「Time-Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a function that allows a subscriber terminal station device for executing restriction on incoming calls received by an exchange from a point of time, when a test of a speech channel is started until a point of time when the test is completed as to a channel to be tested in a subscriber system network.例文帳に追加

加入者系ネットワークにおいて、被試験回線について通話路試験開始時点から完了時点までの間、加入者側端局装置から交換機の着信規制を実行させる機能を提供する。 - 特許庁

To provide a method for regenerating a gasket deformed by compression set due to long-time test at about 100°C so as to be again mounted on another HDD and tested.例文帳に追加

１００℃程度の温度で長時間試験に供され圧縮永久変形したガスケットを再度他のＨＤＤに装着して試験を行ない得るように再生する方法を提供すること。 - 特許庁

At the conduction test, every time when the harness elementary wire is connected during a manufacturing process of the wire harness to be tested, an acceptance judgment of the wiring network is performed until final stage.例文帳に追加

上記導通検査では、検査対象となるワイヤーハーネスの製造過程で上記ハーネス要素電線が接続される度に当該回路網の良否判別を最終段階まで行う。 - 特許庁

Thus, a time interval from reading of data from the memory cell to be tested to a bit line to the start of amplifying operation by a corresponding amplifier is made to be constant without depending on the position of the memory cell.例文帳に追加

これにより、試験するメモリセルからビット線にデータが読み出されてから、対応するセンスアンプが増幅動作を開始するまでの時間間隔をメモリセルの位置に依存せず一定になる。 - 特許庁

To enhance the efficiency of a test by increasing the number of semiconductor devices that can be tested in a fixed time.例文帳に追加

一定時間内に試験できる半導体装置の個数を増やすことにより、試験の効率を向上させることができる半導体試験装置の実行手順制御方式を提供すること。 - 特許庁

At a time when the international community’s unity in stabilizing the market is being tested, we strongly hope that other countries will also announce their pledges to make financial contributions to the IMF as soon as possible. 例文帳に追加

市場を安定させるための国際社会の結束が試されている今、他の国々からもIMFに対する資金貢献ができるだけ速やかに表明されることを切に期待します。 - 財務省

To achieve a highly reliable test by enabling to test at the most suitable operating ratio to a circuit margin of an circuit to be tested with an excellent efficiency against an electric power source noise in a short testing period of time.例文帳に追加

電源ノイズに対応して効率良く、短い試験時間で、被検査回路の回路マージンに最適な動作率で試験を行うことを可能とし、信頼性の高い試験を実現する。 - 特許庁

To provide a suction device for an electronic component testing device capable of ensuring a uniform pushing pressure at the time of pressing an electronic component to be tested in an adhered state by suction against the contact part of a test head.例文帳に追加

被試験電子部品を吸着した状態でテストヘッドのコンタクト部へ押し付ける際の押圧力を均一化できる電子部品試験装置用吸着装置を提供する。 - 特許庁

As a defective memory cell MC can be replaced by the spare memory cell SMC, yield is improved, and as a plurality of memory chips 2-4 are tested in parallel, a test time may be short.例文帳に追加

パッケージング後でも不良メモリセルＭＣをスペアメモリセルＳＭＣで置換できるので歩留りが向上し、複数のメモリチップ２〜４を並列にテストするのでテスト時間が短くて済む。 - 特許庁

To enable evaluation which suppresses variations of test results, while shortening the time for evaluation, by holding generation of heat of a part to be tested within the appropriate limits.例文帳に追加

タイヤのドラム耐久試験方法において、試験部位の発熱を適切な範囲に保つことにより、評価時間を短縮しつつ、試験結果のバラツキも抑える評価が可能とする。 - 特許庁

The HDD 1 predicts the number of defects at a stage where a portion of tracks is tested, and stops the test to thereby omit a useless test time when the predicted value exceeds a reference number.例文帳に追加

ＨＤＤ１は、一部のトラックについてテストした段階で欠陥数を予想し、その予想値が基準数を超える場合にテストを中止することで、無用なテスト時間を省略する。 - 特許庁

To obtain a method for monitoring and testing plural output signals from a circuit to be tested at the same time without switching by using one pattern monitor circuit and plural data comparing circuits.例文帳に追加

一つのパターン監視回路と複数のデータ比較回路を使用することにより、被試験対象回路からの複数出力信号を切替えなしで同時に監視・試験する方法を得る。 - 特許庁

To provide an inspection method increasing the number of solid-state imaging element to be tested while reducing an inspection time, and improving inspection efficiency, in inspection of a solid-state imaging element, and also to provide an inspection device.例文帳に追加

固体撮像素子の検査において、検査時間を短縮しつつ検査個数を増大させ、検査効率を高めることができる検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory rest circuit for which a test time can be shortened, which can be tested with actual operation speed, and of which testability can be improved as compared with the conventional one.例文帳に追加

メモリーに対するテスト時間を短縮するとともに、メモリーをその実動作速度でテストすることができ、従来に比べてテスタビリティを向上させることができるメモリーテスト回路を提供する。 - 特許庁

In an evaluation device 2 for a battery to be tested 1, an electronic load/direct current power supply part 213 performs charging and discharging of the secondary battery to be evaluated, and voltage measuring means 212 measures the voltage value of the battery to be tested 1 after the lapse of a fixed time after discharging by the electronic load/direct current power supply part 213.例文帳に追加

被試験電池１の評価装置２において、電子負荷／直流電源部２１３は、評価対象である二次電池の充放電を行ない、電圧測定手段２１２は、電子負荷／直流電源部２１３による放電後、一定時間経過後の被試験電池１の電圧値を測定する。 - 特許庁

To provide a memory test device and a memory test method which enable parts where quality decision can be omitted to be set individually for each memory to be tested in parallel and thereby shortening the test time.例文帳に追加

並列に試験される被試験メモリ毎に良否判定を省略する箇所を個別に設定可能とすることで、試験時間の短縮を図ることができるメモリ試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting a mutagen capable of more accurately performing the detection of the mutagen regardless of the coloration of a tested substance or presence or absence of a precipitated material, and reducing labor and time.例文帳に追加

被験物質の着色、または析出物の有無に関わらず、変異原検出をより正確に行え、且つ労力と時間を軽減することができる変異原検出方法を提供すること。 - 特許庁

To shorten a temperature rise and fall time of a tested object by efficiently creating a low temperature and high temperature state, in a tank of an electronic component temperature testing device that uses Peltier elements.例文帳に追加

ペルチェ素子を用いた電子部品の温度試験装置において、低温および高温の槽内状態を効率よく作り出すことにより、被試験物の温度上昇、下降時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a system for volatilizing/supplying a volatile substance in which the performance of a filter, an adsorbing material or the like for separating/adsorbing the volatile substance can be tested stably for a long period of time.例文帳に追加

揮発性物質の分離、吸着を行うフィルタや吸着材などの性能試験を長時間安定して行うことを可能にする揮発性物質の揮発供給システムを提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in method for an integrated semiconductor laser device that can constantly hold temperatures of a plurality of semiconductor laser elements when they are to be tested respectively and can shorten a testing time.例文帳に追加

複数の半導体レーザ素子のそれぞれの試験時の温度を均一に保持し且つ試験時間を短くすることができる集積型半導体レーザ装置のバーンイン方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a test device for a semiconductor memory in which a test time can be shortened by interrupting logical comparison after the block when a defect is detected once in a noticing block, in a memory to be tested.例文帳に追加

本発明は、被試験メモリにおいて、注目ブロックで一度不良が検出されたら、以後そのブロックで論理比較を行なわないことにより試験時間の短縮が可能な半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

To shorten the processing time required for the processing of verifying a circuit to be tested on the basis of test patterns of a number larger than that of the memory maximum length of a memory for storing the test patterns without increasing load on a test apparatus.例文帳に追加

テストパターン格納用メモリのメモリ最大長よりもパターン数の大きなテストパターンに基づく被テスト回路に対する検証処理に要する処理時間の短縮を、テスト装置の負荷増大を伴うことなく行う。 - 特許庁

To provide a technology for significantly reducing test man-hours for the withstand voltage test of a three-terminal capacitor using a simple device, and for making the withstand voltage test by a one-time withstand voltage test process of the three-terminal capacitor to be tested completed.例文帳に追加

簡便な装置で３端子コンデンサの耐電圧試験の試験工数を大幅に削減し、かつ被試験３端子コンデンサを１回の耐電圧試験工程で耐電圧試験を完了させる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a power clip and a testing device enabled to surely perform an power feed and discharge and signal detection at one time without giving damage to electrodes of electronic component as a body to be tested.例文帳に追加

被試験体としての電子部品の電極に傷をつけることなく、又、複数個の電子部品の給放電、信号検出を同時に確実に行うことができる通電用クリップと試験装置を提供すること。 - 特許庁

Control results at that time are outputted to the communication equipment through the communication controller and the installation type testing device, and the test result state of the communication path to be tested is also decoded and displayed by a portable testing device.例文帳に追加

そのときの制御結果は、通信制御装置，設置型試験装置を介して、通信機に出力され、またその当該被試験通信路の試験結果状態は携帯形試験装置で解読され表示される。 - 特許庁

To provide a device and a method for inserting an additional delay time to the timing data of a specific event in an event type semiconductor test system for testing an electronic device to be tested by generating events of various timing.例文帳に追加

各種のタイミングのイベントを発生して被試験電子デバイスをテストするためのイベント型半導体テストシステムにおいて、特定のイベントのタイミングデータに追加の遅延時間を挿入する装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide an address control circuit in which expansion of the circuit scale is prevented and the circuit delay time is less when an IC memory operated at a high speed is tested in a semiconductor test device.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体試験装置において、高速に動作するメモリＩＣの検査を行う際に、回路規模の拡大を防ぎ、回路遅延時間の少ないアドレス制御回路を提供することである。 - 特許庁

To provide a parallel test apparatus in which a signal for semiconductor memory apparatus can be varied at high speed when a plurality of semiconductor memory apparatuses are tested and a test time can be shortened.例文帳に追加

複数の半導体記憶装置をテストする際に、これら各半導体記憶装置に対する前記信号を高速に変化させることが可能で、テスト時間を短縮することが可能な並列試験装置を提供する。 - 特許庁

This repeatedly tests the expression and, if it is true, executes the first suite; if the expression is false (which may be the first time itis tested) the suite of the else clause, if present, is executed and the loop terminates.例文帳に追加

while 文は式を繰り返し真偽評価し、真であれば最初のスイートを実行します。 式が偽であれば (最初から偽になっていることもありえます)、else 節がある場合にはそれを実行し、ループを終了します。 - Python

To provide a photometric device capable of calibrating in a short time without requiring repetition of sensitivity calibration in each wavelength of each optical sensor, even when a spectral sensitivity characteristic is changed with elapse of time, and measuring highly accurately characteristics such as chromaticity, illuminance or color rendering properties of light to be tested.例文帳に追加

分光感度特性が経時により変化したとしても、各光センサの波長毎の感度校正をし直す必要がなく、短時間にて校正することができ、高精度に被試験光の色度、照度、演色性などの特性を高精度にて測定することが可能な測光装置を提供する。 - 特許庁

At a time of start of the device, since an engine inlet structure part 9 of the test chamber 2 is heated by heat of exhaust gas introduced into a tube (heating part) 10 wound around the same from the pressure reducing compressor 8 via a branch duct 12, temperature of inlet of the engine E to be tested is raised in a short period of time.例文帳に追加

装置の始動時に、テストチャンバ２のエンジン入口構造部９が、それに巻き付けたチューブ（加熱部）１０内に減圧用圧縮機８から分岐ダクト１２で導入される排気ガスの熱で加熱されるので、供試エンジンＥのエンジン入口温度の温度上昇が短時間に行われる。 - 特許庁

The burn-in test of the semiconductor device 302 to be tested is performed by supplying scan-in signals S102, memory test signals S103 and test mode control signals S101 from the test pattern generation means 301 to the semiconductor inspection device 100, time measurement is performed in the time measurement means 305 for the test result and the generation time of a defect/a fault is specified.例文帳に追加

テストパターン発生手段３０１から半導体検査装置１００にスキャンイン信号Ｓ１０２、メモリテスト信号Ｓ１０３、テストモード制御信号Ｓ１０１を供給して被試験半導体装置３０２のバーンイン試験を行い、その試験結果は時間計測手段３０５で時間計測が行われ不良・故障の発生時間を特定する。 - 特許庁

In this semiconductor device testing device, a waiting time proportional to the stopping time of a device power source up to the application timing of power source to the auxiliary circuit and the device to be tested is generated from the application timing, and the test is started after the delay of this waiting time, whereby the influence of the jitter generated in the auxiliary device is removed.例文帳に追加

補助回路と被試験半導体デバイスに電源を印可したタイミングからその印可タイミングに至るまでにデバイス電源が停止していた時間に比例する待ち時間を発生させ、この待ち時間の遅延後に試験を開始させることにより補助回路で発生するジッタの影響を除去する構成とした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, it is unnecessary to connect pins for bias to the input pads 13-15 being not used at the time of the test mode, thus the number of input pads needed for the connection of the pins is decreased to increase the number of devices to be simultaneously tested.例文帳に追加

従って、試験モード時に使用されない入力パッド１３〜１５に対してバイアス用のピンを接続する必要がなくなり、ピンの接続が必要な入力パッドの数が減少して、同測数を増加させることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that can reduce the size of a package, and at the same time can improve reliability in a test, and to provide a method for manufacturing the semiconductor device that can be tested without requiring any pins for external output.例文帳に追加

パッケージサイズを縮小化出来、または同時にテストの信頼性を向上できる半導体装置を提供すること、及び外部出力用のピンを必要とせずにテストできる半導体装置の製造方法を提供することにある。 - 特許庁

At the same time, the heads of the posts 32 standing on the substrate 1 project from the notches 30 of the upper member 25; and when the hook 33 engages with the head, the springs 27 are held in the compressed state and a pressure is applied to the battery 5 to be tested.例文帳に追加

同時に、上側部材２５のノッチ３０から、基板１上に立っているポスト３２が頭部を出すので、この頭部にフック３３を係合すると、スプリング２７は圧縮された状態に保持され、被験電池５に圧力が掛かる。 - 特許庁

At the time of testing a circuit 40, test control information is inputted externally to a test interface circuit 14 and set in the scan register 41 of circuit modules 21-24 to be tested through a test signal chain 20.例文帳に追加

被テスト回路（４０）のテストを行なうとき、外部からテストインタフェース回路（１４）にテスト制御情報を入力し、テスト対象回路モジュール（２１〜２４）のスキャンレジスタ（４１）にテスト信号チェーン（２０）を介してテスト制御情報をセットする。 - 特許庁

To reduce a temperature of a device to be tested having large self heat generation by a simple structure in a short time and increase its temperature quickly so as to enable temperature control without being affected by the self heat generation.例文帳に追加

本発明は、自己発熱の大きい被試験デバイスを、シンプルな構造で短時間で温度降下させ、また温度上昇も早くして、自己発熱に影響されにくい温度制御ができる半導体試験装置のハンドラを提供する。 - 特許庁

In addition, time of ultrasonic propagation on each receiving element part 4a-4y is measured by means of a time measuring part 17 and attenuation rates on every receiving element parts 4a-4y are measured by means of an attenuation rate measuring part 19 and evaluation of an object to be tested can be safely and with high accuracy performed by means of an operation averaging part 18.例文帳に追加

また、時間計測部（１７）によって各受信素子部（４ａ〜４ｙ）毎の超音波の伝播時間を計測するとともに、減衰率測定部（１９）によって受信素子部（４ａ〜４ｙ）毎の測定し、演算平均化処理部（１８）によって被検体（Ｈ）の評価を安全で且つ高精度に行う。 - 特許庁

An HW selection circuit 7, a channel selecting circuit 8, and a conversion circuit 9 receive the high efficiency multiplex encoded signal of a required time slot that is received/outputted, coverts the signal into a parallel signal and allows a tested signal RAM 6 to store the converted signal.例文帳に追加

この入出力される高能率多重符号化音声信号をＨＷ選択回路７、チャネル選択回路８、変換回路９により必要タイムスロットの信号を取り込み、パラレル信号に変換して被試験信号用ＲＡＭ６に記憶する。 - 特許庁

A debugger is provided with a variable reference management table 114 related with variables which are not present in a program to be tested such as global variables, and each time such variables are referred to, the table is referred to, and when a proper value is already set, this is used.例文帳に追加

デバッガの中にグローバル変数等の被テストプログラム内にない変数に関する変数参照管理テーブル114を設け、そのような変数の参照がある毎にテーブルを参照し、既に適切な値が設定されているならばそれを用いる。 - 特許庁

The burn-in counter 1 grasps the burn-in stress (the temperature applied and the voltage applied) applied to the circuit 3 to be tested, counts up (monitors) the burn-in stress, and outputs the burn-in stress information corresponding to the applied temperature, the applied voltage, and a burn-in stress time to the outside.例文帳に追加

バーインカウンタ１は、被テスト回路３に印加されるバーインストレス（印加温度及び印加電圧）を把握し、バーインストレスをカウントアップ（モニター）して、印加温度、印加電圧、及びバーインストレス時間に対応したバーインストレス情報を外部に出力する。 - 特許庁

Setting values inputted to items 'REC#1' and 'REC#2' of a spreadsheet 1 for input are made into text data and preserved as test data and at the time of unit module test, the preserved test data are read out and supplied to a module to be tested by a driver 3 for test.例文帳に追加

入力用スプレッドシート１の項目「REC#1」，「REC#2」に入力された設定値をテキストデータ化して試験データとして保存し、単体モジュール試験時に、試験用ドライバ３が保存した試験データを読み出し、被試験モジュール３へ供給する。 - 特許庁

When a setup and a hold time are tested, a control circuit 5 switches a multiplexer 31 to a pass side, the output side of the address register 13 and the output register 32 are connected, and the address data held in the address register 13 are transferred directly to an output register 32.例文帳に追加

セットアップ及びホールド時間のテスト時、制御回路によりマルチプレクサがパス側に切り換わり、アドレスレジスタの出力側と出力レジスタとが接続され、アドレスレジスタに保存されているアドレスデータが出力レジスタに直接転送される。 - 特許庁

After an antenna and an IC chip built in a unit card body 31 are tested, transfer sheets 20 are stuck to both sides, and transfer layers (having a protective layer 23, a printed layer 24 and an adhesive layer 25) are transferred at a time to express visual information.例文帳に追加

単位カード本体３１に内蔵されたアンテナ及びＩＣチップを試験した後、両面に転写シート２０を貼り付け、転写層（保護層２３，印刷層２４，接着層２５を有する）を一回で転写して、目視情報を表示する。 - 特許庁