「Time-Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test device and a test method with which the increase of temperature of a semiconductor device can be suppressed and test can be performed in short time without using any large scale cooling means even if a semiconductor device to be tested is a semiconductor device of high power.例文帳に追加

試験対象とする半導体装置が高パワー半導体装置であっても、大規模な冷却手段を用いることなく、半導体装置の温度上昇を防ぎ、かつ、短時間で試験を行うことのできる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

Respective measured chips 109, 110 which are the two respective semiconductor integrated circuit chips tested at the same time on a semiconductor wafer 189 are so provided that the output-terminal pads 111, 112 of the chip 109 and the output-terminal pads 115, 116 of the chip 110 are disposed symmetrically and adjacent to each other.例文帳に追加

半導体ウエハ１８９上で同時に試験される２個の各半導体集積回路チップである各被測定チップ１０９、１１０を、互いに出力端子用パッド１１１、１１２、１１５、１１６側が隣り合うように対称配置して設ける。 - 特許庁

To shorten the preliminary exhaust duration time, to detect a large quantity of leak, to make the sensitivity of a leak detector adapt to a detection according to the characteristic of the leak to be tested, and to remove the background noise of helium resulted from a primary pump by use of the same primary pump.例文帳に追加

同じ一次ポンプによって、予備排気持続時間を短縮すること、大量の漏れを検出すること、テストすべき漏れの特性に応じて漏れ検出器の感度を適合させること、一次ポンプから来るヘリウムの背景雑音を取り除くことである。 - 特許庁

To provide a flowmeter module that provides for real time measurement of the mass flow rates of various gaseous pollutants based on the actual exhaust flow rate, and does not require any correction of a vehicle to be tested.例文帳に追加

実際の排気ガス流量に基づく様々なガス状汚染物質の質量流量のリアルタイムの測定を規定するものであり、且つ試験を受けるべき車両に対して何の修正も要求しないように成した流量計モジュールを提供するものである。 - 特許庁

Afterwards, when an incoming signal inputted from the telephone switchboard 2 via the telephone line 2a is detected, the telephone line 2a is switched into busy state and after the lapse of the 'speaking time', a non-busy state is recovered so that the telephone switchboard 2 can be tested.例文帳に追加

その後、電話交換機２から電話回線２ａを介して入力される着信信号が検出されたときに電話回線２ａを通話状態に切り替え、「通話時間」が経過したときに非通話状態に戻すことで電話交換機２を試験する。 - 特許庁

To improve accuracy in timing calibration for making uniform the signal propagation time of each pattern signal propagation path of a semiconductor device testing device, constituted in such a way as to be provided with a plurality of channel pattern signal propagation paths for providing test pattern signals for a semiconductor device to be tested.例文帳に追加

被試験半導体デバイスに試験パターン信号を与える複数のチャンネルのパターン信号伝送路を具備して構成される半導体デバイス試験装置の各パターン信号伝送路の信号伝播時間を揃えるためのタイミング校正の精度を向上する。 - 特許庁

In measurement of the light emission, the sample is made to flow in the flow passage, and reaches the focal area of the objective lens after the self-fluorescence of the foreign substance disappears after a predetermined time passes after irradiating the exciting light, and the light emission from the substance to be tested is detected there.例文帳に追加

発光の計測に於いては、試料は流路内に流通され、励起光が照射されてから所定時間経過後、夾雑物の自家蛍光が消滅してから、対物レンズの焦点領域に到達し、そこで、被検物質からの発光が検出される。 - 特許庁

To provide an automobile testing apparatus capable of performing axial alignment for a short time in the step replacement of an FF vehicle and a FR vehicle being objects to be tested, easily enabling axial alignment, having no danger in handling and capable of also reducing labor cost.例文帳に追加

ＦＦ車とＦＲ車の供試体段取替において短時間で軸心合わせが行え、かつ容易に軸心合わせが可能となり、また取り扱いに危険性がなく、更に人件費も軽減することが出来る自動車用試験装置を提供することにある。 - 特許庁

To determine an assembling sequence in a mixed production system, so as to eliminate delay of the start of a test due to the test sequence of a product to be tested and allocation to a testing device, and efficiently execute subsequent tests by increasing spare time of each test time even if any trouble occurs in the set test sequence.例文帳に追加

本発明の課題は、混流生産システムにおいて、試験対象の製品の試験順序、該当試験機への割り当て方による試験開始の遅延を無くし、また、個々の試験時間の空き時間を長くして、設定した試験順序でトラブル等が発生しても以後の試験を効率良く実行できるように設定することである。 - 特許庁

In the system and method, parallel stress is applied to all DUTs in an arbitrary chip to shorten stress time, and then while preventing the generation of relaxation by holding the other DUTs of the chip at a stressed state, each DUT of the chip can be individually tested.例文帳に追加

本システムおよび方法は、任意のチップのＤＵＴの全ての並列ストレスを実施してストレス時間を短くし、それから、そのチップの他のＤＵＴをストレスがかかった状態に保ってリラクゼーションが起こるのを防ぎながら、そのチップの各ＤＵＴを個々に試験することができるようにする。 - 特許庁

This invention provides a method for imaging in-vivo information in real time wherein the method contains a process of converting β ray emitted from the β ray-emitting radioactive nuclide taken up by the tested object into visible light via the scintillator and a process of photographing the visible light.例文帳に追加

また、β線を放出する放射性核種を取り込んだ被験体から放出されるβ線を、シンチレータを介して可視光に変換する工程；及び、該可視光を撮影する工程を包含する、生体内情報をリアルタイムで画像化するための方法を提供する。 - 特許庁

This device is provided with a test mode switching circuit 4 in which sense amplifier circuits 5a-5d in all operation blocks 2a-2d are activated independently of block selecting signals BS1-BS4 at the time of test mode where it is tested whether an operation current of a semiconductor memory 1 satisfies a standard requirement or not.例文帳に追加

半導体記憶装置１の動作電流が規格を満足しているか否かをテストするテストモード時に、外部から入力されるブロック選択信号ＢＳ１〜ＢＳ４に関係なく、すべての動作ブロック２ａ〜２ｄにおけるセンスアンプ回路５ａ〜５ｄを活性化させるテストモード切換回路４を備えた。 - 特許庁

To provide: a synchronization system capable of carrying out individualized time synchronization with a tested apparatus (an opposite apparatus) that performs an opposite test and communications to establish a flexible opposite environment, and capable of reducing a development work quantity of a pseudo switching equipment (the communications apparatus); a synchronization method; a synchronization program; and a communications apparatus.例文帳に追加

対向試験や通信を行う被試験装置（対向装置）と個別の時刻同期を行い柔軟な対向環境を構築することができ、擬似交換機（当該通信装置）の開発作業量を削減することができる同期システム、同期方法、同期プログラム及び通信装置を提供する。 - 特許庁

At the time of an initial operation, one absolute location is selected as an unadjusted steering location from a plurality of absolute locations, the unadjusted steering location is updated according to a sensor output change, a pair of recursion offsets are tested at the update location, the recursion offset outside the range of the absolute locations are eliminated and lastly left recursion offsets are latched.例文帳に追加

初期操作時には、未調整操舵位置として複数の絶対位置から一つを選択し、センサ出力変化に応じて未調整位置を更新し、該更新位置での１組の回帰オフセットをテストし、絶対位置の範囲外のものを除外し、最後に残った回帰オフセットをラッチする。 - 特許庁

To provide a burn-in test program simulation device, its method, and a storage medium for simulating a burn-in test program for executing a burn-in test on an IC without using any actual device or any IC to be tested so as to shorten the evaluation time.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣのバーンイン試験を実行するためのバーンイン試験プログラムを実装置及び被試験ＩＣを使用せずにシミュレーションすることで評価時間を短縮するバーンイン試験プログラムのシミュレーション装置及び方法と記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

At the time of evaluating the polarity inverting ability of the DC power equipment, such as the DC cable, etc., the ability is evaluated and tested by impressing an impulse voltage upon the power equipment a plurality of number of times at prescribed intervals, while a preimpressed DC voltage is maintained.例文帳に追加

直流ケーブル等の直流用電力機器の極性反転性能を評価するのに際して、電力機器に、事前に印加した直流電圧を維持しながらインパルス電圧を所定の間隔で所定の回数印加することによって極性反転性能の評価試験を行う。 - 特許庁

The backscattered beams of the test light produced on the optical cable are received by a receiving part 124 via the light circulator 123 and changes in strength of the received backscattered beams with time are totalized by an analyzing part 125, so that the optical cable is tested based on the result.例文帳に追加

光線路で発生した試験光の後方散乱光は、光サーキュレータ１２３を経て受光部１２４により受光されて、解析部１２５により、受光された後方散乱光の強度の時間変化が積算されて、この積算結果に基づいて光線路が試験される。 - 特許庁

The tape library test device transfers a medium sequentially from the top cell to the final cell on the basis of cell information that is predetermined in a tape library device to be tested, and measures a medium conveyance time required for each inter-cell transfer of the medium.例文帳に追加

テープライブラリ試験装置は、試験対象のテープライブラリ装置において予め定義されるセル情報に基づいて、先頭セルから順次媒体を最終セルまで移動させて、各セル間ごとに、媒体を移動させるのに要した時間である媒体搬送時間を計測する。 - 特許庁

Then, the surface of the object to be tested 2 and the ultrasonic probe 1 are adhered tightly via a third metal (silver sheet 3c), which is a different material from the first and second metals which form films thereon, and a predetermined temperature and load are applied to this adhered portion for a certain period of time, and then the load is removed.例文帳に追加

その上で、被検査体２の面及び超音波探触子１に成膜した第１及び第２の金属とは異なる材質の第３の金属（銀シート３ｃ）を介して密着させ、この密着部に所定の温度及び荷重を一定時間印加した後、荷重を開放する。 - 特許庁

To provide a fire detector whose test time in one fire detector is short, whose total time is shortened when many fire detectors are sequentially tested, and in which a worker's burden is less in a fire detector in which one fire detector includes: a test means of a fire detection part in the right direction; and a test means of a fire detection part in the left direction.例文帳に追加

１つの火災検知器に右方向の火災検出部の試験手段と左方向の火災検出部の試験手段とを有する火災検知器において、１つの火災検知器における試験時間が短く、多数の火災検知器を順次、試験する場合、その合計の試験時間が短縮され、作業員の負担が少ない火災検知器を提供することを目的とする。 - 特許庁

If a person having any claim to, or in relation to, any goods of which samples have been selected and tested in pursuance of rules under sub-section (1), or of an order under sub-section (2), desires that any further samples of the goods be selected and tested, such further samples shall, on his written application and on the payment in advance by him to the court or officer of customs, as the case may be, of such sums for defraying the cost of the further selection and testing as the court or officer may from time to time require, be selected and tested to such extent as may be permitted by rules made by the Central Government in this behalf or as, in the case of goods with respect to which provision is not made in such rules, the court or officer of customs may determine in the circumstances to be reasonable, the samples being selected in the manner prescribed under sub-section (1), or in sub-section (2), as the case may be. 例文帳に追加

(1)による規則又は(2)による命令に従い見本を選択し，かつ，検査した商品に対して又は関して不服がある者が，更に追加見本を選択し，かつ，検査すべきことを希望する場合において，その者の申請書の提出があり，かつ，裁判所若しくは税関吏の随時必要とする追加選択検査費に充当する金額の裁判所又は場合に応じて税関吏に対する前納があったときは，本件について中央政府が制定した規則が許容し又はそのような規則に規定されていない商品については，裁判所若しくは税関吏がその状況下で適切であると決定することができる範囲で，前記追加見本を選択し，かつ，検査しなければならないものとし，見本は，(1)又は場合に応じて(2)に規定する方法により選択する。 - 特許庁

Multiple memory cells are sequentially tested and error pattern information is updated based on a relative arrangement relation of multiple defective memory cells each time a defective memory cell is detected by the test, and error address information is updated based on at least a part of the addresses of the multiple defective memory cells.例文帳に追加

複数のメモリセルに対して順番にテストを行い、テストによって不良メモリセルを検出するたびに、複数の不良メモリセルの相対的な配置関係に基づいてエラーパターン情報を更新するとともに、複数の不良メモリセルの少なくとも一部のアドレスに基づいてエラーアドレス情報を更新する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can greatly shorten test time required for tests by enabling measurement of three or more signals simultaneously and by greatly increasing the number of devices under test (DUT) which can be tested simultaneously, and can largely improve flexibility in the allocation of DUT pins.例文帳に追加

３信号以上の同時測定を可能にするとともに同時試験可能なＤＵＴの数を大幅に向上させることで試験に要する時間を大幅に短縮することができ、更にはＤＵＴのピンの割り付けの自由度を大幅に向上させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

In this IC testing system, the chip arrayals to be tested at one time in a wafer prober 200 are made to correspond to the positions on rectangular coordinates for transmitting respective coordinates as character string data to an IC testing device 300, where the location data comprising the character string data are converted into the chip map data to generate the chip map using these chip map data.例文帳に追加

ウェハプローバにおいて一度に試験するチップの配列を直交座標上の位置に対応させ、各座標を文字列データとしてＩＣ試験装置に伝送させ、ＩＣ試験装置ではチップマップ変換手段により文字列データから成るロケーション・データをチップマップデータに変換し、このチップマップデータを使ってチップマップを作成する。 - 特許庁

To provide a separation method for accurately separating chloride ion containing ^36Cl from chloride ion containing ^36S in a shorter time than that required for a conventional barium sulfate method; with high reproducibility not depending on the subjectivity, ability, or skill of an operator; even in a case that a chloride ion concentration of a sample to be tested is low.例文帳に追加

従来法である硫酸バリウム法よりも短時間で、作業者の主観や技量、熟練度に依存することなく高い再現性をもって、しかも被検試料の塩化物イオン濃度が希薄な場合であっても、^３６Ｃｌ含有塩化物イオンを^３６Ｓ含有硫酸イオンから確実且つ精度よく分離する。 - 特許庁

The method for screening a shrinkage inhibitor of a vascular endothelial cell or the capillary stabilizer comprises culturing a collagen gel seeded with the vascular endothelial cell, with a tested sample for a prescribed time, and measuring a gel area of the collagen gel to judge the gel shrinkage-inhibiting effects of the test sample.例文帳に追加

血管内皮細胞を播種したコラーゲンゲルを、被検試料と共に一定時間培養し、当該コラーゲンゲルのゲル面積を測定することにより被検試料のゲル収縮抑制効果を判定することを特徴とする血管内皮細胞収縮抑制剤又は血管強化剤のスクリーニング方法。 - 特許庁

The device and method for testing the integrated circuit comprised of at least two circuit parts operated by at least two different clock signals at normal operation are provided, and the circuit operated by the plurality of clock signals is tested for a minimum time by minimum test vectors.例文帳に追加

通常動作において、少なくとも２つの異なるクロック信号によって動作する少なくとも２つの回路部分からなる集積回路をテストするための装置および方法を提供し、さらに、複数のクロック信号によって動作する回路を、最小限の時間で、かつ、最小限のテストベクトルによってテストする。 - 特許庁

To provide a low-temperature condition testing device for a handler and its method capable of reducing a maintenance and management cost and a device manufacturing cost by simple constitution, of holding high cooling efficiency, of freely taking and putting a semiconductor device of a tested object out and in from a testing device, and of shortening a testing work time.例文帳に追加

簡単な構成で維持管理コスト及び装置製造コストが低廉であり、しかも高い冷却効率を保持し、さらに、被試験対象の半導体デバイスの装置内からの出し入れを自在に行なえて試験作業時間を短縮し得るハンドラの低温条件試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

In this case, the kind, number and order of frequencies or frequency channels to be tested and test time are defined in the beginning of measurement and the measured values of the frequency channels can be provided without exchanging any protocol between the electric test device and the telecommunication equipment.例文帳に追加

本発明の特徴は、計測の始めに、サンプルされるべき周波数または周波数チャネルの種類、数、順序およびテスト時間が定義されること、および、上記周波数チャネルにおける計測値が、上記電気テスト装置と上記電気通信装置との間でプロトコルを交換せずに得られることである。 - 特許庁

The wire harness W is laid on a test jig 1, having the movable parts (a seat cushion part 3, a seat back part 6) which is operable substantially similarly to the driver's seat on which the wire harness W is actually laid, and the bending life time, until the wire harness W reaches disconnection is tested by operating each movable part reciprocatingly in parallel.例文帳に追加

ワイヤーハーネスＷが実際に敷設される運転シートと略同動作が可能な可動部位（シートクッション部３，シートバック部６）を有する試験治具１に、ワイヤーハーネスＷを敷設し、各可動部位を併行して往復動作させて、ワイヤーハーネスＷが断線に至るまでの屈曲寿命を試験する。 - 特許庁

(4) If a person having any claim to, or in relation to, any goods of which samples have been selected and tested in pursuance of rules made under sub-section (1) or of an order passed under sub-section (2) desires that any further samples of the goods be selected and tested, such further samples shall, on his written application and on the payment in advance by him to the Court or officer of customs, as the case may be, of such sums for defraying the cost of the further selection and testing as the Court or officer may from time to time require, be selected and tested to such extent as may be permitted by with respect to which provision is not made in such rules, the Court or officer of customs may determine in the circumstances to be reasonable, the samples being selected in the manner prescribed under sub-section (1) or in sub-section (2), as the case may be. 例文帳に追加

(4)本条第(1)項により制定された規則により又は第(2)項により発出された命令に従って見本の抜き取り検査が行われた商品に、又はそのような商品に関係して、何らかの請求をなす者が当該商品の見本の追加的な抜き取り検査を希望する場合、そのように追加される見本につき、その者が裁判所又は税関職員(場合に応じ)に対する申請書の提出、及びかかる追加的な抜き取り検査の費用として裁判所又は税関職員が随時求める負担金額の前払いがあり次第、当該規則中に定めがない範囲に関し許容される限度で抜き取り検査が行われるものとし、判所又は税関職員は、相当の理由があれば、本条第(1)項又は第(2)項(場合に応じ)に基づき、所定の方式で選択する見本を決定することができる。 - 特許庁

The burn-in testing device 300 is provided with a test pattern generation means 301 for generating a test pattern for performing a burn-in test, a semiconductor device 302 to be tested, a scan judgement means 303, and a time measurement means 305 controlled by the output signals of the scan judgement means 303 and the output signals of a memory judgement means 304.例文帳に追加

バーンイン試験装置３００は、バーンイン試験を行うためのテストパターンを発生するテストパターン発生手段３０１と、被試験半導体装置３０２と、スキャン判定手段３０３と、スキャン判定手段３０３の出力信号およびメモリ判定手段３０４の出力信号によって制御される時間計測手段３０５を備える。 - 特許庁

Without going into a long discussion of this complex issue, while at the same time acknowledging that a precise definition of science is a contentious question, let me propose that science is a way of explaining natural phenomena with physical models and theories which generate predictions which can be tested publicly and repeatedly by observation 例文帳に追加

この複雑な問題についての長い議論に加わらなくても、一方で同時に科学の正確な定義というのは議論の余地の多い問題だと分かっているので、科学とは観測によって公けにかつ繰り返し検証できる予測を生み出す物理的モデルや理論を使って自然現象を説明する方法である、と提唱しておこう - Ian Johnston『科学のカリキュラムで創造説？』

The conduction type determination device 1 includes a pulse waveform generator 2, an amplifier 3, a pair of counter electrodes 4, an optical detector 7 for detecting light emission from a semiconductor subject to be tested, a signal amplifier 8 and an oscilloscope 9 which displays the light emission output waveform from the optical detector 7 and the pulse waveform from the pulse waveform generator 2 on the same time axis.例文帳に追加

伝導型判定装置１は、パルス波形発生装置２と、増幅器３と、１対の対向電極４と、半導体被検体からの発光を検出する光検出器７と、信号増幅器８と、光検出器７からの発光出力波形およびパルス波形発生装置２からのパルス波形を同一時間軸上に表示するオシロスコープ９とからなる。 - 特許庁

In the semiconductor integrated circuit test system performing test of a device X being measured under test conditions corresponding to the ambient temperature, the detection value of a temperature sensor 2a for detecting the ambient temperature at the time of test is compared with a prestored temperature evaluation value and the device X being measured is tested by setting specific test conditions depending on the comparison results.例文帳に追加

周囲温度に応じた試験条件で被測定デバイスＸの試験を実行する半導体集積回路試験装置であって、試験時の周囲温度を検出する温度センサ２ａの検出値を予め記憶された温度評価用しきい値と比較照合し、当該比較照合の結果に応じて特定の試験条件を設定して被測定デバイスＸを試験する。 - 特許庁

With respect to any goods for the selection and testing of samples of which provision is not made in any rules for the time being in force under sub-section (1), the court or officer of customs, as the case may be, having occasion to ascertain the number, quantity, measure, gauge or weight of the goods, shall, by order in writing, determine the number of samples to be selected and tested and the manner in which the samples are to be selected. 例文帳に追加

(1)により現に効力を有する規則にもその規定が定められていない見本の選択及び検査のための商品に関して，裁判所又は場合に応じて税関吏は，その商品の数，量，寸法，容量，又は重量を確認する場合は，書面による命令により，選択し，かつ，検査すべき見本の数及び見本を選択する方法について，決定する。 - 特許庁

(2) With respect to any goods for the selection and testing of samples of which provision is not made in any rules for the time being in force under sub-section (1) the Court or officer of customs, as the case may be, having occasion to ascertain the number, quantity, measure, gauge or weight or the goods, shall, by order in writing, determine the number 52 of samples to be selected and tested and the manner in which the samples are to be selected. 例文帳に追加

(2)本条第(1)項に基づきその時点で有効ないずれの規則においても規定が制定されていない、見本の抜き取り検査が必要な商品について、当該商品の個数、数量、度量、ゲージ又は重量を確認する機会がある裁判所又は税関職員(場合に応じ)は、命令書により、抜き取り検査をすべき見本の個数と見本の選択方式を決めるものとする。 - 特許庁

A write control circuit 8 is equipped with a flip-flop circuit which inverts its output each time a TAP controller 14 outputs an idle signal Idle representing that the TAP controller 14 is idle and is reset with a reset signal Reset outputted by the TAP controller 14 and this flip-flop circuit outputs its output as a write enable signal JWrEn to the tested circuit 4.例文帳に追加

書き込み制御回路８は、ＴＡＰコントローラ１４がアイドル状態であることを表すアイドル信号ＩｄｌｅをＴＡＰコントローラ１４が出力するごとに出力を反転させ、かつＴＡＰコントローラ１４が出力するリセット信号Ｒｅｓｅｔによりリセットされるフリップフロップ回路を備え、このフリップフロップ回路はその出力を書き込み許可信号ＪＷｒＥｎとして被テスト回路４に出力する。 - 特許庁

To provide a method, system and program for evaluating learning disability which can easily obtain clear evaluation, in a short time, while minimizing the stress of tested animals to be suitable for screenings of central nervous system disorder or disease, its curative medicine, side effects of the curing medicine, and to provide its test model animals.例文帳に追加

簡便で、被験動物のストレスが少なく、かつ、短時間で明確な評価が得られ、中枢神経系障害又は疾患のスクリーニング、中枢神経系障害又は疾患の治療薬のスクリーニング、中枢神経系障害又は疾患の治療薬の副作用のスクリーニング、中枢神経系障害又は疾患モデル動物のスクリーニングに好適な学習機能障害評価方法、並びにその装置及びプログラムを提供する。 - 特許庁

When this voltage reduction detection circuit 6 is tested, a test signal is inputted into a test signal input terminal 8, a test signal T1 for Hi and a test signal T2 for Low are inputted into the measurement result output circuit 11, and the signals L1, L2 are logically computed in the measurement result output circuit 11 and are outputted from the monitor terminal 9 in time series.例文帳に追加

このような半導体集積回路装置１の減電圧検出回路６をテストするとき、テスト信号がテスト信号入力端子８に入力されて、Ｈｉのテスト信号Ｔ１及びＬｏｗのテスト信号Ｔ２が測定結果出力回路１１に入力され、信号Ｌ１，Ｌ２が測定結果出力回路１１で論理演算されて時系列的にモニター端子９より出力される。 - 特許庁