「Unit test」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

When the self-diagnosis test is performed, the test signal generation unit 48 generates a test signal St by dividing and multiplying a frequency of a reference signal So generated by the reference oscillator 34 and at the same time, the DDS 40 generates a local frequency signal Sl based on the reference signal So, and frequency data and code data in a code data storage unit 46.例文帳に追加

自己診断試験の際に、テスト信号生成部４８は、基準発振器３４にて生成した基準信号Ｓｏの周波数を分周し逓倍することよりテスト信号Ｓｔを生成し、一方で、ＤＤＳ４０は、基準信号Ｓｏと符号データ格納部４６中の周波数データ及び符号データとに基づいてローカル周波数信号Ｓｌを生成する。 - 特許庁

A magnetism detection element 20 for outputting a magnetic detection signal after detecting magnetism caused by the proximity of a test magnet as a test operating unit of the radio type sensing device 16 is provided, then test communication is performed when a predetermined time period is elapsed after an output of the magnetic detection signal is interrupted by removing the test magnet therefrom after outputting the magnetic detection signal by the magnetic detection element 20.例文帳に追加

無線式感知器１６の試験操作部として試験用磁石の近接による磁気を検出して磁気検出信号を出力する磁気検出素子２０を設け、磁気検出素子２０が磁気検出信号を出力した後に試験用磁石を遠ざけることで磁気検出信号の出力が断たれると、所定時間を経過した時に試験通信を行う。 - 特許庁

The voltage drive unit 200 is connected with the through via 100 and receives the input voltage V1, and generates a test voltage VT by changing the level of the input voltage V1 in response to test control signals EN_P and EN_N.例文帳に追加

前記電圧駆動部２００は前記貫通ビア１００と連結されて前記入力電圧Ｖ１を受信し、テスト制御信号ＥＮ＿Ｐ，ＥＮ＿Ｎに応答して前記入力電圧Ｖ１のレベルを変化させてテスト電圧ＶＴを生成する。 - 特許庁

The CPU 10 of this optical information recording and reproducing device moves a PU unit 15 to the PCA area of an optical disk 2 and performs trial writings of test signals of plural steps with respect to the PCA area and reproduces respective test signals recorded on the PCA area.例文帳に追加

ＣＰＵ１０は、ＰＵユニット１５を光ディスク２のＰＣＡ領域へ移動させ、ＰＣＡ領域に対する複数段階のテスト信号の試し書きを行ない、ＰＣＡ領域に記録された各テスト信号を再生する。 - 特許庁

An integrated circuit wherein a test access port and a control register which enables specified addressing by a user are incorporated is included, and a switch unit for switching a test access port and a user addressable control register is also provided alternately.例文帳に追加

試験アクセスポート及びユーザーによるアドレス指定が可能な制御レジスタが組み込まれた集積回路を含み、試験アクセスポートとユーザーアドレス指定可能制御レジスタとの間を交互に切り替える為のスイッチユニットも設けられている。 - 特許庁

To allow a blood sampling worker with sitting on a chair for a plurality of units to receive trays by integrally incorporating a tray unit for receiving test tubes into an intermediate portion of a test tube preparation device.例文帳に追加

試験管準備装置の中間部に試験管を回収するトレイユニットを一体的に組み込むことで、複数台の採血作業者が椅子へ座ったままの状態でトレイを受け取ることのできるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device allowing a test in a relation where generation of a test pattern is synchronized with operation of each receiving unit in the set and change of the operating condition of the hard resource possessed by the semiconductor testing device to be executed.例文帳に追加

半導体試験装置が備えるハード資源（ハードリソース）の動作条件を設定変更するときに、試験パターンの発生と各受信ユニットとの動作を同期した関係で試験実施可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit test device and its method capable of efficiently performing a test of an object of writing, reading and eliminating the data, by a unit of a block of a specific size of a flash memory and the like.例文帳に追加

フラッシュメモリ等の特定の大きさのブロックを単位として、データの書き込み、読み出し、及び消去を行う被試験対象の試験を効率的に行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system and method for determining data error of an optical network facility where the existence/non-existence of data error is automatically determined, by combining the result of light-receiving level confirmation test and the result of an optical network unit (ONU) state confirmation test, with respect to an ONU.例文帳に追加

受光レベル確認試験の結果とＯＮＵに対するＯＮＵ状態確認試験の結果とを組み合わせてデータ誤りの有無を自動判定する光ネットワーク設備データ誤り判定システム及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate jig board which simultaneously fixes a plurality of substrates to be tested, brings them to suitably respond to an in-line automatic conveyance, and prevents them from breaking even when a test head contacts therewith, and to provide a substrate test-use jig unit embedding the same.例文帳に追加

複数の被検査基板を同時に定置させてインラインでの自動搬送に好適に対応させ、かつ、テストヘッドを接触させても割れないようにした基板治具ボードおよびこれを組み込んだ基板検査用治具ユニットの提供。 - 特許庁

As a result, a pressing force is transmitted from the driven section 5e to a guide unit 11 through a shaft coupling section 6 and a gear mechanism section 7, a slider test piece P_1 being pressed onto a trolley wire test piece P_2 with the almost constant pressing force.例文帳に追加

その結果、被駆動部５ｅから軸継手部６及び歯車機構部７を通じてガイド装置１１に押付力が伝達され、トロリ線試験片Ｐ_2にすり板試験片Ｐ_1が略一定の押付力で押し付けられる。 - 特許庁

A test determination unit 16 detects the presence/absence of a response operation input from a user who has recognized the appearance of the first figure when the first figure appears at the particular position on the display screen, while the test image is output.例文帳に追加

テスト判定部１６は、テスト用画像が出力されている間、ディスプレイ画面の特定位置に第１図形が出現したとき、該第１図形の出現を認識したユーザから入力される応答操作の有無を検出する。 - 特許庁

A testing part is formed in an alarm device arranged in each dwelling unit of the apartment house, and the testing part executes automatically a test on the fire sensor or the like.例文帳に追加

共同住宅の各住戸内に配置される警報装置に試験部を設け、試験部は、火災感知器などに対する試験を自動的に実施する。 - 特許庁

The receiving unit connects to a connection destination, and if it receives test signal light, returns response signal light, and at the time of the communication service, receives signal light.例文帳に追加

受信部は、接続先に接続して、試験信号光を受信した場合には応答信号光を返信し、通信サービス時には信号光を受信する。 - 特許庁

A test pattern is printed using an ink other than yellow and defective nozzles are specified by checking all nozzles in each nozzle array of a print head unit 21.例文帳に追加

イエロー以外のインクを用いてテストパターンを印刷して印字ヘッドユニット２１の各ノズル列４３の全ノズル４２をチェックし不良ノズルを特定する。 - 特許庁

To provide the technology for preparing a test print for calculating coefficient of correction of an exposure unit for forming image on a photosensitive material by exposing to light efficiently.例文帳に追加

感光材料上に画像を露光形成する露光ユニット補正係数を算出するためのテストプリントを効率的に作成する技術を提供する。 - 特許庁

A circuit operation verification system includes a computer, a programmable logic device constituting a circuit to be tested, a test bench unit for performing operation verification of the circuit to be tested.例文帳に追加

回路動作検証システムは、計算機と、被テスト回路が構成されたプログラマブルロジックデバイスと、被テスト回路の動作検証を行うテストベンチ部と、を備える。 - 特許庁

The acquired data read from a boundary-scan register is analyzed by the processing unit of the test device 42 in order to examine the connection between the driver and the sensor.例文帳に追加

バウンダリスキャンレジスタから読み出された捕捉データが、ドライバとセンサの間の接続を調べるためにテスト装置４２の処理ユニットによって分析される。 - 特許庁

When a user logs in to a specimen test device, the information processing unit 5 accepts input of a user ID and password to perform user authentication.例文帳に追加

操作者が検体検査装置にログインするとき、情報処理ユニット５は、使用者ＩＤ及びパスワードの入力を受け付け、使用者認証を行う。 - 特許庁

To provide a communication unit test apparatus that can display a sequence diagram capable of being referenced in the case of making settings related to signal transmission / reception.例文帳に追加

信号の送受信に係る設定を行う際に参照できるシーケンス図を表示することができる通信機器試験装置を提供すること。 - 特許庁

In inspection, an inspection time decision unit 8 determines whether a test object is put in a normal state by using a plurality of identifies selected in learning.例文帳に追加

検査時判定部８は、検査時において、学習時に選択された複数の識別器を用いて検査対象物が正常状態であるか否かを判定する。 - 特許庁

The control unit 20 controls a piezoelectric resonator 15 of the driving part 14 such that the frictional force between the test strips may not exceed a predetermined prescribed value.例文帳に追加

制御装置２０は試験片間の摩擦力が予め定められた所定の値を超えないように駆動部１４の圧電振動子１５を制御する。 - 特許庁

To provide a battery pack of simple structure using a few number of component parts and facilitating test on a secondary battery and electronic circuit unit encapsulated in a vessel.例文帳に追加

容器に封入した二次電池および電子回路ユニットのテストが容易であり、しかも部品点数が少なく構造の簡単な電池パックを提供する。 - 特許庁

A unit delay simulator 4 is actuated first and the gate and wires of the logic circuit are estimated to a uniform delay time to find answer output to a test pattern.例文帳に追加

当初、ユニット遅延シミュレータ４を起動し、論理回路のゲートおよび配線を一律の遅延時間に見積もってテストパタンに対する応答出力を求める。 - 特許庁

The test base 10 supports and fixes the inner magnet C_1 of a tested pump C to the inside circumferential side of the inspecting coupling unit A in a non-contact insertion state.例文帳に追加

前記テスト台１０にて被テストポンプＣのインナーマグネット部Ｃ_１ を前記検査用カップリング体Ａ内周側に非接触挿入状態で支持固定すること。 - 特許庁

To provide a performance test for an overvoltage protection circuit in a power supply unit using a synchronous rectification element by applying an external voltage to an output terminal.例文帳に追加

同期整流素子を用いた電源装置の過電圧保護回路の動作試験を、出力端子に外部電圧を印加する方法で実現する。 - 特許庁

The central processing unit 30 comprises a cache memory 40, a test circuit 50 connected to the cache memory 40, and a result storage area 60.例文帳に追加

中央演算処理装置３０は、キャッシュメモリ４０と、そのキャッシュメモリ４０に接続されるテスト回路５０と、結果格納領域６０とを備える。 - 特許庁

Thus, all steps of a unit pass are carried out to facilitate an increase in coverage by performing a test in the case that the processing is normally finished.例文帳に追加

これにより、正常に処理が終了する場合のテストを行なうことにより、ユニットパスの全てのステップが実行され、カバレッジを上げることが容易となる。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device, having a built-in terminal for test that can easily evaluate the operation condition of a semiconductor device unit on a packaging substrate.例文帳に追加

容易に実装基板上での半導体装置単体の動作状況について評価することができる試験用端子内蔵半導体装置を得る。 - 特許庁

A test liquid L is regulated to predetermined high pressure by a pressure regulator 5 and supplied to a pressure increasing/reducing unit 7 through a supply route 13.例文帳に追加

試験用流体Ｌは圧力調整器５により所定の高圧に調整され、供給経路１３を通して加減圧ユニット７に供給される。 - 特許庁

A waveform data generation unit 2 generates a waveform data DW which describes a test pattern signal to be fed to a DUT in synchronization with the rate signal RATE.例文帳に追加

波形データ生成部２は、レート信号ＲＡＴＥと同期して、ＤＵＴに供給すべきテストパターン信号を記述する波形データＤＷを生成する。 - 特許庁

A reaching-time estimating section 251 estimates a reaching-starting time and a reaching-end time regarding a reaching to a sound-collecting unit 140 for the test sound.例文帳に追加

そして、到達時点推定部２５１が、このテスト音声の集音ユニット１４０への到達について、到達開始時点と到達終了時点とを推定する。 - 特許庁

An array coil in which a plurality of the element coils for receiving magnetic resonance signals from a test subject 200 are arranged is used as an RF coil unit 6b.例文帳に追加

ＲＦコイルユニット６ｂとしては、被検体２００からの磁気共鳴信号をそれぞれ受信する複数の要素コイルが配列されたアレイコイルが用いられる。 - 特許庁

A working electrode 22, a paired electrode 23 and a reference electrode 24 made of gold electrodes disposed mutualy nearly and dipped in a test water 2 constitute an electrode unit 3.例文帳に追加

検水２に浸漬される近接配置された金電極からなる作用極２２、対極２３及び参照極２４は電極ユニット３を構成する。 - 特許庁

Common change information on changes to be made to a test server 1 and an active server 2 connected to each other via a LAN 6 is stored in a storage unit of a management server 3.例文帳に追加

ＬＡＮ６を介して接続されるテストサーバ１及び本番サーバ２に対して変更すべき共通の変更情報を管理サーバ３の記憶部に記憶する。 - 特許庁

At this time, when a built-in type flash unit 5 is in a use position, the device 5 performs modeling light emission or test emission for repeating light emission.例文帳に追加

このとき、内蔵式閃光装置５が使用位置であれば、内蔵式閃光装置５のモデリング発光、または、リピーティング発光のテスト発光が行われる。 - 特許庁

In the step S220, the control unit reads audio data or display data for a test mode being stored in a flash memory 20 and goes on with processing to step S230.例文帳に追加

Ｓ２２０ステップにおいて、制御部は、フラッシュメモリ２０に格納されているテストモード用の音声データや表示データを読み込み、Ｓ２３０ステップへ処理を進める。 - 特許庁

To provide an input converting unit with a built-in test terminal capable of achieving the compactness of a protective control cabinet or improving its space efficiency.例文帳に追加

保護制御筐体を小型化できる、あるいはそのスペース効率を改善できる試験端子内蔵型入力変換ユニットを提供することにある。 - 特許庁

To provide a salt damage testing method for an ventilating air filter unit, allowing objective salt damage test at any site in a short time, and to provide its device.例文帳に追加

任意の場所において短時間で客観的な塩害試験を行うことができる換気用エアフィルタユニットの塩害試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

A pickup 12 reproduces a test signal recorded in the OPC area of an optical disk 10 by switching a plurality of kinds of recording conditions by an ECC block unit.例文帳に追加

ピックアップ１２は光ディスク１０のＯＰＣ領域にＥＣＣブロック単位で複数種類の記録条件を切り替えて記録されたテスト信号を再生する。 - 特許庁

An imaging unit 10 images an area including the contact mark of the probe for an electrode part of a semiconductor device 1 after a continuity test, and acquires its image.例文帳に追加

導通検査後の半導体装置１の電極部分について、撮像部１０がプローブの接触痕を含む領域を撮像し、その画像を取得する。 - 特許庁

To realize a selection of an analyzing logic for acquiring a test piece like a biochemically analyzing unit or analysis information without mistake.例文帳に追加

生化学解析装置において、生化学解析用ユニットのような試験片や解析情報取得のための解析ロジックを間違いなく選択できるようにする。 - 特許庁

A control unit determines a delay amount (adjustment value) to be applied to regular data communication based on results by fetching the test data while varying the delay amount.例文帳に追加

制御部は、遅延量を変化させながらテストデータを取り込んだ結果に基づいて、正規のデータ通信で適用する遅延量（調整値）を決定する。 - 特許庁

To provide a reading unit for more effectively and accurately recognizing an answer which has been corrected or re-corrected by a test taker.例文帳に追加

受験者が答案を訂正または再訂正したものをより効率的かつ正確に認識する光学マーク読取機の読取ユニットを提供すること。 - 特許庁

A test request processor 42 converts the response stored in the latch 41 into a new request, and reuses the request by storing it in a request holding unit 44.例文帳に追加

試験リクエスト処理部４２は、ラッチ４１に格納された応答を新たなリクエストに変換し、リクエスト保持部４４に格納することで再使用する。 - 特許庁