コントラスト像を取得し、欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor having high abrasion resistance which excels in electric property and hardly causes image defects such as white spots, an image forming method, an image forming device, and a process cartridge.例文帳に追加

高い耐摩耗性を有し、電気特性に優れ、白斑点等の画像欠陥が生じにくい電子写真感光体、画像形成方法、画像形成装置及びプロセスカートリッジを提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing ceramic by which the occurrence of defects such as scratch caused by the friction between a ceramic formed body and a firing fixture in firing is prevented to suppress the appearance defectiveness.例文帳に追加

セラミック成形体を焼成する際に焼成冶具との間で摩擦によるキズ等の欠陥の発生を防止し、外観不良を抑制するためのセラミックスの製法を提供する。 - 特許庁

Since defect data are composed of a counted value of signals, information amounts are reduced and inconvenience in derivation and transmission of defect data is never generated even when many defects are detected in a short time.例文帳に追加

また、ディフェクトデータは信号のカウント値であるため情報量が少なく、短時間に多数のディフェクトが検出されても、ディフェクトデータの導出や伝送に不具合が生じることがない。 - 特許庁

The electrolytic polishing liquid having good dispersion of the abrasive grains is used, thus the abrasive brains are not allowed to remain and defects such as scratches are not caused after polishing.例文帳に追加

また、本発明の電解研磨方法では、研磨砥粒の分散状態が良好な電解研磨液を用いるので、研磨後に砥粒残りやスクラッチ等の欠陥の発生がない。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a metal-ceramic composite material of high quality free from defects such as pores, which impregnates a preform with a molten metal in a shorter time than ever.例文帳に追加

従来よりも短時間で溶融金属をプリフォーム内に浸透でき、しかもポア等の欠陥のない高品質な金属−セラミックス複合材料の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating silicon wafer crystal defects with a specific resistance value of 0.01 Ωcm or less wafer that have been evaluated so far by a physical method because no wet etching method can be used.例文帳に追加

湿式エッチング法を適用できないため、物理的方法で行っていた比抵抗値が０．０１Ωｃｍ以下のシリコンウェハの結晶欠陥評価を行うためのを提供する。 - 特許庁

To provide a plasma processing method which is usable to manufacture a color filter having less quality defects such as a white void of ink and color mixing of ink, and the color filter manufactured by using the same method.例文帳に追加

インクの白抜けや、インクの混色といった品質不良の少ないカラーフィルタの製造に利用可能なプラズマ処理方法およびその方法を用いて製造したカラーフィルタを提供する。 - 特許庁

To provide a trench-type power element of Sic, having dielectric breakdown due to electric field concentration at a corner part of an electrode and having defects of the semiconductor substrate suppressed, with high manufacturing yield.例文帳に追加

電極のコーナー部における電界集中及び半導体基板の欠陥による絶縁破壊が抑制されたSiC等のトレンチ型パワー素子を製造歩留まり良く提供すること。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of effectively preventing unevenness in image density from generating and also of yielding high-quality images where image defects, such as faulty cleaning, is suppressed.例文帳に追加

画像濃度ムラの発生を有効に防止できると共にクリーニング不良等の画像不良を抑制した高品位な画像を得ることができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical pickup which reduces the influence of the defects of an optical disk, if any, and is strong to the disk defect and an optical disk device using the same.例文帳に追加

光ディスクのディスク欠陥に対して、ディスク欠陥があった場合においてもサーボ系への影響が小さく、ディスク欠陥に強い光ピックアップ及びそれを用いた光ディスク装置を実現する。 - 特許庁

To provide a simple and effective manufacturing method of a sulfonated high polymer film with few gas permeability defects useful for a proton conductivity film for a solid high polymer fuel cells, or the like.例文帳に追加

固体高分子型燃料電池用プロトン伝導性膜等に有用なガス透過性欠陥の少ないスルホン化高分子膜を簡便かつ有効な製造方法を提供する。 - 特許庁

A sample chip is cut out from a metal ingot of a target material for sputtering, the cut out sample is then subjected to a hydrogenation treatment, and the internal defects of the sample subjected to the hydrogenation treatment are inspected.例文帳に追加

スパッタリング用ターゲット材料の金属インゴットからサンプル片を切り出し、切り出された上記サンプル片を水素化処理し、水素化処理された上記サンプル片の内部欠陥を検査する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device capable of preventing the occurrence of luminescent spot defects while reducing power consumption and cost, and to provide a driving circuit and a driving method therefor.例文帳に追加

消費電力の低減およびコストダウンを実現しつつ輝点欠陥の発生を防止することができる液晶表示装置ならびにその駆動回路および駆動方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical retardation plate which can be manufactured by an easy manufacturing method with less coating steps and which has little defects due to cissing or alignment failure, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

塗布工程の少ない簡易な製造方法により製造可能で、且つハジキや配向不良等による欠陥が少ない位相差板、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for providing a data communication service using a mobile network that can eliminate defects, caused when an external device connected to a mobile unit has an application similar to the function of the mobile unit receiving a data communication service.例文帳に追加

データ通信サービスの提供を受ける同様の機能を有するアプリケーションを移動機に接続される外部装置が備えている場合に生じる不都合を解消すること。 - 特許庁

This defect detecting method has a means to detect an image of a whole chip, and, an inspection region of this image is divided into a plurality of regions based on sensitivity to fatal defects so that inspection sensitivity can be set up in each region.例文帳に追加

チップ全域の画像を検出する手段を設け、この画像を用いて致命性毎に検査領域を区分けし、それぞれの領域で検査感度を設定可能とした。 - 特許庁

To provide a method of producing a porous body which has no defects such as deformation and cracks even if the size of pores to be introduced therein is made large, or porosity thereof is increased.例文帳に追加

成形体中の気孔形成材を占める割合を多くすると、その焼失に際しての燃焼熱や燃焼ガスが増すために変形や割れなどの欠陥が発生しやすくなる。 - 特許庁

An image comparison part 124 compares, in each pixel in an inspection image data 120, a correspondence of an inspection image data 120 in the pixel to a reference image data 121 with a judgment threshold 141 acquired in each region comprising the computed slit pixel group, and judges defects or defect candidates.例文帳に追加

次に、検査画像の各画素毎にその画素の階調値と、その画素と対応する参照画像内の画素の画素値との第２の相関関係を求める。 - 特許庁

Correct, by itself, the description, the claims or the drawings, however only in order to eliminate minor formal defects and other obvious mistakes or language errors, as well as in the cases referred to in paragraph (2).例文帳に追加

軽微な方式上の欠陥及び他の明らかな誤謬又は誤記を削除するためにのみ，また，(2)にいう事例の場合は，説明，クレーム又は図面を自ら訂正すること - 特許庁

(5) If the applicant corrects the defects appropriately, the Spanish Patent and Trademark Office shall indicate, as the international registration application date, the date on which it received the corrected version of the application.例文帳に追加

(5) 出願人が瑕疵を適切に訂正した場合は，スペイン特許商標庁は出願の訂正版の受領日を当該国際出願の出願日として示すものとする。 - 特許庁

The request for renewal shall be rejected if it does not comply with the requirements specified in the invitation even after the remedy of the defects or the submitting of comments. 例文帳に追加

更新請求は，その請求人が不備の訂正を行い又は意見を提出した後においても，当該求めに記載された要件を遵守していない場合は拒絶される。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of achieving a high yield and high reliability while suppressing electric short-circuit defects apt to occur between sets of wiring adjacent to each other, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

隣り合う配線間で起きやすい電気的短絡不良を抑制し、高歩留り及び高信頼性を実現できる半導体記憶装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a method of manufacturing a semiconductor device, capable of improving the planarity of the recessed bottom surface of a silicon substrate, forming a highly accurate silicon uneven surface pattern, and suppressing the occurrence of pattern defects.例文帳に追加

シリコン基板の凹部底面の平坦度を改善し、精度の高いシリコン凹凸面パターンを形成可能とし、パターン不良の発生を抑制できる半導体デバイスの製造方法を得る。 - 特許庁

To provide a silicon single crystal which is low in the density of the IR scattering body defects in the single crystal and is suppressed in the shortening of recombination life time in the outer peripheral part of the single crystal.例文帳に追加

単結晶中の赤外線散乱体欠陥の密度が低く、単結晶外周部において再結合ライフタイムの低下が抑制されたシリコン単結晶を提供する。 - 特許庁

To reduce defects of breakdown strength in a trench-type semiconductor device of a structure, with a trench being formed in a semiconductor substrate and a current path being provided on the sidewall of the trench and under the bottom of the trench.例文帳に追加

半導体基板上にトレンチを形成し、そのトレンチ側壁及び底部に電流経路を配設したトレンチ型半導体装置において、耐圧不良の低減を図る。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device capable of accurately detecting defects of a mask, without being influenced by particulate matters, even if transparent particles are scattered on the surface of a photomask (mask).例文帳に追加

フォトマスク（マスク）の表面に透明粒子が散布されても、粒状物による影響なく、マスクの欠陥を正確に検出できる欠陥検査方法及び欠陥検査装置。 - 特許庁

To provide an inspection circuit capable of detecting leak of retaining capacity, defects of an active element and wiring with high precision, and to provide an inspection method of a circuit and a matrix type display device.例文帳に追加

保持容量のリーク、能動素子や配線の欠陥を高精度に検出することができる検査回路及び回路の検査方法並びにマトリックス型表示装置を提供する。 - 特許庁