「defect position」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a liquid crystal display in which an air bubble is always present at a position irradiated with pulse laser light and a defect pixel is surely corrected.例文帳に追加

パルスレーザを照射する位置に常に気泡が存在し、確実な欠陥画素の修正が行われる液晶ディスプレイを提供することにある。 - 特許庁

To provide a finder finding a position on a surface over a hole easily with a small tool in the measurement of hole defect depth on a material surface and the like.例文帳に追加

素材表面等の穴欠陥深さ測定において、穴上面の位置を容易にかつ小形の道具で求める測定器を提供する。 - 特許庁

When the ultrasonic energy of the measuring place is smaller than the ultrasonic energy of the adjacent measuring place, the measuring place is the latent defect position.例文帳に追加

測定箇所の超音波エネルギーが、隣接する測定箇所の超音波エネルギーよりも小さい時に、測定箇所は潜在的欠陥位置である。 - 特許庁

To determine optimum recording conditions even if a defect exists in an OPC area or a jitter value varies depending on the position of an OPC area.例文帳に追加

ＯＰＣ領域にディフェクトやこのＯＰＣ領域の位置によってジッタ値がばらついていた場合でも、最適記録条件を決定できる。 - 特許庁

The defect detection sensor 5 detects a secondary displacement amount amplified by an amplifying lever 12 as the elevating and lowering position of the push-up punch 10.例文帳に追加

また、不良検出センサ５は、突き上げパンチ１０の昇降位置として、増幅テコ１２によって増幅された二次変位量を検出する。 - 特許庁

To solve a problem of dependency caused by a pattern length and a bias position of a Mach-Zhender modulator by removing defect of existing duobinary optical transmitters.例文帳に追加

既存のデュオバイナリー光送信機の短所を除去し、パターン長さ及びマッハツェンダー変調器のバイアス位置による依存性問題を解決する。 - 特許庁

To position a developing device in the axial direction of the developing device so that an image quality defect of a toner image is suppressed.例文帳に追加

本発明は、トナー像の画質不良が抑制されるよう現像装置の軸方向における現像装置の位置決めを行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and a device capable of reducing noise for the position deviation of one pixel or less and detecting the defect of a fine lightness difference.例文帳に追加

１画素以下の位置ずれに対してノイズが少なく、かつ、微少な明度差の欠陥を検出できる方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To realize a high reliability printed wiring board by previously providing a position where any defect is liable to occur in interlayer connection.例文帳に追加

層間の接続において欠陥の発生しやすい場所をあらかじめ、設けることにより、信頼性の高いプリント配線板を実現できる - 特許庁

If it is possible to recognize what position in what material roll the defect exists, a production management can be carried out more precisely.例文帳に追加

このように、どのロール原反におけるいずれの位置に欠点があったかが認識できれば、より精度よく製造管理を行うことができる。 - 特許庁

To provide a method of inhibiting occurrence of a weave steps in a loom in which a thick step defect occurs on the woven fabric depending on the starting angle of the loom, by making the front selvage of the fabric movable to a proper position.例文帳に追加

織機の起動角度により厚段が発生する織機に対し、織前位置を適宜な位置にし得るようにすることにある。 - 特許庁

A plurality of recess processed parts 8 are processed at the position of the bright spot defect occurs on a second glass plate 11 constituting a CF substrate.例文帳に追加

ＣＦ基板を構成する第２のガラス板１１の上記輝点不良が発生している画素の部位に複数の凹欠加工部８を加工する。 - 特許庁

The defect removing device 1 moves the nozzle 9 of the water column laser illumination device 7 to the position of an illumination point 57 in the defective region 55.例文帳に追加

欠陥除去装置１は、欠陥領域５５内の照射点５７の位置に水柱レーザ照射装置７のノズル９を移動させる。 - 特許庁

Ion-implantation of hydrogen is made in the substrate 1, and an implanted defect layer 5 is formed at a position deeper than the P-N junction interface.例文帳に追加

そして、半導体基板１に水素のイオン注入を施し、Ｐ−Ｎ接合界面より深い位置に注入欠陥層５を形成する。 - 特許庁

An installation defect detection unit 242 of the observation device 200 is configured to compare a reinstallation focus position, which shows a focal axis position obtained when being focused on the object to be observed after reinstalling the container on the XY stage, with the appropriate focus position stored in the memory 243, and thereby detect the installation defect of the container in the optical axis direction.例文帳に追加

観察装置２００の設置不備検出部２４２が、容器がＸＹステージに再設置された後に観察対象物に焦点が合ったときのフォーカス軸位置を示す再設置合焦位置を、メモリ２４３に記憶されている適正合焦位置と比較することによって、光軸方向における容器の設置不備を検出する。 - 特許庁

Further, a defect is detected by a missing component and/or presence of a defect identification mark for the component mounting region positioned at the defective component detection position, whereby an operation of stamping out the component on the component mounting region is skipped when the region detected as the one including the missing component or the defect identification mark is positioned at the stamping position.例文帳に追加

さらに、不良品検出位置において位置決めされた部品搭載領域に対して、部品の欠損及び／又は不良品識別マークの有無により不良を検出することで、部品欠損あるいは不良品識別マーク有りと検出された部品搭載領域が打ち抜き位置に位置された際に、その部品搭載領域に対する部品打ち抜き動作をスキップさせる。 - 特許庁

To provide a method of marking the defect of an optical film in which a position of the defect is easily specified by marking the defect of the optical film and even if the marking is erroneous recognition, the marking itself does not cause defect and it is prevented that the marked optical film has adverse effect upon a final product.例文帳に追加

光学フィルムの欠陥をマークするマーキングによって、欠陥の位置を容易に特定することができるとともに、そのマーキング自体が誤認であった場合においても、そのマーキング自体が欠陥とならず、マーキングされた光学フィルムが最終製品の品質に悪影響を及ぼすことを回避することができる光学フィルムの欠陥マーキング方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To eliminate the defect in position measurement on a wireless terminal device using relative propagation time and base station coordinates that a position measurement error can be gross depending on a selection method of a base station serving as a basis of the relative propagation time.例文帳に追加

相対伝搬時間と基地局座標を用いた無線端末装置の位置測定において、相対伝搬時間の基準となる基地局の選択方法によっては位置測定誤差が大きくなる。 - 特許庁

The minimum height (h) of the detected projecting defect Wi can be set arbitrarily by changing the shift amount (x) of the imaged position (focal position) 2b of the line sensor camera 2 from the boundary line We.例文帳に追加

検出される凸状欠陥Ｗｉの最小高さｈは、ラインセンサカメラ２の撮像位置（焦点位置）２ｂと前記境界線Ｗｅとのずれ量ｘを変えることで任意に設定できる。 - 特許庁

To provide a displacement detection device capable of performing stably accurate position detection without causing a signal defect even when an external force works on a flexible printed wiring board after position adjustment.例文帳に追加

位置調整後にフレキシブルプリント配線板に外力が働いた場合であっても、信号不良を生じず、安定して正確な位置検出を行うことができる変位検出装置を提供する。 - 特許庁

When reading data recorded in DVD-RAM at the time of rewriting the data to DVD-RAM 130, a disk driver 121 generates defect information presenting the position of the defect or the like on the recording plane of the DVD-RAM.例文帳に追加

ディスクドライバ１２１は、ＤＶＤ−ＲＡＭ１３０に対するデータの書換時において、ＤＶＤ−ＲＡＭに記録されたデータを読み出すときに、ＤＶＤ−ＲＡＭの記録面上の欠陥位置等を示す欠陥情報を生成する。 - 特許庁

To solve the problem that discharge defect condition occurs because the waste liquid wiped out from discharge defect nozzles comes into nozzles of a head with normal discharge condition in an overlapping position when wiping an elongate head constituted by lining a plurality of liquid discharge head.例文帳に追加

複数の液体吐出ヘッドを並べた長尺ヘッドに対してワイピングを行うときに、重複部分で吐出状態が正常なヘッドのノズルに吐出不良ヘッドから拭き取った廃液が侵入して吐出不良状態になる。 - 特許庁

The defect inspection apparatus 1, using the coordinate table 6a, irradiates the laser light 5a to the predetermined position of the sample 20, in the predetermined order and detects a signal caused by a temperature change ΔT generated by the irradiation to inspect a defect.例文帳に追加

欠陥検査装置１は、座標テーブル６ａを用い、レーザ光５ａを試料２０の所定位置に所定順序で照射し、照射によって生じる温度変化ΔＴに起因した信号を検出し、欠陥検査を行う。 - 特許庁

To provide a thin-film transistor capable of reducing a defect generated in a film of the thin-film transistor and also reducing variations in a defect generation position in a substrate plane, and to provide a display device using the same.例文帳に追加

薄膜トランジスタの膜中に発生する欠陥を低減させると共に、基板面内における欠陥発生位置のバラつきを低減させることが可能な薄膜トランジスタ及びそれを用いた表示装置を提供することである。 - 特許庁

The system 100 may includes also processor 124 for converting coordinates on an X-ray detection panel 110 of the X-ray detector 108 for detecting an optional defect into a digital expression 128 in a position on the component 102 of the optional defect.例文帳に追加

任意の欠陥を検出したＸ線検出器（１０８）のＸ線検出パネル（１１０）上の座標を、該任意の欠陥の構成部品（１０２）上の位置のデジタル表現（１２８）に変換するプロセッサ（１２４）を含むことができる。 - 特許庁

In the method for determining the type of a defect in a weld, the ultrasonic response signals gathered from a plurality of the measuring places set along the weld are analyzed to determine a defect position.例文帳に追加

溶接部内の欠陥のタイプを決定するための方法は、溶接部に沿った複数の測定箇所から集められた超音波応答信号を解析することによって、欠陥位置及び対応する欠陥信号を決定することを含む。 - 特許庁

To provide a coating defect inspection method of a magnetic tape that can detect a coating defect on line and specify its position in applying magnetic coating material with a die coater, can efficiently manufacture the magnetic tape correspondingly, and requires only small amount of inspection cost.例文帳に追加

磁気塗料をダイコータで塗布する際に、オンラインで塗工欠陥を検出してその位置を特定でき、その分だけ磁気テープを能率よく製造でき、しかも検査コストが少なくて済む磁気テープの塗工欠陥検査法を提供する。 - 特許庁

The display and detection control circuit 6 corrects the data signal to peripheral pixels based on the black spot defect position, and when a data line drive circuit 11 is driven by the corrected data signal, the black spot defect is corrected visually.例文帳に追加

この表示及び検出制御回路６は、黒点欠陥位置に基づいて、その周辺画素へのデータ信号を補正し、補正したデータ信号にてデータ線駆動回路１１を駆動することで、視覚的に黒点欠陥を補正する。 - 特許庁

To provide a liquid container attaching and detaching apparatus capable of attaching and detaching a liquid container to and from an application mechanism located at an optional position inside a defect correction apparatus, and the defect correction apparatus equipped with the liquid container attaching and detaching apparatus.例文帳に追加

欠陥修正装置内の任意の位置にある塗布機構に対して液体容器を着脱することができる、液体容器着脱装置および当該液体容器着脱装置を備える欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁

The method comprises: detecting a defective position of a pseudo defect or true defect by adding up images or image signals obtained by performing a number of scans on each location, and comparing the images or image signals which are different in the number of additions with each other.例文帳に追加

同一箇所を複数回スキャンして得られる画像あるいは画像信号を加算し、加算回数の異なる画像あるいは画像信号を比較することにより、擬似欠陥あるいは真の欠陥の欠陥位置を検出する。 - 特許庁

To provide a master disk defect measuring device which can be easily installed in a master disk cutting machine and can acquire, store and process a position and a scale of the defect generated in a rugged pattern of an optical master disk as data of a small amount of information and to provide an master disk defect measuring method.例文帳に追加

原盤カッティング機への設置が容易で、且つ光ディスク原盤の凹凸パターンに生じたディフェクトの位置及び大きさを情報量の少ないデータで取得、格納、及び処理することが可能な原盤ディフェクト測定装置、及び原盤ディフェクト測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

An initial defect correction means 202 correct digital image information by using initial defective pixel position information previously known at the time of shipment from a plant or the like.例文帳に追加

初期欠陥補正手段２０２は、工場出荷時等で予め分かっている初期欠陥画素位置情報を用いて画像情報を補正（修正）する。 - 特許庁

To provide a position measurement method capable of eliminating a measurement function defect caused by a radio wave obstaction having a traveling object as a measurement target.例文帳に追加

移動物体を計測の対象として、電波障害に起因する計測機能欠陥を排除することのできる位置計測方法を提供する。 - 特許庁

To reduce mount defect, improve accuracy of shape and position of a terminal and provide terminal shape with design flexibility.例文帳に追加

実装不良を低減し、端子形状及び位置の精度を向上でき、かつ端子形状に設計上の余裕を持たせることのできるＩＣパッケージを提供する。 - 特許庁

A pattern addition processing section 23 adds a prescribed pattern to a prescribed position of the image without any defect and of the image whose defective part is corrected.例文帳に追加

欠損箇所の無いイメージと欠損箇所が補正されたイメージの所定の位置に、パターン追加処理部２３によって予め定められたパターンが追加される。 - 特許庁

A defective signal level of the image pickup sensor 101 caused on a line including the defect-generating position and in parallel with the one direction is corrected.例文帳に追加

特定された不良発生位置を含みかつ前記一方向に平行な線上に生じる撮像センサ１０１の信号レベル不良を補正する。 - 特許庁

To acquire not only the position of a defective portion of an inspected body but a defect quantity thereof with high accuracy, as to a method of inspection using a guided wave.例文帳に追加

ガイド波を用いた検査方法において、検査体の欠損部分の位置だけでなく、その欠損量を高精度に得ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a nozzle visual inspection apparatus capable of accurately identifying the position of a defect that occurs in a nozzle hole at low costs, and a nozzle visual inspection method.例文帳に追加

低コストでノズル穴に生じる不良箇所を精度よく特定可能なノズル外観検査装置、およびノズル外観検査方法を提供すること。 - 特許庁

To remove a defect of the conventional method for managing or controlling a height position of a piled sheet in a paper feeder of a sheet work machine.例文帳に追加

シート加工機械の給紙装置内の積み重ねられたシートの高さ位置を制御又はコントロールする従来の方法の欠点を取り除くこと。 - 特許庁

The count number of the defects and the like are reset simultaneously with writing the count number into the memory, and counting is similarly repeated when the next defect start position is detected.例文帳に追加

欠点のカウント数等は、カウント数をメモリに書き出すと同時にリセットし、次の欠点開始位置を検出したら同様にカウントを繰り返す。 - 特許庁

To excellently mount a component on a substrate while preventing a solder defect from occurring by suitably adjusting a mounting position for the component in accordance with a printing deviation amount.例文帳に追加

印刷ズレ量に応じて部品の実装位置を適切に調整することで半田不良の発生を防止しつつ部品を基板に良好に実装する。 - 特許庁

Then, the ultrasonic energies to the respective measuring places are compared with the ultrasonic energies of the adjacent measuring places to discriminate a latent defect position.例文帳に追加

そして、それぞれの測定箇所に対する超音波エネルギーは、隣接する測定箇所の超音波エネルギーと比較されて潜在的欠陥位置が識別される。 - 特許庁

In the correction data generating process, luminance data of the point defect pixel is eliminated (S7) from the luminance data by use of the position data before the correction data is generated.例文帳に追加

前記補正データ生成工程において、補正データを生成する前に輝度データの中から位置データを利用して点欠陥画素の輝度データを除く（Ｓ７）。 - 特許庁

Position information regarding a defect of a charge transfer line of an imaging sensor 16 that causes a V-line flaw in an image, is stored in a flaw information memory 54.例文帳に追加

画像におけるＶライン傷の発生原因となる撮像センサ１６の電荷転送ラインの欠陥の位置情報を傷情報メモリ５４に記憶しておく。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a multilayer substrate with high precision that reduces a permeation defect of paste, shortens a detection time for a position shift, and obtains efficiency.例文帳に追加

ペーストの滲み不良の発生の低減を位置ずれの検出時間の短縮と効率化を可能にする、高精度な多層基板の製造法を提供する。 - 特許庁