「cell test」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

A test circuit 12 tests the memory cell of a memory block 10 by hardware.例文帳に追加

テスト回路１２はメモリブロック１０のメモリセルに対してハードウエアでテストを実行する。 - 特許庁

More concretely, a ring oscillator is formed on the memory cell array, including the test cells arranged at least at the four corners of the memory cell array.例文帳に追加

具体的には、メモリセルアレイ上で、少なくともメモリセルアレイの４隅に配置されたテスト用のセルを含むリングオシレータを形成する。 - 特許庁

The endless control conductor is connected to each boundary scan cell 18 so as to supply a test lock signal to the boundary scan cell 18.例文帳に追加

エンドレス制御コンダクタは、各バウンダリスキャンセル１８に結合されて、バウンダリスキャンセル１８にテストクロック信号を供給する。 - 特許庁

Therefore, the desired data can be written in the parity cell array PCA, a test of the parity cell array PCA can be easily conducted.例文帳に追加

このため、パリティセルアレイＰＣＡに所望のデータを書き込むことができ、パリティセルアレイＰＣＡの試験を容易に実施できる。 - 特許庁

Thereby, variation of characteristics is grasped by the test memory cell array in which rewriting is performed more than that in the memory cell array.例文帳に追加

それにより、本体メモリセルアレイに比べ書き換えがより多く行われたテストメモリセルにより特性の変化を把握する。 - 特許庁

A BIST circuit 100 detects the defective memory cell by conducting an operation test of a memory cell array 30 when the power source is turned on.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路１００は、電源起動時においててメモリセルアレイ３０に対して動作テストを実行し欠陥メモリセルを検出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory provided with a built-in test circuit permitting to replace a defective memory cell with a redundant memory cell.例文帳に追加

不良メモリセルを冗長メモリセルで置換することが可能なビルトインテスト回路を備えた半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide distribution data of blood cell acquired by measuring blood cell as information useful for a clinical test.例文帳に追加

血球を測定することにより得られた血球の分布データを臨床検査上有益な情報として提供する。 - 特許庁

An associative memory cell array CAM- ARY and a test block TB are provided corresponding to each of sub memory cell arrays 100.0-100.3.例文帳に追加

各サブメモリセルアレイ１００．０〜１００．３に対応して、連想メモリセルアレイＣＡＭ＿ＡＲＹとテストブロックＴＢが設けられる。 - 特許庁

An open circuit standing test and a crossover amount measurement are alternately repeated to a unit cell of a polymer electrolyte fuel cell.例文帳に追加

固体高分子形燃料電池の単電池に対して、開回路放置試験とクロスオーバー量測定とを交互に繰り返す。 - 特許庁

To provide technology obtaining characteristic information of a photodiode cell constituting a CMOS (complementary metal oxide semiconductor) image sensor in a TEG (test element group) cell.例文帳に追加

ＣＭＯＳイメージセンサを構成するフォトダイオードセルの特性情報をＴＥＧセルにおいて得ることのできる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device, having a test circuit which can analyze replacing a defective memory cell with a redundant memory cell.例文帳に追加

不良メモリセルの冗長メモリセルでの置換の解析が可能なテスト回路を備えた半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a solar cell string and a solar cell module which ensure reliability in a high-temperature keeping test and a high temperature cycle.例文帳に追加

高温保持試験並びに高温温度サイクルでの信頼性を確保できる太陽電池ストリング及び太陽電池モジュールを提供する。 - 特許庁

If the difference is outside a threshold determined beforehand, the memory cell 111t under test is decided to be a "deteriorated cell".例文帳に追加

この差分が予め定められたしきい値の範囲外であれば、検査対象メモリセル１１１ｔは「劣化セル」と判定する。 - 特許庁

To provide a performance test method of a solid high polymer fuel cell by which a cell performance can be evaluated simply without carrying out power generation.例文帳に追加

発電を行わずにセル性能を簡便に評価可能な固体高分子型燃料電池セルの性能検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cell transmission control circuit having a simple configuration, that can prevent ATM cell abort, in a system employing a UTOPIA(universal test and operations PHY interface for ATM) level 2 bus.例文帳に追加

ＵＴＯＰＩＡレベル２バスを使用したシステムにおいて、ＡＴＭセル廃棄を防止し得る簡単な構成のセル送信制御回路を得る。 - 特許庁

The BIST circuit 100 generates the redundant code of a faulty memory cell corresponding to the defective memory cell based on the result of the operation test.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路１００は、動作テスト結果に基づいて、欠陥メモリセルに対応する不良メモリセルを冗長コードを生成する。 - 特許庁

In a probe test, a memory cell is made an over erasing state intentionally (step S201), and such state is made that excess electrons exist around the memory cell.例文帳に追加

プローブテストにおいて、メモリセルを故意に過消去状態にし（ステップＳ２０１）、メモリセル周辺に過剰に電子が存在する状態にする。 - 特許庁

A readout control test determination part 23 determines that readout control is normal when the higher priority cell is read out prior to the lower priority cell.例文帳に追加

読出制御試験判定部２３は低優先セルよりも先に高優先セルが読み出されたとき読出制御が正常であると判断する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device, provided with a built-in test circuit, with which a defective memory cell can be replaced by a redundant memory cell.例文帳に追加

不良メモリセルを冗長メモリセルで置換することが可能なビルトインテスト回路を備えた半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

The detection method carries out an in situ hybridization to a cultured cell for separation of virus after contacting the cell with a test sample including the virus.例文帳に追加

ウイルスを含む被検試料を、ウイルス分離用培養細胞に接触した後、該細胞に対してin situ ハイブリダイゼーションを行う。 - 特許庁

To reduce test cost by fitting a physical position of a regular memory cell where data are read or written to a physical position of a parity memory cell.例文帳に追加

データが読み書きされるレギュラーメモリセルの物理的位置をパリティメモリセルの物理的位置に合わせ、試験コストを削減する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which can avoid false detection of a memory cell having a small cell capacitance, thereby preventing an increase in test time.例文帳に追加

セル容量が小のメモリセルの誤検出を回避可能とし、テスト時間の増大を防ぐ半導体記憶装置の提供。 - 特許庁

To provide a test method and its device for fuel cell capable of measuring a flow rate of humidifying gas supplied to a fuel cell without using a dew-point instrument.例文帳に追加

露点計を用いることなく、燃料電池に供給される加湿ガスの流量を測定できる燃料電池の試験方法とその装置の提供。 - 特許庁

This examining method comprises culturing a cell in which SR-PSOX gene is forcibly expressed and a fluorescently labeled bacterium in the presence or absence of a test substance and, in the cell cultured in the absence of the test substance and the cell culture in the presence of the test substance, each measuring a ratio of the cell in which the bacterium is taken or an amount of bacterium taken in the cell.例文帳に追加

ＳＲ−ＰＳＯＸ遺伝子を強制発現させた細胞と蛍光標識された細菌とを被験物質の存在下または非存在下で培養し、次いで、被験物質非存在下で培養した細胞と、被験物質存在下で培養した細胞とについて、それぞれ細菌が取り込まれた細胞の割合または細胞内に取り込まれた細菌の量を測定することを特徴とする試験方法。 - 特許庁

A semiconductor memory is provided with a memory cell block 100 comprising a memory cell section 101 having a plurality of memory cells in which each cell comprises ferroelectric capacitor respectively, and a memory cell section 103 for test having a plurality of memory cells for the test.例文帳に追加

半導体記憶装置は、それぞれが強誘電体キャパシタを含む、複数のメモリセルを有するメモリセル部１０１と、複数のテスト用メモリセルを有するテスト用メモリセル部１０３とを含むメモリセルブロック１００を具える。 - 特許庁

To provide a compact system for exchanging the culture medium of a cell culture container, which can suitably exchange the culture medium in the cell culture container, can carrying out the substantially same cell culture test as a cell culture test on the ground, and is excellent in workability.例文帳に追加

適宜細胞培養容器内の培地を交換することができ、地上での培養試験と実質同様な細胞の培養試験を行うことができるコンパクトで作業性に優れた細胞培養容器の培地交換用システムを提供する。 - 特許庁

A layout pattern of the memory cell for the test is made a same pattern as the layout pattern of the memory cell, the memory cell section 103 for the test is arranged closely to a memory cell arranged at a position at which a ferroelectric capacitor is easy to deteriorate.例文帳に追加

テスト用メモリセルのレイアウトパターンは、メモリセルのレイアウトパターンと同一としてあり、テスト用メモリセル部１０３は、複数のメモリセルのうち、強誘電体キャパシタが劣化しやすい位置に配置されているメモリセルに対して、近接して、配置されている。 - 特許庁

During a scan test, a specific gated clock cell equipped with the scan power control terminal is stopped (operated) using the scan power control circuit 3003, thereby performing a scan test without test division.例文帳に追加

スキャンテスト中スキャン電力制御回路３００３を用いて特定のスキャン電力制御端子つきゲーテッドクロックセルを止める（動かす）ことでテスト分割なしでスキャンテストを行うことが可能となる。 - 特許庁

A test device 100 includes a test tank 1 having an installation space 1a where a solar cell panel 3 is installed, a light source 2 disposed outside the test tank 1, and the like.例文帳に追加

試験装置１００は、太陽電池パネル３が設置される設置空間１ａを有する試験槽１、試験槽１外に配置された光源２等を有する。 - 特許庁

To provide a flash memory device and a test method in which a test time and a test cost can be reduced and a redundant memory cell can be tested, without requiring the other circuit.例文帳に追加

別途の回路を不要にして、かつテスト時間とテストコストを削減してリダンダントメモリセルをテストすることができるフラッシュメモリ装置およびテスト方法を提供すること。 - 特許庁

First, a test (20) is performed of items which are assumed to be unrepairable and to be unrecoverable to normal one even if switched over to a redundant cell including the test of circuit current with power supply applied, and a test (30) of a circuit current after writing '0' to all cells is performed.例文帳に追加

まず、セルの切り替えにより修復し良品化することが出来ない項目を電源投入時の回路電流を含んで検査（２０）し、パス品に対して、全セルに「０」を書き込み後の回路電流の検査３０を行う。 - 特許庁

3-1) Positive results in somatic cell mutagenicity tests using mammals (chromosome aberration test using mammalian bone marrow cells, micronucleus test using mammalian red blood cells, mouse spot test, etc.)例文帳に追加

3-1）ほ乳類を用いる体細胞の変異原性試験（ほ乳類骨髄細胞を用いる染色体異常試験、ほ乳類赤血球を用いる小核試験、マウススポット試験など）での陽性結果 - 経済産業省

In a test support portion 240, a test cell highlight portion 242 highlights a combination information cell associated with the next test case to be executed, during execution of the status transition test, and a test result history, an error replication procedure, and progress circumstances or the like are displayed on a display portion.例文帳に追加

テスト支援部２４０では、状態遷移テストの実行中、次にテストが実行されるべきテストケースに対応付けられている組み合わせ情報用セルがテストセル強調表示部２４２によって強調表示され、テスト結果の履歴、エラーの再現手順、進捗状況などの表示部への表示が行われる。 - 特許庁

The proliferative activity of epidermal cell and dermis fibrocyte of a test material is detected by relating VR1 activity of the epidermal cell with the proliferative activity of the epidermal cell and the dermis fibrocyte of the tested material brought into contact with the epidermal cell.例文帳に追加

表皮細胞に接触させた被験物質の表皮細胞及び真皮線維芽細胞増殖作用と、表皮細胞のＶＲ１活性とを関連付けて、被験物質の表皮細胞及び真皮線維芽細胞増殖作用を検出する。 - 特許庁

To improve the test efficiency by testing simultaneously a normal memory cell space and a redundant memory cell space and to easily detect a short circuit between the normal memory cell space and the redundant memory cell space in a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体記憶装置において、ノーマルメモリセル空間と冗長メモリセル空間を同時にテストして、テスト効率の向上、ノーマルメモリセル空間と冗長メモリセル空間とのショート検出を容易に行う。 - 特許庁

To provide a test method of a fuel cell for guaranteeing the performance of the fuel cell by grasping beforehand a deterioration phenomenon of the polyelectrolyte at the time of operation of the fuel cell, and a fuel cell having high reliability.例文帳に追加

燃料電池運転時の高分子電解質の劣化現象を事前に把握して燃料電池の性能を保証するための燃料電池の試験方法とこれを用いた信頼性の高い燃料電池。 - 特許庁

Therefore, a use thrust member partially crushes secondary cell 2 mounted on test stand 3 and then measure temperature of the secondary cell 2 to determine quality level of the cell 2, enabling proper verification of its action if the cell 2 is damaged.例文帳に追加

そこで、試験台３に設置した二次電池２を押圧部材で部分圧壊し、二次電池２の温度を測定して二次電池２の良否判定を行うことで、二次電池２が破損した場合の振る舞いを適切に検証することが可能となる。 - 特許庁

To provide a test socket capable of positioning a solar cell module of a different size such that a test terminal Pa of the solar cell module is opposite to a contact terminal 110d formed on a mounting surface 110a of a socket body.例文帳に追加

テストソケットにおいて、サイズの異なるソーラーセルモジュールを、そのテスト端子Ｐａがソケット本体の載置面１１０ａに形成されたコンタクト端子１１０ｄに対向するよう位置決めすることを可能とする。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor device for executing an operation test of a memory cell array by using test data which has been stored in a ROM-FUSE area in the memory cell array.例文帳に追加

メモリセルアレイ内のＲＯＭ−ＦＵＳＥ領域にテストデータを記憶しておき、このテストデータを用いてメモリセルアレイの動作テストを実行する不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

On the other hand, a syndrome signal is generated from the data read out from the memory cell array 1 and the test data read out from the test data memory cell array 2.例文帳に追加

一方、メモリセルアレイ１から読み出したデータと検査データメモリセルアレイ２から読み出した検査データとからシンドローム信号を生成する。 - 特許庁

The evaluation test device evaluates a cell for a fuel battery by holding an evaluation test cell (10) between two gas supply pipes (60 and 61) mutually abutted at the pipe openings.例文帳に追加

互いの管口を突き合わせた２本のガス供給管（６０，６１）の間に評価試験セル（１０）を挟み込んで燃料電池用セルの評価を行うための評価試験装置である。 - 特許庁

To provide an impact machine of matter to be protected capable of efficiently performing an impact test accompanying a danger like the impact test of a lithium cell or a fuel cell over a wide load range while keeping a high safety.例文帳に追加

リチウム電池や燃料電池等の衝撃試験のような危険を伴う衝撃試験を、高い安全性を保持しつつ広い荷重範囲でかつ効率的の実施できる要保護物体の衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device which can specify a memory cell in which read-out and write-in cannot properly be performed when a test of a memory cell of a DRAM is performed.例文帳に追加

ＤＲＡＭのメモリセルのテストを行ったときに、読み出しおよび書き込みが適切に行われなかったメモリセルを特定できるテスト装置を提供する。 - 特許庁

A memory circuit stops application of write-in voltage to the memory cell during the test period, and applies wrote-in voltage to the memory cell after finish of the test period.例文帳に追加

記憶回路は、テスト期間中にメモリセルへの書き込み電圧の印加を停止し、テスト期間終了後に書き込み電圧をメモリセルに印加する。 - 特許庁