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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Measuring methodの意味・解説 > Measuring methodに関連した英語例文

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Measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 28057



例文

To provide a method for measuring a medium-frequency wave on the sea surface with high accuracy even when using a GPS single positioning system.例文帳に追加

GPS単独測位方式を用いた場合でも中周期波を精度良く計測し得る海面における中周期波の計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide a program, an apparatus and a method for measuring a distance for improving accuracy in measurement of a distance between a moving vehicle and an obstacle.例文帳に追加

移動する車両と障害物との距離の測定の精度を向上させる距離測定プログラム、距離測定装置、距離測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for measuring an adhesive force of a holding assembly of a flexible circuit board, capable of obtaining exact measured values with little variations therein.例文帳に追加

測定値のばらつきが少なく、正確な測定値を得ることができるフレキシブル回路基板の保持具の粘着力測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for calculating thickness with ultrasonic capable of properly specifying a peak value of signal strength and favorably measuring thickness of a pipe.例文帳に追加

信号強度のピーク値を適切に特定し、配管の肉厚を好適に測定し得る超音波肉厚算出方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

例文

POSITION MEASURING SYSTEM, TERMINAL DEVICE, CONTROL METHOD OF TERMINAL DEVICE, CONTROL PROGRAM OF TERMINAL DEVICE, AND COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM RECORDING THE CONTROL PROGRAM OF TERMINAL DEVICE例文帳に追加

測位システム、端末装置、端末装置の制御方法、端末装置の制御プログラム、端末装置の制御プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁


例文

According to this breakdown voltage measuring method, a breakdown voltage is measured with the measured liquid S made to circulate through the container 1 and the pipeline 4.例文帳に追加

破壊電圧測定方法においては、測定容器1内と循環管路4内で被測定液体Sを循環させた状態で破壊電圧を測定する。 - 特許庁

To provide a measurement apparatus and a measurement method capable of measuring spectral characteristics of an object with high precision by using AOT and DOT.例文帳に追加

AOTとDOTを利用して被検体の分光特性を高精度に測定することができる測定装置及び測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of highly accurately measuring the film thickness of a thin film formed on a substrate, even if warp ages exist in the substrate.例文帳に追加

基板に反りが存在する場合であっても、基板上に形成された薄膜の膜厚を高精度に測定することできる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a radio wave arrival direction measurement device and its method, capable of measuring a radio wave arrival direction θ more accurately even with the same baseline length L.例文帳に追加

本発明は、同じ基線長Lでもより高精度に電波の到来方位θを測定し得る電波到来方位測定装置および該方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide an accelerometer and a method for measuring acceleration where a system can operate after system errors, or when it is saturated.例文帳に追加

システムエラーの後あるいは飽和した場合に、本システムが動作させることが可能であるような加速度を測定するための加速度計と方法とを提供する。 - 特許庁

例文

To provide an apparatus for measuring a displacement of a pantograph, capable of improving a pattern matching processing in accuracy, and to provide a method of detecting a hard spot of trolley wire.例文帳に追加

パタンマッチング処理の精度を向上させることを可能とするパンタグラフ変位測定装置及びトロリ線硬点検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide an earthquake resistant characteristics measuring device of an electronic device case and a method therefor, capable of changing an additional mass and performing easily control at a low frequency.例文帳に追加

付加質量を変化でき、低周波数での制御を容易に行える電子機器筐体の耐震特性計測装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a thickness measurement device and a measurement method therefor capable of measuring a thickness of an object to be inspected with required sensitivity stability and precision.例文帳に追加

所要の感度安定性および精度で被検査物の厚さを測定することができる厚さ測定装置およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system and method for detection of a surge precursor in a compressor and its protection by measuring power change near a blade passing frequency.例文帳に追加

翼通過周波数付近のパワー変化の測定による圧縮機内のサージ前兆検出および保護のためのシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for measuring an object wherein the object to be measured such as cream solder can be three-dimensionally measured with sure in a low-cost configuration.例文帳に追加

クリーム半田のような被測定物を安価な構成で確実に三次元測定することが可能な被測定物の測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for easily measuring as part temperature extending from a frozen condition to thawing.例文帳に追加

冷凍食品を解凍する際、凍結状態から解凍に至るまでの温度を一環して容易に測定することができる方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a highly accurate and highly reliable polishing device and a polishing method by removing a disturbance component produced when measuring friction.例文帳に追加

摩擦を測定する際に生じる外乱成分を除去することにより、高精度、高信頼性の研磨装置及び研磨方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for measuring low temperature flow NMR enabling NMR measurement while a reagent and a reaction liquid are held at a low temperature, and to provide a low-temperature flow NMR.例文帳に追加

試薬、反応液を低温に保持したままNMR測定が可能となる低温フローNMR測定方法及び低温フローNMRを提供する。 - 特許庁

METHOD, DEVICE, PROGRAM AND PROGRAM RECORDING MEDIUM FOR MEASURING SIMILARITY BETWEEN CONCURRENCE THESAURI例文帳に追加

共起シソーラス間類似度測定方法、共起シソーラス間類似度測定装置、共起シソーラス間類似度測定プログラム及び共起シソーラス間類似度測定プログラム記録媒体 - 特許庁

In a method of measuring asymmetry in a scatterometer, a target portion is illuminated twice, first with 0° of substrate rotation and secondly with 180°of substrate rotation.例文帳に追加

スキャトロメータの非対称性を測定する方法において、ターゲット部分を、第一には0°の基板回転で、第二には180°の基板回転で、2回照明する。 - 特許庁

This production control method in a production line which measures plural kinds of raw materials with a measuring apparatus 1, places the raw materials in a mixer 2, and mixes them.例文帳に追加

複数種類の原材料を計量機1により計量し、原材料をミキサー2に投入して混練する製造ラインにおける生産制御方法である。 - 特許庁

To provide a molding apparatus and a molding method of a molding having a fine pattern by accurately measuring and supplying materials in the molding of the molding.例文帳に追加

成形体の成形において精度良く材料を計量供給し、微細パターンを持つ成形体の成形装置及び成形方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive potential sensor allowing easy inspection of high reliability, using existing measuring instrument, a manufacturing method therefor, and a potential sensor device.例文帳に追加

安価で信頼性が高く既存の測定器を用いて簡単に検査可能な電位センサ、その製造方法および電位センサデバイスを提供すること。 - 特許庁

To provide a method for measuring the intensity ratios of individual fluorescent pigments, in a sample having intense light scattering properties, in which multiplex markings are formed for the formation of an excitation spectrum.例文帳に追加

励起スペクトル形成のために、および多重マーキングのなされた、光散乱性の強い試料における個別蛍光色素の強度比率の測定 - 特許庁

To provide new method for measuring temperature dependency of sensor for variables optionally-selected on a given fluid.例文帳に追加

本発明の目的は、任意の液体に対して任意に選択される変数用のセンサの温度依存性を測定する新しい方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a device and method for accurately measuring transmission power of a mobile terminal saving labor and for checking operations of the mobile terminal on the basis of the result of measurement.例文帳に追加

手間をかけずに移動端末機の送信パワーを正確に測定でき、この測定結果に基づいて移動端末機の動作チェックが行なえる。 - 特許庁

A device and a method of measuring height of an optical element connected to the liquid between the projection system and the substrate table of the immersion lithographic apparatus are included.例文帳に追加

また、浸漬式リソグラフィ装置の投影系と基板テーブルとの間の液体に接続された光学素子の高さを測定する装置及び方法を提供する。 - 特許庁

TENSION MEANS TRANSMITTING DEVICE, METHOD OF MEASURING ABRASION OF ENDLESS TENSION MEANS, AND ENDLESS TENSION MEANS FOR SUCH A TENSION TRANSMISSION DEVICE例文帳に追加

張力手段伝動装置、エンドレス張力手段の摩耗の測定方法およびこのような張力手段伝動装置用エンドレス張力手段 - 特許庁

In the measuring method for the acoustic output, the acoustic output W_j of any sound source j from among sound sources in (n) pieces of simultaneously sounding sound sources is measured.例文帳に追加

同時に発音しているn箇所の音源のうちのいずれかの音源jの音響出力W_jを測定する音響出力測定方法である。 - 特許庁

To provide a method of measuring a rolling surface hardening depth in a wheel bearing which is of the tapered roller bearing type by ultrasonic waves.例文帳に追加

超音波により、円すいころ軸受形の車輪用軸受における外輪転走面の焼入れ深さを測定する測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an injection quantity adjusting method for improving adjusting accuracy in an injection quantity, by highly accurately measuring a lift quantity of a valve member.例文帳に追加

弁部材のリフト量を高精度に測定でき、噴射量の調整精度を向上させることができる噴射量調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of illuminating measuring instrument which uniformly illuminates a scale plate and which can variably change the color of the illumination of the plate at need.例文帳に追加

目盛り板の照明を均等に行い、必要に応じて目盛り板の照明の色を様々に変化させることのできる計器の照明方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for measuring optical characteristic of laser enabling continuous synchronization by suppressing uncertain element to the minimum extent.例文帳に追加

不確定要素を最小限に抑えて、連続同調可能レーザの光学特性を測定することのできるシステム及び測定方法を提供する。 - 特許庁

To enable more appropriate quality evaluation of a diffusion wafer, using lifetime measuring by μ-PCD method which has conventionally been difficult.例文帳に追加

本発明は、従来困難であったμ−PCD法によるライフタイム測定を用いた拡散ウエハのより的確な品質評価を可能にすることを課題とする。 - 特許庁

To provide a transient capacity measuring sample structure for an SOI wafer and an evaluation method for an SOI wafer whereby an LSI SOI wafer can be evaluated.例文帳に追加

LSI用のSOIウェーハの評価ができる新規なSOIウェーハの過渡容量測定試料構造及びSOIウェーハの評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a speed pattern adjusting method and adjusting device for the speed pattern, capable of easily adjusting the speed pattern without a complicated measuring device.例文帳に追加

複雑な計測器等を要せず、容易に速度パターン調整をすることができるモータ駆動軸の速度パターン調整方法、同調整装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a sheet capable of precisely determining a correspondence between a thickness adjusting means and a thickness measuring position and precisely controlling the thickness of the sheet.例文帳に追加

厚み調整手段と厚み測定位置の対応関係を精度よく決定し、シート厚みを精度よく制御できるシートの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspecting method for mounting a component capable of simply and correctly measuring the mounting accuracy of a chip component.例文帳に追加

チップ部品の実装精度を簡易に、そして正確に測定可能な実装部品の検査装置及び実装部品の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a radical measuring method capable of accurately calculating heat of linkage caused by radical recombination and of calculating a coefficient of recombination based on the heat of linkage.例文帳に追加

ラジカルの再結合による結合熱を精度よく算出し、その結合熱を基に再結合係数を算出するラジカルの測定方法を提供すること - 特許庁

To provide a method and system for measuring lattice distortion that can improve accuracy in lattice distortion measurement of nanobeam electronic diffractometry to measure stress/lattice distortion of local domain in crystalline sample with a high degree of precision.例文帳に追加

ナノビーム電子回折法の格子歪測定精度を向上し、結晶試料における局所領域の応力・格子歪を高精度に測定する。 - 特許庁

To provide a measuring method and an apparatus of a beam type which can obtain the bend of a scanning beam of high precision and the amount of surface inclination of a polygon mirror.例文帳に追加

精度の良い走査ビームの曲がり、多面鏡の面倒れ量を求めることのできるビーム形状の測定方法および装置を提供する。 - 特許庁

The roughness measuring device 1a thus constructed can measure the surface roughness of the measured object 2 in a non-contact and non-optical method.例文帳に追加

このように構成された粗さ測定装置1aは、被測定物体2の表面粗さを非接触且つ非光学方式で測定することができる。 - 特許庁

To provide an optical measurement circuit for accurately measuring an intensity of an external light in real time, and to provide a liquid crystal display including it, and method of driving the same.例文帳に追加

外部光の強さをリアルタイムで正確に測定できる光測定回路とこれを含む液晶表示装置およびその駆動方法が提供される。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for measuring electronic parts which are fit to measure electric characteristics of very small chip-shaped electronic parts and are simple in structure.例文帳に追加

極小のチップ状電子部品の電気特性の測定に適し、しかも簡素な構造の電子部品の測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

This pulse wave measuring instrument is equipped with a pressure sensor for which a plurality of sensors having a wider range than a detailed sensor required for a conventional tonometry method are arranged.例文帳に追加

脈波測定装置は、従来のトノメトリ方式で必要とされている微細なセンサよりも幅の広いセンサを複数個並べてなる圧力センサを備える。 - 特許庁

To provide a vision function measuring method and apparatus which allows objective and reproducible classification into detailed grading for a low vision.例文帳に追加

低視力に対する客観的に再現性のある、細かいグレード分類が可能な視機能測定方法および測定装置を提供することである。 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE INSPECTING METHOD AND APPARATUS CAPABLE OF PRECISELY MEASURING PRESENCE OF HETEROGENEOUS MATERIALS EXISTING INSIDE SURFACE LAYER OF COMPLEX STRUCTURE IN SHORT TIME例文帳に追加

複合構造物の表層内部に位置する異質物同士の存在状態を精度よく短時間で測定できる非破壊検査方法および装置 - 特許庁

To provide a method for accurately measuring a thermally deformed amount of a converter body, even when the converter body accommodates the molten steel.例文帳に追加

炉体内に溶鋼が入っているときでも炉体の熱変形量を正確に測定することのできる転炉炉体の熱変形量測定方法を提供する。 - 特許庁

In this device and method for measuring the warp of the electronic part housing tray, the height of the electronic part housing tray slid on an inclined surface is measured by a line sensor.例文帳に追加

斜面上を滑る電子部品収納用トレイの高さを、ラインセンサーにより測定する電子部品収納用トレイの反り測定装置および方法。 - 特許庁

例文

To provide a method for preventing a deterioration of yield due to concentration of failures to a specified semiconductor integrated circuit chip by a measuring fault such as a contact.例文帳に追加

接触等の測定不具合による特定の半導体集積回路チップへの不良集中による歩留まりの低下を防ぐ方法の提供。 - 特許庁




  
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