「diffracted intensity」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To impart full contrast to the intensity distribution of diffracted light of a three-dimensional diffraction grating.例文帳に追加

３次元回折格子の回折光の強度分布に完全なコントラストをつける。 - 特許庁

To precisely measure diffraction rings without reference to the intensity of diffracted X rays.例文帳に追加

回折Ｘ線の強度にかかわらず、回折環を精度よく測定できるようにする。 - 特許庁

COMPARISON METHOD OF LIGHT INTENSITY DISTRIBUTION DATA OF DIFFRACTED/SCATTERED LIGHT, AND PARTICLE SIZE DISTRIBUTION MEASURING DEVICE例文帳に追加

回折・散乱光の光強度分布データの比較方法、および粒度分布測定装置 - 特許庁

To suppress reduction in the intensity of diffracted light from a mask pattern when the pitch of the mask pattern narrows.例文帳に追加

マスクパターンのピッチが狭くなった時のマスクパターンからの回折光の強度低下を抑える。 - 特許庁

The integrated intensity of the diffracted X-ray on the X-ray recording region is determined in a region inside the intensity calculation frame 26, and the result is used as the intensity of the diffraction spot 34.例文帳に追加

強度算出枠２６の内側の領域で，Ｘ線記録領域上の回折Ｘ線の積分強度を求めて，これを回折斑点３４の強度とする。 - 特許庁

Thus, the intensity of a primary diffracted light beams 71 emitted from the AOM 53 does not nearly depend upon the intensity of the laser beams 70.例文帳に追加

これにより、ＡＯＭ５３から出射される１次回折光７１の強度はレーザ光７０の強度にほとんど依存しなくなる。 - 特許庁

The diffracted light 3 is made to be incident on a polarizing plate 52 and the intensity of the diffracted light 4 passed through the polarizing plate 52 is detected with a photodetector 53.例文帳に追加

その回折光３を偏光板５２に入射させ、偏光板５２を透過した回折光４の強度を光検出器５３で検出する。 - 特許庁

By the photodetector 13, the diffracted pattern information is detected, which includes the positional information and the intensity information of the above reflected light and one or more diffracted lights.例文帳に追加

光検出器１３は、上記反射光および１以上の回折光の位置情報と強度情報とを含む回折パターン情報を検出する。 - 特許庁

The 0 order diffracted light is shaped flat in intensity distribution and the pair of the ±lst order diffracted light become greater in the light intensity of the luminous flux near the optical axis as compared to the luminous flux of the outer edge.例文帳に追加

このため、０次回折光は、強度分布がフラットに整形され、一対の±１次回折光は、光軸近傍の光束のほうが外縁部の光束に対して、より光強度が大きくなる。 - 特許庁

The intensity of diffracted X rays, which are diffracted by an object specimen when applying X rays to the object specimen, is detected on a wide opening angle condition and on a narrow opening angle condition, with a relative ratio between the two taken as "a diffracted X-ray intensity ratio of the object specimen".例文帳に追加

対象試料にＸ線を照射したときに対象試料にて回折した回折Ｘ線の強度を、広い開口角条件と狭い開口角条件にて検出して、両者の相対比を「対象試料の回折Ｘ線強度比」とする。 - 特許庁

The CPU 21 in the controller 20 takes light receiving quantity data from the light-receiving part 12 and recognizes the intensity of the diffracted light in each order, then removes diffracted light in the first to third orders largely influenced by the surface roughness of the board 1, and executes processing of comparing the intensity of the diffracted light in another order with the theoretical intensity.例文帳に追加

コントローラ２０のＣＰＵ２１は、受光部１２からの受光量データを取り込んで各次数の回折光の強度を認識した後、基板１の表面ラフネスの影響が大きい１〜３次の回折光を除外し、他の次数の回折光の強度を理論上の強度と比較する処理を実行する。 - 特許庁

The intensity lost from diffracted rays appears as diffuse background intensity, and the incident electrons can gain or lose energy of the order of kT. 例文帳に追加

回折線から失われる強度は散漫なバックグラウンド強度として現れ、そして入射電子はkTのオーダーのエネルギーを増すかまたは失う。 - 科学技術論文動詞集

Since the diffracted X-rays from the single crystal sample plate 21 are not included in the operation of X-ray intensity, X-ray intensity distribution can be accurately calculated in relation to only the diffracted X-rays from the sample S.例文帳に追加

単結晶試料板２１からの回折Ｘ線がＸ線強度の演算に算入されないので、試料Ｓからの回折Ｘ線だけに関して正確にＸ線強度分布を求めることができる。 - 特許庁

The cellulose I type crystallinity (%)=[(I_22.6-I_18.5)/I_22.6]×100 wherein, I_22.6 is a diffracted intensity of a lattice plane (angle of diffraction 2θ= 22.6°) in X-ray diffraction; and I_18.5 is a diffracted intensity of an amorphous portion (angle of diffraction 2θ= 18.5°).例文帳に追加

セルロースＩ型結晶化度（％）＝〔（Ｉ_22.6−Ｉ_18.5）／Ｉ_22.6〕×１００〔Ｉ_22.6は、Ｘ線回折における格子面（回折角２θ＝２２．６°）の回折強度、及びＩ_18.5は、アモルファス部（回折角２θ＝１８．５°）の回折強度を示す〕 - 特許庁

Simultaneously, at least one of the plurality of diffracted beams is received to measure the intensity I_R thereof or an intensity distribution in a beam section.例文帳に追加

それと同時に、複数の回折ビームのうちの少なくとも１つの回折ビームを受光して、その強度Ｉ_Ｒ、あるいはビーム断面内の強度分布を計測する。 - 特許庁

Considering that quartic diffracted image intensity is preferably less than at least primary diffracted image intensity, it is evident that image deterioration due to diffraction is reducible on condition that the numerical aperture is ≥70%.例文帳に追加

少なくとも１次の回折像強度より４次の回折像強度が低くなることが望ましいことを考慮すると、実験結果から、開口率が７０％以上であれば、回折による画像劣化を低減させ得ることが分かる。 - 特許庁

The diffraction grating 3 is so set that the decreasing rate of the intensity of the 0 order diffracted light becomes smaller the nearer the peripheral part from near the optical axis and on the other hand the intensity of each of the pair of the ±lst order diffracted light becomes smaller.例文帳に追加

回折格子３は、光軸近傍から周辺部に向かうに従い、０次回折光の強度の低下率が小さくなる一方、一対の±１次回折光それぞれの強度が小さくなるように設定されている。 - 特許庁

A value obtained by dividing "the intensity ratio of the object specimen" by "the intensity ratio of the reference specimen" is taken as "a standardized diffracted X-ray intensity ratio" to analyze a crystalline state from this value.例文帳に追加

そして、「対象試料の回折Ｘ線強度比」を、「参照試料の回折Ｘ線強度比」で除算した値を、「規格化された回折Ｘ線強度比」としこの値から結晶状態を解析する。 - 特許庁

Time variation (interferogram) of light intensity of primary diffracted light is obtained from the intensity of laser beams incident on a surface of a wafer 2 and the intensity of the detected primary diffracted light, thereby calculating an etching rate of an n-type aluminum-gallium (AlGaAs) layer in a chemical solution 4 (S105).例文帳に追加

ウエハ表面に入射するレーザ光の光強度と、検出された１次回折光の光強度とより、１次回折光の光強度の時間変化（干渉波形）が得られ、薬液４におけるｎ型アルミガリウム（ＡｌＧａＡｓ）層のエッチングレートが算出される（Ｓ１０５）。 - 特許庁

The variation of intensity for a particular diffracted beam with the direction of the incident beam is known as a rocking curve. 例文帳に追加

入射ビームの方向(の変化)に伴う特定の回折ビームについての強度の変化は、ロッキングカーブとして知られている。 - 科学技術論文動詞集

Intensity of the diffracted X rays 30 from a sample 20 is detected by an X-ray detector 10 while altering the angle formed by incident X rays 28 and the diffracted X rays 30.例文帳に追加

入射Ｘ線２８と回折Ｘ線３０とのなす角度を変更しながら試料２０からの回折Ｘ線３０の強度をＸ線検出器１０で検出する。 - 特許庁

Further, the intensity of diffracted X rays, which are diffracted by a reference specimen when X rays are applied to the reference specimen with its crystal completeness assured, is detected on a wide opening angle condition and on a narrow opening angle condition, with a relative ratio between the two taken as "a diffracted X-ray intensity ratio of the reference specimen".例文帳に追加

また結晶の完全性が保証された参照試料にＸ線を照射したときに参照試料にて回折した回折Ｘ線の強度を、広い開口角条件と狭い開口角条件にて検出して、両者の相対比を「参照試料の回折Ｘ線強度比」とする。 - 特許庁

As an optical intensity control means, a variation on optical intensity in the 0th diffracted light of an acousto-optical element (AOM) is controlled by controlling diffraction efficiency using the AOM, and further, the 0th diffracted light is shaped by a spatial frequency filter.例文帳に追加

光強度制御手段としては、音響光学素子（ＡＯＭ）を用いて回折効率を制御することでＡＯＭの０次回折光における光強度変化量を制御し、さらに０次回折光を空間周波数フィルタで整形する。 - 特許庁

X rays 10 enter the surface of a sample 12 at an incident angle α for measuring intensity in diffracted X rays 14, the incident angle α is changed for obtaining a change in the intensity in the diffracted X rays 14, and a measurement rocking curve is obtained.例文帳に追加

試料１２の表面に対して入射角αでＸ線１０を入射して回折Ｘ線１４の強度を測定し，入射角αを変化させて回折Ｘ線１４の強度の変化を求めて，測定ロッキングカーブを得る。 - 特許庁

A table indicating the relationship between the theoretical intensity of each diffracted light to be extracted and film thickness is previously set in a controller 3, and a film thickness in the case that the theoretical intensity of the diffracted light is closest to the intensity of the diffracted light extracted by the line CCD 10 is obtained and specified as the film thickness of the substrate 11 to be measured.例文帳に追加

コントローラ３には、あらかじめ、抽出対象となる各回折光の理論上の強度と膜厚との関係を示すテーブルが設定されており、これら回折光の理論上の強度がラインＣＣＤ１０により抽出された回折光の強度に最も近くなる場合の膜厚を求め、これを測定対象の基板１１の膜厚として特定する。 - 特許庁

The intensity of the transmitted and diffracted beams at any point of the exit surface will depend on the excitation error for the lattice planes at that point. 例文帳に追加

出射面の任意の点における透過波と回折波の強度は、その点における格子面の励起誤差に依存する。 - 科学技術論文動詞集

Thus, the volume of the hologram is optimized based upon the difference in light intensity of the reproduction reference light and variance in intensity In of diffracted light diffracted by respective holograms and emitted can be made small to reproduce the hologram more appropriately than heretofore.例文帳に追加

このように、再生参照光の光強度の大きさの違いに基づいて、ホログラムの体積を適正化することで、各ホログラムで回折されて発せられた回折光強度Ｉｎのばらつきを小さくでき、従来に比べて適切にホログラムを再生できる。 - 特許庁

The radial tilt of the disk for each of the main beam and the sub beam are detected based on the difference between the intensity of +1st-order diffracted light from areas 15, 18, 19, 22 of the hologram optical element 8 and the intensity of +1st- order diffracted light from areas 16, 17, 20, 21 of the same.例文帳に追加

メインビーム、サブビームの各々に対する、ホログラム光学素子８の領域１５、１８、１９、２２からの＋１次回折光の強度と領域１６、１７、２０、２１からの＋１次回折光の強度の差に基づいてディスクのラジアルチルトを検出する。 - 特許庁

Each page of a hologram is newly recorded so that the maximum point of diffracted light beam intensity at the time of reproducing the newly recorded hologram is located at a position where diffracted light beam intensity at the time of reproducing data from a data page of a hologram previously recorded in a hologram recording medium is minimized.例文帳に追加

ホログラム記録媒体に既に記録されていたホログラムのデータページからの再生時の回折光強度が極小となる位置に、新たに記録するホログラム再生時の回折光強度の極大点が位置するように、ホログラムの各ページを新たに記録する。 - 特許庁

The method for inspecting a cloud detects the diffracted light of an optical disk substrate, and quantitatively evaluates the cloud based on a diffracted light intensity difference between a cloud area extracted by adjusting the surface distribution of the intensity of the diffracted light using geometric features and a normal area, and the area rate of the cloud.例文帳に追加

光ディスク基板の回折光を検出し、その強度の面分布を形状的な特徴を利用して調整することにより抽出されるクラウド領域と、正常領域との回折光強度の差及びクラウドの面積率により算出されるクラウド強度によりクラウドを定量的に評価することによるクラウドの検査方法。 - 特許庁

To increase the minimum light intensity out of light intensities to a maximum out of five light spots when a laser beam from a semiconductor laser is diffracted by a diffraction grating face on a diffraction grating plate so as to generate zero-order diffracted light to second-order diffracted light in such a way that the five light spots are generated from the diffracted lights so as to be shone at different places on an optical disk.例文帳に追加

半導体レーザ12からのレーザ光を回折格子板18の回折格子面20により回折して、０〜２次の回折光を生成し、これらより５個の光スポットM，E，F，G，Hを生成して、光ディスク34の異なるトラック部位へ照射する光ピックアップ装置10において、光スポットM，E，F，G，Hの内で光強度の最小のものの光強度を最大現、引き上げる。 - 特許庁

The copper-based alloy excellent in press-workability and its manufacturing method are characterized in that the total of diffracted intensities of {111} and {222} is twice or more of the diffracted intensity of {200} in surface X-ray diffraction of materials.例文帳に追加

材料の断面のＸ線回折強度で｛１１１｝と｛２２２｝の回折強度の合計が｛２００｝回折強度の２倍以上であることを特徴とするプレス加工性に優れた銅基合金とその製造方法。 - 特許庁

To constantly change the arrival position of diffracted light on a workpiece and/or keep the intensity of diffracted light constant regardless of the angle of diffraction, in laser lithography such as laser annealing using an acoustooptic diffraction element.例文帳に追加

音響光学回折素子を用いたレーザアニール等のレーザ描画において、被処理物上での回折光の到達位置を一定に変化させ、又は／及び回折光強度を回折角度によらず一定に維持する。 - 特許庁

The coordinate position where the diffracted X-rays issued from the single crystal sample plate 21 are detected by the two-dimensional X-ray detector is recognized as a blank region not allowed to contribute to the operation of the diffracted X-ray intensity distribution.例文帳に追加

単結晶試料板２１から出る回折Ｘ線が２次元Ｘ線検出器２によって検出される座標位置を、回折Ｘ線強度分布の演算に寄与させないブランク領域として認識する。 - 特許庁

From among X-ray spectral information obtained, the peak intensity caused by diffracted X-ray is used to determine copper concentration in a tin alloy plating layer.例文帳に追加

取得したＸ線スペクトル情報のうち、回折Ｘ線に起因するピークの強度を使用して、スズ合金メッキ層の銅濃度を決定する。 - 特許庁

The evaluation is carried out by transmitting an evaluation optical signal to the evaluation grating coupler, measuring diffracted light from the plurality of grating couplers, and comparing the intensity of the diffracted light with a preliminarily set reference value.例文帳に追加

この評価は、評価用グレーティングカプラに評価用光信号を入射し、複数のグレーティングカプラからの回折光を測定し、及び、回折光の強度と、予め設定された基準値とを比較することにより行われる。 - 特許庁

To make the intensity profile of diffracted beams from respective diffraction grating layers uniform or nearly uniform in an intra-layer direction and to easily handle an optical waveguide as an optical component.例文帳に追加

各回折格子層からの回折光の強度プロファイルを層内方向で一様かあるいは同程度とし、光学部品として扱いやすくする。 - 特許庁

To provide a surface inspection device which has a simple constitution even in the case of an inspection target with a low intensity of diffracted light or the classification of a flaw.例文帳に追加

回折光の強度が弱い検査対象あるいは欠陥種別の場合であっても、構成が簡単な表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a hologram recording apparatus and a program, obtaining a target diffracted light intensity of diffraction light by recording a hologram while correcting the diffraction efficiency.例文帳に追加

回折効率を修正しながらホログラムを記録することで、目標とする回折光強度を得ることができるホログラム記録装置及びプログラムを提供する。 - 特許庁

Waveform fluctuation rate is obtained on the basis of difference between the waveform of wavelength depending characteristic of the intensity of diffracted light obtained and the waveform of wavelength depending characteristic of intensity of diffracted light on the basis of the standard model prepared; and the amount of trail T corresponding to the relevant waveform fluctuation rate is obtained through collation with a characteristic curve (S3).例文帳に追加

取得した回折光強度の波長依存特性の波形と、予め準備しておいた標準モデルに基づく回折光強度の波長依存特性の波形との差に基づいて波形変化率を取得し、当該波形変化率に対応する裾引き量Ｔを特性曲線と照合して求める（Ｓ３）。 - 特許庁

An X-ray intensity measuring device 17 changes glancing angle of incident X-rays 12B so as to measure the intensity characteristic of the diffracted X-rays 14D before and after the removal of the thin film on the basis of a detection signal S15.例文帳に追加

Ｘ線強度測定装置１７は、入射Ｘ線１２Ｂの視斜角θを変化させて検出信号Ｓ１５に基づいて薄膜の除去前後の回折Ｘ線１４Ｄの強度特性を測定する。 - 特許庁

X-ray intensity I obtained from an X-ray beam diffracted by a specimen and passed through a portion not shielded by the movable blade 54 is computed on a computer side, and a difference of the X-ray intensity I per the sample point interval is computed therein.例文帳に追加

コンピュータ側では、被検体で回折されて可動ブレード５４に遮蔽されていない部分を通過したＸ線ビームから得たＸ線強度Ｉを演算し、標本点間隔あたりのＸ線強度Ｉの差分を演算する。 - 特許庁

This intensity measuring method of the single-wavelength light in the EUV domain includes spectral diffraction of EUV light by a diffraction grating, entrance of the spectrally-diffracted light into a multilayer film mirror, reflection of the single-wavelength light, and measurement of the reflected light intensity.例文帳に追加

ＥＵＶ光を回折格子により分光し、分光された光を多層膜ミラーに入射し、単波長光を反射し、その反射光強度を測定することを含む、ＥＵＶ領域の単波長光の強度測定方法。 - 特許庁

Then, the 0th diffracted light passing through the aperture 3 is collimated in a convex lens 4 to be made an illuminating light having the uniform intensity distribution of a desired width and it is projected to the outside.例文帳に追加

そして、アパーチャ３を透過した０次回折光が凸シリンドリカルレンズ４でコリメートされ、所望幅の均一強度分布の照明光とされて投光される。 - 特許庁

Pattern height H, bottom width BCD and tapering angle Θ are acquired, by analyzing the wavelength depending characteristic of intensity of diffracted light obtained using a standard model (S2).例文帳に追加

そして、取得した回折光強度の波長依存特性を標準モデルを用いて解析し、パターン高さＨ、ボトム幅ＢＣＤおよびテーパー角Θを取得する（Ｓ２）。 - 特許庁