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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > cell testに関連した英語例文

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cell testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 749



例文

To provide a clock generation circuit, a semiconductor integrated circuit, and a test device therefor which can prevent a decrease in detection rate and an increase in circuit size, reduce the effect of a multi-cycle path, correctly identify problem parts, and test at a higher frequency even if provided with test objects with different frequencies in a non-scanned cell test.例文帳に追加

非スキャンセルの試験において、検出率低下、回路規模の増大を防止でき、マルチサイクルパスの影響を低減でき、不具合箇所を的確に特定でき、異周波数の試験対象があっても高速側の周波数で試験をすることが可能な、クロック生成回路、半導体集積回路およびその試験装置を提供する。 - 特許庁

The lifetime acceleration testing method of the polymer electrolyte fuel cell includes a power generation test as well as an open-circuit potential retention test for accelerating degradation of an electrolyte film, a high-voltage retention test for accelerating oxidation corrosion of constituent materials of an electrode, and a potential scanning test for accelerating alleviation of a catalytic activity surface area.例文帳に追加

本発明の固体高分子型燃料電池の寿命加速試験方法は、電解質膜の劣化を加速するための発電試験と開回路電位保持試験、電極の構成材料の酸化腐食を加速するための高電圧保持試験、及び触媒活性表面積の減少を加速するための電位走査試験を含む。 - 特許庁

The test method for a network includes a step of analyzing a cell 200 from the network and a step of acquiring network performance data, based on cell.例文帳に追加

ネットワークのテスト方法は、ネットワークからのセル200を解析するステップと、そのセルに基づいてネットワーク性能データを取得するステップとを含む。 - 特許庁

As for the gas feeder for an evaluation test of a fuel cell with a humidification device, a dew point of gas to be supplied to the fuel cell can be altered arbitrarily.例文帳に追加

燃料電池へ供給する供給ガスの露点を任意に変更することのできる加湿装置付き燃料電池の評価試験用ガス供給装置である。 - 特許庁

例文

To provide the constitution of a semiconductor storage device which automatically detects a defective memory cell through a self-test and can store the defect address corresponding to the defective memory cell without using a fuse circuit.例文帳に追加

セルフテストによって欠陥メモリセルの検出を自動的に行なうとともに、欠陥メモリセルに対応する不良アドレスをヒューズ回路を用いることなく記憶することが可能な半導体記憶装置の構成を提供する。 - 特許庁


例文

To provide a semiconductor memory device in which a highly reliable stress test can be performed even after a defective memory cell is replaced by a spare memory cell.例文帳に追加

不良メモリセルをスペアメモリセルに置換した後においても信頼性の高いストレステストを行なうことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

This method using the cell line infinitely proliferating under a general cell culture environment can eliminate a reproduction error of the antiallergic action of the test substance and simultaneously therewith, perform the measurement using the biochemical substance binding.例文帳に追加

これにより、一般的な細胞培養環境で無限増殖する細胞株を利用することで、被検物質の抗アレルギー作用の再現誤差をなくすと同時に、生化学的な物質結合性を利用して計測可能とする。 - 特許庁

To determine whether or not a semiconductor redundant memory cell is selected without requiring an input/output terminal for testing or a test circuit for a defective memory cell.例文帳に追加

テスト用の入出力端子や不良メモリセル用のテスト回路を必要とすることなく、半導体冗長メモリセルが選択されたか否かを判断できるようにする。 - 特許庁

The test device 1 can prevent drop in accuracy of the calculation result of the water balance in the fuel cell caused by the liquefaction of moisture contained in the gas exhausted from the fuel cell.例文帳に追加

従って、試験装置1は、燃料電池から排出されるガス中に含まれている水分の液化を原因として燃料電池における水収支の算出結果の精度が低下するのを防止できる。 - 特許庁

例文

In the fuel cell (a test cell) 8 arranging the fuel electrode 3 and an oxidant electrode 4 on both sides of an electrolyte 1, all solid solution type alloy comprising at least nickel (Ni) and copper (Cu) is used as a fuel electrode material.例文帳に追加

電解質1の両面に燃料極3と酸化剤極4を配置した燃料電池(試験セル)8において、燃料極材料として少なくともニッケル(Ni)と銅(Cu)からなる全率固溶型合金を用いる。 - 特許庁

例文

A component module constituting this scan test system has an input scan cell 76 and an output scan cell 102 if the input and output are not on a boundary of an integrated circuit 10.例文帳に追加

この走査テストシステムを構成する成分モジュールは、その入力または出力が集積回路10の境界上になければ、入力走査セル76と出力走査セル102とを有する。 - 特許庁

The level of the CRMP-1 protein or mRNA can be used as an index of the cell invasiveness, and as an index of a test compound changing the cell invasiveness.例文帳に追加

CRMP−1タンパク質またはmRNAのレベルを、細胞侵入性の指標として、および細胞侵入性を変化させる試験化合物の能力の指標として、使用することができる。 - 特許庁

The nonvolatile memory device is provided with a read circuit (self-reference sense circuit 21) of a self-reference sense system used only during test of the reference cell (dummy cell).例文帳に追加

不揮発性記憶装置は、参照セル(ダミーセル)のテスト時にのみ用いられるセルフリファレンス方式の読出回路(セルフリファレンスセンス回路21)を備える。 - 特許庁

To enable confirming easily a normal/defective condition of cut off of a fuse for replacing a defective memory cell by a redundant memory cell when a function test of each pellet on a semiconductor wafer is performed.例文帳に追加

不良のメモリセルを冗長メモリセルに置換するためのヒューズの切断の良否を、半導体ウェハ上の各ペレットについて機能テストを実施する際に容易に確認できるようにする。 - 特許庁

As the result of observation, for example, when one bacterium (cell) self-traveling markedly in a static bacterium (cell) group is observed, the test concentration is judged as a medicine nonsensitivity concentration.例文帳に追加

この結果、例えば、静止した細菌(細胞)集団中に際だって自走する1個の細菌(細胞)が観察された場合、当該被験濃度を薬剤非感受性濃度として判断する。 - 特許庁

The test apparatus of the fuel cell 1 comprises a humidifying means 33 for humidifying the fuel gas fed to the fuel cell 1, a dew point measuring means 46 for measuring the dew point of the humidified fuel gas, and a control means.例文帳に追加

燃料電池1の試験装置を、燃料電池1に供給される燃料ガスを加湿する加湿手段33と、加湿された燃料ガスの露点温度を計測する露点温度計測手段46と、制御手段とを備える構成とする。 - 特許庁

After setting a layout region 103 of the boundary scan test circuit in an input/output cell 100, the layout of the input/output cell 100 and an inner logic circuit (not shown) is performed.例文帳に追加

入出力セル100に、バウンダリスキャンテスト回路の配置領域103を設定した後、同入出力セル100や内部論理回路(図示略)のレイアウトを行う。 - 特許庁

A test simulating the deterioration of the polymer electrolyte during the operation of the fuel cell is carried out by operating the fuel cell with a density of oxidant gas larger than that at a rated operation.例文帳に追加

酸化剤ガス中の酸素濃度を定格運転より高くして運転することにより、燃料電池運転時の高分子電解質の劣化を模擬した試験を行う。 - 特許庁

To provide a test apparatus of a fuel cell capable of preventing a dew point from varying when the fuel gas is humidified and fed to the fuel cell.例文帳に追加

燃料ガスを加湿して燃料電池に供給するにあたり、露点温度の変動を防ぐことができる燃料電池の試験装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a humidification system of a fuel cell capable of determining whether a dew-point sensor is faulty, without interruption of a performance test or the like of the fuel cell.例文帳に追加

燃料電池の性能試験などを中断することなく、露点センサが故障しているか否かを判断することができる燃料電池の加湿システムを提供する。 - 特許庁

After the permeable cell 5 is vacuumed for a predetermined time, the valve 7 is closed and increase in pressure due to a gas passing through the test membrane 11 and present around the permeable cell 5 is observed by a pressure sensor 6.例文帳に追加

一定時間透過セル5を真空引きした後、バルブ7を閉じ試験膜11を透過してくる透過セル5周辺のガスによる圧力の上昇を圧力センサ6により観察する。 - 特許庁

A test method of the nonvolatile semiconductor memory device has a (A) step for performing erasion of the memory cell with a FN system, and a (B) step for performing rewriting of the memory cell with the FN system after the (A) step.例文帳に追加

本発明に係る不揮発性半導体記憶装置のテスト方法は、(A)FN方式でメモリセルの消去を行うステップと、(B)上記(A)ステップの後、FN方式でメモリセルの書き戻しを行うステップとを有する。 - 特許庁

As data read out from the real cell array and the parity cell array are compared simultaneously with the expected value, a test time can be shortened and a manufacturing cost of a semiconductor memory can be reduced.例文帳に追加

リアルセルアレイおよびパリティセルアレイから読み出されるデータが同時に期待値と比較されるため、試験時間を短縮でき、半導体メモリの製造コストを削減できる。 - 特許庁

An ordinary cell 6 is provided in the ordinary circuit area 5, and a repair cell 11 provided with a CMOS inveter is provided in the test circuit area 10A.例文帳に追加

通常回路領域5には、通常セル6が設けられており、テスト回路領域10Aには、CMOSインバータを備えるリペアセル11が設けられている。 - 特許庁

To provide a container for a cell test which can impress voltage without producing unevenness in a cell adhesion inhibiting property region at a certain experiment condition.例文帳に追加

一定の実験条件で、細胞接着阻害性領域内においてムラを生じることなく電圧を印加することができる細胞試験用容器を提供することを目的とする。 - 特許庁

Each test block TB is provided with a substitution judgment part for each of the combination of order for successively performing the substitution of memory cell columns and memory cell rows.例文帳に追加

各テストブロックTBには、メモリセル行とメモリセル列を順番に置換する順序の組合せのぞれぞれについて、置換判定部が設けられる。 - 特許庁

To provide a differential amplification sense amplifier circuit for detecting a defective characteristic margin of a memory cell due to a crystal defect etc. without an increase in the area of a memory cell region in a test of an SRAM.例文帳に追加

SRAMの検査において、メモリセル領域の面積増加なく、結晶欠陥等によるメモリセルの特性マージン不良を初期検査で検出するための差動増幅型センスアンプ回路を提供する。 - 特許庁

To provide an architecture capable of avoiding an error by previously carrying out a predictive diagnosis of a defective memory cell having a small margin in an SRAM block with an acceleration test, and to provide a defective memory cell predictive diagnosis method.例文帳に追加

SRAMブロック内のマージンの小さい不良メモリセルを加速試験によって事前に予知診断を行い、エラーを回避できるアーキテクチャーおよび不良メモリセル予知診断方法を提供する。 - 特許庁

Then, when "L" is written in the whole address by setting up a test mode, "L" is written in a normal memory cell, and the redundancy memory cell is not changed and remains in "H".例文帳に追加

次に、試験動作モードを設定して全アドレスに“L”を書き込むと、今度は正規のメモリセルに“L”が書き込まれ、冗長メモリセルは“H”のまま残される。 - 特許庁

This device has a load cell 27 for detecting a tension applied to the belt 11, and the load cell 27 is arranged and connected to the end of the device body side or the end of the test vehicle V side of the belt 11.例文帳に追加

ベルト11に付与される張力を検出するロードセル27を有し、ロードセル27をベルト11の装置本体側の端部又は試験車両V側の端部に配置連結する。 - 特許庁

As a defective memory cell MC can be replaced by the spare memory cell SMC, yield is improved, and as a plurality of memory chips 2-4 are tested in parallel, a test time may be short.例文帳に追加

パッケージング後でも不良メモリセルMCをスペアメモリセルSMCで置換できるので歩留りが向上し、複数のメモリチップ2〜4を並列にテストするのでテスト時間が短くて済む。 - 特許庁

To provide a non-volatile ferroelectric memory, in which a defective cell can be easily detected and removed even if a process condition is changed without requiring another test mode, and a detecting method for a defective cell using the memory.例文帳に追加

別のテストモードが必要なく、工程条件が変わっても容易に不良セルを検知して除去することのできる不揮発性強誘電体メモリ装置並びにそれを用いた不良セル検出方法を提供する。 - 特許庁

A channel selection part 15 is included in a test zone, specifies a cell group comprising cells in which an identical frequency group is allocated, and selects one channel per one cell group.例文帳に追加

チャネル選択部15が、試験ゾーンに含まれ、かつ同一の周波数群が割り当てられたセルからなるセルグループを特定し、一のセルグループにつき一のチャネルを選択する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile memory element capable of solving the problem of an over erase even without an individual test time for sensing the overerased cell and an additional circuit for increasing the threshold voltage of the overerased cell.例文帳に追加

過消去されたセルを検出するための別途のテスト時間や、過消去されたセルのしきい値電圧を上がるための追加回路がなくても、過消去の問題を解決できる不揮発性メモリ素子を提供する。 - 特許庁

A test signal is given from a flip-flop 6 to an input terminal of the input cell 7 via the transmission gate 10, and an output signal of the input cell 7 is taken into a boundary scan register 5.例文帳に追加

そして、フリップフロップ6から試験信号をトランスミッションゲート10を介して入力セル7の入力端子に与え、入力セル7の出力信号をバウンダリスキャンレジスタ5に取り込む。 - 特許庁

To provide a refresh apparatus for a semiconductor memory device in which normal cell and a redundant cell can be a simultaneously refreshed and a test time can be shortened, and a refresh method.例文帳に追加

ノーマルセルとリダンダントセルとを同時にリフレッシュさせ、テスト時間の短縮が可能な半導体メモリ素子のリフレッシュ装置及びリフレッシュ方法を提供する。 - 特許庁

Or else, recessed parts are provided in the directions of diagonal lines together joining vertices confronting a cell insertion part of a fluorescence device for inserting therein side ends of a cell for test given an external shape of a flat rectangular body.例文帳に追加

また、蛍光発光装置のセル挿入部に対向する頂点を結ぶ対角線上の方向であって外形形状が扁平矩形体の試験用セルの側端を挿入する凹部を設けた。 - 特許庁

The method further comprises supplying the determined drive current to the calibration memory cell, and using the calibration memory cell to determine(403) strength of a weak write to be utilized by a weak write test for detecting defective RAM cells.例文帳に追加

方法は更に、較正メモリセルに決定された駆動電流を供給し、較正メモリセルを使用して、欠陥RAMセルを検出するために弱い書き込みテストにより利用されるべき弱い書き込み強度を決定する(403)ことを含む。 - 特許庁

This semiconductor memory is provided with a BIST(built-in self test) computing unit 14 and a special algorithm for a defective memory cell, word line, and a bit line, and a redundant memory cell, a bit line, and a word line are determined.例文帳に追加

故障したメモリセル、ワードラインならびにビットラインのために、BIST計算ユニット14および特別なアルゴリズムを用いて、冗長的なメモリセル、ビットラインならびにワードラインを求める。 - 特許庁

A redundancy detecting circuit 30 detecting whether a redundant program means is used or not is provided, at a redundancy memory cell test, operation of a redundant memory cell decoder 15 is controlled in accordance with whether a redundant program means 16 is used or not.例文帳に追加

冗長プログラム手段の使用の有無を検出する冗長検出回路30を設け、冗長メモリセルテスト時に、冗長プログラム手段16の使用有無に応じて冗長メモリセルデコーダ15の動作を制御する。 - 特許庁

An external shape of a flat rectangular body is given to a cell for test used for inspecting the function of a fluorescence device to provide a fit part fitting into a cell insertion part on a diagonal line that together joins confronting vertices thereof.例文帳に追加

蛍光発光装置の機能を点検するために使用する試験用セルの外形形状を扁平矩形体にし、セル挿入部の対向する頂点を結ぶ対角線上に嵌合する嵌合部を設けた。 - 特許庁

A test circuit 30 conducts inspection of the redundant memories 11 and 12, and when it determines existence of the defect cell, outputs the relief information S3 for relieving the defect cell.例文帳に追加

テスト回路30は、冗長メモリ11,12の検査を行い、不良セルが存在すると判定したとき、当該不良セルを救済するための救済情報S3を出力する。 - 特許庁

Thereby, a kit for using as a reference in diagnostic test is provided, wherein >50% 18SrRNA of the cell has no damage when the cell is measured by a gel electrophoresis after a 4 week lapse at -20°C.例文帳に追加

その結果、−20℃で4週間経過後に、前記細胞をゲル電気泳動法で測定した場合、同細胞の18SrRNAの50%を超える量が無傷である、診断検定法で対照として使用するためのキットが提供される。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory provided with a memory unit storing an address of a memory cell having an error and for which a memory cell test is performed, and to reduce a demand for a memory of a memory unit as far as possible.例文帳に追加

エラーを有するメモリセルのアドレスを記憶する前述のメモリユニットを備えたメモリセルテストにかけられる半導体メモリを提供し、メモリユニットのメモリ需要を可能な限り小さくする。 - 特許庁

Furthermore, the microwell array chip has a plurality of the micowells of which the each contains one of the test lymphocyte and is used in detecting the antigen-specific lymphocyte in such a manner that the antigen is added to each of the microwells to stimulate the cell and the cell which reacts with the antigen is detected.例文帳に追加

このマイクロウェルアレイチップの各マイクロウェルに抗原を添加し、細胞を刺激し、抗原に反応する細胞を検出することを含む、抗原特異的リンパ球の検出方法。 - 特許庁

The test method of the electrolyte for the fuel cell has a process of carrying out ESR measurement to the electrolyte for the fuel cell and obtaining a carbon radical amount, and a process of calculating the heat history based on the calculated carbon radical amount.例文帳に追加

燃料電池用電解質に対してESR測定を行い炭素ラジカル量を求める工程と、算出された該炭素ラジカル量に基づき熱履歴を算出する工程とを有することを特徴とする。 - 特許庁

To properly process defective address data in the processes after wafer test has been completed during a nonvolatile memory production when a defective cell that is newly detected or discovered is to be replaced by a redundancy cell.例文帳に追加

不揮発性メモリの製造に際して、ウェハテスト終了後の後工程において、新たに検出あるいは判明した不良セルをリダンダンシセルに置き換える場合の不良アドレスデータの処理の適正化を図る。 - 特許庁

To provide a test cell for evaluating a liquid crystal material which hardly causes gap unevenness, is capable of precisely evaluating characteristics of the liquid crystal material and easily carries out control of the cell gap in accordance with the liquid crystal material.例文帳に追加

ギャップムラが生じにくく、液晶材料の特性を正確に評価することができ、セルギャップの制御を液晶材料に合わせて容易に行うことができる、液晶材料評価用テストセルを提供する。 - 特許庁

To provide a reaction control simulator of a fuel gas of a fuel cell to carry out a reaction test of the fuel gas necessary at operation in place of a solid oxide fuel cell.例文帳に追加

固体酸化物燃料電池に代わって運転時に必要な燃料気体の反応テストを実施する燃料電池の燃料気体の反応制御模擬装置を提供する。 - 特許庁

例文

A differentiated fat cell is cultured in the presence of a test substance and a form of mitochondria in the cell is observed and when fragmented and/or aggregated mitochondria in the differentiated fat cell forms tubular network, it is evaluated that the test sample is an antiobestic agent to screen the antiobestic agent.例文帳に追加

分化した脂肪細胞を、被検物質の存在下に培養した後、細胞内のミトコンドリアの形態を観察し、分化した脂肪細胞中の断片化及び/又は凝集したミトコンドリアが、チューブ状のネットワークを形成しているとき、前記被検物質が抗肥満剤であると評価することにより抗肥満剤をスクリーニングする。 - 特許庁

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