「cell test」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor test device which can store address data of a defective memory cell and which is inexpensive, a method for testing a semiconductor, and a method for manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

不良メモリセルのアドレスデータを記憶可能で、且つ安価な半導体試験装置、半導体試験方法、および半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

A semiconductor memory device 100A is provided with memory cell arrays 10A, 10B, a data bus 40, a reference voltage generating circuit 72, a voltage drop circuit 73, a VPP generating circuit 76, a circuit group 77, and a test circuit 80.例文帳に追加

半導体記憶装置１００Ａは、メモリセルアレイ１０Ａ，１０Ｂと、データバス４０と、基準電圧発生回路７２と、電圧降圧回路７３と、ＶＰＰ発生回路７６と、回路群７７と、テスト回路８０とを備える。 - 特許庁

The element wiring forming apparatus 50 forms fuse elements 11a-11f in a pattern according to the results of memory cell test on the semiconductor device, and forms elements or wiring in a region above a region where the fuse elements are formed.例文帳に追加

素子配線形成装置５０は、メモリセルテストの結果に応じたパタンのヒューズ素子１１ａ〜１１ｆを半導体装置上に形成し、ヒューズ素子が形成された領域の上方の領域に素子又は配線を形成する。 - 特許庁

To provide a test substrate for use in biochemical tests which involve biochemical substances such as nucleic acid, nucleic acid derivatives, proteins, carbohydrates, cell fragments, etc.例文帳に追加

核酸、核酸誘導体、タンパク質、糖質、細胞、細胞断片などの生化学物質を含む生化学的検査に使用するための検査基板を提供する。 - 特許庁

During the wafer burn-in test operation, a write/read control means 607 controls the write operation to the memory cell array 601 and read operation from the memory array 601 in response to the signal to be applied to the fourth pin A3.例文帳に追加

ウェハバーンインテスト時、書込み／読出し制御手段607 が第４ピンA3に印加される信号に応答して前記メモリセルアレイ601 に対する書込み動作及び前記メモリセルアレイ601 からの読出し動作を制御する。 - 特許庁

and JTAG and to provide a method and an apparatus for enabling to perform high speed test of an interconnect circuit including a JTAG boundary scan cell while minimizing the additional circuit.例文帳に追加

最小限の追加回路でＪＴＡＧ境界スキャン・セルを含む高速相互接続回路テストを可能とする方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a circuit device of a semiconductor memory and a method in which quality of a semiconductor memory being as high as possible can be achieved for a holding time of a memory cell with comparatively slight test, restoration, and repair cost.例文帳に追加

比較的わずかなテスト及び修復、修理コストのもとでメモリセルの保持時間に関して、半導体メモリのできるだけ高い品質を達成することを可能にする半導体メモリの回路装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a defective memory cell detected by an operation test can be relieved without requiring complex analysis processing.例文帳に追加

複雑な解析処理を要することなく、動作テストによって検出された不良メモリセルを救済することが可能な半導体記憶装置の構成を提供する。 - 特許庁

At the time of a multi-bit test, An I/O combiner 50 degenerates data of a plurality of bits read out to pairs of data buses TDB0-TDB3 from a memory cell array MA in parallel and outputs them to a pair of data bus RTDB.例文帳に追加

マルチビットテスト時、Ｉ／Ｏコンバイナ５０は、メモリセルアレイＭＡから並列にデータバス対ＴＤＢ０〜ＴＤＢ３に読出された複数ビットのデータを縮退してデータバス対ＲＴＤＢへ出力する。 - 特許庁

To enable turn back at the subscriber side end of an ATM terminating apparatus by using a loop detection cell as a separation test as the responsibility division point of interface to the ATM subscriber side.例文帳に追加

本発明の課題は、ＡＴＭ加入者側とのインターフェースの責任分解点としての切り分け試験として、ループ検出用セルを用いることにより、ＡＴＭ終端装置の加入者側末端での折り返しを可能にすることである。 - 特許庁

To provide an LED light source for test, capable of preventing unevenness in illuminance and color of illumination light, and to provide a solar cell evaluation device capable of accurately evaluating output characteristics of solar cells by the same.例文帳に追加

照射光の照度ムラや色ムラの発生を抑えることができる試験用ＬＥＤ光源とこれを用いて太陽電池の出力特性を高精度に評価することができる太陽電池評価装置を提供すること。 - 特許庁

When a plurality of activated paths on which signals are propagated exist at a delay test, an extraction unit 11 extracts the multi-input cell having two or more activated paths input thereto.例文帳に追加

遅延試験時に信号が伝播した活性化パスが複数存在する場合、抽出部１１により２以上の活性化パスが入力されている多入力セルが抽出される。 - 特許庁

To provide a fuel cell system for preventing an adverse effect on a smooth test power generation of the system even when an operator made a mistake in depressing an operating switch.例文帳に追加

作業者が操作スイッチの入力ミスをしたときであっても、システムの円滑な発電試運転に影響を与えるおそれを解消させる燃料電池システムを提供する。 - 特許庁

In the fuel cell integrated with the MEA that is determined as a non-defective article through the ability test under this kind of low humidification condition, power generation capacity can be guaranteed in the low humidificatiion condition.例文帳に追加

こうした低加湿状況での能力検査により良品判定されたＭＥＡを組み込んだ燃料電池では、低加湿状況下において発電能力を担保できる。 - 特許庁

The controlling device 2 calculates the abnormal tension reference value based on the maximum value of the warp tension on the test operation of a new fabric, which is output from a load cell 19 during the operation.例文帳に追加

制御装置２は試し運転中にロードセル１９から出力される新しい織物の試し運転時経糸張力の最大値を基に経糸の異常張力基準値を算出し、記憶部に設定する。 - 特許庁

After performing setting change of the neighboring cell list(s), the operation of the wireless base station 103 designated to be added is started and, as necessary, the running test is made using a measuring vehicle.例文帳に追加

隣接セルリストの設定変更の後、増設対象に指定された無線基地局１０３の運用を開始し、必要に応じて測定車による走行試験を行う。 - 特許庁

This method is used for evaluating the oxidation-decomposition activity of the photocatalyst by bringing a titanium oxide (TiO2) photocatalyst test piece into contact with a pigment solution in a cell for spectroscopy and by instantaneously measuring the concentration variation of the solution under light irradiation by light absorption analysis.例文帳に追加

さらに詳しくは、分解活性データを再現性よく得ることによって、光触媒材料の開発研究を効率的に行おうとするものである。 - 特許庁

The drug sensitivity test is conducted by comparing a case where a chemical is added with the case where the chemical is not added by measuring a substance relating to the energy metabolism in a microorganism cell by the mass spectrometer.例文帳に追加

微生物の細胞内のエネルギー代謝に関連する物質を質量分析により測定し、薬剤添加と無添加の場合とを比較して、薬剤感受性試験を行う。 - 特許庁

As a result, while each of the solar cell modules 3 is being utilized as a power supply, a weather-resistance test considering insolation is considered in addition to time, temperature, and moisture.例文帳に追加

それにより、各太陽電池モジュール３を電源として利用しつつ、時間、温度、湿度に加えて日射を考慮した耐候性試験を実現するようにしたことを特徴としている。 - 特許庁

To provide a thin film magnetic memory device for shortening a time for disturb-test for excluding a defective memory cell weak in a disturb-property.例文帳に追加

ディスターブ特性の弱い不良メモリセルを除去するためのディスターブ試験の試験時間を短縮することができる薄膜磁性体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device repair a memory cell having exceptionally large gate leak current detected by a "0" margin test, without increasing a circuit area or increasing cost.例文帳に追加

“０” マージンテストにより例外的に大きなゲートリーク電流のメモリセルが検出された場合においても、回路面積の増大やコストの上昇を伴うことなくこれを救済することが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

An internal bus IB is connected with a self diagnostic circuit, to perform a self diagnostic test by each physical area which is a basic area being in the physical space of a memory cell array 11.例文帳に追加

内部バスＩＢが自己診断回路に接続されており、メモリセルアレイ１１の物理空間における基本領域である物理領域ごとに自己診断試験が行われる。 - 特許庁

Each chip has a variable resistance element CC formed simultaneously by a process common to the memory cell between interconnected test pads TT and TB of a first pad for memory location detection.例文帳に追加

各チップは、相互に接続される第１のメモリ位置検知用パッドのテストパッドＴＴ，ＴＢ間に、それぞれ、メモリセルと共通のプロセスにより同時に形成される可変抵抗素子ＣＣを有する。 - 特許庁

Also, at the time of an operation test before shipping, the number of write and erase pulses and an optimum value of drain voltage and source voltage in a range in which over-stress is not given to a memory cell are measured.例文帳に追加

また、工場出荷前の動作試験時に、書き込みまたは消去パルス数の測定と、メモリセルに過剰ストレスを与えない範囲でのドレイン電圧やソース電圧の最適値の測定と、を行う。 - 特許庁

The examination part 201 extracts that initial value and the result of operation from the received test cell and discriminates whether the result of operation predetermined on the basis of the extracted initial value is coincident with the extracted result of operation.例文帳に追加

検査部２０１は、受信した試験セルから前記初期値および演算の結果を抽出し、抽出した初期値に基づいた予め定めた演算の結果と、抽出した演算の結果とが一致するか否かを判定する。 - 特許庁

In this way, control is carried out so that signal is not transmitted by the input/output cells, to which the LSI chips 220 and 260 are connected, and connection of the scan path and the input/output cell is switched for performing simultaneous operation of the scan test.例文帳に追加

これにより、ＬＳＩチップ２２０、２６０を接続する入出力セルが信号のやりとりを行わないように制御し、スキャンテストの同時実行を可能なようにスキャンパスと入出力セルの接続を切り替える。 - 特許庁

To provided a cell chip for exposing microdroplets to a portion of cells, wherein the microdroplets are dispensed by an inkjet printer, in a screening test of the effect of a substance on cells.例文帳に追加

物質の細胞に対する効果のスクリーニング試験においてインクジェットプリンターで分注された微小溶液を細胞の一部分にだけに暴露させるための細胞チップを提供する。 - 特許庁

In a test operation, a potential difference between the bit-line pair BLm, NBLm is reduced by grounding the bit-line BLm conducting to an H-side memory holding node of a memory cell Mn_m.例文帳に追加

テスト動作時において、メモリセルＭｎ＿ｍのＨ側記憶保持ノードと導通するビット線ＢＬｍを所定時間接地することによって、ビット線対ＢＬｍ，ＮＢＬｍ間の電位差を小さくする。 - 特許庁

When the leak test of this fuel cell laminated body is performed, predetermined inspection fluids having mutually different pressures are filled in at least two gas passage holes among the plurality of them.例文帳に追加

この燃料電池積層体の漏洩試験を行う際には、まず、複数のガス通路孔のうち少なくとも２つのガス通路孔に互いに圧力の異なる所定の検査流体を充填する。 - 特許庁

To execute cell continuous transition tests for memory circuits having different sizes by one BIST circuit, and to test memory circuits having memory cells which are not the power of 2 in total.例文帳に追加

１つのＢＩＳＴ回路により異なるサイズのメモリ回路に対してセル連続遷移テストを実行できるようにすると共に、２の階乗でないメモリセル数のメモリ回路が混在する場合にも対応可能にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device that can realize a low resistance in a embedded strap area and take measures for failure by a low-temperature wafer test without degrading the characteristic of a cell transistor.例文帳に追加

埋め込みストラップ領域の低抵抗化を実現でき、セルトランジスタ特性を悪化させることなく低温ウエハテストでの不良対策ができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

This test circuit detects a bit in which a shift is caused in a write-in property in a memory cell array 1 as a defective bit using a method by which one axis write-in current of a difficult axis direction is applied.例文帳に追加

このテスト回路は、メモリセルアレイ１中の書き込み特性にシフトがあるビットを、困難軸方向の一軸書き込み電流を印加する手法を用いて不良ビットとして検出する。 - 特許庁

To find out a method for simply, uniformly and stably dispersing a nanocarbon material in an animal cell culture liquid, so as to accurately and efficiently perform the toxicity test of the nanocarbon material.例文帳に追加

ナノ炭素材料を簡便で、均一かつ安定した状態で動物細胞培養液中に分散する方法を見いだし、ナノ炭素材料の毒性試験を正確かつ効率的に行う。 - 特許庁

An remarkable cytotoxic activity is found in a low ABCA1-expression cell strain as a result that a cytotoxicity-evaluating test by the nitidine is carried out by using various kinds of cancer cells.例文帳に追加

各種癌細胞株を用いて、ニチジンによる細胞毒性評価試験を行った結果、ABCA1低発現細胞株において顕著な細胞障害活性が見られた。 - 特許庁

Thereby, it can be grasped that defect is caused in which node out of six transistors constituting a SRAM cell, also the number of pads to be provided is less, and the test circuit can be inserted into a scribe line sufficiently.例文帳に追加

これにより、ＳＲＡＭセルを構成する６個のトランジスタのどのノードで不良が発生したのかが把握でき、かつ備えるパッドの数が少なく、スクライブラインに十分に挿し込める。 - 特許庁

To prevent the deterioration of the yield of a DRAM due to the failure of a memory cell, caused by the variation of the data holding characteristic of the capacitor, after the test upon the completion of the DRAM wafer.例文帳に追加

ＤＲＡＭのウエハ完成時の試験後に、キャパシタのデータ保持特性の変動に起因するメモリセルの不良によるＤＲＡＭの歩留まり低下を防止する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for evaluating a tube formation inhibitory effect, in which 50% inhibitory concentration of an affected substance can be simply obtained from a cultured cell image photographed by a tube formation test.例文帳に追加

管腔形成試験で撮影された培養細胞画像から作用させた物質について、５０％阻害濃度が簡易に得られる管腔形成阻害作用の評価方法および装置を提供する。 - 特許庁

To prevent a specific long period spread code allocated to a test base station from being caught in error when a cell is searched on the mobile station side.例文帳に追加

移動局側でのセルサーチに際して、試験基地局側に割り当てられている特定の長周期拡散符号を誤って捕捉してしまわないようにする。 - 特許庁

As shown in Figure 1, this standby CELL test system comprises a plurality of partitions and the service processor connected to the respective partitions to be able to freely change the partition configuration.例文帳に追加

図１によると、本発明は、複数のパーティションと、各パーティションと接続され、パーティション構成を自由に変更可能なサービスプロセッサとから構成される。 - 特許庁

A boundary scanning setting part 15 sets BS chain order generation in a pin number order by the signal name and the input/output attribute of the signal, sets a BS cell to be and also sets a test instruction.例文帳に追加

バウンダリスキャン設定部１５は、信号名、信号の入出力属性による、ピン番号順でのＢＳチェーン順序生成および使用するＢＳセルの設定とテスト命令の設定を行う。 - 特許庁

The process is made so that the information of a defective memory cell under previous testing condition is transcribed or transferred to the buffer memory from the fail memory while being in parallel with a write-in to a memory to be tested of a back pattern under the next test condition.例文帳に追加

先の試験条件における不良メモリセル情報を次の試験条件における背面パターンの被試験メモリへの書き込みと並行してフェイルメモリからバッファメモリに転写あるいは転送する。 - 特許庁

When measuring material characteristics by applying a tensile load to a test piece, a load cell 14 and a strain gauge 20 are used to simultaneously acquire the load output - time change characteristics and the strain output - time change characteristics.例文帳に追加

試験片に引張荷重を加えて材料特性を計測する際に、ロードセル１４と歪みゲージ２０を用いて、荷重出力−時間変化特性と歪み出力−時間変化特性を同時取得する。 - 特許庁

Test specification data 110 in which expected value information are written on a Web screen JSP 1 shows that expected value information is written in a cell in a region 1400.例文帳に追加

Ｗｅｂ画面ＪＳＰ１の期待値情報書き込み後のテスト仕様書データ１１０において、領域１４００内のセルに期待値情報が書き込まれていることがわかる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, reducing a test time for outputting a result of comparing a data pattern for testing with a data read out from a memory cell array.例文帳に追加

テスト用のデータパターンとメモリセルアレイから読み出したデータとの比較結果を出力するテスト時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing the toxicity of cells, in which the cell activity of cultured cells is directly, singly and accurately measured and the quantification of the toxicity of chemical substances to be subjected to toxicity test is carried out at high precision.例文帳に追加

培養細胞の細胞活性を直接、1個1個、正確に計測し、被毒性試験化学物質の毒性を高い精度で定量化できる細胞毒性試験方法を提供する。 - 特許庁