「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(80ページ目) - Weblio英語例文検索

The laser marker device 22 has a plurality of laser markers provided with buffers holding position coordinate data including the positions of the defects sent from the control unit 23.例文帳に追加

レーザマーカ装置２２は、制御部２３から送信された欠陥の位置を含む位置座標データを保持するバッファが設けられた複数のレーザマーカを有する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a polarizing film with few dotted defects resulting from microorganisms composed of a polyvinyl alcohol type polymer film.例文帳に追加

本発明の目的は、微生物に由来する欠点数が少ないポリビニルアルコール系重合体フィルムからなる偏光フィルムの製造法を提供することにある。 - 特許庁

The liquid ejected from the nozzles through flushing can flow away, and therefore printing defects caused by accumulation of the liquid can be prevented.例文帳に追加

これにより、フラッシングによりノズルから吐出された液体を垂れ流すことができるため、当該液体の堆積による印刷不良を防止することができる。 - 特許庁

A lightness adjustment and hue adjustment of inspection light were made as a means of maintaining the lightness and hue of the inspection light in inspecting piezoelectric ceramics for defects.例文帳に追加

圧電セラミックスの欠陥検査時の検査光の明度，色相を一定にする手段として，検査光の明度調整，色相調整を行った。 - 特許庁

Its mechanism is not interpreted in detail, however, it is predicted that formation of an electric dipole due to various point defects and non-bridging oxygen, etc., is concerned.例文帳に追加

そのメカニズムは詳細に解明されていないが、種々の点欠陥や非架橋酸素等による電気双極子の形成が関与していると推測される。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device, which can reduce defects in damascene wiring by decreasing the concentration of impurities contained in the damascene wiring.例文帳に追加

ダマシン配線に含まれる不純物の濃度を低下させて、配線中の欠陥を低減させる事が可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide carbon fibers which have a radial structure at least at part of a cross-sectional structure, and do not substantially have defects on the surfaces of the fibers.例文帳に追加

断面組織の少なくとも一部がラジアル構造であり、かつ繊維表面に実質的に欠損が存在しない炭素繊維を提供すること。 - 特許庁

To provide a vertical semiconductor wafer board capable of heating the surface of a semiconductor wafer at a uniform temperature without generating defects on supported parts of the semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェーハの被支持部に欠陥の発生がなく、ウェーハ面内の温度均一な加熱が可能な縦型半導体ウェーハボートを提供する。 - 特許庁

To provide a wafer with the defects of an epitaxial film being very few, in an epitaxial wafer using a sub wafer containing B in high concentration, and its manufacturing method.例文帳に追加

Ｂを高濃度に含むサブウェーハを用いるエピタキシャルウェーハにおいて、エピタキシャル膜の欠陥が極めて少ないウェーハとその製造方法の提供。 - 特許庁

To eliminate various stack defects even when printing on an envelope with an opened flap part by accurately and smoothly delivering the envelope to a predetermined position on a stacker.例文帳に追加

フラップ部を開いた封筒を印刷する場合でも、スタッカ上の所定位置へ正確かつ円滑に排出することにより、各種スタック不良を解消する。 - 特許庁

To provide a chemical vapor infiltration method capable of correcting the defects and capable of highly densifying a porous base material with a controlled microstructural substance.例文帳に追加

その欠点を矯正し、多孔性の基材が、制御された微細構造の物質で高密度化されることを可能とする化学気相浸透方法の提供。 - 特許庁

To improve picture quality defects such as a luminance inclination and a smear by reducing the wiring resistance of a power supply bus wiring line supplying electric power to an organic EL element.例文帳に追加

有機ＥＬ素子に電力を供給する電源バス配線の配線抵抗を低減して、輝度傾斜やスメア等の画質不艮を改善する。 - 特許庁

To minimize decrease in breakdown voltage or increase in leakage current caused by crystal defects of an impurity layer at the tips of a trench constituting a super junction structure.例文帳に追加

スーパージャンクション構造を構成するためのトレンチの先端での不純物層の結晶欠陥を要因とする耐圧低下やリーク電流増加を抑制する。 - 特許庁

To provide a heat development apparatus in which jam in conveyance and image defects are not caused even if dew condensation occurs in the apparatus and a user does not notice that.例文帳に追加

装置に結露が生じても使用者がこれに気づかなかったとしても、搬送ジャムの発生や、画像欠陥が生じない熱現像装置を提供する。 - 特許庁

To economically and stably prevent surface defects of an ingot of metal of high melting point, which is manufactured by a consumable electrode type vacuum arc melting method.例文帳に追加

消耗電極式真空アーク溶解法により製造される高融点金属インゴットの表面欠陥を経済的に、且つ、安定的に防止する。 - 特許庁

To provide a development device and a substrate treatment method which can eliminate defects on a photosensitive film readily and effectively in a short time.例文帳に追加

感光性膜上の欠陥を短時間で容易かつ効果的に除去することができる現像装置および基板処理方法を提供することである。 - 特許庁

Defects with no holes formed are linearly arranged along the propagating direction of the signal light, with a linear defect waveguide 6 thereby formed.例文帳に追加

空孔が形成されない欠陥を信号光の進行方向に沿って線状に配置させることによって、線欠陥導波路６が形成されている。 - 特許庁

To realize stable optical coupling with little changeover time by making a core and a clad of glass materials and preventing defects to semiconductor laser beam.例文帳に追加

コアとクラッドをそれぞれガラス材により構成し、半導体レーザ光に対する欠陥を防止し経時変化の少ない安定した光結合を実現する。 - 特許庁

To provide a laser machining method capable of performing excellent welding without any welding defects even when welding a three-dimensional shape.例文帳に追加

３次元形状の溶着においても、溶着不具合を発生することもなく、良好な溶着を行うことができるレーザ加工方法を提供する。 - 特許庁

To improve an interconnecting line in flatness and processability so as to obtain an embedded wiring structure which is free from defects and highly improved in flatness.例文帳に追加

配線形成時の平坦化及び加工性能を向上させ、欠陥のない、高い平坦性を有する埋込み配線構造が得られるようにする。 - 特許庁

To provide a pattern-forming method which reduces the number of defects formed in a resist film to provide a satisfactory yield, in lithography using a short-wavelength light source.例文帳に追加

短波長光源を用いたリソグラフィーにおいて、レジスト膜中に形成される欠陥数を低減し、歩留まりのよいパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

The probability that defects occur on the transparent EL panels 28a, 28b, 28c during a manufacturing process becomes extremely small, and the yield is improved.例文帳に追加

これにより、製造工程において透明ＥＬパネル２８ａ、２８ｂ、２８ｃに欠陥が発生する率はきわめて小さくなるから、歩留まりが向上する。 - 特許庁

To provide a printed circuit board which can be made fine in pitch of a wiring pattern, without causing defects in the wiring pattern, and to provide a manufacturing method thereof.例文帳に追加

配線パターンの不良を生じることなく、配線パターンのファインピッチ化が可能な配線回路基板およびその製造方法を提供することである。 - 特許庁

Then surface defects which occur on the main surface 2A of the foundation film 2 are removed by heat-treating the main surface 2A in an atmosphere containing a reducing nitrogen.例文帳に追加

次いで、下地膜２の主面２Ａを還元性の窒素を含む雰囲気中で熱処理し、下地膜２の主面２Ａ上の表面欠陥を除去する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for manufacturing a high quality particulate artificial crystal which is free of defects, such as a crack, with excellent controllability.例文帳に追加

クラックなどの欠陥のない高品質な微粒子人工結晶を制御性良く得るための製造装置および製造方法を提供すること。 - 特許庁

The pressure of a dicing blade 60 can surely be transmitted to the adhesive and the occurrence of the cutting defects of the sensor chip 10 can be prevented.例文帳に追加

従って、ダイシングブレード６０の押圧を接着剤に確実に伝達することができ、センサチップ１０の切断不良の発生を防止することが可能となる。 - 特許庁

In response to the selection of a type of fault by the operator, the software activates a dialogue, by means of the associated data structure, to input parameters describing the defects.例文帳に追加

オペレータにより障害のタイプの選択に応答して、ソフトウエアは、関連するデータ構造により、対話を開始して、欠陥を記述するパラメータを入力する。 - 特許庁

To improve defects of a conventional device by proposing a signal regenerating device which is capable of regenerating a signal containing information encoded by phase modulation.例文帳に追加

位相変調により符号化された情報を含む信号を再生できる信号再生装置を提案することにより、従来の装置の欠点を改良する。 - 特許庁

To provide a method of forming a SiGe bipolar transistor substantially excluding dislocation defects present between an emitter and collector region.例文帳に追加

エミッタ領域とコレクタ領域の間に存在する転位欠陥を実質上含まないＳｉＧｅバイポーラ・トランジスタを形成する方法を提供すること。 - 特許庁

In another embodiment, the formation position of each semiconductor element in the wafer surface is determined based on the information so that dislocation and lamination defects are avoided.例文帳に追加

別の態様では、当該情報に基づいて、ウェハ面内における各半導体素子の形成位置を、転位、積層欠陥を避けるように決定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit wafer capable of reducing defects in bonding and improving reliability in connection without scars on a bonding pad.例文帳に追加

ボンディングパッドに傷跡を残さず、かつボンディングの不良の削減や接続の信頼性を向上することが可能な半導体集積回路ウエハを提供する。 - 特許庁

To provide an electron gun which generates electron beams by which CL signals with high luminance are obtained from an extremely micro amount of defects and impurities, and which is controllable to a large current.例文帳に追加

極微量の欠陥や不純物から、高い輝度のCL信号を得、大電流まで制御可能な電子ビームを発生させる電子銃を提供する。 - 特許庁

The image processing section 16 processes a plurality of side images I obtained by the camera 22 each, and detects defects D in the respective side images I.例文帳に追加

画像処理部１６は、カメラ２２が取得した複数の側面画像Ｉを個々に処理して、各々の側面画像Ｉにおける欠点Ｄを検出する。 - 特許庁

To provide an arc welding method that suppresses occurrence of welding defects and that greatly reduces sputters, in performing welding in a single bevel groove.例文帳に追加

レ形開先内の溶接を行う際に、溶接欠陥の発生を抑制すると共にスパッタを大幅に低減させるアーク溶接方法を提供する。 - 特許庁

To provide a signal reproducing unit enabling stable reproduction by detecting defects in an optical disk more accurately than before.例文帳に追加

従来の方式に比べてより正確に光ディスクの欠陥を検出することでより安定に再生することが可能となる信号再生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a diamond single crystal which is transparent in an ultraviolet region up to 250 nm over whole crystal and almost free from crystal defects, crystal strains, and impurities.例文帳に追加

結晶全体にわたって、２５０ｎｍまでの紫外域において透明で、かつ結晶欠陥や歪み、不純物の小さいダイヤモンド単結晶の提供。 - 特許庁

To provide a method for stably manufacturing a high quality bulk single crystal of SiC that has a reduced amount of polymorhs and crystal defects at a practical speed.例文帳に追加

結晶多形および結晶欠陥の少ない高品質なＳｉＣのバルク単結晶を実効的な速度で安定して製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detecting device, capable of monitoring the presence of defects by regarding the gear that has a synthetic resin-made gear part as the gear to be inspected.例文帳に追加

合成樹脂製のギヤ部を有する歯車を被検歯車としてその損傷を有無を監視することができる歯車の損傷検出装置を提供する。 - 特許庁

The Ge layer is formed in an island shape which does not exceed twice the distance which crystal defects move when annealed at the annealing temperature and in the annealing time.例文帳に追加

Ｇｅ層は、アニールした場合に、アニールの温度および時間において結晶欠陥が移動する距離の２倍を越えない大きさの島状に形成する。 - 特許庁

To provide an automatic adjusting and control structure for liquid for writing having excellent performance solving such defects as liquid leakage, complexity and low performance.例文帳に追加

液漏れ、複雑さ、低性能という欠点を克服するような優れた性能を有する、筆記用液体のための自動調整制御構造を提供する。 - 特許庁

To provide a device structure and a manufacturing method which reduce surface and interface defects, which become the causes for reducing efficiency, in a photovoltaic device.例文帳に追加

光起電力デバイスにおいて、効率を低下させる原因となる表面及び界面欠陥を低減するデバイス構造、および製造方法を提供する。 - 特許庁

Only a quartz substrate 11 having a predetermined number or less of defects having diameters of 0.1 to 0.5 μm is taken out and used as a film forming substrate (a substrate selecting step).例文帳に追加

そして、直径０．１〜０．５μｍの欠陥数が所定の個数以下の石英基板１１のみを抜き取って成膜用基板とする（基板選別工程）。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a simplified structure and capable of suppressing metal ions from entering an light reception section and image defects or the like from occurring.例文帳に追加

簡単な構造で、金属イオンの受光部への侵入を抑制し、画像欠陥等の発生を抑制することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

Further, in a review object selection processing 14, the defects are aligned and narrowed from the defect map data with the failure probability and a review object is selected.例文帳に追加

さらに、レビュー対象選出処理１４で、不良確率付き欠陥マップデータから欠陥の整列や絞込みを行い、レビュー対象を選出する。 - 特許庁

To provide a molding die eliminating defects arising on the surface of a molded product by uniformly cooling a gate provided in the die.例文帳に追加

本発明は、金型に設けられたゲートを均一に冷却し、成形製品の表面に生じる欠陥を無くすことができる成形金型を実現する。 - 特許庁