「Test comparison」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A comparison part 514 compares the preceding test result data after the preceding test program execution and the this-time test result data after the this-time test program execution.例文帳に追加

比較部５１４は、前回のテスト・プログラム実行後の前回テスト結果データと、今回のテスト・プログラム実行後の今回テスト結果データとを比較する。 - 特許庁

The other system test comparator 13B compares the input two test data, and when the two test data are not matched as the result of comparison, the other system test comparator 13B notifies a self-system CPU3A of an error.例文帳に追加

他系のテストコンパレータ１３Ｂは、入力される２つのテストデータを比較し、比較の結果、一致しない場合、自系のＣＰＵ３Ａにエラーを通知する。 - 特許庁

By this constitution, it is possible to reduce costs in comparison with an expensive test apparatus provided by a test maker.例文帳に追加

この構成により、テスターメーカーが提供する高額な試験装置は用いずに、低コスト化が図れる。 - 特許庁

We're gonna run a comparison ballistics test, but i'd say we found ourselves a suspect.例文帳に追加

比較弾道検査をやります でも 容疑者が見つかったと言えますね - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

To provide a test apparatus of a fuel cell, which can improve response in comparison to a test apparatus using a dew point meter.例文帳に追加

露点計を用いた試験装置に比べて応答性を改善できる燃料電池の試験装置の提供。 - 特許庁

A data comparison section 5 compares test data set by the test control section 2 with data actually read out.例文帳に追加

データ比較部５は検査制御部２によって設定された検査データと実際に読み出したデータを比較する。 - 特許庁

The switching circuit couples the test currents with the reference currents, and thereby realizes a differential swing comparison mode and a common mode comparison mode necessary for the test of a differential signal.例文帳に追加

スイッチング回路は、試験電流と基準電流を結合し、それにより差動信号の試験に必要な差動揺れ比較モードおよびコモンモード比較モードを実現している。 - 特許庁

SIMULTANEOUS TEST FOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, USING INTER-DUT COMPARISON AND INTRA-DUT COMARISON例文帳に追加

ＤＵＴ間及びＤＵＴ内比較を用いる、集積回路デバイスの同時テスト - 特許庁

The test images and reference images are compared using an image comparison program.例文帳に追加

前記検査画像と前記基準画像とは、画像比較プログラムを使用し、比較される。 - 特許庁

Since a driven relative speed of the test pieces is doubled in comparison with immovably fixing the test piece S2, the test time is reduced by half.例文帳に追加

試験体Ｓ２を動かないよう固定する場合と比較して試験体の駆動される相対速度が２倍となるので試験時間が半減される。 - 特許庁

A check sheet writing part 653 write a result in a test result column based on the comparison result in the comparison part 652.例文帳に追加

チェックシートファイル書き込み部６５３は、比較部６５２の比較の結果に基づいて、試験の合否欄に合否結果を書き込む。 - 特許庁

A pattern comparison part 103 determines whether the deserializer 106 regenerates the test pattern correctly or not.例文帳に追加

パターン比較部１０３はデシアライザ１０６が正しくテストパターンを再生できたか判定する。 - 特許庁

To facilitate comparison of new and old output results by an operation verification test of a Web page.例文帳に追加

ウェブページの動作検証テストによる新旧の出力結果の比較を容易にする。 - 特許庁

The operator inputs the comparison result of the color of the test pattern T with that of the reference body R.例文帳に追加

オペレータは、テストパターンＴの色と基準体Ｒの色との比較結果を入力する。 - 特許庁

Test whether filename matches pattern, returning true or false; the comparison is case-sensitive.例文帳に追加

filename が pattern にマッチするかテストして、真、偽を返します。 比較は大文字、小文字を区別します。 - Python

The abnormalities in the test images are detected based on comparison of the pixel value data of the test images and those of the reference images.例文帳に追加

この試験画像の画素値データと、参照画像の画素データとの比較に基づいて、試験画像内の異常が検出される。 - 特許庁

A test pulse is superposed on the input signal, and a comparison pulse having the unit delay amount to the test pulse is generated.例文帳に追加

そして入力信号にテストパルスを重畳させ、また該テストパルスに対して単位遅延量を持つ比較用パルスを発生させる。 - 特許庁

The function test by a comparison determination part 3 is carried out in parallel to the inclined waveform test by the analytical part 6.例文帳に追加

また、比較判定部３によるファンクションテストと、解析部６による傾斜波形テストとを並列して行なうことができる。 - 特許庁

Preferably, the width of the protrusion is smaller in comparison with the width of the lateral groove in the test method.例文帳に追加

好ましくは、この試験方法では、上記凸条の幅は、上記横溝の幅に比して小さい。 - 特許庁

Also, after test data is written in a memory cell, the self-test circuit discriminates whether the data read out from the memory cell is same as the written test data or not, the comparison result is accumulated.例文帳に追加

更に、自己試験回路は、試験データをメモリセルに書き込んだ後に、そのメモリセルから読み出した読み出しデータが、書き込んだ試験データと同じか否かを比較し、その比較結果を蓄積する。 - 特許庁

The obtained magnetic data are analyzed in comparison with the result of the material test, thus the detailed internal changes of the test piece TP when the external force for the material test is applied can be grasped.例文帳に追加

得られた磁気データを材料試験の結果とも対比して分析することにより、材料試験のための外力印加に伴う試験片ＴＰの細部の内的変化が把握できる。 - 特許庁

This holder 2 is applied to the thermometer inspection vessel 1 used for a comparison calibration test for a thermometer 9.例文帳に追加

温度計９の比較校正試験に使用される温度計検査槽１に適用されるホルダー２である。 - 特許庁

To automatically determine comparison verification conditions used for parallel running test of an old calculator and a new calculator.例文帳に追加

旧計算機と新計算機とのパララン試験で使用する比較検証条件を自動で決定する。 - 特許庁

The result of the comparison is expanded at an output circuit 71 before being outputted to the test circuit 50.例文帳に追加

そして、比較の結果が出力回路７１で伸長された後にテスト回路５０に出力される。 - 特許庁

A comparison discriminator 120 compares the lightness of the held pixel under test with that of its neighboring pixels to decide whether the pixel under test falls in white dot failure having a lightness exceeding a predetermined value in comparison with the neighboring pixels, based on a comparison result.例文帳に追加

比較判定部１２０は、保持された対象画素とその周辺画素との明度を比較し、この比較結果に基づいて、対象画素が周辺画素と比較して予め決められた所定の値以上の明度を有する白点故障であるか否かを判定する。 - 特許庁

Test circuits of semiconductor integrated circuits exchange test data via a path including the data bus 12, and the test circuit of the semiconductor integrated circuit that has received the test data determines a data transfer failure according to the comparison of the received test data with reference data.例文帳に追加

データバス１２を含む経路を介して半導体集積回路のテスト回路間でテストデータを送受信し、テストデータを受信した半導体集積回路のテスト回路が、受信したテストデータと参照データとの比較結果に基づいてデータ転送障害を判定する。 - 特許庁

To provide A/D converter test system and method for substantially shortening test time by reducing the number of times of comparison required for analog/digital conversion.例文帳に追加

アナログ・デジタル変換に必要な比較の回数を減らすことによりテスト時間を大幅に短縮するＡ／Ｄコンバータテスト方式および方法を提供する。 - 特許庁

The respective pitons are respectively individually driven to the respective test pieces by lever manipulation, by which the experiencing of the strength comparison of the respective test pieces is made possible.例文帳に追加

そして、レバー操作により各ハーケンを各試験片に対し個々に打ち付けて各試験片の強度比較を体験するようになされたものとする。 - 特許庁

The input data comparison circuit compares the corresponding data items of the plurality of input test writing data and the plurality of test output data, and identifies the matching test output data.例文帳に追加

前記入力データ比較回路は、入力された前記複数のテスト書き込みデータと前記複数のテスト出力データとの対応するもの同士を比較して、一致した前記テスト出力データを特定する。 - 特許庁

In an expected value comparison mode, comparator and multiplexers 2-1 to 2-4 output test data read from a block, in the expected value comparison mode, the test data are compared with input expected values respectively, and comparison information indicating that all data are coincident with one another or at least one data is not coincident.例文帳に追加

コンパレータ兼マルチプレクサ２−１〜２−４は、期待値比較モードでないときは、ブロックから読み出されたテストデータを出力し、期待値比較モードでは、テストデータと入力された期待値とを各々比較し、全て一致したかあるいは少なくとも１つが不一致かを示す比較情報を出力する。 - 特許庁

The test and reference images are tiled, and image comparison is carried out on a tile-by-tile basis.例文帳に追加

前記検査画像および前記基準画像は、タイル化され、画像比較が、タイル−バイ−タイルベースで実行される。 - 特許庁

The density of the test image is compared and confirmed, using an image density confirming chart having a plurality of comparison images different in density levels, and a hole part provided in the vicinity of the comparison images to expose the test image when overlapped on a recording material formed with the test image.例文帳に追加

濃度レベルの異なる複数の比較用画像と、この比較用画像の近傍に設けられテスト画像が形成された記録材の上に重ね合わせた際にテスト画像を露出させるための穴部と、を有する画像濃度確認チャートを用いてテスト画像の濃度を比較、確認する。 - 特許庁

A comparison voltage generator 15 as a glitch-extracting means compares a comparison voltage (a first reference signal), having a voltage level according to an internal signal which specifies a test signal with the test signal for extracting a glitch.例文帳に追加

グリッジ抽出手段としての比較電圧発生器１５は、試験信号を規定する内部信号に応じた電圧レベルを有する比較電圧（第１の参照信号）と、この試験信号とを比較してグリッジを抽出する。 - 特許庁

In addition, the test specimen 1 is arranged at a high location in comparison with the receiving antenna 7, and the receiving antenna 7 is arranged so that the direction of its maximum sensitivity is directed toward the test specimen 1.例文帳に追加

また、被試験体１を受信アンテナ７と比較して高い位置に配置し、受信アンテナ７をその最大感度の方向が被試験体１を向くように設置する。 - 特許庁

To determine the quality of an object under test, by initially performing a comparison of the object under test, by using an image as a template image which is obtained by photographing the state of the object under test, before being attached to its right place.例文帳に追加

本発明の目的は、被検物が正しい箇所に取り付けられる前の状態を撮像した画像をテンプレート画像とし、最初に被検物との比較を実施することで、被検物の良否を判定することにある。 - 特許庁

The comparison circuit 24 discriminates whether an accessed memory cell is normal or abnormal by comparing the expected value data with the data Dt for test.例文帳に追加

比較回路２４は、アクセスを行ったメモリセルが正常か異常かをデータＤｓ，Ｄｔの比較により判定する。 - 特許庁

A deciding part 44 discriminates whether or not the test concave and convex parts are a defect on the basis of the comparison results of the comparing part 42.例文帳に追加

判定部４４は、比較部４２の比較結果に基づいて、検査凹凸部が欠陥であるか否かを判定する。 - 特許庁

In the semiconductor testing circuit 101, the comparators 141 and 142 compare a response signal with the reference signal by offsetting the test signal included in a synthetic signal and the test signal included in the comparison signal, by inputting the comparison signal and the synthetic signal of synthesizing the test signal and the response signal outputted from the test object device 20.例文帳に追加

半導体試験回路１０１では、コンパレータ１４１，１４２は、試験信号と試験対象装置２０から出力された応答信号とを合成した合成信号と、比較信号とを入力され、合成信号に含まれる試験信号と比較信号に含まれる試験信号とを相殺し応答信号と基準信号とを比較する。 - 特許庁

The test program complying with the operation specifications by generation processing 11 for the test program is generated to add the test program to the test program 4 when determination is made to the absence of the test program complying with the operation specifications and necessity of the addition of the test program by determination processing 10 after a result is obtained by retrieving the attribute comparison result 8 by determination processing 9.例文帳に追加

判断処理９にて属性比較結果８を検索した結果、動作仕様に対するテストプログラムが存在しないと判断され、判断処理１０にてテストプログラムの追加が必要であると判断されたとき、テストプログラムの生成処理１１にて前記動作仕様に対応したテストプログラムを生成してテストプログラム４に付加する。 - 特許庁

Preferably, the analog test signals are directly inputted to the A/D converter 5 as well and the abnormality of the input circuit is judged based on the comparison of digital conversion test signals by the A/D converter 5 of the directly inputted test signals and the test signals after the separation.例文帳に追加

好ましくはアナログ試験信号をＡ／Ｄコンバータ５へも直接入力し、直接入力の試験信号のＡ／Ｄコンバータ５によるディジタル変換試験信号と前記分離後の試験信号との比較に基づき入力回路の異常を判定する。 - 特許庁

A comparison circuit 25 actuates the charge pump circuit 30 according to a comparison result between a second positive voltage inputted to an input terminal 2b from the outside in the test mode and the control voltage Vo.例文帳に追加

比較回路２５は、テストモード時に外部から入力端子２ｂに入力される第２の正電圧と制御電圧Ｖｏとの比較結果に応じて、チャージポンプ回路３０を動作させる。 - 特許庁

A phase comparison is performed between the comparison pulse and the test pulse in which the unit delay amount is provided through the delay line, to determine a unit delay control value corresponding to the unit delay amount.例文帳に追加

そして比較用パルスと、ディレイラインを経て単位遅延量が与えられたテストパルスとの位相比較を行い、単位遅延量に相当する単位遅延制御値を判定する。 - 特許庁

In a test circuit, a counter circuit 22 generates a control signal based on the result of comparison made by means of a comparison circuit 21 which compares test results from a circuit 1 to be tested, and an already set expected value and the operations of tri-state buffers 23 are controlled by means of the control signal.例文帳に追加

テスト対象回路（１）からのテスト結果と既設定の期待値とを比較する比較回路（２１）からの比較結果を基に、カウンタ回路（２２）が制御信号を生成し、この制御信号によりトライステートバッファ（２３）の動作を制御する。 - 特許庁

This difficulty deciding program which dynamically decides the difficulty of test problems according to the test results of the examinees having tests has a comparison procedure for comparing the test results of two common test problems which are totaled targeting the examinees having had the two common test problems in a combination of two of tests and a difficulty order determining means for determining the difficulty order of the two test problems based on the comparison result by the comparison procedure.例文帳に追加

本発明の課題は、テストされた被験者のテスト結果に基づいて、動的にテスト問題の難易度を判定する難易度判定プログラムにおいて、複数のテストのうち２つのテストの組み合わせにおいて、共通する２つのテスト問題を受けた被験者を対象として集計した該共通する２つのテスト問題の各々のテスト結果を比較する比較手順と、上記比較手順による比較結果に基づいて、上記２つのテスト問題間の難易度順を決定する難易度順決定手順とを有する難易度判定プログラムによって達成される。 - 特許庁

A comparison level generating circuit 16 generates a voltage of the test signal before passing through the transmission line 14 as a reference level.例文帳に追加

比較電位発生回路１６は、伝送線路１４を通過する前のテスト信号の電圧値を基準電位として発生する。 - 特許庁