「characteristic defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

METHOD FOR PRODUCING COLD ROLLED STEEL SHEET FOR ENAMELING EXCELLENT BLISTERING DEFECT RESISTING CHARACTERISTIC例文帳に追加

耐フクレ欠陥特性に優れたほうろう用冷延鋼板の製造方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of detecting a defect independently, and calculating a characteristic quantity of the detected defect, and an image processing device therefor.例文帳に追加

単独で欠陥を検出し検出した欠陥の特徴量を算出することができる欠陥検査装置及びその画像処理装置を提供する。 - 特許庁

A characteristic quantity is calculated, by extracting a defect image including the defect elements included in the respective clusters, and the defect corresponding to the respective clusters is classified.例文帳に追加

そして、各クラスタに含まれる欠陥要素を包含する欠陥画像が抽出されて特徴量が算出され、各クラスタに対応する欠陥が分類される。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER MADE FROM SILICON WITH SPECIFIC DEFECT CHARACTERISTIC AND SEMICONDUCTOR WAFER MADE FROM SILICON WITH THE DEFECTIVE CHARACTERISTIC例文帳に追加

規定の欠陥特性をもつシリコンから成る半導体ウェハの製造方法および該欠陥特性をもつシリコンから成る半導体ウェハ - 特許庁

A different method for selecting defects for defect analysis includes selecting defects having the greatest diversity of defect characteristic(s) for defect analysis.例文帳に追加

欠陥解析のために欠陥を選択する別の方法は、欠陥解析のために、欠陥特性（１つ又は複数）のうち、もっとも多様なものを有する欠陥を選択することを含む。 - 特許庁

To efficiently monitor a frequency of defect generation and characteristic likelihood of an ROI region with high sensitivity.例文帳に追加

高感度にＲＯＩ領域の欠陥発生頻度や特性尤度の効率的なモニタリングをする。 - 特許庁

WIDE FLANGE SHAPE EXCELLENT IN TOUGHNESS OF FILLET PART AND UT DEFECT RESISTING CHARACTERISTIC AND ITS PRODUCTION例文帳に追加

フィレット部靭性および耐ＵＴ欠陥特性の優れたＨ形鋼およびその製造方法 - 特許庁

To form the high dielectric film of a metal oxide having no oxygen defect and superior in withstanding pressure characteristic.例文帳に追加

酸素欠損がなく耐圧特性に優れた金属酸化物の高誘電体膜を形成する。 - 特許庁

A defect detection circuit 35 detects a defect inside the substrate 1 from a shape characteristic of the scattered light received by the light-receiving part 32.例文帳に追加

欠陥検出回路３５は、受光部３２が受光した散乱光の形状的特徴から、基板１の内部の欠陥を検出する。 - 特許庁

A defect image comprising defect factors included in the respective clusters is extracted to calculate characteristic values, classifying defects corresponding to the respective clusters.例文帳に追加

そして、各クラスタに含まれる欠陥要素を包含する欠陥画像が抽出されて特徴量が算出され、各クラスタに対応する欠陥が分類される。 - 特許庁

To enhance a soft recovery characteristic by reducing the possibility of generation of a defect in a Schottky junction interface.例文帳に追加

ショットキー接合界面に欠陥が生じてしまうおそれを低減し、ソフトリカバリー特性を向上させる。 - 特許庁

To provide a surface acoustic wave device having an excellent filter characteristic with high quality without occurrence of a defect.例文帳に追加

フィルタ特性が良好で、不良の発生がない高品質な弾性表面波装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect analysis support system which can readily specify factors of defect and factors of a characteristic variation by carrying out coordination of defect sorting information classified for each factor of defect and characteristic data information to material batch information, manufacturing condition batch information and manufacturing process batch information, and summarizing and analyzing them.例文帳に追加

不良の要因毎に分類した不良区分情報や特性データ情報を、材料バッジ情報、製造条件バッジ情報、製造工程バッジ情報と対応付け及び集計、解析し、不良の要因特定、及び特性変動の要因特定を容易に可能とする不良解析支援システムを提供すること。 - 特許庁

In this inspection device, various characteristic quantities of a defect is extracted accurately by providing a defect detection threshold and a characteristic quantity extraction threshold which is smaller than the defect detection threshold to a differential image signal between each image signal of dies having similar brightness.例文帳に追加

明るさが近いダイ間の画像信号同士の差分画像信号に対して欠陥検出しきい値と該欠陥検出しきい値よりも低い特徴量抽出のしきい値とを設けることで、欠陥の各種特徴量を精度よく抽出する検査装置。 - 特許庁

To provide a stencil mask assuring excellent heat radiating characteristic with less influence of crystal defect and also assuring processing characteristic and moreover provide a method for manufacturing the same stencil mask.例文帳に追加

放熱性が良く、結晶欠陥の影響が少なく、加工特性に優れたステンシルマスク及びステンシルマスク製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the defect inspection apparatus for determining an inconsistency part as the defect by comparing the image of a pattern formed to be the same pattern, the amount of the characteristics of the image of a region where a plurality of the optical conditions are dealing is plotted to the characteristic space and an aberrant value in the characteristic space is detected as a defect.例文帳に追加

同一パターンとなるように形成されたパターンの画像を比較して不一致部を欠陥と判定する欠陥検査装置を複数の光学条件の対応する領域の画像の特徴量を特徴空間にプロットし、特徴空間上のはずれ値を欠陥として検出。 - 特許庁

Accordingly, the defect correction method of the defective part is generated based on the position information, characteristic information, defect classification, and substrate design information of the defective part so as to make the defect correction by operating a defective correction mechanism 4 based on the generated defect correction method.例文帳に追加

そして、欠陥部位の位置情報、特徴情報、欠陥種別及び基板設計情報に基づいて欠陥部位の欠陥修正方法を生成し、生成された欠陥修正方法に基づき欠陥修正機構４を動作させて欠陥修正を行う。 - 特許庁

To provide a substrate for forming a soli-state image sensor capable of providing an excellent characteristic solid-state image sensor without causing any defect such as a white flaw defect.例文帳に追加

白傷欠陥のなどの欠陥を生じることなく、特性のすぐれた固体撮像素子を提供することのできる固体撮像素子形成用基板を提供する。 - 特許庁

This type of substrate 30 is hardly affected by a crystal defect extending in parallel with the c-axis direction to make it possible to suppress a deterioration in element characteristic due to the crystal defect.例文帳に追加

このような基板３０では、ｃ軸方向に平行に延びる結晶欠陥の影響を受けにくく、結晶欠陥による素子特性の劣化を抑制することができる。 - 特許庁

To provide a fault diagnosis system and a fault diagnosing method capable of quantitatively determining defect classification with high accuracy on the basis of a uniformly acquired defect characteristic value.例文帳に追加

画一的に取得した欠陥特徴値に基づいて欠陥種別を定量的かつ高精度で判定できる故障診断システム及び故障診断方法を提供する。 - 特許庁

To adjust automatically a threshold of defect determination corresponding to characteristic fluctuation of a pattern image detection part 110 or individual dispersion of a surface characteristic of a wafer 6 to be inspected.例文帳に追加

パターン画像検出部１１０の特性変動や被検査ウェーハ６の表面特性の個体ばらつきに応じて、欠陥判定のしきい値を自動的に調整する。 - 特許庁

To provide a piezoelectric thin film resonator that has an excellent resonance characteristic and an excellent temperature characteristic of the resonance frequency and has less defect due to cracked elements, etc.例文帳に追加

良好な共振特性および良好な共振周波数の温度特性を有し、素子の割れなどによる不良が少ない圧電薄膜共振子を提供する。 - 特許庁

To provide a silicon oxide film which substantially has no oxygen defect and which has a stable electrical characteristic.例文帳に追加

本発明の課題は、実質的に酸素欠損がなく電気的特性が安定なシリコン酸化膜を提供することである。 - 特許庁

The phosphor material is suited for an EL element because of less variation of characteristic since there is no defect formation process in which stress is applied externally to form a defect inside of a phosphor material.例文帳に追加

このような蛍光体材料は、外部から応力を付与して内部に欠陥をつくる欠陥生成工程がないため、特性ばらつきが少なく、ＥＬ素子に好適である。 - 特許庁

Characteristic information including defect information relating to the thickness and width and/or dirt of the finer aggregate is detected on the basis of the clamped video signal, and defect information is extracted from detected characteristic information to discriminate whether the fiber aggregate is adequate or not.例文帳に追加

クランプド映像信号に基づいて、繊維集合体の厚み、幅及び／又は汚れに関する欠陥情報を含む特性情報を検出し、検出した特性情報から欠陥情報を抽出し、繊維集合体の適否を判別する。 - 特許庁

Defect/image information output from an inspection device is butted on ADR/ADC information output from an observation means on a data processor, they are listed and displayed, and a relation between the defect characteristic amount and average detection ratio is displayed using the data, and the defect characteristic amount and the number of detections are displayed every review category.例文帳に追加

検査装置から出力される欠陥・画像情報と、観察装置から出力されるADR・ADC情報とをデータ処理装置上で突き合わせをし、一覧表示させると共に、そのデータを用いて欠陥特徴量と平均検出率の関係や、レビューカテゴリごとにその欠陥特徴量と検出数を示す。 - 特許庁

The defect inspection device for processing image information imaging an inspection object having a prescribed area to be inspected by a plurality of area sensors and discriminating a defect based on a characteristic amount calculated from brightness change in the area includes correction means between characteristic amount imaging systems for correcting the difference between the characteristic amounts to the same defect between the plurality of the area sensors in each area sensor.例文帳に追加

所定の被検査エリアを有する検査対象を、複数のエリアセンサにより撮像した画像情報を処理し、前記エリア内の輝度変化から計算した特徴量に基づいて欠陥を識別する欠陥検査装置において、 前記複数のエリアセンサ間の同一欠陥に対する特徴量の差を補正する、特徴量撮像系間補正手段を前記エリアセンサ毎に備える。 - 特許庁

The defect inspection apparatus scans a local region of a defect detected on the surface of the inspected structure, measures the quantity of a characteristic property corresponding to a type of the defect such as the coincidence with a crystal grain boundary of the crack, compares a measured detection signal with a database data and determines a type of the defect.例文帳に追加

検査対象構造物の表面に検出された欠陥の局部的範囲を走査し、欠陥の種別に応じた例えば亀裂の結晶粒界との一致度のような特徴的な特性量を計測し、この計測された検出信号をデータベースのデータと比較し欠陥種別を判定する。 - 特許庁

Then, the determination accuracy of the defect classification aggregate is not affected by the superiority or inferiority of the guessing ability of an operator, for example, in comparison with a method by which the operator guesses a defect and qualitatively or individually acquires and analyzes an aggregate characteristic value at each defect classification aggregate including the guessed defect classification.例文帳に追加

よって、例えば、オペレータが欠陥を推測し、推測した欠陥種別を含む欠陥種別集合毎に集合特徴値を定性的又は個別的に取得して解析する方法に比べて、欠陥種別集合の判別精度がオペレータの推測能力の優劣に影響を受けることがない。 - 特許庁

The liquid crystal generates no defect line (loop defect), and not only is the γ characteristics observed when the liquid crystal device from the front but also can the γ characteristic, with the device being observed from an oblique direction, be made uniform.例文帳に追加

また、液晶に欠陥線（ループ欠陥）が発生せず、液晶素子を正面から見たときのγ特性はもちろんのこと、液晶素子を斜めから見たときのγ特性も均一にできる。 - 特許庁

To obtain a semiconductor memory device which can relieve defect without lowering yield even when spare memory cells have poor refresh characteristic.例文帳に追加

予備のメモリセルのリフレッシュ特性が悪い場合にも、歩留りを低下させずに有効に欠陥救済ができる半導体記憶装置を得る。 - 特許庁

To provide a resin-bonded magnet, which is able to resolve a defect of the magnet using a polyamide resin and has a superior magnetic characteristics and adhesion characteristic.例文帳に追加

ポリアミド樹脂を使用した磁石の欠点を解消し、磁気特性と接着特性に優れた樹脂結合型磁石を提供する。 - 特許庁

To provide a method for correcting an output value of an imaging means, a shading correction method, a defect detection method, a defect detection program and a defect detection apparatus that can precisely calculate an input value by evaluating the sensitivity characteristic of an imaging element appropriately.例文帳に追加

撮像素子の感度特性を適切に評価して入力値を高精度に算出することができる撮像手段の出力値補正方法、シェーディング補正方法、欠陥検出方法、欠陥検出プログラムおよび欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor laser in which characteristic defect and characteristic irregularity are not generated and which can realize good characteristic stably, by a method wherein hydrogen is inactivated unevenly in the direction of a resonator due to the strain on the assembled mount and a current is injected unevenly.例文帳に追加

組立マウント歪みによる共振器方向の不均一な水素不活性化とそれによる不均一注入で特性不良、特性ばらつきを生じることがなく、安定的に良好な特性を実現できる半導体レーザを提供する。 - 特許庁

To measure influence caused by imparting a change in an optical characteristic given to a disk for inspection by separating the influence from an optical influence caused by a defect existing before the change in the optical characteristic.例文帳に追加

ディスクに検査のために与えた光学的特性の変化の付与による影響を、光学的特性の変化前から存在する欠陥による光学的な影響から分離して計測する。 - 特許庁

As for each high pressure pump a quantity indicating a pressurized characteristic curve of each high pressure pump is monitored and used for a diagnosis of a defect of the high pressure pump.例文帳に追加

各高圧ポンプについて各高圧ポンプの圧送特性曲線を表す量を監視し、高圧ポンプの欠陥の診断に利用する。 - 特許庁

To suppress a defect in picture quality due to characteristic variance of a driving transistor in a pixel configuration wherein the driving transistor is composed of a P-channel transistor.例文帳に追加

駆動トランジスタがＰチャネルトランジスタからなる画素構成において、駆動トランジスタの特性ばらつきに起因する画質不良の発生を抑える。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a crystal piece which can have CI deterioration and a temperature characteristic defect suppressed by vertically forming its flank.例文帳に追加

その側面を垂直に形成して、ＣＩ劣化及び温度特性不良を抑えることができる水晶片の製造方法を提供すること。 - 特許庁

Ions are irradiated to the high-resistance region 12 to form a crystal defect for making the thermal characteristic of forward direction voltage positive.例文帳に追加

高抵抗領域１２には、順方向電圧の熱特性を正にする種類の結晶欠陥を形成するためにイオンが照射されている。 - 特許庁

To reduce working time for defect classification necessary to discriminate a pixel in which the characteristic of a TFT (thin film transistor) is shifted and a defective pixel which shows the abnormality of external appearance in the defect inspecting method of a liquid crystal display element.例文帳に追加

液晶表示素子の欠陥検査方法において、ＴＦＴの特性がシフトした画素を外観異常を伴なう欠陥画素と分離できないことによる欠陥分類作業時間の低減を図る。 - 特許庁

To provide a design method of filter, a filter, a defect inspection method and a defect inspection device capable of reducing the cost and tact time required for a defect inspection, and removing only moire fringes from an input image without losing the characteristic quantity of a defective part.例文帳に追加

欠陥検査に要するコストおよびタクトタイムの低減を図るとともに、欠陥部の特徴量を失うことなく、入力画像からモアレ縞だけを極力除去することが可能なフィルタの設計方法、フィルタ、欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

When a voltage is applied among the external connection terminals 9a, 9b, 9c, a voltage is applied to all the comb-like electrodes 3a, 3b to cause a short-circuit defect for an electrode on which a metallic foreign material is placed and then the frequency characteristic is measured to detect the short-circuit defect and to eliminate the defect.例文帳に追加

その後、外部接続端子９ａ，９ｃ間に電圧を印加すると全ての櫛形電極３ａ，３ｂに電圧が印加され、金属異物が載っているものについてショート不良を発生させ、その後で周波数特性を測定することにより、ショート不良を検知し除去する。 - 特許庁

To provide an electrolytic capacitor which improves both dry strength and wetting strength simultaneously, improves vibration resistance and withstand voltage of the electrolytic capacitor, and further improves impedance characteristic, especially defect rate of element short-circuiting defect rate, impregnated element shape defect rate and aging short-circuit defect rate without giving any bad effect to an ESR, thus raising reliability.例文帳に追加

乾燥強度と湿潤強度を同時に改善するとともに電解コンデンサの耐振動性と耐電圧を向上させ、更にインピーダンス特性、特にＥＳＲに悪影響を与えることなく素子ショート不良率及び含浸素子形状不良率、エージングショート不良率を改善し、信頼性を高めた電解コンデンサを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a characteristic measuring method useful for analysis of generation of a defect of an element found after shipping, and a substrate used for this method.例文帳に追加

出荷後に発見された素子の欠陥につき、その欠陥発生の解析に有用な特性測定方法及びこの方法に用いられる基板を得る。 - 特許庁

To provide a speaker capable of easily obtaining a proper acoustic characteristic by compensating an acoustic defect of a mount panel.例文帳に追加

取り付けパネルの音響的な欠点を補うことで、容易に適切な音響特性を得ることができるスピーカ装置を提供すること等を目的とする。 - 特許庁