Defectsを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 10273件
A shade due to the defects (unevenness) on the surface 6a of the plate member 6 has articulate contrast to the other part, looms and is clarified.例文帳に追加
このため、板状部材6の表面6aの欠陥(凸凹)に伴う陰影が、他の部分と明確なコントラストとなって浮き出るようになって明確なものとなる。 - 特許庁
To prevent dust from staying on an original platen where an original is carried by an automatic original feeding device and to prevent the occurrence of a picture defects such as a black line and a void.例文帳に追加
自動原稿送り装置によって原稿が搬送される原稿台上にゴミが停滞して黒線や白抜けなどの画像欠陥が生じる。 - 特許庁
To provide a printed circuit board, an apparatus unit, and an electronic device capable of obviating the generation of defects in soldering accompanied with the mounting of an electronic part.例文帳に追加
電子部品の実装に伴うハンダ付け不良の発生を未然に防止し得るプリント配線板、機器ユニットおよび電子機器の提供を目的とする。 - 特許庁
To provide a system and a method for forming a deposit film, by which a deposit film in which structural defects are suppressed and uniformity is improved can be formed over a large area.例文帳に追加
構造欠陥を抑制し、均一性が良好な堆積膜を大面積にわたって形成できる堆積膜形成装置及び方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for producing a stranded wire of anticorrosive PC steel, with which the defects of coating film accompanying the entrainment of air is controlled and the dispersion of film thicknesses can be reduced.例文帳に追加
空気の巻きこみに伴う塗膜の欠陥を抑制し、かつ膜厚のばらつきを減少できる防食PC鋼より線の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a flexible printed circuit board which improves assembling workability and prevents contact defects, and also to provide a liquid crystal display using the same.例文帳に追加
組み立て性を向上させ、接触不良を防止できる可撓性印刷回路基板及びこれを用いた液晶表示装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a substrate inspecting apparatus that suppresses the occurrence of scattered light reflected by a stage pin, and preventing the misdetection of defects on the surface of a substrate.例文帳に追加
ステージピンに反射した散乱光の発生を抑制し、基板表面の欠陥の誤検出を防止することができる基板検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an efficient and simple manufacturing method for an optical film which has few defects in appearance and which reveals excellent indication quality when built in an LCD.例文帳に追加
外観欠点が少なく、LCDに組み込まれた際に優れた表示品質を発現する光学フィルムの効率的かつ簡便な製造方法を提供する。 - 特許庁
To enable a single photographing device to use an image pickup element whose image pickup surface consists of plural blocks, regardless of the presence/absence of defects and the pattern of the detects.例文帳に追加
撮像面が複数のブロックからなる撮像素子を欠陥の有無及び欠陥のパターンにかかわらず、1つの撮影装置で使用可能とする。 - 特許庁
This not only prevents the pattern defects due to the level difference caused when carrying out the exposure thereof for forming the sub vernier 104 but also accurately measures the alignment degree thereof.例文帳に追加
それによって、子バーニア104を形成するための露光工程時に段差によるパターンの不良を防止して整列度を正確に測定することができる。 - 特許庁
To provide a method for removing defects or the strain from a non-diamond crystal under high pressure and high temperature (HP/HT) and to provide an electronic device using an improved crystal.例文帳に追加
非ダイヤモンド結晶から高圧高温(HP/HT)で欠陥又は歪みを除去する方法及び改良結晶を用いた電子装置を提供する。 - 特許庁
To provide a timer device and a timing method for instinctively setting the counting time by overcoming the defects intrinsic to the present technique.例文帳に追加
本発明は、現有の技術が有する欠点を克服し、直覚的に計時時間を設定できる定時装置及び定時方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
As such a configuration is adopted, it is possible to prevent process defects by carrying out processes which differ from each other without a vacuum break.例文帳に追加
このような構成を採用したことにより、真空断絶なしに互いに異なる工程を行うことにより工程欠陥を防止することができる。 - 特許庁
To provide a display panel for embodying a new pixel structure with reduced defects during manufacturing stages, a display device equipped with the same, and a driving method.例文帳に追加
製造工程時、欠点を減少させる新しい画素構造を具現するための表示パネルと、これを具備した表示装置及び駆動方法が開示される。 - 特許庁
To provide an inspection device for printed matter capable of detecting flaws that have reduced feature quantities, such as hickey defects, or the like, and to provide an inspection method for the printed matter.例文帳に追加
ヒッキー不良等の特徴量が少ない欠陥を検出することを可能とする印刷物検査装置及び印刷物検査方法を提供する。 - 特許庁
The monitoring device analyzes the new information received from the PLC or the sensor in response to a request 15 of a user or the detection of defects or an abnormality of the machining device and compares the new information with the reference information of the base 12.例文帳に追加
そのコンピュータは、コントローラが発生した制御信号及び加工装置に搭載されたセンサからのステータス信号を記録する。 - 特許庁
The stress release 16 can check defects such as the generation of cracks in the thermoelectric element 10 due to stress generated in the thermoelectric element 10.例文帳に追加
応力緩和部16によって、熱電素子10内に生じる応力によって熱電素子10内に亀裂が生じる等の不良を抑制することができる。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a thin-film transistor, with which defects of a gate wiring and a gate electrode can be reduced and a thin- film transistor with proper characteristics can be manufactured.例文帳に追加
ゲート配線およびゲート電極の欠陥を低減でき、特性の良好な薄膜トランジスタを製造できる薄膜トランジスタの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide an aviation obstruction light capable of preventing defects due to an electric field, or a malfunction or a damage of a semiconductor switching element, even under a comparatively strong electric field.例文帳に追加
比較的強い電界中に設置された場合でも、その電界による不具合や半導体スイッチング素子の誤動作ないし破損を防止することができる。 - 特許庁
To prevent the generation of defects such as the breakage of a transfer sheet and the heavy manner rotation generated by the contact of an emboss roller with a base to be transferred.例文帳に追加
転写シートが破れたり、エンボスローラが被転写基材に当たって回転が重くなる等の不具合発生を防いで、転写とエンボス加工をする。 - 特許庁
To provide a precursor polymer for fibers which solves the defects of the conventional technique, and particularly has desired quality relating to the production of born nitride fibers.例文帳に追加
従来技術の欠点を解決し、特にチッ化ホウ素繊維の製造に関する所望の質を有し、繊維のための前駆体ポリマーを提供すること。 - 特許庁
By the manufacturing method of the nitride semiconductor, the mass production of the nitride semiconductor with a significantly reduced number of internal crystal defects, dislocations or cracks is enabled.例文帳に追加
これにより、内部の結晶欠陥、転位又はクラックの発生を大きく減少させた窒化物の半導体を低コストで大量生産が可能である。 - 特許庁
To provide a method for producing a lithium phosphate sintered compact capable of obtaining a bulk body free from macrosized internal defects and having high density, and to provide a sputtering cathode.例文帳に追加
マクロサイズの内部欠陥がなく、高密度なバルク体を得ることができるリン酸リチウム焼結体の製造方法およびスパッタリングカソードを提供する。 - 特許庁
To provide a method and a system for producing a semiconductor-grade single crystal substantially free of undesirable amounts or sizes of agglomerated defects.例文帳に追加
望ましくない程度又は大きさの凝集した欠陥を実質的に有さない半導体級単結晶を製造するための方法及びシステムの提供。 - 特許庁
To provide a method for electron beam welding of aluminum or an aluminum alloy material which does not create weld defects, which is excellent in safety and which yields high joint strength.例文帳に追加
溶接欠陥がなく、安全性が優れていると共に継ぎ手強度が高いアルミニウム又はアルミニウム合金材の電子ビーム溶接方法を提供する。 - 特許庁
If the overlapping length of the ion implantation region and the LOCOS oxide film is 3 μm or more, the occurrence of the crystal defects can be increased further.例文帳に追加
また、イオン注入領域とLOCOS酸化膜のオーバーラップ量を3μm以上とすれば、より結晶欠陥の発生割合を高めることができる。 - 特許庁
To prevent the occurrence of defects in an optical film formed on a transparent substrate (a defective fraction of a photomask blank) and to improve the production yield of a photomask blank.例文帳に追加
透明基板上に成膜された光学膜の欠陥発生(フォトマスクブランクの不良率)を抑制してフォトマスクブランクの製造歩留まりを高めること。 - 特許庁
To solve the problem that a technique of periodically updating control software for printers cannot deal with defects of driver software utilized at the side of personal computers.例文帳に追加
プリンタ用の制御ソフトウエアを定期的に更新する技術では、パーソナルコンピュータ側で運用されるドライバーソフトウエアに不具合があった場合には対処できない。 - 特許庁
To overcome the defects of conventional adsorbents, and to improve both of the adsorption and desorption performance of a highly crosslinked adsorbent.例文帳に追加
従来の吸着剤の欠点を克服すること、並びに高度に架橋した吸着剤の吸着および脱着性能の双方を向上させる。 - 特許庁
To provide a semiconductor manufacturing device capable of specifying defects increased or dissipated before and after a predetermined process of a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加
半導体製造工程の所定の工程の前後で増加又は消失した欠陥を特定することが可能な半導体製造装置を提供する。 - 特許庁
To prevent broken wire defects due to electromigration which occurs in fine wiring of copper by forming a pattern for compensation which supplies copper.例文帳に追加
銅の微細配線で発生することが判ったエレクトロマイグレーションによる断線不良を銅を供給する補償用パターンを形成することで解決を図る。 - 特許庁
To reduce defects caused by human errors in each production lot when manufacturing a semiconductor device by mounting semiconductor chips on a substrate.例文帳に追加
半導体チップが基板上に実装されてなる半導体装置をロット単位で製造するに際し、人為的なミスに起因する不具合の発生を低減する。 - 特許庁
The main heating device is positioned on the inside or at the outside of the main chamber and heats the liquid crystal array up to a first temperature and informs of the defects of the liquid crystal array.例文帳に追加
主加熱装置は、主チャンバの内側又は外側に位置し、液晶アレイを第一温度まで加熱し、液晶アレイの欠陥を知らせる。 - 特許庁
Moreover, since discharging is performed perpendicularly to the insulating substrate, the wiring pattern is not affected by dust or defects on the insulating substrate and no faulty pattern is formed.例文帳に追加
また、絶縁基板に対して垂直に吐出することで、ほこりや絶縁基板に存在する欠陥に影響されず、パターン不良を発生させない。 - 特許庁
Even when the coating liquid after long-term storage is applied on the substrate surface, a photoreceptor of high performance with extremely little image defects can be manufactured.例文帳に追加
この塗工液を長期間保管した後に基材表面に塗工しても、画像欠陥がきわめて少ない高性能の感光体を製造することができる。 - 特許庁
To provide a positive type photoresist composition which ensures improved line edge roughness and suppressed occurrence of development defects in the production of a semiconductor device.例文帳に追加
半導体デバイスの製造において、ラインエッジラフネスが改善され、現像欠陥の発生が軽減されたポジ型フォトレジスト組成物を提供すること。 - 特許庁
To provide a high-quality nitride semiconductor template for an LED which has minimized potential defects, and a method for manufacturing the template quickly and efficiently.例文帳に追加
最小化された電位欠陥を有する、LED用の良質の窒化物半導体テンプレート、およびそれを迅速かつ効率よく製造する方法の提供。 - 特許庁
To provide a piezoelectric/electrostrictive membrane element having a large flexural displacement with suppressed disadvantages such as the occurrence of micro cracks and lattice defects due to a concentrated stress.例文帳に追加
屈曲変位が大きく、応力集中に起因するマイクロクラックや格子欠陥等の不具合が発生し難い圧電/電歪膜型素子を提供する。 - 特許庁
To reduce the number of pinholes as surface defects in a nitride film formed by cathode arc type ion plating and to obtain a film structure having enhanced leaching resistances.例文帳に追加
カソードアーク式イオンプレーティング法による窒化膜の表面欠陥であるピンホール数を減少させて、耐溶出性を強化した膜構造を提供する。 - 特許庁
To provide a user interface system having interchangeability with an Internet for supporting a process including the sequence of sub-tasks by preventing the defects of a conventional technology.例文帳に追加
従来技術の欠点を回避してサブタスクのシーケンスを含むプロセスを支援するインターネットとの互換性を有するユーザインタフェースシステムを提供することである。 - 特許庁
To provide a semiconductor substrate which suppresses defects of temperature rise generated in an SOI wafer, and which forms an integrated circuit of high reliability.例文帳に追加
SOIウェハに生じる温度上昇の欠点を抑え、信頼性の高い集積回路を形成するための半導体基板を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a laser welding method for steel plates, by which method high joint strength can be stably achieved in high productivity without causing welding defects.例文帳に追加
本発明は、高い生産性で、溶接欠陥がなく、安定して高い継手強度が得られる鋼板のレーザ溶接方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a silicon wafer which eliminates crystal defects in a wafer surface layer and further improves gettering performance, and to provide a method for manufacturing the silicon wafer.例文帳に追加
ウェーハの表層部には結晶欠陥が存在せず、しかもゲッタリング能力をより向上させたシリコンウェーハ、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
This method grows the nitride semiconductor layer grid-mismatched or heat-mismatched with a substrate 12 on the substrate without crystal defects.例文帳に追加
本方法は、基板12に対して格子不整合又は熱不整合の窒化物半導体層を結晶欠陥なく基板上に成長させる方法である。 - 特許庁
Through the above heat treatment, crystalline defects generated by the proton irradiation can be restored and protons present in the crystal can be converted to donors when irradiated.例文帳に追加
上記熱処理により、プロトンの照射により生じた結晶欠陥は回復し、なおかつ、照射されて結晶中に存在するプロトンがドナー化する。 - 特許庁
To provide a low-phosphorus coolant composition which contains a phosphate and exhibits the excellent effects of the phosphate while satisfactorily alleviating the defects thereof.例文帳に追加
リン酸塩を含んでいてその優れた効果を有し、しかもリン酸塩の持つ欠点が見事にカバーされた低リン系冷却液組成物を提供すること。 - 特許庁
To provide a positive type photoresist composition which solves the problem of development defects in the production of semiconductor devices and is excellent also in suitability to halftone exposure.例文帳に追加
半導体デバイスの製造において、現像欠陥の問題を改善し、更にハーフトーン露光適正にも優れたポジ型フォトレジスト組成物を提供すること。 - 特許庁
To provide an error inspection method to solve or decrease conventional defects or problems associated with packet switching in a high-speed switching environment.例文帳に追加
高速スイッチング環境でパケットを切り換えることに付随する従来の欠点及び問題を軽減又は解消する誤り検査方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a means for reducing connection defects between semiconductor chips in a semiconductor device which has the plurality of semiconductor chips stacked on a substrate.例文帳に追加
複数の半導体チップが基板上に積層されている半導体装置において、半導体チップ間の接続不良を低減する手段を提供する。 - 特許庁
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|