「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(84ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a magnetic flux leakage flaw detection apparatus which is installed in an assembly line manufacturing magnetic materials, especially sheet irons (thin plates) to detect internal defects and surface defects of a member to be detected and especially to provide a sensitivity calibration means which conducts the sensitivity calibration of a magnetic sensor detecting magnetic flux leakage easily and with high precision.例文帳に追加

本発明は、磁性材、特に薄鋼板（薄板）を製造するラインに設置して被探傷材の内部欠陥、表面欠陥を探傷する漏洩磁束探傷装置に関し、特に、漏洩磁束を検出する磁気センサの感度校正を簡便かつ高精度に行う感度校正手段を提供する。 - 特許庁

To provide a high-quality GaN semiconductor light-emitting element which can be improved in electrical characteristics and optical characteristics by reducing defects such as Ga voids or the like by doping Al when growing GaN and reducing defects by lattice mismatch such as dislocation or the like, and also to provide a manufacturing method thereof.例文帳に追加

本発明はGaN成長時AlをドープすることによりGa空孔のような欠陥を減少させると共に転位などのような格子不整合による欠陥を減少させ、電気的特性及び光学的特性を向上させられる高品質GaN半導体発光素子及びその製造方法に関するものである。 - 特許庁

That is, when metal in complex ion is adhered to the fuel cell separator 10 by electrodeposition treatment, in addition to a power generation region, the metal is also adhered to a part where a surface (a surface of the separator base material) is exposed by the defects 32 of the resin coat 30, and a metal coat 40 is formed at the part of the defects 32.例文帳に追加

つまり、電着処理により燃料電池セパレータ１０に錯イオン中の金属を付着させる際に、発電領域に加えて、樹脂コート３０の欠陥３２により表面（セパレータ基材の表面）が露出した部分にも金属が付着し、欠陥３２の部分に金属コート４０が形成される。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a color filter for a liquid crystal display device, with which errors in detecting shape defects are reduced without sacrificing inspection efficiency in detecting the translucent patterned shape defects such as photo-spacers, alignment control protrusions and so on formed on the color filter by using a visual inspection device for the color filter.例文帳に追加

カラーフィルタ用の外観検査機を用いてカラーフィルタ上に形成されたフォトスペーサーや配向制御突起など半透明パターンの形状欠陥を検出する際に、検査の効率を犠牲にせず、形状欠陥の検出のエラーを減少させる液晶表示装置用カラーフィルタの検査方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

Then, only when the recognized defect part which is determined that there are no defects therein by the electron microscope unit 2, is review carried out by an optical microscope unit 4, is the information based on the reviewed result as to whether defects exist in the recognized defect part, output to the defect information classifying section 6 by a second determining section 5.例文帳に追加

続いて、電子顕微鏡ユニット２で欠陥が無いと判定された認定欠陥部位のみについて、光学顕微鏡ユニット４によりレビューし、その結果に基づき、第２の判定部５により認定欠陥部位における欠陥の有無の情報が欠陥情報分類部６に出力される。 - 特許庁

To provide a front loading evaluation device evaluating not only the number of defects in a process but also evaluating a degree of divergence between a defect generation process and a detection process, so that the number of outflow defects and outflow state to a downstream process are obtained, and the progress of improvement activity relating to front loading can be evaluated.例文帳に追加

工程内の欠陥数の評価だけでなく、欠陥の発生工程と発見工程の乖離度をあわせて評価することにより、流出欠陥数と下流工程への流出状況を把握し、フロントローディングに関する改善活動の進捗状況を評価できるフロントローディング評価装置を得ること。 - 特許庁

To obtain a multicolor blur-free image exhibiting excellent light fastness and waterproofness with high resolution and high registration accuracy by eliminating the defects of ink jet, i.e., limitation of imaging material and clogging of nozzle, and improving the defects of thermal transfer system, i.e., thermal damage of a supporting material and unevenness of image.例文帳に追加

インクジェットの欠点である画像形成材料の制限とノズル詰まりの問題を解決し、熱転写方式の欠点である熱による支持体の損傷と画像の不均一さを改善し、耐光性、耐水性に優れ、ニジミの無い画像を高解像度で、且つ多色の画像を見当精度良く作製する。 - 特許庁

A spatial filter is applied to the photographed image for emphasizing a section where the brightness changes, the emphasized section is binarized for detecting close defects without any overlap, and it is judged whether the defect is a true defect or a noise based on the amount of feature at the detected section to count the number of defects.例文帳に追加

撮影画像に対して空間フィルタを適用して輝度が変化する部分を強調し、当該強調した部分を２値化することによって近接した欠陥も重なることなく検出し、その検出した部分の特徴量を基に欠陥かノイズかを判別して欠陥個数を計数する。 - 特許庁

Also, if the polarization state of the reflected light is different from the ideal polarization state beyond the permissible value in the area excluding the site where the large defects are determined to be present, it is determined that there are small defects in the irradiated site in a part of the individual recess part and convex part.例文帳に追加

また、上記大きな欠陥が存在していると判断した部位を除く領域において、反射光の偏光状態が理想の偏光状態に対して許容値を超える差を生じている場合には、その照射位置に、個々の凹部や凸部の一部に形成されている小さな欠陥が存在すると判断する。 - 特許庁

By preparing an inspection plate 100 and making a master information carrier 2 closely contact the plate 100 for inspection instead of a direct defect inspection using the master information carrier, defects on the master information carrier 2 are transferred to the plate 100 for inspection, and the defects are indirectly inspected on the plate 100.例文帳に追加

マスタ情報担体での直接的な欠陥検査に代わって、検査用基板１００を用意し、マスタ情報担体２を検査用基板１００に密着させることにより、マスタ情報担体２上の欠陥を検査用基板１００に転写し、検査用基板１００において間接的にマスタ情報担体２の欠陥を検査する。 - 特許庁

Functions of calculating a compensation accuracy after a coordinate compensation and displaying it with a vector 39, of determining magnifying ratio automatically in automatically detecting foreign goods/defects after the compensation from the informations gained, and of calculating incidence of foreign goods/defects and time needed from the search magnifying factor and measurement conditions are provided.例文帳に追加

座標補正後の補正精度を算出し、ベクトル３９を用いて表示する機能、得られた情報から座標補正後異物／欠陥を自動検出する際の探索時の倍率を自動で決定する機能、また探索倍率と測定条件から異物／欠陥の出現率とかかる時間を算出する機能を設けた。 - 特許庁

This method for removing projecting defects consists of removing the projecting defects on the aluminum tube stock surface by irradiating the aluminum tube stock 1 with an ultrasonic wave b in the washing stage for the aluminum tube stock 1 for the photoreceptor to positively raise the aluminum deposit on the tube stock surface and rubbing and washing the aluminum tube stock surface by a brush in this state.例文帳に追加

感光体用のアルミ素管１の洗浄工程において、超音波ｂをアルミ素管１に照射することにより、素管表面のアルミ熔着物を積極的に起き上がらせ、この状態で、アルミ素管表面をブラシｃで摺擦洗浄することにより、アルミ素管表面の凸欠陥ｅを除去する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus, an inspection method, and a sensor output correction method that image a target to be inspected by a one-dimensional or two-dimensional photoelectric conversion image sensor, improving the contrast of a detection image to be detected, reducing the non-detection and a false report of defects, and also detecting fine defects.例文帳に追加

被検査対象から一次元もしくは二次元の光電変換イメージセンサで撮像して検出される検出画像のコントラストを向上させて欠陥の見逃しや虚報を低減し、微細な欠陥も検出可能にした検査装置及び検査方法並びにセンサ出力補正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a welding method suppressing effectively and efficiently the backward flow of molten metal at the time of high speed welding by using an electromagnetic action and preventing weld defects such as the defects, etc., of the undercut, etc., of weld beads resulting from the speeding-up of a welding in a multiple electrode submerged arc welding method.例文帳に追加

多電極のサブマージアーク溶接方法において、高速溶接時の溶融金属の後方への湯流れを電磁気作用を利用して有効且つ効率的に抑制し、溶接速度の高速化に伴う溶接ビードのアンダーカット等の欠陥等の溶接欠陥を防止する溶接方法を提供する。 - 特許庁

To provide a production method of a polyimide film free of defects by detecting defects such as coating irregularity or coating stripes on a film surface during production in an early stage, specifying the cause of coating irregularity by using the detection results and taking countermeasure, so as to prevent occurrence of coating irregularity of coating stripes.例文帳に追加

本発明は、製造途中においてフィルム表面の塗工ムラ・塗工スジといった欠陥を早期に発見し、その結果を利用して塗工ムラ原因の特定、対策を取ることで、塗工ムラや塗工スジ発生の防止を行い、欠陥の無いポリイミドフィルムの製造方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a method of inspecting pattern defects which automatically detects coating defects in fluorescent material coated on a glass substrate of a plasma display or the like, without being influenced by a coating pattern, such as a lattice-like fluorescent coating film, is easily installed in a production line of a panel, and realizes low-priced and high-speed defect inspection.例文帳に追加

プラズマディスプレイ等のガラス基板に塗布された蛍光体の塗布欠陥を格子状蛍光体塗布膜等の塗布パターンに影響されず高感度に自動検出し、また、パネルの製造ラインに容易に設置でき、低価格、高速度の欠陥検査を実現したパターン欠陥検査方法を提供することである。 - 特許庁

When a defective sector with data defects is detected as the result of a data read failure upon read access to a logic disk 12, a data defect registering part 113 causes defect information that indicates the data defects in the defective sector to be recorded in the defective information area of an alternative sector to which the defective sector is allocated.例文帳に追加

データ欠損登録部１１３は、論理ディスク１２へのリードアクセス時のデータ読み出し失敗によりデータ欠損のある不良セクタが検出された場合、当該不良セクタに関し、当該不良セクタが割り当てられる代替セクタの欠損情報領域に“データ欠損あり”を示す欠損情報を記録する。 - 特許庁

In dry etching using a resist pattern 13 for patterning a silicon nitride film 12 and a silicon oxide film 11, introduction defects in growth in the silicon substrate 10, which cause conical-pattern defects, are removed by digging a surface part of a separation groove forming region of the silicon substrate 10 at overetching.例文帳に追加

シリコン窒化膜１２及びシリコン酸化膜１１をパターン化するためのレジストパターン１３を用いたドライエッチングにおいて、オーバーエッチング時にシリコン基板１０における分離用溝形成領域の表面部を掘り下げることにより、円錐状パターン欠陥の原因となるシリコン基板１０中の成長時導入欠陥を除去する。 - 特許庁

Or the detection of the untrue defects can be suppressed and the pattern can be rapidly inspected by setting the selected area to reference data by using a conversion part, reading a predetermined threshold corresponding to inspection accuracy of each area and determining and detecting the defects.例文帳に追加

また、本発明によれば、変換部で基準データに選択エリアを設定し、欠陥判定部でアルゴリズムを用いて、各エリアの検査精度に応じた所定のしきい値を読み出し、欠陥の判定、検出を行うことにより、擬似欠陥の検出を抑制しつつ、かつ迅速なパターン検査をすることが可能である。 - 特許庁

To provide an exposure mask, capable of improving uniformity of a resist film thickness of a half film thickness part and reducing display defects to increase a manufacturing yield, to provide a method of manufacturing a TFT substrate which uses the exposure mask, and to provide a liquid crystal display comprising the TFT substrate manufactured by the method and which does not have display defects.例文帳に追加

ハーフ膜厚部分のレジスト膜厚の均一性を向上させ、表示不良を低減して製造歩留まりを向上することのできる露光用マスク、該露光用マスクを用いた薄膜トランジスタ基板の製造方法、該方法により製造された表示不良のない液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a crystal defect inspection method and a crystal defect inspection apparatus capable of detecting the positions of dislocation and lamination defects precisely and speedily with high sensitivity, when inspecting the in-plane distribution of dislocation and lamination defects existing in the epitaxial film of a silicon carbide single-crystal wafer for manufacturing a semiconductor element by an electroluminescence method.例文帳に追加

エレクトロルミネッセンス法により半導体素子製造用の炭化珪素単結晶ウェハのエピタキシャル膜に存在する転位や積層欠陥の面内分布を検査する際に、転位や積層欠陥の位置を高感度かつ高精度で、さらに高速で検出可能な結晶欠陥検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

The method of detecting the defects of the optically transparent member detects the existence of the refractive index discontinuity defects by using a polarization microscope, for which the area ratio for the intensity ratio of light of wavelength 650-750 nm to light of wavelength 250-650 nm is 0.4 or larger for the wavelength distribution of observation light.例文帳に追加

光透過性部材の欠陥検出方法であって、観察光の波長分布が波長２５０〜６５０ｎｍの光に対する波長６５０〜７５０ｎｍの光の強度比が面積比で０．４以上である偏光顕微鏡を用いて、屈折率不連続欠陥の有無を検出することを特徴とする欠陥検出方法。 - 特許庁

This display controller 4 can shorten an inspection time necessary for a visual inspection process, since the controller includes a display control unit 7 which excludes, from display objects on the occasion of the visual inspection process, lighting patterns for detecting defects belonging to inspection items determined to have no defects in an automatic inspection process.例文帳に追加

本発明の表示制御装置４は、目視検査工程の際、自動検査工程において欠陥がないと判定された検査項目の欠陥を検出するための点灯パターンを表示対象から除外する表示制御部７を備えているので、目視検査工程に要する検査時間を短縮することができる。 - 特許庁

To provide a nonmagnetic monocomponent color toner which satisfies optimum conditions with respect to a toner particle size distribution, which will not cause primary image defects, such as fog and cleaning defects, and is free from problems, such as rise in the image density and defacing of thin lines, even in a life time test of continuous printing.例文帳に追加

トナー粒径分布に関しての最適条件を満足し、かぶりやクリーニング不良などの初期的な画像不良を生じることがなく、連続印字のライフテストにおいても、画像濃度の上昇や細線のつぶれなどの不具合がない非磁性一成分カラートナーを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a prediction method and program for accurately predicting characteristic fraction defectives per wafer and contamination fraction defectives per step, a management method of a semiconductor manufacturing device for clearing up the cause on the basis of difference between an occurrence rate of characteristic defects and that of contamination defects per step, and a method of manufacturing a semiconductor device using the management method.例文帳に追加

ウエハごとの特性不良率と工程別の異物不良率を高精度に予測する予測方法とプログラム、および、この特性不良と工程別の異物不良の発生率の違いに基づいて原因を究明する半導体製造装置の管理方法とこれを用いた半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide the manufacturing method of a laminated ceramic capacitor for preventing generation of structure defects, such as delaminations and cracks, even if the ceramic sheet of a thin film is laminated.例文帳に追加

薄膜のセラミックシートを高積層化しても、デラミネーション、クラック等の構造欠陥の発生がない積層セラミックコンデンサの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a two component development method where the flying of a toner with high efficiency is realized, and the stable formation of an image with a high definition picture free from the generation of image defects is made possible.例文帳に追加

効率の良いトナーの飛翔を実現し、画像不良の発生のない安定した高画質な画像形成を可能とする二成分現像方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an R-Fe-B-based rare earth sintered magnet that can sufficiently reduce variance in mass and defects in outward appearance (fracture, chip, crack, etc.).例文帳に追加

質量のばらつきや外観不良（ワレ、カケ、クラックなど）を十分に低減することが可能なＲ−Ｆｅ−Ｂ系希土類焼結磁石の製造方法を提供すること。 - 特許庁

The continuous defect determination method for analyzing distribution morphology based on information regarding surface defects arisen on the thin steel sheet F to determine the presence of continuous defect.例文帳に追加

薄鋼板Ｆに発生する表面欠陥に関する情報を基に分布形態を解析して連続欠陥の有無を判定する連続欠陥判定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a color diffusion transfer photographic sensitive material that does not cause image defects even when exposed to intense light immediately after processing at a low temperature and that produces a good image.例文帳に追加

低温下での処理直後に強い光に曝されても画像の欠陥が発生せず良好な画像が得られるカラー拡散転写写真感光材料を提供する。 - 特許庁

A fault tolerant magnetoresistive solid-state storage device (MRAM) in use performs error correction coding and decoding of stored information, to tolerate physical defects.例文帳に追加

使用時に記憶されている情報の誤り訂正符号化及び復号化を実行して物理的な障害を許容する耐障害性を有する磁気抵抗固体記憶装置(MRAM)。 - 特許庁

A method for removing show-through defects in scanned document images is provided by adjusting the scanner's image sensor calibration gain in the area of a drive roll gap.例文帳に追加

スキャナの画像センサによるドライブロールのギャップ領域のゲインの較正を調整することにより、スキャン文書画像の透き通し不具合を除去する方法を提供する。 - 特許庁

To prevent the occurrence of crystal defects caused by lattice mismatching and strains caused by differences in thermal expansion in a method by which an SiC film is manufactured on an Si substrate through epitaxial growth.例文帳に追加

Ｓｉ基板上にエピタキシャル成長させるＳｉＣ製造方法において、格子不整合による結晶欠陥発生および熱膨張差による歪みを抑制する。 - 特許庁

To provide a pattern defect correcting method and a pattern defect correcting device capable of satisfactorily correcting pattern defects, and enhancing correction efficiency.例文帳に追加

パターン欠陥修正を良好に行なうとともに修正効率の向上を図ることが可能なパターン欠陥修正方法およびパターン欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁

To provide a light radiating device having reduced production costs and preventing sealing defects, and a method of fabricating an organic light emitting diode display device using the same.例文帳に追加

本発明は、製造コストを低減でき、シーリング不良を防止できる光照射装置及びそれを用いた有機電界発光表示装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a long-life image forming device that causes few image defects can easily remove a foreign substance that bites into a cleaning blade without deteriorating the durability of the blade.例文帳に追加

クリーニングブレードにかみこんだ異物を簡単且つブレードの耐久性を損なうことなく除去でき、画像欠陥が少なく長寿命な画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method capable of detecting defects with high accuracy, without having to require time or effort in setting filters, even when an object to be inspected is a complex structural surface.例文帳に追加

複雑な構造面を検査対象とする場合であっても、フィルタ設定に手間が掛からず、欠陥を高精度に検出可能な欠陥検出方法の提供。 - 特許庁

To overcome various defects by providing a sealing system without harmful wear against efficiency of a system for a long period of time without feeding external air.例文帳に追加

外部空気を送達することなく、長期的にシステムの効率に有害な磨耗のないシール構造を提案することによってこれらの様々な欠点の克服を可能にする。 - 特許庁

To provide a transfer film for forming a dielectric layer with less pixel defects and resistant to generate breakdown, and provide a manufacturing method for a PDP(plasma display panel).例文帳に追加

画素欠陥が少なく、絶縁破壊が起こりにくい誘電体層を形成するための、誘電体層形成用転写フィルムおよびＰＤＰの製造方法を提供する。 - 特許庁

A mask blank is prepared (ST11), distribution of the position or size of defects existing in the thin film of the mask blank is inspected (ST12), and a defect map is made (ST13).例文帳に追加

マスクブランクスを準備し（ＳＴ１１）、マスクブランクスの薄膜に存在する欠陥の位置や大きさなどの分布を検査し（ＳＴ１２）、欠陥マップを作成する（ＳＴ１３）。 - 特許庁

Accordingly, prevention of an increase in the size due to bending, improvement on the assembling workability, and removal of contact defects due to thermal deformation, of the flexible printed circuit board, are accomplished.例文帳に追加

従って、可撓性印刷回路基板の折り曲げによるサイズの増加を防止しかつ組み立て性を向上させ、熱変形による接触不良を除去することができる。 - 特許庁

To provide a scratching-off device that is capable of obtaining a contrast improving sheet which reduces streak defects and filling unevenness, and an apparatus for manufacturing the contrast improving sheet and a method for manufacturing the contrast improving sheet.例文帳に追加

スジ不良および充填ムラが低減したコントラスト向上シートを得ることができる掻取装置、シートの製造装置および上シートの製造方法を提供する。 - 特許庁

Consequently, the discharge time of a pixel electrode voltage is shortened; and when a driving power source is turned off, defects in the image quality due to pixel electrode voltage whose discharge speed is low are reduced.例文帳に追加

これによって画素電極電圧の放電時間が減少し、駆動電源が遮断される時、放電速度が遅い画素電極電圧による画質不良が低減する。 - 特許庁

To provide an imprinting method which prevents the occurrence of transfer defects in the releasing of a mold and a resin layer, and an adherence agent and a transfer substrate enabling such an imprinting method.例文帳に追加

モールドと樹脂層との離型時の転写欠陥の発生を防止したインプリント方法と、このようなインプリント方法を可能とする転写基材、密着剤を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device whose display defects can be improved, by sectioning a protrusion in a closed loop shape and increasing the supporting force of a column spacer corresponding thereto.例文帳に追加

突起の断面を閉ループ状に形成し、これに対応するカラムスペーサーの支持力を増大することで、表示不良を改善できる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁