「Time-Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To conduct a test without requiring authoring of additional test software every time a message exchange pattern application is tested.例文帳に追加

メッセージ交換パターンアプリケーションがテストされるたびに、追加のテストソフトウェアのオーサリングを必要とすることなく、このテストを実施可能とする。 - 特許庁

In succession, the learner are provided over the Internet with such academic ability tests and questions and the learners' academic ability is tested within the limited time.例文帳に追加

続いて、インターネット上で、このような学力テスト問題を学習者に提供し、制限時間内に、学習者の学力をテストする。 - 特許庁

To simplify a system construction in testing and evaluating tested devices, to reduce maintenance cost by making maintenance easy, to reduce development cost by making easy development of boards for the tested devices, to shorten a development period, to measure correctly signals for testing and examining the tested devices, and to decrease down time.例文帳に追加

被試験デバイスの試験及び診断における装置構成を簡単にし、メンテナンスを容易にしてメンテナンス費を削減し、被試験デバイスのボードの開発を容易にして開発コストを削減し開発期間を短縮し、被試験デバイス試験用及び診断用の信号を正確に測定し、ダウンタイムを低減することである。 - 特許庁

To solve problems in a characteristic test for the PM motor wherein connection work between a testing machine and a tested machine takes much time, a large number of PM motors is tested with great inconvenience and that a controller for drive of the testing machine is required.例文帳に追加

ＰＭモータの特性試験を実施する場合、試験機と被試験機との接続作業に時間がかかり、多数のＰＭモータの試験を行うのは大変であると共に、試験機の駆動用制御装置が必要となっている。 - 特許庁

To provide a parts testing device and a parts holder preventing the dew condensation of tested parts, shortening an normal temperature return time, enhancing the control accuracy of the temperature of parts to be tested and achieving the enhancement of throughput.例文帳に追加

供試験済部品の結露防止、常温復帰時間の短縮または試験前部品の温度制御の精度向上を図り、しかもスループットの向上を図ることができる部品試験装置および部品保持装置を提供するすること。 - 特許庁

The control circuit 38, if the voltage of the apparatus 20 to be tested is smaller than the predetermined voltage, generates a control signal for repeating conduction and no-conduction so that a period for conducting FET28, 30 at the same time may exist if the voltage of the apparatus 20 to be tested is smaller than the predetermined voltage.例文帳に追加

制御回路３８は、被試験装置２０の電圧が予め定めた電圧以下の時、ＦＥＴ２８、３０を、同時に導通する期間が存在するように、導通、非導通を繰り返す制御信号を発生する。 - 特許庁

The helium gas in a helium gas cylinder 21 is blown against the tested point of a tested object 10 via a probe 15; after measurement for a prescribed time, the residual helium gas is sucked in by a diaphragm pump via the probe 15 to be removed.例文帳に追加

被試験体１０の試験箇所にプローブ１５を介してヘリウムガスボンベ２１のヘリウムガスを吹き付け、所定時間の測定を行なった後、プローブ１５を介してダイヤフラムポンプ２３で残留ヘリウムガスを吸引して排除する。 - 特許庁

To execute in a short time a test for measuring a response characteristic of an IC to be tested by measuring the operable shortest period by changing the application period of a test pattern applied to the IC to be tested, so as to be gradually shortened.例文帳に追加

被試験ＩＣに印加する試験パターンの印加周期を漸次短くなる方向に変化させ動作可能な最短周期を測定し、被試験ＩＣの応答特性を測定する試験を短時間に実行できるようにする。 - 特許庁

Hereby, in the test processes B-D, it is possible to reduce the test time by the time (tb, tc, td) required for the subsequent test items to be tested after the failure judgment.例文帳に追加

この結果、検査工程Ｂ−Ｄにおいて、不良と判定された以降の検査項目にかかる時間（ｔｂ，ｔｃ，ｔｄ）の分だけ検査時間を短縮することができる。 - 特許庁

To provide a coagulation time measuring instrument having a function of evaluating PT(Prothrombin Time) itself by correcting the PT of a specimen to be tested based on its INR.例文帳に追加

本発明の課題は、被検検体のＰＴを、そのＩＮＲ値を基に補正することによりＰＴそのものも評価できる機能を有した凝固時間測定装置を提供することである。 - 特許庁

Sequence for testing circuit block of discrete die is selected in order to optimize testing time of a set of dies to be parallel-tested.例文帳に追加

個別のダイの回路ブロックをテストするためのシーケンスは、並列テストが実施されるダイのセットのテスト時間を最適化するために選択される。 - 特許庁

To provide a method for easily detecting nucleotide bondability of a material to be tested in a short time without any leakage of a positive substance.例文帳に追加

簡便に且つ短時間に、更に陽性物質を漏らすことなく、被検物質のヌクレオチド結合性を検出できる方法を提供する。 - 特許庁

To shorten a test time when plural DRAM circuits incorporated in a LSI is tested and to transfer read-out data of plural DRAM circuit at high speed.例文帳に追加

LSI に搭載された複数のDRAM回路をテストする際のテスト時間を短縮したり、複数のDRAM回路の読み出しデータを高速に転送させる。 - 特許庁

At the time of testing, an LSI conveyer 1 chucks the LSI 2 to be tested to carry it to the LSI socket 3 and attaches it to the LSI socket 3.例文帳に追加

テスト時には、ＬＳＩ搬送機１が被試験ＬＳＩ２を吸着してＬＳＩソケット３まで運搬しＬＳＩソケット３に装着する。 - 特許庁

To recover from a trouble in a short time even if a hinge mechanism 3 fails in an IC socket used when an IC is tested and inspected electrically.例文帳に追加

ＩＣを電気的試験および検査するときに使用するＩＣソケットにおいて、ヒンジ機構３が故障しても極めて短時間で修復できる。 - 特許庁

To provide a device for testing helium leakage that can eliminate a time to pull out a cap mounted on the convex part of an object to be tested having a convex part with an opening.例文帳に追加

孔付凸部を有する被試験体の凸部に装着したキャップを抜き取る手間を省くことができるヘリウムリークテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device incorporating an analog/digital converter, which can be tested while a permissible error is set in a short time at a low cost.例文帳に追加

Ａ／Ｄコンバータを内蔵した半導体装置に対して許容誤差を設定してテストを行う場合、短時間かつ低コストで実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a test method for a non-volatile semiconductor memory by which quantity of disturbance and margin of disturbance can be tested and evaluated surely and in a short time.例文帳に追加

ディスターブ量及びディスターブマージンを正確に短時間で試験評価することができる半導体不揮発性メモリの試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic circuit system inspection method, capable of surely and in a short time detecting malfunctioning of an electronic circuit to be tested in an electronic circuit system.例文帳に追加

電子回路システム内の被試験電子回路の動作不良の検出を確実に、かつ、短時間で行える電子回路システムの検査方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a considerable cost reduction effect in a chip test by making an expensive chip tester unnecessary and shortening the inspection time of a chip to be tested by simultaneous parallel inspection.例文帳に追加

高価なチップテスターを不用とし、また同時並列検査による被テストチップの検査時間も短縮し、チップテストにおいて大幅なコスト削減効果を得る。 - 特許庁

Thus the functions of the service aid device are tested by simultaneously or time-differentially starting respective PCs through the batch control PC 19.例文帳に追加

一括制御用パソコンを介して各シミュレータ用パソコンを一斉起動または時間差起動させることにより、保守支援装置の機能試験を行う。 - 特許庁

At the time of testing, the signal SA is retained by the FF33 through the selectors 31, 32, and therefore the signal path between the circuit blocks 10A, 10B can be tested.例文帳に追加

テスト時に、信号ＳＡはセレクタ３１，３２を介してＦＦ３３に保持されるので、回路ブロック１０Ａ，１０Ｂ間の信号経路がテストできる。 - 特許庁

In addition, in such a case, data inherent to the DUT can be serially extracted and tested to be able to shorten a test time.例文帳に追加

また、この時、ＤＵＴ固有のデータをシリアルに取り出し検査を行うことができ、検査時間の短縮を図ることができるようにすることができる。 - 特許庁

To evaluate the performance of a lens to be tested in a short time, without adding a separate optical observation system, and without reducing the magnification of an image magnifying detection optical system.例文帳に追加

別の観察光学系を付加することなく、さらに、像拡大検出光学系の倍率を下げることなく、被検レンズの性能を短時間で評価する。 - 特許庁

To solve a problem wherein time is required as to lateral and diagonal-directional centering although longitudinal-directional centering is relatively easy, in a centering device for a vehicle to be tested.例文帳に追加

被試験車両のセンタリング装置においては、前後方向のセンタリングは比較的容易であるが、左右、斜め方向のセンタリングについては時間を要している。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of enhancing test efficiency and convenience by reducing the time required to preparation for testing of tested devices.例文帳に追加

被試験デバイスの試験の準備に要する時間を削減することにより、試験効率及び利便性を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

In interference fringes at that time, fine waviness component of the tested face (22a) is amplified relatively and reflected comparing with waviness components other than this component.例文帳に追加

このときの干渉縞には、被検面（２２ａ）の微細なうねり成分が、それ以外のうねり成分と比較して相対的に増幅されて反映される。 - 特許庁

Further, a plurality of the wafers W are continuously tested, whereby the external appearance test of the wafer W is performed in a standby time of the probing test of a next process.例文帳に追加

また、複数枚のウエハＷを連続的に検査することで、ウエハＷの外観検査を次工程であるプロービングテストの待機時間に行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening time required for a gradation test of a device to be tested by shortening time for quality determination based on a differential value between positive output and negative output.例文帳に追加

正極出力と負極出力との差分値に基づく良否判定にかかる時間を短縮して、被試験デバイスの階調テストに要する時間を短縮する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for sorting barley to be tested by which the barley to be tested can be sorted on the basis of viviparity, seed dormancy and malt KI (Kolbach Index); a plurality of specimens can be treated in a short time with easy operation; and application to a barley breeding spot is suited.例文帳に追加

穂発芽性、種子休眠性及び麦芽ＫＩに基づいて被検大麦を選別することができ、かつ作業が容易で、多検体を短時間で処理することができ、大麦育種現場への応用に適した被検大麦の選別方法を提供すること。 - 特許庁

An accessor class can facilitate the execution-time binding to a special unit to be tested, and also facilitates that a test produced in the development environment 310 can use information according to context required for accessing the unit to be tested.例文帳に追加

アクセサクラスは特定のテスト対象ユニットへの実行時バインディングを容易にすることができ、開発環境３１０において制作されたテストがテスト対象ユニットにアクセスするために必要なコンテキストに応じた情報を使用できるようにすることも容易にする。 - 特許庁

In the semiconductor device of an object to be tested, the signal delaying time is measured and then the noise quantity in the semiconductor device of the object from the signal delaying time and the relation between the noise quantity and the delayed time determined by using the LSI 10 for evaluation.例文帳に追加

試験対象の半導体装置において信号遅延時間を測定し、その信号遅延時間と、評価用ＬＳＩ１０を用いて求めたノイズ量と遅延時間の関係とから、試験対象の半導体装置内のノイズ量を推定する。 - 特許庁

To provide a tester for a semiconductor integrated circuit capable of reducing the consumption power at a time when a judgement result of good or bad of an object to be tested is written into a memory.例文帳に追加

被試験対象の良否の判定結果をメモリに書き込むときの消費電力を低減することができる半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

Next, the ROM pre-charge signal RP is made an L level, and the data holding time of the dynamic ROM is tested by confirming that a holding capacitor potential Vc0 is an H level.例文帳に追加

次に、ＲＯＭプリチャージ信号ＲＰをＬレベルにし、保持容量電位Ｖｃ０がＨレベルであることを確認することで、ダイナミックＲＯＭのデータ保持時間を検査する。 - 特許庁

According to this method, the stair pressurizing smoke control system can be tested in trial upon normal time while the ventilation and the night purge of respective living rooms can be effected in accordance with necessity.例文帳に追加

これにより、平常時にも階段加圧煙制御システムを試用することが可能になるとともに、必要に応じて各居室の換気およびナイトパージが実施される。 - 特許庁

To perform smooth display without artifact while a signal to be tested is extremely close to or uniformly synchronized to a sampling clock of a real-time spectrum analyzer.例文帳に追加

被試験信号が実時間スペクトラム・アナライザのサンプリング・クロックに非常に近いか又は一様に同期している際に、滑らかで、アーティファクトのない表示を行えるようにする。 - 特許庁

To provide a mount testing apparatus by which the propriety of land pattern design formed on a printed wiring board can be tested for a short time, and to provide its mount testing method.例文帳に追加

プリント配線板上に形成されるランドパターンの設計の適否を短時間で試験することができる実装試験装置およびその実装試験方法を提供する。 - 特許庁

Electrode subsets 142 may be tested by applying a test signal and monitoring the energy or a charge amount supplied during a prescribed time.例文帳に追加

電極サブセット１４２が、試験信号を印加して、規定された時間中に供給されるエネルギーまたは電荷量を監視することによって試験されることが可能である。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for measuring an intermolecular interaction, which enable the measurement in real time and measurement of a large number of solutions to be tested with a high throughput.例文帳に追加

リアルタイムで測定を行うことができ、多数の被検溶液をハイスループットで測定することができる分子間相互作用計測装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory testing apparatus that reduces the time for analyzing a failure by displaying the number of failures in each area of a device to be tested.例文帳に追加

被試験対象デバイスの各領域におけるフェイル数を表示し、フェイルの解析にかかる時間を短縮することが可能な半導体メモリ試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide the manufacturing method of a semiconductor device and a semiconductor integrated circuit device which can be tested in a short time and can suppress increase of chip area.例文帳に追加

短時間でテストが可能で、かつ、チップ面積の増大を抑制することが可能な半導体装置および半導体集積回路装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

The finish of 'unraveling' and 'inverting' is tested for each kind of coaxial wire 10 in advance, and action time is determined, based on the data for controlling with a timer.例文帳に追加

「ほぐし」と「反転」の終了は、予め、同軸線１０の種類毎に試験を行い、それぞれのデータに基づいて作用時間を決定しておき、タイマで制御する。 - 特許庁

Therefore, an expensive chip tester is made unnecessary and the inspection time of the chip to be tested is shortened by simultaneous parallel inspection, whereby a considerable cost reduction effect is obtained in the chip test.例文帳に追加

これにより、高価なチップテスターが不用になり、また同時並列検査によって被テストチップの検査時間も短縮し、チップテストにおいて大幅なコスト削減効果が得られる。 - 特許庁

To provide a flash memory device and a test method in which a test time and a test cost can be reduced and a redundant memory cell can be tested, without requiring the other circuit.例文帳に追加

別途の回路を不要にして、かつテスト時間とテストコストを削減してリダンダントメモリセルをテストすることができるフラッシュメモリ装置およびテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method capable of performing an ultrasonic flaw detection for a long period of time without imposing a load to an ultrasonic probe and an object to be tested.例文帳に追加

超音波探触子及び被検査体に長期に亘り、荷重を掛けることなく超音波探傷が行える超音波探傷方法を提供することにある。 - 特許庁