「Time-Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor memory which can be tested in a short time.例文帳に追加

短時間で試験を行うことができる半導体メモリを提供する。 - 特許庁

After the high-temperature heating, the delay time of the tested circuit 1401 is measured.例文帳に追加

高温加熱後、被試験回路１４０１の遅延時間を測定する。 - 特許庁

To shorten total testing time, in the testing of a circuit to be tested.例文帳に追加

被試験回路をテストする場合の総合的なテスト時間を短縮する。 - 特許庁

Such an object can be bound to a unit to be tested at an execution time.例文帳に追加

そのようなオブジェクトは、テスト対象ユニットに実行時バインドすることができる。 - 特許庁

Sending flowers to a woman is a time-tested way to show you love her. 例文帳に追加

女性に花を送るのは、愛していることを示す時の試練を経た方法だ。 - Weblio英語基本例文集

In this test, the DRAM 11, 12, 13 having a short test time are tested in serial, the DRAM 14 having the longest test time is tested in parallel to this serial test.例文帳に追加

この試験は、試験時間の短いＤＲＡＭ１１，１２，１３をシリアルに試験し、このシリアルな試験に平行して試験時間の最も長いＤＲＡＭ１４をパラレルに試験する。 - 特許庁

To shorten the transmission time of parameters to respective semiconductor devices to be tested in a semiconductor device testing apparatus setting parameters of different values to individual semiconductor devices to be tested to test a plurality of the semiconductor devices to be tested at the same time.例文帳に追加

被試験半導体デバイスの各個に異なる値のパラメータを設定して同時に複数の被試験半導体デバイスを試験する半導体デバイス試験装置において、各被試験半導体デバイスにパラメータを転送する時間を短縮する。 - 特許庁

To accelerate a test concerning a memory to be tested by shortening time for testing concerning each bit included in the memory cells of the memory to be tested.例文帳に追加

被試験メモリのメモリセルに含まれる各ビットに関する試験時間を短縮し、被試験メモリに関する試験を高速化することができる。 - 特許庁

A photographed image of an eye to be tested and time information in the case of photographing are obtained by a plurality of sheets.例文帳に追加

撮影された被検眼画像及び撮影時の時間情報を複数取得する。 - 特許庁

To reduce the time needed for random-verifying a function of a circuit to be tested.例文帳に追加

試験対象回路の機能をランダム検証する時間を短縮することを課題とする。 - 特許庁

To provide a test device which inhibits an object to be tested from being damaged for a long period of time.例文帳に追加

試験対象物の損傷を長期に抑制する試験装置を提供すること。 - 特許庁

To write data into a plurality of semiconductor memories in a short period of time after the semiconductor memories are tested.例文帳に追加

半導体メモリの試験後に、複数の半導体メモリへのデータの書込みを短時間で行う。 - 特許庁

To start performance test of an engine to be tested quickly by raising inlet temperature of the engine to be tested to a predetermined temperature in a short period of time and simplify structure of a device.例文帳に追加

供試エンジンの入口温度を短時間に所定温度に昇温させて、その性能試験を速やかに開始させると共に、かつ装置の構成を簡単にする。 - 特許庁

To provide a light spectrum analyzer for detecting a calibration light signal and a tested light signal at the same time.例文帳に追加

光スペクトラム・アナライザにおいて、校正光信号及び被試験光信号を同時に検出する。 - 特許庁

A test constituting circuit 10 gains a present set of an actual time measurement value 42 from a tested part 108.例文帳に追加

試験構成回路（１０）は被試験部品（１０８）から実時間測定値（４２）の現集合を取得する。 - 特許庁

To reduce the testing time by conducting the test of a memory to be tested and the analysis of a defect in parallel.例文帳に追加

被試験メモリの試験と不良解析を並行処理することによって試験時間を短縮する。 - 特許庁

_________________ * * At publication time, we have tested individual chips but have yet not built the full machine 例文帳に追加

刊行時点では、ここのチップはテストが終わっていたけれど、マシン全体はまだ作り終えていなかった。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』

To provide a cell continuity inspection system by which an ATM tester is connected to a plurality of devices to be tested and simultaneously inspected, an inspection time for the ATM cell continuity inspection is shortened, and the inspection of a plurality of the devices to be tested can be executed in real time without enlarging a circuit scale of the device to be tested.例文帳に追加

ＡＴＭ試験器を複数の被試験装置に接続して同時に検査し、ＡＴＭセル導通検査の検査時間を短縮するとともに、被試験装置の回路規模を大きくすることなく、複数の被試験装置の検査を実時間で行えるセル導通検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide an OS emulator time lapse controller for stopping the operation of an application to be tested at a optional point of time.例文帳に追加

検査対象となるアプリケーションの動作を任意の時点で停止させることのできるＯＳエミュレータ時間経過制御装置を提供する。 - 特許庁

To easily create a scenario according to the state of equipment to be tested or the specification of the equipment in a short time.例文帳に追加

テスト対象機器の状態や機器の仕様に応じたシナリオを容易にかつ短時間で作成すること - 特許庁

Thus, tests are continuously executed from both the sides of the cable 32 to be tested, thereby shortening time for test.例文帳に追加

このように、被試験ケーブル32の両側から連続して試験を実行するので、試験時間を短縮できる。 - 特許庁

To prevent torque measurement accuracy from being decreased by a bend and vibration of the support part of a brake to be tested, at the same time, to easily confirm the operation of the brake to be tested, and to reduce the space of a test room.例文帳に追加

被試験ブレーキの支持部の曲げや振動によるトルク測定精度の低下を防止するとともに、被試験ブレーキの動作確認を容易とし、かつ試験室のスペースを小さくする。 - 特許庁

To more exactly volumetrically display the motion of an object to be tested in real time when the high-quality static image of the volume of the object to be tested can be previously acquired and utilized.例文帳に追加

被検物の容積の高品質静止画像が事前に取得され利用可能である場合に、該被検物の運動をより正確に実時間で容積表示できるようにする。 - 特許庁

To provide an enzyme electrode, in which corpuscle separatability is improved, the effects of interfering substances in a liquid to be tested are reduced, swelling time of the liquid to be tested to a red corpuscle separating layer and an enzyme layer is shortened, and the effects of the low amount of oxygen in the liquid to be tested are reduced.例文帳に追加

血球分離能を向上させ、被検液中の妨害物質の影響を軽減させ、被検液の血球分離層及び酵素層への膨潤時間を短縮し、且つ被検液中の低酸素量の影響を低減させた酵素電極を提供する。 - 特許庁

To test plural logic circuits at the same time to shorten a test time, when the plural logic circuits having the same function in an integrated circuit are tested.例文帳に追加

集積回路内の同一機能を持った複数の論理回路をテストする際、これ等の複数の論理回路を同時にテストして、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To correct the loading effect not by the presence or absence of a circuit pattern or by its shape, but only by one-time film formation testing, and per 25 sheets of tested wafers or fewer, at a time.例文帳に追加

回路パターンの有無や形状によらず、テスト成膜１回のみで、且つテストウエハの枚数を２５枚程度以下で、ローディング効果を補正可能とする。 - 特許庁

Therefore, all wafers as a whole can be tested within a relatively short processing time, while the self-heating value is suppressed.例文帳に追加

したがって、ウエハ全体として自己発熱を抑制しつつ比較的短い処理時間でテストを完了することができる。 - 特許庁

The conduction of a wiring network of the wire harness including the harness elementary wires is tested every time when the harness elementary wire is connected.例文帳に追加

ハーネス要素電線が接続されるたびに該ハーネス要素電線を含むワイヤーハーネスの回路網の導通を検査する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of highly accurately and easily specifying a failure portion of an apparatus to be tested in a short time.例文帳に追加

被試験器の故障部位の特定を、短時間で精度高く容易に行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

The method for predicting biorhythm of an individual to be tested includes measuring amounts of expression of two clock genes having different phases of circadian cycle of change in the amount of expression with regard to biological samples collected from an individual to be tested three times within 24 hours and predicting the biorhythm of the individual to be tested on the basis of obtained data of time series amount of expression.例文帳に追加

被検個体から24時間以内に3回採取した生体試料について、発現量変化の概日周期の位相が異なる2つの時計遺伝子の発現量を測定し、得られた時系列発現量データに基づいて、被検個体の生体リズムを予測する方法を提供する。 - 特許庁

To realizes a device and method for testing a memory capable of shortening a testing time of a memory to be tested.例文帳に追加

被試験メモリの試験時間を短縮することができるメモリ試験装置及びメモリ試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide an IC tester capable of evaluating a complicated input pattern and shortening a non-defective or defective evaluating time of an IC to be tested.例文帳に追加

複雑な入力パターンでの評価ができて、被試験ＩＣの良否評価時間を短縮できるＩＣテスタを提供する。 - 特許庁

To provide a testing device which can shorten a testing time of a memory to be tested having a repair block for each area domain.例文帳に追加

リペアブロックをエリア領域毎に有する被試験メモリの試験時間を短縮することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To keep the order of voltage application and eliminate unnecessary loss of time, when applying a voltage to a device to be tested.例文帳に追加

被試験デバイスに電圧を印加するときに、不要なタイムロスをなくし、電圧印加の順番を遵守させることを目的とする。 - 特許庁

To minimize the frequency of movement of a probe and to shorten a test time when semiconductor chips formed on a wafer are tested.例文帳に追加

ウエハ上に形成された半導体チップを試験するときに、プローブの移動回数を最小限にし、試験時間を短縮する。 - 特許庁

To enable many semiconductor devices to be tested at a time, and enable programs and data to be written therein collectively, in order to improve efficiency.例文帳に追加

一度に多くの半導体デバイスに一括でテストやプログラムやデータの書き込みなどを可能にし効率を上げる事である。 - 特許庁

Before high-temperature heating, delay time of a tested circuit 1401 is measured.例文帳に追加

本発明にかかる半導体集積回路の試験方法では、まず、高温加熱前に、被試験回路１４０１の遅延時間を測定する。 - 特許庁

The normal operation of the A/D converter 74 can be easily tested by the reinput (the regular signal V_out) in real time.例文帳に追加

この再入力（定形信号Ｖ_out ）により、Ａ／Ｄコンバータ７４の正常動作を実時間で容易にテストすることができる。 - 特許庁

To shorten a manufacturing time and delivery time of a semiconductor chip by a method wherein the same probe card is shared when the semiconductor wafer is tested irrespective of a semiconductor chip size.例文帳に追加

半導体チップサイズにかかわらず半導体ウエハ試験時に同じプローブカードを共用することにより、半導体チップの製造時間及び納期の短縮化を図る。 - 特許庁

To provide a method for testing microorganisms, capable of quickly and easily monitoring the increase or decrease of the microorganisms presenting on a tested surface after passing a certain period of time from a time point.例文帳に追加

ある時点から一定時間経過後の被験面に存在する微生物の増減を、迅速かつ簡易にモニタリングできる微生物試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a surface defect detector capable of reducing cost of the device, simplifying the system constitution and quickly judging good or bad of a body to be tested by shortening the processing time of the whole surface of the body to be tested.例文帳に追加

装置のコストダウン及びシステム構成のシンプル化を図り、かつ被検体表面全体の処理時間を短縮して被検体表面の良否判定を迅速に行える表面欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

If the relative change of the expression amount of the marker genes in the Bhas 42 cell treated with a substance to be tested is used as an index, the carcinogenesis promoting activity can be detected by treatment with the substance to be tested in a time shorter than before.例文帳に追加

被検物質で処理したＢｈａｓ４２細胞におけるマーカー遺伝子の発現量の相対変化を指標とすれば、従来よりも短時間の被検物質処理で発がんプロモーション活性を検出できる。 - 特許庁

Furthermore, the substrate test-use jig unit is composed of: the substrate jig board 11; and a substrate holder having an aperture section which contacts with a portion area side to be tested this time in the substrate to be tested 101 and exposes it.例文帳に追加

また、基板検査用治具ユニットは、上記基板治具ボード１１と、被検査基板１０１における今回検査分の部分領域側と当接してこれを表出させる開口部を有する基板ホルダとで構成した。 - 特許庁

A group of the image of an eye to be tested and a group of photographing-related information are correlated with each other based on the time information included in the time information and the photographing-related information in the case of photographing, and the correlated image of the eye to be tested and the photographing-related information correlated with each other are recorded.例文帳に追加

そして、前記被検眼画像群と前記撮影関連情報群を前記撮影時の時間情報と撮影関連情報に含まれる時間情報に基づき関連付け、該関連付けた被検眼画像と撮影関連情報を記録する。 - 特許庁

To provide a device for processing a signal between a tester and a plurality of devices to be tested by one-time touchdown of a probe at a high temperature.例文帳に追加

高温かつプローブの１回のタッチダウンで、テスターと複数の被試験デバイスとの間で信号を処理するための装置を提供する。 - 特許庁