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cell testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 749



例文

A method for screening a substance for treating the cancer includes bringing a cell expressing the acetyl-CoA synthase 2 into contact with a test substance, measuring the expression of the acetyl-CoA synthase 2 gene in the cell, and selecting the substance inhibiting the expression or the activity of the acetyl-CoA synthase 2 in comparison with a control cell without contacting the test substance as a substance can treate the cancer.例文帳に追加

アセチルCoAシンセターゼ2発現細胞に被験物質を接触させ、該細胞における、アセチルCoAシンセターゼ2遺伝子の発現を測定すること、および被験物質を接触させていない対照細胞と比較してアセチルCoAシンセターゼ2の発現または活性を抑制した物質を、癌を治療しうる物質として選択することを含む、癌を治療する物質のスクリーニング方法。 - 特許庁

A cell inspecting means inspects whether or not time information (test addition time, test performing time, trouble occurrence time, and trouble solution time) is registered by records of the database and a database update means 120 judges a record where the time information should be registered and specifies a cell where the time information should be registered according to the inspection result of the cell inspecting means.例文帳に追加

セル検査手段がデータベースのレコードごとに時刻情報(試験追加時刻、試験実施時刻、障害発生時刻、障害解決時刻)の登録の有無を検査し、セル検査手段の検査結果に基づき、データベース更新部120が時刻情報を登録すべきレコードを判断し、時刻情報を登録すべきセルを指定する。 - 特許庁

The defective memory cell is detected by continuing dummy read operation on the same memory cell immediately after write operation on the memory cell with an internal clock signal having a frequency increased with respect to a test mode clock signal responsive to each write access request issued according to a test pattern, and surely simulating the worst case.例文帳に追加

テスト・パターンにより発行される各ライト・アクセス要求に応答して、テスト・モード・クロック信号に対して増加された周波数を有する内部クロック信号を使用して、メモリ・セルに対してライト動作直後に、同一のメモリ・セルに対してダミー・リード動作を続け、最悪の場合の状況を確実にシミュレートして、欠陥メモリ・セルを検出する。 - 特許庁

A Hela cell treated with a higher fatty acid is cultured in the presence of a test sample and a form of mitochondria in the cell is observed and when fragmented and/or aggregated mitochondria in the Hela cell treated with the higher fatty acid forms tubular network, it is evaluated that the test sample is an antiobestic agent to screen the antiobestic agent.例文帳に追加

また、高級脂肪酸で処理したHela細胞を、被検物質の存在下に培養した後、細胞内のミトコンドリアの形態を観察し、高級脂肪酸で処理したHela細胞中の断片化及び/又は凝集したミトコンドリアが、チューブ状のネットワークを形成しているとき、前記被検物質が抗肥満剤であると評価することにより抗肥満剤をスクリーニングする。 - 特許庁

例文

The magnetic memory cell write current threshold detector (510) includes a first MRAM test cell (512) receiving a write current and sensing when the write current exceeds a first threshold, and a second MRAM test cell (514) receiving a write current and sensing when the write current exceeds a second threshold.例文帳に追加

この磁気メモリセル書込み電流閾値検出器(510)は、書込み電流を受け取って該書込み電流が第1の閾値を超えたときを判定するための第1のMRAMテストセル(512)と、書込み電流を受け取って該書込み電流が第2の閾値を越えたときを判定するための第2のMRAMテストセル(514)とを含む。 - 特許庁


例文

The received address signals are used not to specify the memory cell in the wafer level test mode, but to specify the shift distance (or jump distance) from the presently selected memory cell to the memory cell to be selected next.例文帳に追加

入力されたアドレス信号は、ウェーハレベルテストモードの間、メモリセルを指定するために使用されるのではなく、現在選択されたメモリセルから次に選択されるメモリセルまでの移動距離(またはジャンプ距離)を指定するために使用される。 - 特許庁

To provide a sheet for sealing the rear surface of a solar cell excellent in adhesiveness with an ethylene-vinylacetate copolymer as a filler after an acceleration test in a high temperature and high humidity in a solar cell module employing the filler, and to provide the solar cell module.例文帳に追加

エチレン-酢酸ビニル共重合体を充填材として用いた太陽電池モジュールにおいて、高温多湿下における促進試験後の充填剤との密着性に優れた太陽電池裏面封止用シートおよび太陽電池モジュールを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a sheet for sealing the rear surface of a solar cell excellent in adhesiveness with an ethylene-vinylacetate copolymer as a filler after an acceleration test in high temperature and high humidity in a solar cell module employing the filler, and to provide the solar cell module.例文帳に追加

エチレン−酢酸ビニル共重合体を充填材として用いた太陽電池モジュールにおいて、高温多湿下における促進試験後の充填材との密着性に優れた太陽電池裏面封止用シートおよび太陽電池モジュールを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a cell-washing centrifuge which can uniformly drain the supernatants of washing liquids in all test tubes in a supernatant-draining process to enhance the effect of cell washing and obtain a highly reliable cell examination result.例文帳に追加

上澄液排出工程において全ての試験管について洗浄液の上澄液の排出を均等に行うことによって細胞洗浄効果を高めて信頼性の高い細胞検査結果を得ることができる細胞洗浄遠心機を提供すること。 - 特許庁

例文

To provide a semiconductor memory device having a test function for surely detecting a defective memory cell, of which the capacity value of a capacitor in a memory cell is lower for a standard range, since the possibility of causing a defective cell becomes high, as increase in the capacity proceeds in the future.例文帳に追加

今後大容量化が進むに連れて不良セルを生む可能性も高くなるため、メモリセルにおけるコンデンサの容量値が規格範囲に対して低い不良メモリセルを確実に検出するテスト機能を有する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

例文

In this second test, the value the output cell CO1 retains is made to output to the output cell CO1 of the first device, and then, after the lapse of the reciprocal of the second frequency, the value input from an input terminal IN2 of the second device is made to be fetched to the input cell CI2 of the second device.例文帳に追加

この第二の検査では、第一デバイスの出力セルCO1に、出力セルCO1が保持する値を出力させ、第2周波数分の一時間経過後、第二デバイスの入力セルCI2に、その第二デバイスの入力端子IN2から入力される値を取り込ませる。 - 特許庁

To provide an electric simulator of a fuel cell in which in place of the fuel cell body, a proceeding system integrated monitoring is carried out, movable electric power output characteristics necessary for developing test of an electric power adjustment unit can be obtained, and cost necessary for developing a fuel cell system can be saved.例文帳に追加

燃料電池本体の代りに、進行システム統合モニタを行い、電力調節ユニット開発テストに必要とする可動的な電力出力特性が得られ、燃料電池システム開発に必要とするコストを節約できる燃料電池の電気模擬装置を提供する。 - 特許庁

To test a circuit without making a probe needle to abut on a bonding pad corresponding to an I/O cell having a small driving capacity, concerning the circuit equipped with both an I/O cell having a large driving capacity and the I/O cell having the small driving capacity.例文帳に追加

ドライブ能力の大きいI/Oセルとドライブ能力の小さいI/Oセルとの両方を備える回路において、ドライブ能力の小さいI/Oセルに対応したボンディングパッドにプローブ針を当接することなく、当該回路のテストを行う。 - 特許庁

To provide an exhaust treatment device capable of being used for an operation test of a fuel cell system, and free from the deterioration of the performance of a fuel cell even if a fuel cell system is in an idling stop state or power generation stop state at running of a vehicle.例文帳に追加

燃料電池システムの運転試験に用いることができるものであって、燃料電池システムがアイドルストップ状態や走行中発電停止になったとしても燃料電池の性能を劣化させることのない排気処理装置を提供する。 - 特許庁

Program cells are combined by a program cell combination unit 130 by using random numbers generated by a random number generator 120 with program cell information 110 and cell weight information 111 being input, and a compiler test program 140 is automatically generated.例文帳に追加

プログラムセル情報110とセル重み情報111を入力として、乱数発生器120により発生させた乱数を用いて、プログラムセル組合せ器130でプログラムセルを組合せ、コンパイラのテストプログラム140を自動生成する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit for performing an input/output test of data is provided with a sense amplifier detecting a level of input data and a sense amplifier controller for blocking a signal path between the sense amplifier and a memory cell when a test mode signal is activated.例文帳に追加

本発明は、データの入出力テストを行うするための半導体集積回路において、入力されたデータのレベルを検出するセンスアンプと、およびテストモード信号が活性化されたとき、前記センスアンプからメモリセルに達する信号経路を遮断するセンスアンプコントローラを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which can cut the cost and time for a test by effectively using a spare cell which is originally used for circuit modification alone for raising trouble detection ratio by a shorter test pattern, and its modification method.例文帳に追加

本来回路修正のためだけに使用されるスペアセルを、より短いテストパターンで故障検出率を上げるために有効利用して、テストのためのコストと時間を削減することができる半導体集積回路およびその修正方法を提供する。 - 特許庁

This semiconductor storage 1000 is provided with a test mode setting circuit 6 which receives an external signal and can set plural test modes in serial, a voltage generating circuit 8, a column system control circuit 10, a row system control circuit 12, and a memory cell array 14.例文帳に追加

本発明に係る半導体記憶装置は、外部信号を受けて複数のテストモードをシリアルに設定することが可能なテストモード設定回路6、電圧発生回路8、コラム系制御回路10、ロウ系制御回路12、およびメモリセルアレイ14を備える。 - 特許庁

To properly estimate the plateau stress at a required dynamic strain speed higher than a static strain speed due to a static compression test with respect to a porous metal having a closed cell structure, without performing a compression test at the dynamic strain speed.例文帳に追加

クローズドセル構造のポーラス金属について、静的圧縮試験による静的ひずみ速度よりも速い所要の動的ひずみ速度でのプラトー応力を、該動的ひずみ速度での圧縮試験を行うことなく適正に予測できるようにすること。 - 特許庁

To provide a melanin production inducer capable of inducing melanin production in a pigment cell by a simple operation, and to provide an evaluation method of a test material capable of evaluating a whitening effect of the test material by a quick and simple operation.例文帳に追加

色素細胞において、メラニン産生を簡便な操作で誘導することができるメラニン産生誘導剤及び被験物質の美白作用を迅速かつ簡便な操作で評価することができる被験物質の評価方法を提供すること。 - 特許庁

The optical double-sided pressure-sensitive adhesive sheet is characterized by including a pressure-sensitive adhesive layer having a resistance ratio of 90 to 120 determined by a specific corrosion resistance test and an average-foam cell diameter of ≤1.0 mm determined by a specific foaming peeling resistant test.例文帳に追加

本発明の光学用両面感圧性接着シートは、特定の耐腐食性試験で求められる抵抗比が90〜120であり、且つ特定の耐発泡剥がれ試験で求められる気泡の平均気泡径が1.0mm以下である感圧接着剤層を有することを特徴とする。 - 特許庁

A test pit 13 having an incidence opening 13a in the area on which the slit image 16 is formed is provided in parallel with the sample cell 11 and the reference pit 12, and a light-receiving element 23 is provided to a sensor part 20 to receive the light passing through the test pit 13.例文帳に追加

サンプルセル11及びリファレンス用穴12と並べて、スリット像16が結像する領域内に入射口13aを持つテスト用穴13を設け、これを通過する光を受光するための受光素子23をセンサー部20に設置した。 - 特許庁

In this impact testing device, a honeycomb block test piece 11 is loaded on an installation stand 10 having a smooth surface with cell opening parts 11a upward and downward, and an impact absorbing characteristic is measured by dropping a weight object W having a smooth bottom face from the upper side of the honeycomb block test piece 11.例文帳に追加

衝撃試験装置は、表面が平滑な設置台10上に、セルの開口部11aを上下にしてハニカムブロック供試体11を載置し、ハニカムブロック供試体11の上方から平滑な底面を有する重量物Wを落下させて衝撃吸収特性を測定するものである。 - 特許庁

A write-driver circuit 1090 gives write-in data of which level is reversed every write-in cycle to a selected memory cell based on write-in data held in a latch circuit 1073a at the point of time at which write-in operation in a test operation mode is specified, in a test operation mode.例文帳に追加

ドライバ回路1090は、テスト動作モードにおいては、テスト動作モードにおける書込動作が指定された時点で、ラッチ回路1073aに保持された書込データに基づいて、書込サイクルごとにレベルが反転する書込データを選択されたメモリセルに与える。 - 特許庁

To provide a redundancy relieving circuit and a method therefor, and semiconductor device in which the test time for testing a defective memory cell is shortened, the test device is made inexpensive by dispensing with fail memories having extensive capacity accumulating defective bits, and the device can easily cope with the increase and decrease of the number of IO.例文帳に追加

不良メモリセルをテストするテスト時間を短縮し、不良ビットを蓄積する膨大な容量を有するフェイルメモリを不要としてテスト装置を安価とし、IO数の増減に対しても容易に対応することができる冗長救済回路、方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

On the other hand, those of the cell assembly memories 102-1-102-n to which the signal destination is not set store temporarily a signal received from a test signal generating sections 130-1-103-n and send the signal to test signal check sections 107-1-107-n.例文帳に追加

一方、セル組立メモリ102−1〜102−nのうち、信号送信先が設定されていないものは、試験信号生成部103−1〜103−nから入力した信号を一時的に記憶し、試験信号検査部107−1〜107−nに送る。 - 特許庁

For a cell 1a to be detected, in which a pair of electrodes 121, 122 are formed on a solid electrolyte material 112, a microcomputer 28 is configured to input a test signal temporarily containing an alternative current component to a signal line connected to the electrodes 121, 122, and also to detect a response signal to this test signal.例文帳に追加

固体電解質材112に1対の電極121,122を形成した検出対象のセル1aについて、マイクロコンピュータ28が、一時的に交流成分を含む試験信号を、電極121,122と接続された信号線に入力するとともに、その応答信号を検出するようにする。 - 特許庁

A control circuit 391 controls peripheral circuits such as a column decoder 290 so that input/output of data for testing specific operation of a plurality of memory cells included in a memory cell array 320 is performed when receiving a L level test mode signal TM and a H level test mode signal TM.例文帳に追加

制御回路391は、Lレベルのテストモード信号TMおよびHレベルのテストモード信号TMを受けると、メモリセルアレイ320に含まれる複数のメモリセルに特殊動作をテストするためのデータの入出力を行なうようにコラムデコーダ290等の周辺回路を制御する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device in which a data inversion signal is generated appropriately based on an address signal supplied to a DUT and which can perform a test even for a DUT in which the number of arrays are different between a row side and a column side of a memory cell.例文帳に追加

メモリセルのロウ側と、カラム側との配列数が異なるDUTに対しても、DUTへ供給するアドレス信号に基づいて適正にデータ反転信号を発生して試験実施可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

By using the latch 1 in a cell or the like, wherein logical circuits are constituted every functional block, the edge trigger operation and the level sense operation are switched flexibly, and hereby a test time for the scan path test is shortened, and simultaneously the fault detection rate can be improved.例文帳に追加

機能ブロック毎に論理回路が構成されているセルなどにラッチ1を用いることにより、エッジトリガ動作とレベルセンス動作とをフレキシブルに切り換えることによって、スキャンパステストのテスト時間を短縮しながら故障検出率を向上させることができる。 - 特許庁

The device also has a constitution wherein a load cell for measuring the stress applied to the test piece is arranged on the fixed support member side, and displacement of the test piece is measured directly by a displacement gage each endpoint of which is fixed to the fixed support member and the movable support member.例文帳に追加

また、試験片に印加した応力を測定するロードセルを固定支持部材側に配置するとともに、固定支持部材および可動支持部材に各端点を固定した変位計によって試験片の変位量を直接計測するよう構成する。 - 特許庁

To provide a technique that it is possible for an operator to visually recognize to which cell the connection state has been transferred at what time, and whether the transition is a success or a failure, and for the operator to visually recognize the state of progress of the test in the case of the connection test by a virtual base station.例文帳に追加

擬似基地局による接続試験において、どの時間経過において接続状態がどのセルへ遷移し、その遷移が成功か不成功かを、視覚視認できるようにするとともに、併せて試験の進捗状況を視認できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

The method for screening the endoplasmic reticulum stress-related substance includes culturing cells by changing the concentration of the endoplasmic reticulum stress-inducing substance stepwise, and by evaluating the influence of the test substance on the endoplasmic reticulum stress from the difference of the recovering concentration of the cell survival rate by the presence or absence of the test substance.例文帳に追加

小胞体ストレス誘導物質の濃度を段階に変えて細胞の培養を行い、被検物質の有無による細胞生存率回復濃度の相違に基づいて当該被検物質の小胞体ストレスへの影響を評価する。 - 特許庁

To provide a method for culturing extracted cells with which the amount of extracted cells required for a chemical sensitivity test is reduced and a cell culture period required up to a test judgment is shortened with regard to the cells extracted from a mammalian body and a method for evaluating chemical sensitivity.例文帳に追加

哺乳動物体内から摘出した細胞について、薬剤感受性試験に要する細胞の量を減ずることができ、また試験判定までに要する細胞培養期間を短縮することができる摘出細胞培養方法および薬剤感受性の評価方法を提供すること。 - 特許庁

The method for detecting a telomerase-inducting substance is characterized by bringing the transgenic cell into contact with a test substance to measure the presence or absence of the expression of a foreign gene and the extent of the expression, thereby detecting whether the test substance induces the telomerase or not.例文帳に追加

本発明のテロメラーゼ誘導物質の検出方法は、上記遺伝子導入細胞を被検物質と接触させて、外来遺伝子の発現の有無及び発現の程度を測定することによって、該被検物質がテロメラーゼを誘導するか否かを検出することを特徴とする。 - 特許庁

The test method for biocompatible material determines whether a water-insoluble sheet material is a biocompatible material or not, and includes swelling or soaking the sheet material of a test piece with or in a culture medium, and sticking the resultant sheet material to adherent cells cultured on the bottom of a cell-culturing container.例文帳に追加

水不溶性のシート材が生体適合性材料であるかどうかを判定する試験方法であって、試験片となるシート材を培養培地に膨潤、浸漬したのち、細胞培養容器の底部に培養した付着性細胞と張り合わせることを特徴とする生体適合性材料の試験方法。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which malfunction never be caused and operation can be performed with low power consumption by performing a test again and detecting optimum operation conditions for a cell being easy to be defect out of cells passing a test, and a method for testing the same.例文帳に追加

テストをパスしたセルのうち最も不良になり易いセルに対し、再びテストを行って最適の動作条件を検出することによって、誤動作せず、低消費電力で動作可能な半導体メモリ装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a means capable of preventing disappearance of stored data of a memory cell during a discrimination period of output data even when a burn-in test is performed using a test device of low speed, for a DRAM operated by a packet system at high speed.例文帳に追加

パケット方式により高速で動作するDRAMに対して、低速のテスト装置を用いてバーンインテストを行う場合でも、出力データの判定期間中にメモリセルの記憶データが消失するのを防止することができる手段を提供する。 - 特許庁

The fuel cell device carrying out power generation by electrochemical reaction of fuel gas and oxidant gas is made provided with a leak test treatment means 71 executing a leak test of a fuel reforming line 61, and a control unit 55 controlling operation of each part of the device.例文帳に追加

燃料ガスと酸化剤ガスとの電気化学的反応により発電を行う燃料電池装置において、燃料改質ライン61のリーク検査を処理実行するリーク検査処理手段71を、装置の各部の動作を制御する制御装置55に設ける。 - 特許庁

Thereby, a redundant cell array region 106 being not used at the time of a test can be used effectively, not only initial fault caused in a test but one part of accidental fault and abrasion fault caused in a user can be relieved.例文帳に追加

このことにより、検査時に使用されなかった冗長セルアレイ領域106を有効に活用でき、検査において発生する初期故障だけでなく、ユーザにおいて発生する偶発故障や磨耗故障の一部を救済することができる。 - 特許庁

When defect detection is performed by measuring a standby current without limiting to an IDDQ test, and influence of the off-leak can be reduced even if a memory cell array having much off-leak coexists by turning off the switch for supplying and cutting off a power source by a test signal ITEST.例文帳に追加

IDDQテストに限らず、スタンバイ電流を測定して不良検出する際に、テスト信号ITESTにより上述の電源供給遮断用スイッチをオフにすれば、オフ・リークが多いメモリセル・アレイが混在していても、該オフ・リークの影響を低減することができる。 - 特許庁

This in-urine physical component classification device is characterized by having a means for image picking up the test solution on a translucent plate or in a flow cell and by equipping the means with an auto-focusing function for focusing automatically on the physical component in the test solution.例文帳に追加

透光板上もしくはフローセル中の被検液を撮像する手段を有し、かつ前記手段において被検液中の有形成分に焦点を自動に合わせる自動合焦機能が装備されることを特徴とする尿中有形成分分類装置。 - 特許庁

3-3) In the case where exceptionally, a strong positive result in the in vitro mutagenicity test with plural indicators is obtained even though no test data is available, and the substance shows (strong) similarity in chemical structure to the known germ cell mutagenicity substance (Category 1, namely, the heritable mutagenicity substance) (Refer to 2. Item 5), seek the decision of the expert.例文帳に追加

3-3)例外的に、in vivo 試験データがないものの複数の指標の in vitro 変異原性試験における強い陽性結果があり、かつ、既知の生殖細胞変異原性物質(区分1、すなわち経世代変異原性物質)と化学構造的に(強い)類似性を示す場合(2.5)項参照、専門家の判断を仰ぐ) - 経済産業省

At the time of a test, a program data set circuit 15 can write a test pattern to the memory cell array 14 without passing through the shift register 12 by outputting set signals SA0, SA1 making forcedly the data latch circuit 13 a set state to the data latch circuit 13, and a transfer time of a test pattern can be omitted.例文帳に追加

テスト時に、プログラムデータセット回路15は、データラッチ回路13を強制的にセット状態にするセット信号SA0,SA1をデータラッチ回路13に出力することによって、シフトレジスタ12を介さずにテストパターンをメモリセルアレイ14に書き込みでき、テストパターンの転送時間を省ける。 - 特許庁

An arithmetic circuit performs operation of the flag data stored in the flag register with a first test data stored in the data register for each cycle from the input time of the first test data to the plurality of number of cycles of the clock signal, and the data control circuit 1-2 generates test data to be written in the memory cell.例文帳に追加

そして、演算回路は、第1テストデータの入力時からクロック信号の複数サイクル目まで各々のサイクル毎に、フラグレジスタに記憶されたフラグデータとデータレジスタに記憶された第1テストデータとの演算を行って、前記データ制御回路1−2がメモリセルに書き込むテストデータを発生する。 - 特許庁

A signal A of H level is inputted to a scan test pin 11 to switch an internal circuit 12 to a scan test mode, an OR circuit 13 is operated to cut off a stationary current path of a cell 14 via an inner pin 14a, and a test pattern for scan tests is applied to the internal circuit 12 to execute IDDQ tests, thereby raising the failure detectivity.例文帳に追加

スキャンテストピン11に‘H’レベルの信号Aを入力して内部回路12をスキャンテストモードに切り換えるとともに、オア回路13により内部ピン14aを経由してセル14の定常電流パスをオフ状態にし、スキャンテスト用のテストパターンを内部回路12に印加してIDDQテストを行なうことにより故障検出率を高める。 - 特許庁

The method for judging the presence or absence of the nervous toxicity of the test substance, the method for obtaining the marker for judging the presence or absence of the nervous toxicity of the test substance, the method for obtaining the marker of the nervous function disorder, and the method for judging the effect of the test substance on the nervous function disorder use the cell.例文帳に追加

また、このような細胞を使用して、被験物質の神経毒性の有無を判定する方法、被験物質の神経毒性の有無を判定するマーカーを取得する方法、神経機能障害のマーカーを取得する方法、および被験物質が神経機能障害に及ぼす効果を判定する方法を提供する。 - 特許庁

The method for substituting cell-based morphological information contained in the cytological and/or histological data of a test sample with molecule information obtained from the solution above, includes the steps of dissolving a raw test material and precisely and repeatably conducting medically associated evaluation from the test sample solved.例文帳に追加

本発明は、試験試料の細胞学的および/または組織学的データに含まれる細胞ベースの形態学的な情報を上記溶液から得られる分子情報によって置換する方法であって、原試験試料を溶解し、溶解された試験試料から医学的に関連した評価を正確かつ再現可能に行うことを可能とする方法を提供する。 - 特許庁

This semiconductor memory is provided with a memory cell array divided into plural memory mats, a memory mat selecting circuit 71 selecting a memory mat to be activated, and a burn-in test mode detecting circuit 76 generating a burn-in test mode detecting signal BI being made an active state when a burn-in test is performed.例文帳に追加

本発明の半導体記憶装置は、複数のメモリマットに分割されたメモリセルアレイと、活性化されるメモリマットを選択するメモリマット選択回路と、バーンイン試験が実施される場合に活性状態となるバーンイン試験モード検出信号BIを生成するバーンイン試験モード検出回路76を備える。 - 特許庁

例文

Since assembling of an TM cell signal by the cell assembly section 106 and check of the cell assembly memories not in use by the test signal check sections 107-1-107-n are conducted in parallel, a normal cell assembly memory can be selected in the case of setting a new destination and the operation defect can be avoided.例文帳に追加

セル組立部106によるATMセル信号の組立と、試験信号検査部107−1〜107−nによる非使用のセル組立メモリの検査とを並行して行うので、新たな送信先を設定する際に、正常なセル組立メモリを選択することができ、これにより、動作不良を回避することができる。 - 特許庁

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