「X-Rays」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

After forming a protection film 10 (aluminum oxide film) on a specimen 2 (barium sulfide film), fluorescent X-rays analysis is performed by irradiating the primary x-ray X1 from a direction almost perpendicular to a film surface of the specimen 2.例文帳に追加

試料２（硫化バリウム膜）に保護膜１０（酸化アルミニウム膜）を形成したのち、試料２の膜面に対してほぼ直交する方向から一次Ｘ線Ｘ１を照射して蛍光Ｘ線分析を行う。 - 特許庁

To provide a desktop type radiation therapy/diagnosis apparatus capable of simultaneously performing the X-ray diagnosis and the therapy by generating about 6 MeV high-energy electrons, rotating the electrons and hitting the electrons at a target to generate X rays.例文帳に追加

６ＭｅＶ程度の高エネルギー電子を発生して周回させ、標的にぶつけてＸ線を発生し、Ｘ線診断と治療を同時に行うことの出来る卓上型放射光治療診断装置を提供する。 - 特許庁

When X rays emitted from the X-ray generator 3 are scattered in the wall 2, the number of times of scattering is increased by the recesses and projections formed on the inner wall surfaces of the wall 2 to enhance the effect of attenuation.例文帳に追加

Ｘ線発生装置３より照射したＸ線は遮蔽壁２内で散乱するが、遮蔽壁２の内壁面に形成した凹凸により散乱回数を増加させて、減衰効果を高めるようにする。 - 特許庁

The X-ray detection element is arranged so that the normal line direction (z' axis direction) of the incident surface 11a of the conversion layer 11 is inclined with respect to the irradiation direction (z axis direction) of the X rays 6 from the irradiation part 1.例文帳に追加

照射部１からのＸ線６の照射方向（ｚ軸方向）に対して、変換層１１の入射面１１ａの法線方向（ｚ´軸方向）が傾斜するように、Ｘ線検出素子が配置される。 - 特許庁

This active material layer is put under an X-ray irradiation, and at least either intensity of a Kα ray of the element A or intensity of a Kα ray of the metal element M in fluorescent X rays generated from the active material layer is measured.例文帳に追加

この活物質層にＸ線を照射し、活物質層から発生する蛍光Ｘ線のうち元素ＡのＫα線の強度と金属元素ＭのＫα線の強度との少なくとも一方を測定する。 - 特許庁

Then, the X-ray source 11, arranged at a position y2, respectively irradiates X-rays α3, α4 to the points A, B of a tire and then obtains the coordinates x3, x4 on the camera 12, corresponding to the points A, B.例文帳に追加

次いで、ｙ２の位置に配置したＸ線源１１が、Ｘ線α３，α４をタイヤ１３のポイントＡ，Ｂにそれぞれ照射し、ポイントＡ，Ｂに対応するカメラ１２上の座標ｘ３，ｘ４を取得する。 - 特許庁

To provide a sample slide used for X-ray microscope in which a sample is arranged to be adjacent to a photoelectric transducing face, and with which transmitted X-rays are transduced into an electronic image so as to be observed, and to provide a sample holding and insertion mechanism.例文帳に追加

光電変換面に試料を近接して配置し透過Ｘ線を電子像に変換して観察するＸ線顕微鏡に使用する試料スライドおよび試料の保持挿入機構を提供することである。 - 特許庁

To provide a polychromator which separates a plurality of light rays of desired wavelengths, included in soft X-ray which is made incident to the apparatus in the range of several keVs and focuses on a detector or a photosensitive material face.例文帳に追加

数keVの軟X線領域において装置に入射する軟Ｘ線光に含まれる複数の所望の波長の光を分別し検出器または感光物質面に結像させうる多色計（ポリクロメータ）を提供する。 - 特許庁

This fluorescent substance exhibits such a green color luminescent as to be, for example, 0.13-0.16 in x-value and 0.70-0.75 in y-value in the CIE chromaticity (x, y) when irradiated with vacuum ultraviolet rays ≤200 nm in wavelengths.例文帳に追加

この真空紫外線励起蛍光体は、波長200nm以下の真空紫外線を照射した際に、例えばＣＩＥ色度値（ｘ，ｙ）におけるｘ値が0.13〜0.16の範囲で、かつｙ値が0.70〜0.75の範囲の緑色に発光する。 - 特許庁

The X-ray source 11 is disposed so as to irradiate the fan-shaped X rays centered at one end of the object to be inspected 1, in the width direction from the upside of the to-be-inspected object 1 as the Z-axis direction in Fig.1.例文帳に追加

Ｘ線源１１は、図１のＺ軸方向であって検査対象物１の上方から、検査対象物１の幅方向の一端部を中心として扇状にＸ線を照射できるように配設されている。 - 特許庁

This helps to reduce backscattering X-rays to 1/20 or less compared to the case where no shield tubes are installed, making it possible to greatly reduce the amount of lead sheet used to cover the whole of the X-ray generation device.例文帳に追加

これによって、シールド管を装着しない場合に比べて、後方散乱Ｘ線を１／２０以下に低減することができ、Ｘ線発生装置全体を覆う鉛板の量を大幅に低減することが可能となる。 - 特許庁

To enable detection for diffraction X rays as well appearing in a higher angle region as in the measurement of the stress of a sample in the X-ray diffraction apparatus using a curved PSPC(Position Sensitive Proportional Counter).例文帳に追加

湾曲ＰＳＰＣ（Position Sensitive Proportional Counter：位置感応型Ｘ線検出器）を用いたＸ線回折装置において、試料の応力測定のごとく高角度領域にあらわれる回折Ｘ線についても検出できるようにする。 - 特許庁

The ionization device 2 has an ionization chamber 20 which ionizes the base gas and promotes an ion molecular reaction of the base gas ions and the sample molecules and a soft X-ray tube 3 to irradiate soft X-rays into the ionization chamber 20.例文帳に追加

イオン化装置２は、ベースガスをイオン化するとともにベースガスイオンと試料分子とのイオン分子反応を促すイオン化室２０と、イオン化室２０内へ軟Ｘ線を照射する軟Ｘ線管３とを有する。 - 特許庁

The X-ray source 12 is disposed so as to irradiate the fan-shaped X rays centered at the other end of the object to be inspected 1 in the width direction from the upside of the object to be inspected 1 as the Z-axis direction, in Fig.1.例文帳に追加

Ｘ線源１２は、図１のＺ軸方向であって検査対象物１の上方から、検査対象物１の幅方向の他端部を中心として扇状にＸ線を照射できるように配設されている。 - 特許庁

In this method, a detection panel 31 is irradiated with X-rays 12 transmitted through a subject 21 with moving the detection panel 31, and image data Sn showing the X-ray images of the subject 21 are obtained in the plurality of photographing positions.例文帳に追加

検出パネル３１を移動させつつ、被写体２１を透過したＸ線１２を検出パネル３１に照射し、複数の撮影位置において被写体のＸ線画像を表す画像データＳｎを得る。 - 特許庁

While a detection panel 31 is moved, the detection panel 31 is irradiated with X-rays 12 which are transmitted through a subject 21 to obtain image data Sn representing X-ray images of the subject 21 at a plurality of photography positions.例文帳に追加

検出パネル３１を移動させつつ、被写体２１を透過したＸ線１２を検出パネル３１に照射し、複数の撮影位置において被写体２１のＸ線画像を表す画像データＳｎを得る。 - 特許庁

A gas is introduced into the nozzle 1, by providing a flow passage separately from the flow passage of a cleaning solution, and at the same time, the gas introduced into the nozzle 1 is ionized through irradiation of the gas with X-rays from an X-ray generating section 7 provided in the nozzle 1.例文帳に追加

洗浄液とは別の流路を設けてガスをノズル内に導入するとともに、ノズル１内に備えられたＸ線発生部７からノズル１内に導入されたガスにＸ線を照射してイオン化する。 - 特許庁

Moreover, the phase change of the X rays due to the sample 2 is allowed to emerge on the X-ray image pick-up element 3 as interference contrast by locating a reflection standard 7 in a symmetrical position to the surface S1 of the object with respect to a beam splitter 6.例文帳に追加

また、反射原器７をビームスプリッタ６に関して物体面Ｓ１と対称の位置に配置し、試料２によるＸ線の位相変化をＸ線撮像素子３上に干渉コントラストとして出現させる。 - 特許庁

Subsequently, the angle ϕ of rotation of the sample is set to an arbitrary angle ϕn of rotation and the flapping angle ωof the sample is adjusted to measure the flapping angle ωn at a time when the X-ray detector detects reflected X-rays.例文帳に追加

次いで、試料の回転角φを任意の回転角φｎに設定し、試料のあおり角ωを調整してＸ線検出器が反射Ｘ線を検出したときのあおり角ωｎを測定する。 - 特許庁

The X-ray tube includes an electron source for emitting electrons by applying voltage, a transmitting target for generating X-rays by collision of electrons emitted from the electron source, a shielding member arranged between the electron source and the transmission target and preparing an opening where electrons emitted from the electron source pass through and shielding X rays scattered toward an electron source side.例文帳に追加

Ｘ線管は、電圧の印加により電子を放出する電子源と、電子源から放出された電子の衝突によりＸ線を発生する透過型ターゲットと、電子源と透過型ターゲットとの間に配され、電子源から放出された電子が通過する開口が設けられるとともに電子源側に向けて散乱するＸ線を遮蔽する遮蔽部材とを具備する。 - 特許庁

In this case, radiations, such as ultraviolet rays, X-rays, etc., emitted from the plasma of an etching source can be prevented by the second channel protective film 6 of shading metal, so that a channel region of the semiconductor film 4 can be protected against radiation damage.例文帳に追加

この時、エッチング源のプラズマからの紫外線やＸ線等の放射は、遮光性金属からなる第２のチャネル保護膜６によって防ぐことができ、半導体膜４のチャネル領域が放射ダメージを受けることはない。 - 特許庁

When field strength becomes sufficiently high due to this charge, instantaneous dielectric breakdown discharge occurs between the Y electrode 3 and X electrode 2 to emit strong ultraviolet rays, which excite a phosphor 10 to emit visible rays.例文帳に追加

この充電によって電界強度が充分高くなると、Ｙ電極３とＸ電極２との間で瞬時に絶縁破壊放電が行なわれて強い紫外線が発生し、蛍光体１０が励起されて可視光が発生する。 - 特許庁

To provide a resist composition excellent in the profile of an isolated pattern and hardly producing contaminations on the resist pattern surface in the process of forming a pattern by irradiation of active rays or radiation, in particular, electron beams, X-rays or EUV light.例文帳に追加

活性光線又は放射線、特に電子線、Ｘ線又はＥＵＶ光の照射によるパターン形成に関して、孤立パターンプロファイルに優れ、レジストパターン表面上に異物が発生し難いレジスト組成物を提供する。 - 特許庁

In the X-ray contracted projection/exposure by scanning exposure, parallel rays are reflected with a reflex integrator 5 having a plurality of cylindrical surfaces, and the parallel rays are further reflected with a concave reflecting mirror to perform Kohler illumination on an arcuate area in a mask.例文帳に追加

スキャン露光によるＸ線縮小投影露光において、複数の円筒面をもつ反射型インテグレータ５で平行光を反射し、更に凹面反射鏡で反射してマスクの円弧状の領域をケーラー照明する。 - 特許庁

To provide a negative resist composition which has a high sensitivity and high resolution and decreased development defects in pattern formation by irradiation with active radiations (electron beams, X-rays, or EUV: extreme ultraviolet rays) for manufacturing of semiconductors, photomasks, etc.例文帳に追加

半導体、フォトマスク製造等のための、活性放射線（電子線、Ｘ線、又はＥＵＶ）の照射によるパターン形成において、高感度、高解像力で、現像欠陥が低減されたネガ型レジスト組成物を提供する。 - 特許庁

A shield part 9 consisting of partition walls 10, 10,... is provided in the periphery of the leading end part 1a of the tube 1 to shield soft X-rays, low energy electron beam or radioactive rays from a radioactive isotope generated from the ionizing source 6.例文帳に追加

チューブ１の先端部１ａ周辺には、複数の隔壁１０，１０，…からなる遮蔽部９を設け、イオン化源６から発生する軟Ｘ線、低エネルギー電子線又は放射性同位元素からの放射線等を遮蔽する。 - 特許庁

To solve the problem in performance enhancing technique in micromachining of a semiconductor element using electron beams or X-rays, and provide a negative chemical amplification type resist composition for electron beams or X-rays which satisfies the sensitivity, degree of resolution and resist shape characteristics.例文帳に追加

電子線又はＸ線を使用する半導体素子の微細加工における性能向上技術の課題を解決することであり、電子線又はＸ線の使用に対して感度と解像度、レジスト形状の特性を満足する電子線又はＸ線用ネガ型化学増幅系レジスト組成物を提供することである。 - 特許庁

Since a series of operations, wherein a sample S fed to an analyzing position by a start command is irradiated with X-rays and the intensity of fluorescent X-rays generated from the sample S is measured and a group to which the sample S belongs, is selected to quantitatively analyze the sample S are executed, analytical operation can be executed easily.例文帳に追加

スタート指令により、分析位置に搬送された試料ＳにＸ線を照射し、試料Ｓから発生する蛍光Ｘ線の強度を測定し、試料Ｓが属するグループを選択して、試料Ｓを定量分析するという一連の動作が行われるので、分析操作を容易に行うことができる。 - 特許庁

In the sample analysis method, when a certain element in a sample 5 is quantitatively analyzed by irradiating the sample 5 with an electron beam 12 and detecting characteristic X-rays 13 generating from the sample 5, the quantitative analysis carried out on the basis of detection intensity of two or more L lines of the characteristic X-rays 13 corresponding to the element.例文帳に追加

試料５に電子線１２を照射し、これにより試料５から発生する特性Ｘ線１３を検出して、試料５中の特定の元素についての定量分析を行う際に、当該元素に対応する特性Ｘ線１３における複数のＬ線の検出強度に基づいて定量分析を行う。 - 特許庁

To implement both an orientation measurement carried out by emitting X-rays to the end face of a monocrystal like a cut-face measurement, and an orientation measurement carried out by emitting X-rays to the outer peripheral surface of a monocrystal like an orientation measurement of an oriflam surface by using a common measuring apparatus and without exchanging an object under measurement.例文帳に追加

カット面測定のようにＸ線を単結晶体の端面に照射して行う方位測定と、オリフラ面の方位測定のようにＸ線を単結晶体の外周面に照射して行う方位測定とを、共通の測定装置によって、しかも測定物の着け変えを行う必要なく、実行できるようにする。 - 特許庁

When a resist layer is patterned in a prescribed shape by selective exposure with X-rays, vacuum UV, extreme-ultraviolet radiation or soft X-rays, a high molecular material obtained by extending the π electron system of an aromatic ring in an aromatic ring-containing existing resist material is used as a high molecular material constituting the resist layer.例文帳に追加

Ｘ線、真空紫外線、極紫外線、軟Ｘ線のいずれかでレジスト層を選択的に露光して所定の形状にパターニングするに際し、レジスト層を構成する高分子材料として、芳香族環を含む既存レジスト材料における芳香族環のπ電子系をより拡張した高分子材料を用いる。 - 特許庁

Since the dome partition wall 34 is formed into a semispherical shape by a polyimide film, the incidence angle of the incident X-rays can be arbitrarily set to an angle range of a 0-90° and the diffracted X-rays can be emitted from the dome part 36 at an emission angle range of 0-90° to enable measurement.例文帳に追加

このドーム隔壁３４は、ポリイミド膜により半球状に形成されているため、入射Ｘ線の入射角度を０度から９０度までの全ての角度で任意に設定することができると共に、回折Ｘ線を０度から９０度までの全ての出射角度でドーム部３６から出射させて測定することができる。 - 特許庁

To accurately grasp a buried body such as a pipe, a wire, a reinforcing rod, buried in a concrete structure nearly in real time while minimizing the influence of influence of X rays on a human body by reducing the time and quantity of irradiation with the X rays when the buried body is explored.例文帳に追加

コンクリート構造物に埋設されている配管、配線、鉄筋等の埋設物を放射線透過法によって探査するにあたり、Ｘ線の照射時間及び照射量を小さくして、Ｘ線による人体への影響度を最小限にしながらも、埋設物を略リアルタイムで正確に把握できるようにする。 - 特許庁

X rays are incident on the substrate in which dopants are injected to a depth of several tens of nanometers, while incident angle is scanned, the interference vibration curve of the X rays reflected by a sample to be measured is measured and the depth distribution of the dopant injected in the sample to be measured is measured from the data of the interference vibration curve.例文帳に追加

数十nmの深さに不純物を注入した基板に、入射角度を走査しながらＸ線を入射し、被測定試料によって反射されたＸ線の干渉振動曲線を測定し、干渉振動曲線のデータから、被測定試料に注入された不純物元素の深さ分布を測定する。 - 特許庁

To achieve an electron microscope or an X-ray analysis apparatus, and a sample analysis method for precisely and speedily performing an element analysis with high precision by X rays being generated from a sample by applying electron rays being a foreign object element inspection required for improving a manufacturing yield in a semiconductor element or the like.例文帳に追加

半導体素子等の製造歩留まり向上のために必要な異物元素検査である電子線を照射して試料から発生するＸ線による元素分析を、高精度、高分解能、高速に実施できる電子顕微鏡またはＸ線分析装置及び試料の分析方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

The radiography unit performs radiography at a plurality of positions while moving the multi X-ray generation part and the slit part by prescribed pitches in the first direction keeping a relative positional relationship and reconstructs an X-ray image based on the intensity of the X rays obtained.例文帳に追加

Ｘ線撮影装置は、マルチＸ線発生部とスリット部とを、相対的な位置関係を保ちながら第１の方向へ、所定のピッチだけ移動する間の複数位置においてＸ線撮影を実行し、得られたＸ線強度に基づいてＸ線画像を再構成する。 - 特許庁

The method (108) includes: a step of varying the exposure level of X-rays within an X-ray imaging system (10) to generate a plurality of images having different exposure levels; and a step of combining (112) the plurality of images in an addition process to form a single X-ray image.例文帳に追加

本方法（１０８）は、Ｘ線イメージング・システム（１０）内のＸ線の露出レベルを変えて、異なる露出レベルを持つ複数の画像を作成する段階と、該複数の画像を加法的処理で組み合わせて（１１２）、単一のＸ線画像を形成する段階とを含む。 - 特許庁

An X-ray source (radiation source) has an X-ray tube of a rotating anode type which generates X-rays when the rotating anode is irradiated with electron beams from a filament and constitutes a radiographic system along with an FPD (radiation detector) which is opposed to it across a subject.例文帳に追加

Ｘ線源（放射線源）は、フィラメントから回転陽極に電子ビームを照射することによりＸ線を発生する回転陽極型のＸ管を有しており、被検体を介して対向配置されたＦＰＤ（放射線検出器）とによりＸ線撮影システムを構成している。 - 特許庁

The weld position of the inner pipes with each other and the weld position of the outer pipes with each other are shifted in an axial direction by a predetermined length, the weld part is irradiated with X-rays from an X-ray source, and an image is picked up by a film provided on the opposite side of the X-ray source across the double pipe.例文帳に追加

内管同士の溶接位置と、外管同士の溶接位置を前記所定長さ軸方向にずらすとともに、溶接部にＸ線源からＸ線を照射し、二重管を挟んで前記Ｘ線源とは反対側に設けられたフィルムによって撮像する。 - 特許庁

For the purpose of correcting difference in size of the X-ray images in the respective photographing positions caused by the broadening of the X-rays 12, a magnification/reduction process is executed to the X-ray images shown by the respective image data Sn to obtain processed image data Skn.例文帳に追加

拡大縮小処理部４０において、Ｘ線１２の広がりによる各撮影位置におけるＸ線画像のサイズの相違を補正するために、各画像データＳｎにより表されるＸ線画像に対して拡大縮小処理を施して、処理済みの画像データＳｋｎを得る。 - 特許庁

The X-ray reflectivity measuring apparatus has a sample loading stand 4 to load a measuring sample plate 3, a swivel mechanism 5 loading the sample loading stand 4 while tilting it, and a reflected X-ray measuring means 6 for measuring reflected X-rays from the surface of the measuring sample on the measuring sample plate 3.例文帳に追加

測定試料板３を搭載する試料搭載台４と、該試料搭載台４を搭載し該試料搭載台を傾動するスイベル機構５と、前記測定試料板３の測定試料の表面よりの反射Ｘ線を測定する反射Ｘ線測定手段６とを有する。 - 特許庁

The control computer 20 controls to create X-ray image data using X-rays, to detect defective products from the X-ray image data, and to stop/release quality inspection to detect defective products.例文帳に追加

制御コンピュータ２０は、Ｘ線を使用して物品のＸ線画像データを作成するＸ線画像作成制御、Ｘ線画像データから不良品・不良品を検出する不良品・不良品検出制御、不良品を検出する品質検査の停止・解除を制御する品質検査停止・解除制御を行う。 - 特許庁

A control section 30 recognizes the enlarged state of the X-ray image varying according to the position of the measuring pedestal 14, based on the size of the reference object on the X-ray image obtained from the detection result of the X-rays 11 transmitting through the reference object, and the actual size of the reference object.例文帳に追加

制御部３０は、基準物を透過したＸ線１１の検出結果から得られる基準物のＸ線画像上における大きさと基準物の実際の大きさとの比較に基づいて、測定台１４の位置に応じて変化するＸ線画像の拡大状況を確認する。 - 特許庁

The panel supporter 70 of the X-ray detector is formed with a radiation-absorbing material for reducing X-rays reflected from the back of a scintillator 58, where the panel supporter 70, an electronic apparatus 72, and the geometrical shape of the back cover 56 of the X-ray detector 30 are included.例文帳に追加

Ｘ線検出器パネル支持体７０は、シンチレータ５８背後からのＸ線反射を低減する放射線吸収材料で形成され、このシンチレータ背後には、パネル支持体７０、電子機器７２及びＸ線検出器３０のバックカバー５６の幾何学形状が含まれることになる。 - 特許庁

The X-ray tube is supported, in a tube container, in the arrangement that an axis 2 of a rotating anode 2 is slanted against an axis 23 of the tube container, and X-rays 10, 11 from the two focuses 6, 7 can be got out of a tube container emission window 14 as two parallel X-ray beams.例文帳に追加

Ｘ線管は管容器内にて、回転陽極の中心軸（２）が管容器の中心軸（２３）に対して傾き、かつ、２つの焦点（６，７）からのＸ線（１０，１１）が管容器放射窓（１４）から２つの平行Ｘ線ビームとして取り出せるような配置で支持されている。 - 特許庁