「arbitrary sample」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To fix a sample with an arbitrary shape and thickness regardless of the shape and thickness of the sample in an X-ray diffraction device.例文帳に追加

Ｘ線回折装置において、試料の形状や厚みに係わらず任意の形状や厚みの試料を固定する。 - 特許庁

To provide a product sample display device for laying out a product sample at an arbitrary position through a simple operation, and effectively illuminating the product sample.例文帳に追加

簡単な作業で商品見本を任意の位置にレイアウトでき、さらに商品見本を効果的に照明できる商品見本展示装置を提供する。 - 特許庁

There is provided an add processing to subject one arbitrary waveform sample among the waveform buffers to prescribed level control and to again write the waveform sample in the same storage position in addition to the waveform sample stored in the another arbitrary waveform buffer.例文帳に追加

また、波形バッファのうちの任意の１つの波形サンプルに所定のレベル制御を施して別の任意の波形バッファに記憶された波形サンプルに足して再び同記憶位置に書き込むａｄｄ処理を備える。 - 特許庁

The measuring method of the content of an arbitrary isotope includes a step (1) for separating a sample containing the compound by chromatography to perform the mass spectrometry of the sample.例文帳に追加

下記（１）〜（４）のステップを含むことを特徴とする化合物における任意の同位体の含有率を測定する方法。 - 特許庁

The original sample of a digital signal is converted into a high-frequency output sample and a low frequency output sample by continuous calculation steps and an arbitrary sample calculated in a prescribed step is calculated by a prescribed function of the original sample and/or the calculated sample.例文帳に追加

デジタル信号の原サンプルを、連続した計算ステップによって高周波数出力サンプルおよび低周波数出力サンプルに変換し、所与のステップで算出される任意のサンプルを、原サンプルおよび／または算出されたサンプルの所定の関数によって算出する。 - 特許庁

To provide an apparatus which can accurately measure, even an arbitrary measuring part near the rim of a sample, in a total reflection X-ray fluorescence analyzer for measuring arbitrary measuring part of a plate-shaped sample.例文帳に追加

板状の試料の任意の測定部位を測定する全反射蛍光Ｘ線分析装置において、試料の縁近傍にある任意の測定部位についても正確に測定できる装置を提供する。 - 特許庁

To highly precisely calculate the fine coefficients of an arbitrary point other than sample points in a data interpolation method for calculating the fine coefficients of an arbitrary point between adjacent sample points from a sampled data group.例文帳に追加

本発明は、標本化データ群から、隣接する標本点どうしの途中の任意の点の微係数を求めるデータ補間方法に関し、標本点以外の任意の点の微係数を高精度に求める。 - 特許庁

To provide a sample degrading device suitable for analyzing and evaluating an impurity on a surface in an arbitrary specific region, of a sample and that in the sample, and to provide an impurity analyzing method of the sample using the same.例文帳に追加

試料の任意の特定領域における表面および試料中の不純物を分析・評価するのに好適な試料分解処理装置及びこれを用いた試料の不純物分析方法を提供する。 - 特許庁

As a result, by pressing the sample from a crosswise direction instead of from an upper direction, the sample with an arbitrary shape and thickness can be fixed regardless of the shape and thickness of the sample.例文帳に追加

これによって、試料を上方から押えることに代えて試料を横方向から押えることによって、試料の形状や厚みに係わらず、任意の形状や厚みの試料を固定する。 - 特許庁

A user selects an arbitrary sample image out of the plurality of received sample images, views and confirms an image having the selected sample image inserted, and makes a request for determination (S9, S10).例文帳に追加

ユーザーは、複数の受信サンプル画像の中から任意のサンプル画像を選択し、選択したサンプル画像が挿入された編集後の画像を見て確認し、確定要求をする（Ｓ９，Ｓ１０）。 - 特許庁

To provide a method of applying a coupling material by which a bio-sample (ligand sample) can be applied uniformly to a measuring board in an arbitrary measuring range.例文帳に追加

測定基板上の任意の測定範囲において生体試料（リガンド試料）を均一に塗布するためのカップリング材の塗布方法を提供する。 - 特許庁

To provide a product sample lighting system for an automatic vending machine improving a display effect of a product sample by light emission of an arbitrary chromatic color without impairing an original color of the product sample.例文帳に追加

商品サンプルの本来の色を損なうことがなく、任意の有彩色の発光により商品サンプルの展示効果を向上させることのできる自動販売機の商品サンプル照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic vending machine capable of precisely displaying a sample of an arbitrary article at a desired time.例文帳に追加

任意の商品のサンプルを所望の時期に的確に表示することのできる自動販売機を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for preparing a thin piece sample which accurately position a desired observation region in a sample substrate, without finely separating the sample substrate, and easily prepare a planar sample with regard to a region, at an arbitrary depth from the surface of the sample substrate.例文帳に追加

試料基板内の所望観察領域を試料基板を細かく分離せずに正確に位置出しして試料基板表面から任意の深さの領域についての平面試料を容易に作製することのできる薄片状試料の作製方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method capable of easily setting analysis points at arbitrary intervals and arbitrary points on the same line segment when performing line analysis by irradiating an electron beam to a sample.例文帳に追加

試料に電子線を照射して線分析を行なうとき、同じ線分上で任意の間隔と任意の点数で分析点を簡易に設定する方法を提供する。 - 特許庁

The relational formula of the friction coefficient, the initial sample height/diameter ratio, and the stress variation is formed, and a friction coefficient in the compression process of the columnar sample with the arbitrary height/diameter ratio is decided.例文帳に追加

摩擦係数、初期試料高径比と応力変化の関係式を構築し、任意高径比の円柱試料圧縮過程における摩擦係数を決定する。 - 特許庁

To provide a fluorescent X-ray analysis device for rapidly and accurately analyzing an arbitrary fine site in a sample.例文帳に追加

試料における任意の微小部位について、迅速かつ正確に分析できる蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system for reducing a risk of contamination and carry-over and quantifying a sample liquid on an arbitrary substrate.例文帳に追加

汚染とキャリーオーバーの恐れをさらに少なくする、任意の基板上へ試料液を定量するシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a product sample display device of an automatic vending machine that allows a user to easily display a product sample, lay out the product sample at an arbitrary position, and effectively illuminate the product sample, without drastic modification.例文帳に追加

大幅な改造を行うことなく、商品見本の展示作業が簡単で商品見本を任意の位置にレイアウトすることが可能であるとともに商品見本を効果的に照明することが可能な自動販売機の商品見本展示装置を提供する。 - 特許庁

This enables follow-up performance relative to an arbitrary shape at an arbitrary speed to be evaluated directly and quantitatively without actually scanning surfaces of a sample.例文帳に追加

このようにすることで、実際にサンプル表面を走査することなく、また任意の形状に対する任意の走査速度における追従性を直接定量的に評価することができる。 - 特許庁

To accurately determine data of an arbitrary point other than sample points, in a data interpolation method for determining data of an arbitrary point between adjacent sample points from a sampled data group obtained by sampling J-dimensional periodic analog signal.例文帳に追加

Ｊ次元の周期アナログ信号が標本化されることにより得られた標本化データ群から、隣接する標本点どうしの途中の任意の点のデータを求めるデータ補間方法に関し、標本点以外の任意の点のデータを高精度に求める。 - 特許庁

The sample can be chemically-reacted in an arbitrary atmosphere to enable to perform a three-dimensional analysis on this reaction.例文帳に追加

本発明によれば、任意の雰囲気にて試料を化学反応させ、当該反応について三次元解析することが可能となる。 - 特許庁

The sample is taken off the XY stage, and after being subjected to film formation processing, it is placed at an arbitrary location on the XY stage, and the markings of the sample are clicked again to read the respective coordinates thereof.例文帳に追加

試料をＸＹステージから取外し成膜処理を施した後、ＸＹステージ上の任意の場所に載置し、再び試料のマーキングをクリックしてそれぞれの座標を読み取る。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of carrying out observation with respect to an arbitrary sample (including a raw biological sample such as a living cell) in an atmospheric-pressure condition without needing pretreatment at all.例文帳に追加

任意の試料（生細胞など生の生物試料を含む）に対して、前処理を全く必要とせず、大気圧の状態で観察を行うことができる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This method comprises, in addition to a process for processing arbitrary area of an object sample into a fine sample piece by using charged particle beam and extracting the sample piece, a process for attaching fine conductors 30a and 30b to the extracted fine sample piece 72, and a process for applying voltage to the attached fine conductors.例文帳に追加

荷電粒子ビームを用いて、対象試料の任意の領域を微小試料片に加工、摘出する工程に、摘出した微小試料片７２に微細導線３０ａ，３０ｂを取り付ける工程、取り付けた微細導線に電圧を印加する工程を加える。 - 特許庁

After an arbitrary device process is completed, one portion of a wafer 108 is extracted as a minute sample 110 exceeding one repetition pattern by a probe by using a finite sample extracting apparatus 102, transferred on a minute sample storage tool 109, and thus stored into a minute sample storage apparatus 103.例文帳に追加

任意のデバイスプロセス完了後に、微小試料摘出装置１０２でウェーハ１０８の一部を、１繰返しパターン以上のサイズの微小試料１１０として、プローブで摘出して微小試料保管具１０９に載せ替え、微小試料保管装置１０３に保管される。 - 特許庁

A first pulse signal generation circuit section 21 generates a first pulse signal S_1 such that, in each sample-and-hold action period T_SH, the first sample-and-hold circuit section 23 samples-and-holds the analog signal A_IN at an arbitrary timing and at a changed arbitrary timing.例文帳に追加

第１のパルス信号生成回路部２１は、各サンプルホールド動作周期Ｔ_SHにおいて、任意のタイミングで第１のサンプルホールド回路部２３によりアナログ信号Ａ_INがサンプルホールドされると共に、その任意のタイミングを変化させて、第１のパルス信号Ｓ_1を生成する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of scanning in the arbitrary direction of an inspection object region of a sample and using high throughput electron beams.例文帳に追加

試料の検査対象領域の任意の方向に走査（スキャン）可能で高スループットな電子ビームを用いた検査装置を提供する。 - 特許庁

To easily sample a raw material fluid at an arbitrary stage after starting to transfer the raw material fluid from a tank truck, etc., to a storage tank.例文帳に追加

原料流体をタンクローリー等から貯槽に移送し始めてから任意の段階で、原料流体を簡易にサンプリングすること。 - 特許庁

The electron beam (e) scans the surface of the assessment sample S in any arbitrary direction such as in a diametric direction, for example, using a scan coil 4 as needed.例文帳に追加

電子線ｅは必要に応じ走査コイル４で評価試料Ｓの面上を任意の方向、例えば直径方向に走査される。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a function which applies an arbitrary horizontal magnetic field from an outside only onto the region near a sample.例文帳に追加

外部から試料近傍のみに任意の水平方向磁場を印加する機能を有する走査型プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for evaluating the wetting properties of a solid surface for evaluating wetting properties at an arbitrary location in a sample surface efficiently, even in a large-area sample, especially a sample which includes a curved surface and an inclined surface, and easily obtaining the distribution.例文帳に追加

大面積試料、特に曲面や傾斜面を含む試料においても、試料面内の任意の箇所のぬれ性を効率良く評価し、これらの分布を容易に得ることを可能にした固体表面のぬれ性評価方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for finding a minute sample scattered widely on a substrate in a short time and provide a method for securely moving the sample to an arbitrary position on the substrate by a probe of a scanning probe microscope with reduced damages of the probe and the sample.例文帳に追加

基板上に広く分散した微細な試料を短時間に発見する方法と、その試料を、走査型プローブ顕微鏡の探針により前記基板の任意の位置に、探針・試料のダメージが少なく、確実に移動させる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device which can sample an arbitrary site of a volatile substance containing sample, such as organic matters or organisms, as a microflake sample with a size capable of conducting transmission electron microscopic observation without change of its properties.例文帳に追加

有機物や生物等の揮発性物質含有試料の任意の部位を、変質することなく、透過電子顕微鏡観察が可能なサイズの微小薄片試料としてサンプリングでき、同時に電子顕微鏡観察が可能な装置を提供する。 - 特許庁

After the race, a sample ticket image providing part 13 transmits the image of the sample ticket corresponding to the betting ticket being the target of a payback to the request origin according to requests from the arbitrary information processors 2 to 3c.例文帳に追加

レース後、見本券画像提供部１３は、任意の情報処理装置２〜３ｃからの要求に応じて、払戻し対象の投票券に対応する見本券の画像を、要求元に送信する。 - 特許庁

To provide a sample base capable of holding substrates of plural sizes in an arbitrary direction with high accuracy even if a pellicle frame is mounted on the base.例文帳に追加

ペリクル枠などが貼られていても複数のサイズの基板を任意の方向で高精度に保持することが可能な試料台を提供する。 - 特許庁

A process for mounting fine conductors 30a and 30b to an extracted fine sample piece 72, and a process for applying a voltage to the mounted fine conductors are added to a process for machining and extracting an arbitrary region in a target sample into fine sample pieces using charge particle beams.例文帳に追加

荷電粒子ビームを用いて、対象試料の任意の領域を微小試料片に加工、摘出する工程に、摘出した微小試料片７２に微細導線３０ａ，３０ｂを取り付ける工程、取り付けた微細導線に電圧を印加する工程を加える。 - 特許庁

Subsequently, the angle ϕ of rotation of the sample is set to an arbitrary angle ϕn of rotation and the flapping angle ωof the sample is adjusted to measure the flapping angle ωn at a time when the X-ray detector detects reflected X-rays.例文帳に追加

次いで、試料の回転角φを任意の回転角φｎに設定し、試料のあおり角ωを調整してＸ線検出器が反射Ｘ線を検出したときのあおり角ωｎを測定する。 - 特許庁

To provide a commodity information display device simply configured and capable of displaying arbitrary commodity information for every commodity sample.例文帳に追加

簡単な構成により商品見本毎に任意の商品情報を表示することが可能な自動販売機の商品情報表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a composition analyzing method, capable of analyzing the composition of a sample of a semiconductor element or the like, having an arbitrary shape with high spatial resolving power and high precision.例文帳に追加

任意形状の半導体素子などの試料について、高空間分解能かつ高精度の組成分析を可能にする組成分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting defect by which the position of defect in an insulation film can be determined easily and accurately in a sample substrate with arbitrary size.例文帳に追加

任意の大きさの試料基板について、その絶縁膜欠陥部の位置を簡便に精度良く決定できる欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

In the S/N matching pattern, a pattern where it is possible to jump from an arbitrary sample point to a next SP pass processing target sample point is set, thus jumping to the next SP pass processing target sample point according to a jump address value obtained from a pattern that coincides with the current S/N matching pattern.例文帳に追加

このＳ／Ｎマッチングパターンは、任意のサンプル点から次のＳＰパス処理対象サンプル点にジャンプ可能な場合におけるパターンが設定されたものであり、現在のＳ／Ｎマッチングパターンと一致するパターンから得られたジャンプアドレス値により、次のＳＰパス処理対象サンプル点にジャンプする。 - 特許庁

Here, f is the focal distance of the imaging optical system; h is the distance from the optical axis of the imaging optical system to an arbitrary point of the test sample; and θ is an angle which the optical axis of the imaging optical system and a main beam from the imaging optical system to the test sample form.例文帳に追加

ここで、ｆ：結像光学系の焦点距離、ｈ：結像光学系の光軸から試料の任意の点までの距離、θ：結像光学系の光軸と結像光学系から試料への主光線とのなす角とする。 - 特許庁

When predicting the image quality evaluation index, an image quality evaluation index corresponding to arbitrary sample ink amount data is estimated on the basis of a profile generated on the basis of actual evaluation.例文帳に追加

画質評価指数の予測にあたっては、実評価に基づいて作成されたプロファイルに基づいて任意のサンプルインク量データに対応する画質評価指数を推定する。 - 特許庁

To provide a method for preparing samples for transmission electron microscope observation and a sampling apparatus whereby extracted samples can be fixed in an arbitrary direction to a sample stage.例文帳に追加

摘出試料を任意の方向に向けて試料台に固定することが可能な透過電子顕微鏡観察用試料作製方法およびサンプリング装置を提供する。 - 特許庁