「Mark 12」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

Then, a rotation correcting process is applied to a corrected reference image 14' so that a mark azimuth being the azimuth of the second mark 13 to the first mark 12 of the corrected reference image 14' by the scale factor correcting process shown in Figure (b) becomes approximately the same as a mark azimuth of the comparison image 15.例文帳に追加

次に図（ｂ）に示す倍率補正処理を施された補正参照画像１４’の第１マーク１２に対する第２マーク１３の方位であるマーク方位が比較画像１５のマーク方位と略等しくなるように、補正参照画像１４’に回転補正処理を施す。 - 特許庁

At a correction unit of this endoscope apparatus, a scale factor correcting process is applied to a reference image 14 so that an inter-mark distance being a distance between a first mark 12 and a second mark 13 in the reference image 14 shown in Figure (a) becomes equal to an inter-mark distance in a comparison image 15.例文帳に追加

内視鏡装置の補正部において、まず図（ａ）に示す参照画像１４における第１マーク１２と第２マーク１３間の距離であるマーク間距離が、比較画像１５におけるマーク間距離と等しくなるように参照画像１４に倍率補正処理を施す。 - 特許庁

In addition, an aligner provided with the means for inputting an alignment mark is provided with a means for inputting plurally the alignment mark image, and a buffer 12 which adds the plurally inputted alignment mark image and prepares an added alignment mark image.例文帳に追加

また、位置合わせ用マーク入力手段を備える露光装置は、前記位置合わせ用マーク像を複数回入力する手段と、該複数回入力された位置合わせ用マーク像を加算して、加算された位置合わせ用マーク像を作成する手段であるバッファ１２とを有する。 - 特許庁

In a process to make a patterning of a transparent electrode 12 on a transparent substrate 11, an alignment mark 13 used for positioning of a shadow mask 14 and the transparent substrate 11 on the transparent substrate 11 is formed of an identical material as the transparent electrode 12.例文帳に追加

透明基板11上に透明電極12をパターニングする工程において、透明基板11にシャドーマスク14と透明基板11との位置決めに使用するアライメントマーク13を透明電極12と同一の材料で形成する。 - 特許庁

An auxiliary mark 12 for overlapping accuracy improvement provided with an inner mark 1 having inner mark inside step parts 1a of four sides as detection step parts and an outer mark 2 having outer mark inside step parts 2a as detection step parts formed so as to surround the inner mark 1 and provided almost parallel with the inner mark inside step parts 1a of four sides are provided on a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板の上に、検出段差部としての４つの辺の内側マーク内側段差部１ａを有する内側マーク１と、内側マーク１と同一層において、内側マーク１を取囲ように形成され、４つの辺の内側マーク内側段差部１ａと略平行に設けられた、検出段差部としての外側マーク内側段差部２ａを有する外側マーク２とを含む重ね合せ精度向上用補助マーク１２を備えている。 - 特許庁

Nothing in section 12 (relative grounds for refusal of registration) prevents the registration of a trade mark where the Registrar or the court is satisfied-- 例文帳に追加

第12条(登録拒絶の相対的理由)の如何なる規定も，登録官又は裁判所が次のことに納得する場合は，商標の登録を妨げない。 - 特許庁

A mark 12 is printed on the surface of a bottle 10 and a shielding band 18 is printed in advance on the surface of a packing bag 14 formed of a transparent, gas impermeable film.例文帳に追加

ボトル10の面上にマーク12を印刷し、透光性ガス不透過性のフィルムにて形成した包装バッグ14の面上に遮蔽帯18を予め印刷しておく。 - 特許庁

This device is provided with a handle 11 for rotating a valve stem 2, and an opening/closing display member 12 having an opening/closing display mark viewed from an upper part of the handle 11.例文帳に追加

弁棒2 を回転させるハンドル11と、ハンドル11上方から視認される開閉表示記号28を有する開閉表示部材12とを備えている。 - 特許庁

In this shim 1 for the pin connection having a grip part 11, a mark 12 is formed in the grip part 11 along an outer edge line of a circle to be a concentric circle with the pin hole 10.例文帳に追加

持部11を備えたピン連結用シム1において、ピン孔10と同心円となる円の外縁線に沿った目印12を、持部11に形成させた。 - 特許庁

A shift control device 12 has a housing 24 provided with an instruction portion 42 having a plurality of mark holes 44.例文帳に追加

変速制御装置１２は、複数の印孔４４を有する指示部分４２を備えたハウジング２４を有している。 - 特許庁

A display mark 4 is provided on the resin sealing semiconductor device 30, and a recessed part 11 and a groove 12 are formed.例文帳に追加

表示マーク４は、樹脂封止型半導体装置３０上に設けられ、凹部１１と溝１２が設けられる。 - 特許庁

A first Au layer 51 and a second Au layer are formed on the surfaces of the pads 11 and 12 and the alignment mark.例文帳に追加

パッド１１，１２及びアライメントマークの表面に、直接第一Ａｕ層５１及び第二Ａｕ層を形成する。 - 特許庁

Position information concerning the substrate registration mark formed in the mask R is measured through the projection optical system 12.例文帳に追加

マスクＲに形成された基板位置合わせマークの位置情報を投影光学系１２を介して計測する。 - 特許庁

A server 12 stores advertisement information, and receives a book mark from a provider side terminal 14 to be stored.例文帳に追加

サーバ１２は、広告情報を記憶しており、提供者側端末１４からブックマークを受信して記憶する。 - 特許庁

A metal film 15 is deposited onto the surface of the insulating film 12 including the hole 13 and alignment mark 14.例文帳に追加

これらホール１３およびアライメントマーク１４を含む絶縁膜１２の表面に金属膜１５を堆積させる。 - 特許庁

First, the rust preventive paint 4c side is directed toward the inside surface side of a steel pipe 1 and is brought into tight contact with a mark forming section 12.例文帳に追加

先ず、防錆塗料４ｃ側を鋼管１の内面側に向けて、マーク形成部１２に密着させる。 - 特許庁

An internal electrode pattern 12 and a cut mark 14 are screen-printed on a ceramic green sheet using a conducting paste.例文帳に追加

導電ペーストを用いて、セラミックグリーンシート上に、内部電極パターン１２およびカットマーク１４をスクリーン印刷する。 - 特許庁

A moving device for the part holding head of the part mounting device 12 shares with a moving device for a reference mark camera.例文帳に追加

部品装着装置１２の部品保持ヘッドの移動装置は、基準マークカメラの移動装置と共通である。 - 特許庁

The tip of a plug connector 1 is inserted into a circular insertion-coupling section 12 of a receptacle connector 11 in the arrow mark direction.例文帳に追加

プラグコネクタ１の先端をレセプタクルコネクタ１１の円形嵌合部１２Ａ内に矢印方向に挿入する。 - 特許庁

A distance between the mark 12 and the center of the lens of the camera 11 is set to 1/2 of a mean inter-pupil distance L.例文帳に追加

目印１２とカメラ１１のレンズの中心間の距離は、平均的な瞳孔間距離Ｌの１／２とする。 - 特許庁

The clearance between the alignment mark table 12 and the substrate 1 is smaller than that between the micro lens array 3 and the substrate 1.例文帳に追加

アライメントマーク台１２と基板１との間の間隔は、マイクロレンズアレイ３と基板１との間隔よりも小さい。 - 特許庁

One slope 32 is formed in a recognition mark 31 of a housing 12 of an IGBT module 11.例文帳に追加

ＩＧＢＴモジュール１１のハウジング１２の認識マーク３１において、一つの傾斜面３２が設けられている。 - 特許庁

The recording/converting device 12 writes furthermore attribute information (IN mark, OUT mark or the like) externally transmitted and attribute information (Tele mark or the like) generated in interlocking with the operation of the imaging apparatus 11 to the low resolution source material L.例文帳に追加

記録・変換装置１２は、さらに、外部から送信された属性情報（ＩＮマーク，ＯＵＴマークなど）や、撮像装置１１の動作に連動して作成された属性情報（Ｔｅｌｅマークなど）を、低解像度素材Ｌに書き込む。 - 特許庁

A display control section 9 displays a tomographic image on a display section 10, simultaneously thereto displays a body mark of a diagnosis portion, and displays a probe mark on the body mark at a position corresponding to the position specified by the position analysis section 12.例文帳に追加

表示制御部９は、表示部１０に断層像を表示させるとともに、診断部位のボディマークを表示させ、そのボディマーク上であって、位置解析部１２によって特定された位置に対応する位置にプローブマークを表示させる。 - 特許庁

For the purposes of subsection 75(1) of the Act (which deals with requests for renewal), the period within which a person may request the Registrar to renew the registration of a trade mark is 12 months ending on the day on which the registration of the trade mark expires.例文帳に追加

(更新申請について規定している）法律第75条(1)の適用上、ある者が登録官に商標登録の更新申請をすることができる期間は、その商標の登録が満了する日に終わる12月月である。 - 特許庁

The display position of the indicating point mark 14 is determined so that the farther the aiming point 56 is separated from the center 54 of the monitor 12, the farther the display position of the indicating point mark 14 is separated from the center 54.例文帳に追加

指示点マーク１４の表示位置は、照準点５６がモニタ１２の中心５４から離れるほど、より大きくその中心５４から離れるように決定される。 - 特許庁

When it is further inserted in an arrow mark α direction, the inner cylinder 22 slides in the arrow mark α direction with the tapered part 12 and the inner wall 22a in an insertion-coupled state, as shown in Fig.5B.例文帳に追加

矢印α方向へさらに挿入されると、図５Ｂに示すように、テーパー部１２と内壁２２ａは嵌合した状態で、内筒２２が矢印α方向へスライドする。 - 特許庁

The image-processing system (26) is further operable, to identify the reference mark in the image of the fringe pattern for constructing the shape of the object (12), based on the reference mark.例文帳に追加

画像処理システム（２６）はさらに、干渉縞パターンの画像内の基準マークを同定するように動作可能であり、この基準マークに基づき物体（１２）の形状を構築する。 - 特許庁

The optical encoder (10) includes a code strip (12) which is equipped with a first track (18) having a first side (14), a second (16) and a mark (20), and a second track (2) having a mark (24).例文帳に追加

第１の面（１４）、第２の面（１６）、印（２０）を有する第１のトラック（１８）及び印（２４）を有する第２のトラック（２）を備えたコードストリップ（１２）含む光学エンコーダ（１０）。 - 特許庁

A top mark base 10 is combined with a printed circuit board 12 for forming a closed space 13, by forming a guide 11 in the periphery of the display opening part of the top mark base 10.例文帳に追加

トップマークベース１０はトップマークベース１０の表示開口部の周囲にガイド１１をつけることによりプリント基板１２と組み合わされて、閉じられた空間を形成している。 - 特許庁

A flattened layer 60 is formed on the rugged surface 14 at the projecting part 12 of the first substrate 10 and a mark (alignment mark 70) is formed on the flattened layer 60.例文帳に追加

第１の基板１０の突出部１２における、凹凸面１４の上に、平坦化層６０が形成され、平坦化層６０の上に、マーク（アライメントマーク７０）が形成されている。 - 特許庁

When the gear 23 is meshed with the gear 24 by moving the shaft 12 in a direction of arrow mark A, the gear 66 is moved in a direction of arrow mark A by the gear 23, to be placed in a condition incapable of being meshed with the gear 24.例文帳に追加

軸１２が矢印Ａ方向に移動しギヤ２３がギヤ２４に噛合すると、ギヤ６６はギヤ２３によって矢印Ａ方向に移動しギヤ２４とは噛合できない状態になる。 - 特許庁

In the passivation film 2 and the polyimide resin 3, a pad opening 12 is formed above the pad of the uppermost layer metal 1 and a mark opening 22 serving as an alignment mark is formed.例文帳に追加

パッシベーション膜２およびポリイミド樹脂３には、最上層メタル１のパッド部上にパッド開口１２が形成されると共に、アライメントマークとして機能するマーク開口２２が形成される。 - 特許庁

The sheet 12 is provided to project from two adjacent edges 8, 9 of the base 3, and a mark 18 showing a fixing position of the base 3 with the sheet 12 laminated thereon is provided on the surface of the sheet 12.例文帳に追加

シート１２は基板３の相隣る二つの縁８、９から突出するように設けられ、シート１２を張り合わせた基板３を固定する位置を示す目印１８がシート１２の面に設けられる。 - 特許庁

A CPU 18 controls an image signal processing circuit 12 to display a mark at the position shown by the input positional information and, when the decision instruction is input, to fix the position of the displayed mark, and also, to display the following mark.例文帳に追加

ＣＰＵ１８は、入力された位置情報が示す位置に目印を表示し、確定指示が入力された場合には表示中の目印の位置を固定すると共に次の目印を表示するように映像信号処理回路１２を制御する。 - 特許庁

The wiring pattern 12, reference mark 13, and two-dimensional code pattern 14, are simultaneously formed by utilizing a photolithography technique.例文帳に追加

配線パターン１２、基準マーク１３及び２次元コードパターン１４は、フォトリソグラフィ技術を利用して同時に形成される。 - 特許庁

Also, the transparent film 12 is printed with a recycle mark 13 to allow a user to know it is recyclable.例文帳に追加

また透明フィルム１２には、リサイクルマーク１３を印刷しておき、リサイクル可能なフィルムであることをユーザに周知させる。 - 特許庁

The housing 11 is provided with a mark 17 whereby the center of the narrow band directional antenna 12 is externally discriminated.例文帳に追加

筐体１１には、狭域帯指向アンテナ１２の中心を外部から判別するための目印１７が設けられている。 - 特許庁

The surfaces of pads 11 and 12 and an alignment mark are cleaned with sulfuric acid to remove oxide films from the surfaces.例文帳に追加

パッド１１及びパッド１２及びアライメントマークの表面を硫酸にて洗浄し、表面の酸化膜を除去する。 - 特許庁

A mark 11 to show the amount of the residual toner 2 is printed on the band 9, and metal foil 12 is stuck to the band 10.例文帳に追加

帯９にはトナー２の残量を示すマーク１１が印刷され、帯１０には金属箔１２が固着されている。 - 特許庁

A substrate registration mark and a pattern formed on a mask R are projected onto a substrate P through a projection optical system 12 for exposure.例文帳に追加

マスクＲに形成された基板位置合わせマークとパターンとを投影光学系１２を介して基板Ｐに露光する。 - 特許庁

A mark 13 is provided at a position under at least one feeding point 12 of the solar cell substrate 8.例文帳に追加

太陽電池基板８の少なくとも一つの給電ポイント部１２の下に位置する部分にマーク１３が設けられている。 - 特許庁

The shielding film 9 is formed on the lower layer to shield energy rays which are used for detecting a position detecting mark 12.例文帳に追加

遮蔽体膜９は、下層上に形成され、位置検出用マーク１２の検出に用いるエネルギー線を遮断する。 - 特許庁

A CCD camera 10, a lamp 11, a stage 12, a driving part 13 and a control part 14 are installed in a probe mark measuring device 1.例文帳に追加

プローブ痕測定装置１にＣＣＤカメラ１０、ランプ１１、ステージ１２、駆動部１３、および制御部１４を設ける。 - 特許庁

The position detecting data of the first reference mark 11 and the second reference mark 12 in a prescribed symmetrical shape formed with prescribed position relation at ' f overlapping and forming the circuit pattern or the like on a semiconductor substrate 1, and the dimension detection data of the first reference mark 11 or the second reference mark 12 are detected by detection means 36x and 36y.例文帳に追加

半導体基板上１に回路パターンなどを重ね合わせて形成する際に所定の位置関係をもって形成される所定の対称形状の第１基準マーク１１および第２基準マーク１２の位置検出データと、該第１基準マーク１１または該第２基準マーク１２の寸法検出データとを検出手段３６ｘ，３６ｙによって検出する。 - 特許庁