「cell test」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

The macrocell 68 operates so as to connect the external terminal 66 and the electrode pad 64 at a normal mode, and operates to disconnect them at a test mode and form a series of shift registers by connecting the macro cell at a rear step.例文帳に追加

マクロセル６８は、通常モード時には、外部端子６６と電極パッド６４とを接続するように動作し、テストモード時には、外部端子６６と電極パッド６４とを非接続状態にし、後段のマクロセル６８と接続して一連のシフトレジスタを形成するように動作する。 - 特許庁

The methanol fuel cell cartridge is configured with an envelope comprising a polyester-based resin layer manufactured using titanium-based catalyst whose methanol permeability coefficient at 40°C is 3 μg mm/m^2 hr or less, and whose cation index in methanol immersion test is 30 or less.例文帳に追加

４０℃におけるメタノール蒸気透過係数が３μｇ・ｍｍ／ｍ^２・ｈｒ以下で、かつメタノール浸漬試験におけるカチオン指数が３０以下である、チタン系触媒を用いて製造されたポリエステル系樹脂層を有する容器によりメタノール燃料電池カートリッジを構成する。 - 特許庁

The cell adhesion ability of the polymorphonuclear leukocyte is evaluated by adding at least a polymorphonuclear leukocyte, a test specimen and an activator for the polymorphonuclear leukocyte to an adherent substrate coated on a solid supporting body and assaying the adherent cells of the polymorphonuclear leukocyte to the adherent substrate.例文帳に追加

固体支持体上にコーティングされた接着性基質に、少なくとも多型核白血球と、被験物質と、前記多型核白血球の活性化剤とを添加し、前記接着基質への前記多型核白血球の接着細胞を測定することにより、前記多型核白血球の細胞接着能を評価する。 - 特許庁

Accordingly, the memory cell array can operate at the first data transfer rate while allowing the output circuit to output data to an external terminal at the second data transfer rate that is lower than the first data transfer rate, in a test mode of operation.例文帳に追加

これにより、テストモードで、前記メモリセルアレイは前記第１データ転送速度で動作する一方、前記出力回路は前記第１データ転送速度より低い前記第２データ転送速度でデータを前記外部ターミナルに出力しうる。 - 特許庁

To provide an analysis method feasible by use of a general-purpose computer software and hardware without depending on a simulation test or requiring any expensive investment for analyzing an internal temperature distribution and a stress distribution to an external pressure in a cell structure.例文帳に追加

模擬の試験によらないで、高額な投資を伴うことなく、汎用のコンピュータソフトウエア及びハードウエアの利用によって、実現することが可能な、セル構造体の内部温度分布乃至外部圧力に対する応力分布の解析手段を提供すること。 - 特許庁

A logical simulation part 103 inputs a net list 101 and a test pattern 102, performs a logical simulation, and generates toggle information 104, which indicates a logical value of a signal of a pin, for each pin held in a cell described in the net list 101.例文帳に追加

論理シミュレーション部１０３は、ネットリスト１０１及びテストパターン１０２を入力し、論理シミュレーションを行い、ネットリスト１０１に記述されたセルが有するピン毎に、そのピンの信号の論理値を示すトグル情報１０４を生成する。 - 特許庁

Also, the yield can be improved by testing by using optimum stress applying voltage and discrimination voltage in accordance with internal generation voltage characteristics in a test method of a nonvolatile semiconductor memory in which the gate voltage of a memory cell is generated internally in read-out.例文帳に追加

また、読み出し時にメモリセルのゲート電圧が内部生成される不揮発半導体記憶装置の検査方法においては内部生成電圧特性に応じた最適なストレス印加電圧と判定電圧で検査することで歩留り向上が図れる。 - 特許庁

There are provided the method for predicting prognosis of bowel cancer by using an increase in expression of a TWIST1 gene and/or EZH2 gene of a test cell derived from bowel mucosa of a bowel cancer patient, and the kit for performing the prediction method.例文帳に追加

大腸癌罹患者の大腸粘膜に由来する被検細胞における、ＴＷＩＳＴ１遺伝子及び／またはＥＺＨ２遺伝子の発現上昇を利用した、大腸癌の予後予測方法、及び前記予測方法を実施するためのキット。 - 特許庁

A boundary-scan cell connected to a first circuit terminal 37 of a device 32 from a list containing boundary-scan compliant circuit terminals of boundary-scan compliant devices 32, 33, 34, 35 mounted on PCB 31 is operated as a driver by a processing unit of the test device 42.例文帳に追加

ＰＣＢ３１に搭載されたバウンダリスキャン対応デバイス３２、３３、３４、３５のバウンダリスキャン対応回路端子を含むリストからデバイス３２の第１回路端子３７に接続されたバウンダリスキャンセルが、テスト装置４２の処理ユニットによってドライバとして作動される。 - 特許庁

To be concrete, the test method is constituted of a process for administering a composition containing a high concentration of the lower alcohol to the skin model (process 1); a process for blowing air and drying an administered specimen (process 2); a process for cultivating the skin model after the administration (process 3); a process for evaluating a cell survival rate after the cultivation (process 4).例文帳に追加

具体的には、低級アルコールを高濃度に含む組成物を皮膚モデル上に投与する工程（工程１）、投与した検体を送風乾燥する工程（工程２）、投与後に皮膚モデルを培養する工程（工程３）、培養後の細胞生存率を評価する工程（工程４）より構成される。 - 特許庁

In the electric cell testing device for determining the quality of electric cells, based on a measurement result of output voltages of the plurality of electric cells arranged in a two-dimensional matrix form in a test region, positional information on the respective electric cells at voltage measurement is reflected in the quality determination of the electric cells.例文帳に追加

試験領域に２次元マトリクス状に配列された複数の電池の出力電圧の測定結果に基づき電池の良否を判定する電池試験装置において、前記電池の良否判定に電圧測定時の各電池の位置情報を反映させることを特徴とするもの。 - 特許庁

When a refresh-test for a redundant memory cell is performed, a redundant CBR refresh-counter 15 is activated for each input of a control signal RACBR, counts the number of input of redundant CBR commands, and outputs them to a X address buffer 2A as redundant counter signals RCNT0- RCNT5.例文帳に追加

冗長CBRリフレッシュカウンタ15は、冗長メモリセルに対するリフレッシュテストを行う場合、制御信号RACBRが入力される毎に活性化され、冗長CBRコマンドの入力される数を計数し、計数値を冗長カウンタ信号RCNT0〜RCNT5として、Xアドレスバッファ2Aへ出力する。 - 特許庁

A pattern inside the forbidden region 404m is removed from a pattern 204m of the main chip of a memory cell for the formation of a main chip modified pattern 7, data D4 and data D7 are composited into a pattern D8 for a test chip.例文帳に追加

メモリセルの本チップのパターン２０４ｍから、禁止領域４０４ｍ内にあるパターンを除き、本チップ修正パターン（Ｄ７）とし、データＤ３とデータＤ７とを合成して、テストチップのためのパターンデータＤ８とする。 - 特許庁

This cellular rubber has characteristics of an average cell size of 1 to 150 μm, a hardness value measured by the durometer according to the spring-type hardness test A (JIS-K-6301) of 30 to 100, and a density of 0.7 to 1.1 kg/L.例文帳に追加

平均気泡径が１〜１５０μｍであり、スプリング式硬さ試験Ａ型（ＪＩＳ−Ｋ−６３０１）硬度計で測定される硬度が３０〜１００であり、かつ密度が０．７〜１．１ｋｇ／Ｌである発泡ゴム、並びに、下記（ｉ）〜（ｖ）のうちの一の加熱手段の使用下、連続加硫方法による上記の発泡ゴムの製造方法。 - 特許庁

In a material testing machine body 100, a load is applied to a specimen by a load device 101a, and a test force or a displacement at that time is detected by a load cell 101b and a displacement gage 101c, and the detection result is outputted to a control device 103.例文帳に追加

材料試験機本体１００は、負荷装置１０１ａによって供試体に負荷を与え、そのときの試験力あるいは変位量をロードセル１０１ｂおよび変位計１０１ｃで検出し、検出結果を制御装置１０３へ出力する。 - 特許庁

In this method, a fluid sample (for example, whole blood sample) is introduced into an electrochemical cell of an electrochemical test strip, using a micro-needle integrated with one of a working electrode and a reference electrode arranged with a space in an opposed positions.例文帳に追加

この発明の方法では、流体サンプル（例えば全血サンプル）が、対向する位置に間隔をおいて配置された作用電極および参照電極の一方に一体化した微細針を用いて電気化学的検査細片の電気化学的セルに導入される。 - 特許庁

The method for screening an antiallergic agent or an anti-inflammatory agent candidate comprises a step of letting an IL-1 act on an IL-1 type II receptor or a cell expressing the receptor in the presence or absence of a test substance.例文帳に追加

本発明は、試験物質存在下又は非存在下、ＩＬ−１タイプＩＩレセプターか、該レセプターを発現している細胞かにＩＬ−１を作用させるステップ等を含む、抗アレルギー薬又は抗炎症薬候補のスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

This device is provided with plural memory cells arranged in a matrix state, and word lines selecting one row out of plural memory cells, and defective sense amplifier and a defective memory cell having no capability for a recovery time tDPL are detected by quickening non-selection timing of a word line at the time of a test.例文帳に追加

マトリックス状に配された複数のメモリセルと、複数のメモリセルから一行を選択するワード線とを備え、テスト時にワード線の非選択タイミングを早くすることによってリカバリータイムｔＤＰＬに対し実力のない欠陥センスアンプや欠陥メモリセルを検出する。 - 特許庁

At the time of test mode, a defective cause point can be found from comparison of an expected value data and actual data by selecting the expansion word lines WLHLD<0>, <1> and performing data read-out in which a cell node, therefore, the bit lines BLt, BLc are fixed to VSS.例文帳に追加

テストモード時、拡張ワード線ＷＬＨＬＤ＜０＞，＜１＞を選択してセルノード、従ってビット線ＢＬｔ，ＢＬｃをＶＳＳに固定したデータ読み出しを行うことにより、期待値データと実際のデータとの比較から、不良原因箇所を絞ることができる。 - 特許庁

To provide a method for safely, efficiently conducting work when a confirming test for fixing force and stretching force and adjustment of the stretching force is conduced at an execution job site to a lock bolt and various anchor bodies such as a ground anchor, and provide a supporting table and a load cell used there.例文帳に追加

ロックボルト、グラウンドアンカー等の各種アンカー体について、定着力及び緊張力の確認試験、並びに緊張力の調整を施工現場で行うにあたり、安全に且つ効率よく作業を行うことができる方法と、そこで使用する支持台及びロードセルを提供する。 - 特許庁

Furthermore, the gate voltage of a PMOS transistor 11 and that of an NMOS transistor 12 in the transmission gate 8 are controlled to cause the capacity of a tester taken from an input cell 7 to be comparable with that of the PCB with the circuit device mounted thereon after the delay test.例文帳に追加

また、トランスミッションゲート８のＰＭＯＳトランジスタ１１及びＮＭＯＳトランジスタ１２のゲート電圧を制御し、入力セル７から見たテスター容量が、ＩＯ伝搬遅延試験後に本発明の第１実施形態が搭載されるＰＣＢと同程度の容量となるようにする。 - 特許庁

In the method, the number of viable cells is measured by storing a chloride peptone buffer solution with a test drug sample in a storage bag, treating the storage bag at intervals of 5 strokes per second at least for 30 seconds by a stomacher, and measuring the number of viable cells by an automatic viable cell number measuring device thereafter.例文帳に追加

ペプトン食塩緩衝液と被験生薬試料を収納袋に収容し、該収納袋をストマッカーにより１秒間あたり５ストロークの間隔で３０秒以上処理をし、その後自動生菌数測定装置で生菌数を測定する方法。 - 特許庁

This multichip module is equipped with a plurality of semiconductor chips 102, 103 wherein each input-output cell 106, 107 is connected respectively to an external terminal 108 of the multichip module 101, and test circuits 104, 105 for the multichip module for setting optionally the state of the input-output cells.例文帳に追加

各入出力セル１０６、１０７がマルチチップモジュール１０１の外部端子１０８にそれぞれ接続される複数の半導体チップ１０２、１０３と、入出力セルの状態を任意に設定するマルチチップモジュール用テスト回路１０４、１０５と、を備える。 - 特許庁

When a test operation is performed, the memory divides the n-bit data output pins into eight groups to make the groups correspond to respective area in the memory, when a failure memory cell is relieved, failure relieving operation is performed for each memory area corresponding to data output pins of the eight groups.例文帳に追加

メモリはテスト動作時にｎビットデータ出力ピンを８個のグループに分割して内部のメモリ領域に対応させ、欠陥メモリセルを欠陥救済する場合、８個のグループのデータ出力ピンに対応するメモリ領域別に欠陥救済動作を行う。 - 特許庁

Accordingly, in the fuel cell integrated with the MEA determined as the non-defective article through the ability test under the low humidification condition, the power generation ability can be guaranteed even under the high humidification condition wherein the gas diffusion resistance becomes lower than that under the gas humidification condition of the relative humidity of ≤40%.例文帳に追加

よって、低加湿状況での能力検査により良品判定されたＭＥＡを組み込んだ燃料電池は、４０％以下の相対湿度のガス加湿状況下より低いガス拡散抵抗となる高加湿状況下においても発電能力を担保できる。 - 特許庁

When a CPU outputs a test mode signal to a flash memory 15 and reads out data, only an source of a memory cell transistor 16 belonging to a word column selected by a row decoder 17 is connected to ground by a switch array 21, the other sources are connected to a power source VDR.例文帳に追加

ＣＰＵが、フラッシュメモリ１５に対して検査モード信号を出力しデータの読出しを行う場合に、行デコーダ１７で選択されたワード列に属するメモリセルトランジスタ１６のソースだけをスイッチアレイ２１によってグランドに接続し、その他のソースを電源ＶDRに接続する。 - 特許庁

This device is constituted so that an address for block selection selecting plural blocks of a cell array 1 alternatively and successively is generated using a binary counter 14 being cascade-connected conforming to an address for block selection for a single test.例文帳に追加

この発明は、単一のテスト用のブロック選択用アドレスにしたがって、縦続接続されたバイナリカウンタ１４を用いてセルアレイ１の複数のブロックを択一的に順次選択するブロック選択用アドレスを生成するように構成される。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of always applying the optimum filtering processing to detection output such as test power, extension or the like corresponding to the kind of a load cell, an extensiometer or the like used in the testing machine or the quantity of noise superposed on each detection output based on disturbance.例文帳に追加

試験機に用いられているロードセルや伸び計などの種類や、外乱に基づく各検出出力に重畳しているノイズ量等に応じて、これらの試験力や伸び等の検出出力に対して常に最適なフィルタリング処理を施すことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a flow cell measuring apparatus (1) for processing information accompanying particles or cells which performs entrainment in a sheath fluid stream and a method for the same which perform test, distinction, allocation, and separation of the particles or cells even when moving at high speed.例文帳に追加

シース流体ストリーム内を飛沫同伴する粒子または細胞に付随する情報を処理するためのフロー細胞測定装置（１）およびその方法であって、これにより移動速度が高速であってもこのような粒子または細胞の検査、区別、割り当て、分離を可能にする装置および方法を提供すること。 - 特許庁

Each write-in driver transmits voltage selected by the voltage switch circuit to a bit line of which a group is selected in accordance with a data bit signal applied to a corresponding input/output pad during a test operation mode for measuring a cell current, and cuts off it.例文帳に追加

各書き込みドライバは、セル電流を測定するためのテスト動作モードの間、対応する入出力パッドに印加されるデータビット信号に応じて電圧スイッチ回路によって選択された電圧をグループの選択されたビットラインに伝達したり、遮断する。 - 特許庁

To provide an environmental test apparatus with a pseudo solar light irradiation device, which can be used for the light durability evaluation of various materials, electronic apparatuses and electronic components under predetermined temperature/humidity or cell characteristic evaluation of solar cells under the predetermined temperature/humidity and achieves miniaturization, high performance and reduction in maintenance cost.例文帳に追加

各種材料、電子機器、電子部品の所定温度・湿度下における光耐久性評価、あるいは、太陽電池の所定温度・湿度下での電池特性評価に用いることができる小型化、高性能、維持コストを低減した擬似太陽光照射装置付き環境試験装置を提供する。 - 特許庁

Write-in data TD of a memory block is compared with read-out data RDB by a comparing circuit provided in a self-test circuit, discrimination of a normal/defective state of the memory cell array is performed by a discriminating circuit based on compared results SG0-SGN of the comparing circuit 13.例文帳に追加

自己テスト回路に設けた比較回路１３で、メモリブロックの書き込みデータＴＤと、読み出しデータＲＤＢとを比較し、比較回路１３の比較結果ＳＧ０〜ＳＧＮに基づいて当該メモリセルアレイの良否判定を判定回路で行う。 - 特許庁

It is verified that an expression of HLA-A is upward-controlled by IFNα or IFNγ from a result that a test is performed to an IM-9 cell strain by using a 2D7-DB antibody as the anti-HLA class-I antibody about an effect that the interferon exerts on cytotoxicity due to expression of HLA-A of cells and the anti-HLA class-I.例文帳に追加

インターフェロンが細胞のHLA-Aの発現および抗HLAクラスI抗体による細胞障害にどのような効果を及ぼすかについて、抗HLAクラスI抗体として2D7-DB抗体を用い、IM-9細胞株を対象に試験を行った結果、IFNαまたはIFNγにより、HLA-Aの発現が上方制御されることが実証された。 - 特許庁

In the solder plating wire for the solar cell where the surface of a flat type conductor is coated partially or entirely by solder plating, a 0.2% yield strength value of the conductor in a tensile test is 90 MPa or smaller, and the diameter of a crystal grain of the conductor is 20-300 μm.例文帳に追加

平角状に形成された導体の表面の一部又は全部にはんだめっきが被覆された太陽電池用はんだめっき線において、前記導体の引張り試験における０．２％耐力値が９０ＭＰａ以下であり、かつ前記導体の結晶粒径が２０μｍ以上３００μｍ以下である。 - 特許庁

The ECC circuit 103 allots a test bit ECC of 40 bits making 4224 bits being eight times of 528 bits being write and read units for one memory cell area 101j as information bit length, and performs encoding processing and decoding processing with 8 bits in parallel.例文帳に追加

ＥＣＣ回路１０３は、１つのメモリセルエリア１０１ｊに対する書き込み及び読み出しの単位となる５２８ビットの８倍の４２２４ビットを情報ビット長として１つの４０ビットの検査ビットＥＣＣを割り当て、符号化処理及び復号処理を８ビットで並列に実行する。 - 特許庁

The complex product is then transferred from the test cell via the transport system to either a part reject area or conveyor 24, if the complex product is defective, or to an automatic dunnage load or part return system 26, if the complex product is not defective.例文帳に追加

複合製品は次いで、複合製品が欠陥を有する場合、移送システムによって、試験セルから部品棄却領域またはコンベヤ２４へと移送され、あるいは、複合製品が欠陥を有さない場合、自動ダンネージ装填システムまたは部品復帰システム２６へと移送される。 - 特許庁

A detection value of a load cell 19 and that of a pulse encoder 18 are collected while imposing a load on the test piece TP by a servo motor 16 in between a state in which the counter value of the height counter 38 designates an initial spring height and a state in which it designates a predetermined maximum spring deformation amount.例文帳に追加

ばね高さカウンタ３８のカウント値が初期ばね高さを示す状態と予め定めた最大ばね変形量を示す状態との間で、ばね供試体ＴＰにサーボモータ１６で負荷を与えながら、ロードセル１９とパルスエンコーダ１８の検出値を採取する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device having circuit constitution in which stress is not applied to ferroelectric capacitors even if the other element of a memory cell is driven by controlling a signal applied to a word line, plate line, and a bit line at the time of test of stress.例文帳に追加

ストレス試験時に、ワード線、プレート線及びビット線にかかる信号を制御することにより、メモリセルの他の素子を駆動しても、強誘電体キャパシタにはストレスがかからないようにする回路構成を有する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A measurement point 34 is set beforehand on a printing layer 33 of a gate disk 5 (a cell plate 32) corresponding to a shooting passage 30 to reflect laser beam from a test game ball sensing device 31, and a high reflective color is laid on the measurement point 34.例文帳に追加

試験用遊技球検出装置３１からのレーザー光の反射のために、発射通路３０に対応するゲート盤５（セル板３２）の印刷層３３に測定ポイント３４を予め定め、測定ポイント３４には高反射率色を付すようにした。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device of a design system which makes it possible to set read/write operation and refresh operation in a close state, and makes the accuracy of test and quality improvement realizable in the semiconductor storage device having a memory cell which requires refresh for holding data.例文帳に追加

データ保持のためにリフレッシュを要するメモリセルを有する半導体記憶装置において、リード／ライト動作とリフレッシュ動作とを接近した状態に設定することを可能とし、テストの精度、品質向上を実現可能とする設計方式の半導体記憶装置の提供。 - 特許庁

The number of simultaneous activities at the refresh of a memory cell array is kept as it is by setting an internal test mode, and at the refresh operation of a DRAM, the operation is carried out by an externally inputting address signal not an internally generating address signal.例文帳に追加

内部のテストモードを設定することで、メモリセルアレイのリフレッシュ時の同時活性数をそのままで、ＤＲＡＭのリフレッシュ動作時には、内部発生アドレス信号ではなく外部入力アドレス信号によって動作を行う。 - 特許庁

A switching circuit 11 for writing data '1' in the same memory cell by swapping bit line data after reading data '0' is provided between the pair of bit lines BL, BBL and the sense nodes BLSA, BBLSA to write test data if all '1'.例文帳に追加

対をなすビット線ＢＬ，ＢＢＬと第１及び第２のセンスノードＢＬＳＡ，ＢＢＬＳＡとの間には、オール“１”のテストデータを書き込むために、“０”データ読み出しを行った後のビット線データをスワッピングして同じメモリセルに“１”データを書き込むための切り換え回路１１が設けられている。 - 特許庁

To prevent unnecessary stress from being applied to a memory cell in a previously verify-passed chip in a program/program-verify cycle, and a erase/erase-verify cycle in a simultaneous test of plural chips of a non-volatile semiconductor memory.例文帳に追加

不揮発性記憶装置の複数チップにおける同時検査においてプログラム／プログラムベリファイサイクル、イレーズ／イレーズベリファイサイクルで先にベリファイパスしたチップ内のメモリセルに不要なストレスを加えないようにする。 - 特許庁

The BSC macrostructures 10A, 10B for three-dimensional wiring includes a BSC (boundary scan cell) 12, and an opening electrode 11 for electrode connection connected to the BSC 12, thus performing the boundary scan test in the low-cost configuration without increasing the size of the system.例文帳に追加

本発明に係る３次元配線用ＢＳＣマクロ構造１０Ａ、１０Ｂは、ＢＳＣ（バウンダリスキャンセル）１２と、ＢＳＣ１２に接続された電極接続用の開口電極１１と、を備えた構成により、システムサイズを肥大化することなく、低コストな構成でバウンダリスキャンテストを行う。 - 特許庁

(2) The test device of the fuel cell comprises in order of gas flow direction a mass flow-rate controller 2, a humidifier 3, a volume type flowmeter 7, and an arithmetic device 8 to obtain a moisture content by reducing the flow-rate value of the mass flow-rate controller 2 from the flow-rate value of the volume type flowmeter 7.例文帳に追加

（２）本発明の燃料電池の試験装置は、ガス流れ方向に順に、質量流量コントローラー２、加湿器３、体積式流量計７と、体積式流量計７の流量値から質量流量コントローラー２の流量値を減算して水分量を求める演算装置８と、を有する。 - 特許庁