「diffraction of light」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an array waveguide type diffraction grating wherein a light transmission central wavelength does not depend on an environmental temperature in use and which is capable of controlling the deterioration of crosstalk.例文帳に追加

光透過中心波長が使用環境温度に依存せず、かつ、クロストークの劣化を抑制可能なアレイ導波路型回折格子を提供する。 - 特許庁

The diffraction lattice 13 made of a tetragonal lattice having lattice constant "d" is arranged on an interface between a first electrode and a light emission layer 14 made of organic material.例文帳に追加

第１の電極１２と有機物からなる発光層１４との界面に、格子定数ｄの正方格子からなる回折格子１３を設ける。 - 特許庁

Then, the gear 15 is supported by a robot arm and is moved so that the light emission surface 3a of the diffraction grating 3 is positioned at the opening of a guide frame 13.例文帳に追加

そして、歯車１５をロボットアームにより支持して、回折格子３の光照射面３ａがガイドフレーム１３の開口部に位置するように移動させる。 - 特許庁

A resin layer 8b is joined to the surface on the light source side of a refractive lens 8a and a diffraction surface of a blaze shape is formed on the surface thereof.例文帳に追加

屈折レンズ８ａの光源側の表面に樹脂層８ｂが接合され、さらにその表面にはブレーズ形状の回折面が形成されている。 - 特許庁

Light from a document 2 which has passed a condenser lens 23 is separated into spectral components of three colors R, G, and B by a diffraction grating 421 of a spectroscopic means 42.例文帳に追加

集光レンズ２３を通過した原稿２からの光は、分光手段４２の回折格子４２１によりＲ、Ｇ、Ｂの３色の光に分光される。 - 特許庁

The first pattern 4 of the diffraction optical element which has the pattern pitch less than the wave length of the incident light is formed on one part of the main surface 2 of the substrate 1 made of glass, etc., and polarization is imparted thereto.例文帳に追加

ガラスなどの基板１の主面２の一部に、入射光の波長以下のパタンピッチを有する第１の回折光学素子パタン４を形成して偏光性を持たせる。 - 特許庁

The lattice cycle of the diffraction lattice, the height of the protruded units and the thickness of the metal films are set to values different at each unit so that the wavelength of the transmitted light of the spectral filter changed at eachunit.例文帳に追加

回折格子の格子周期、凸部の高さ、金属膜の厚みは、分光フィルタの透過光の波長が部分毎に変化するよう、部分毎に異なる値に設定される。 - 特許庁

A plurality of cylindrical lenses 7, or a plurality of prisms 10 made of a material with Abbe constant of ≤30 are disposed between the light guide plate 2 and a liquid crystal panel in parallel to distribution of the diffraction grating.例文帳に追加

導光板２と液晶パネルとの間に複数のシリンドリカルレンズ７、又はアッベ数３０以下の材料からなる複数のプリズム１０を回折格子４の配列と平行に配置。 - 特許庁

In the illumination device 14 provided with a light source 12 and the planar light guide plate 10 to light-guide the light 50 incident from the light source 12 and to emit it from the light emitting face 28a, an optical element for light emission composed of a diffraction grating 38 is arranged at the light emitting face 28a or the opposing face 28b opposed to the light emitting face 28a.例文帳に追加

本発明によれば、光源１２と、光源１２から入射した光５０を導光し、光射出面２８ａから射出する平面状の導光板１０とを備えた照明装置１４において、光射出面２８ａ又は光射出面２８ａに対向する対向面２８ｂに、回折格子３８からなる光射出用光学素子を配置する。 - 特許庁

Linearly polarized light emitted from the outgoing faces 8Ab, 8Bb sides of the polarized wave holding fibers 8A, 8B are kept to have the polarized state so as to have mutually the same polarization direction, and converted into parallel light by a collimator lens 9, and the diffraction face 10b of a diffraction grating 10 is irradiated therewith.例文帳に追加

偏波保持ファイバ８Ａ，８Ｂの出射面８Ａｂ，８Ｂｂ側から出射される直線偏光光は、互いの偏波方向が同じになるように偏波状態が保持され、コリメートレンズ９により平行光に変換された後、回折格子１０の回折面１０ｂに照射される。 - 特許庁

When first bottom B1 exists in the spatial intensity distribution of diffraction-scattered light from the measuring particle group measured by measuring optical systems (3, 4, 5, 6), the spatial intensity distribution data of the diffraction-scattered light from small angle side to that first bottom B1 is used to compute the particle size distribution.例文帳に追加

測定光学系（３，４，５，６）により測定された被測定粒子群による回折・散乱光の空間強度分布に、ファーストボトムＢ１が存在している場合には、小角度側からそのファーストボトムＢ１までの回折・散乱光の空間強度分布データを用いて粒度分布を算出する。 - 特許庁

The diffraction grating built-in fiber 14 provided with a tip 14a is arranged so as to make its tip 14a confront the fiber-side edge face 12a of the semiconductor light emitting device 12, and a gap between the fiber-side edge face 12a of the light emitting device 12 and the diffraction grating 13 is set 13 mm or below.例文帳に追加

回折格子内蔵ファイバ１４は、先端部１４ａが半導体発光素子１２のファイバ側端面１２ａに対向するように配置されており、半導体発光素子１２のファイバ側端面１２ａと回折格子１３との間隔Ｄは１３ｍｍ以下となっている。 - 特許庁

To provide a diffracting optical element which can relieve the decrease in diffraction efficiency due to angle dependency, can suppress the generation of flare light by light of unnecessary order and has high diffraction efficiency in a wide wavelength region and an optical system which has the diffracting optical element.例文帳に追加

角度依存性による回折効率の低減を緩和することができ、不要次数光によるフレア光の発生を押さえることが可能であり、広い波長域で高い回折効率を有する回折光学素子及び該回折光学素子を有する光学系を提供する。 - 特許庁

A focus error signal is detected from the -1 order diffraction light of the hologram optical element 7, and a track error signal by the phase difference method from the +1 order diffraction light of the hologram optical element 7, a track error signal by the push- pull method, and an information signal being recorded on the disk 6 are detected.例文帳に追加

ホログラム光学素子７の−１次回折光からフォーカス誤差信号を検出し、ホログラム光学素子７の＋１次回折光から位相差法によるトラック誤差信号、プッシュプル法によるトラック誤差信号、およびディスク６に記録された情報信号を検出する。 - 特許庁

The external resonator-type wavelength-variable light source selecting the wavelength of light from a semiconductor laser using a diffraction grating is characterized in that an achromatic prism produced by laminating two types of glass materials with Abbe numbers different from each other, is provided between the semiconductor laser and the diffraction grating.例文帳に追加

半導体レーザからの光を回折格子を用いて波長選択する外部共振器型の波長可変光源において、前記半導体レーザと前記回折格子との間に、アッベ数の異なる２種の硝材を貼り合わせた色消しプリズムを設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

When a phase of the specific diffraction light in the luminous flux of wavelength λ2 passed through the surrounding region R2 coincides with a phase of luminous flux for forming a convergence spot, interference of light is caused, light quantity of luminous flux for forming the convergence spot is increased utilizing interference of this light.例文帳に追加

周辺領域Ｒ２を通過した波長λ２の光束における特定の回折光の位相が、集光スポットを形成するための光束の位相と合致するようになると、光の干渉が生じ、この光の干渉を利用して、集光スポットを形成するための光束の光量を増大する。 - 特許庁

The hologram recording apparatus includes a diffraction control element which receives a laser beam emitted from a laser beam source and controls the diffraction of the received laser beam before letting it exit, and a beam condensing element which condenses the diffracted light emitted from the diffraction control element onto the hologram recording medium.例文帳に追加

ホログラム記録装置が、レーザ光源から出射されたレーザ光を入射し、入射したレーザ光の回折を制御して出射する回折制御素子と、回折制御素子から出射された回折光をホログラム記録媒体に集光させる集光素子とを有する。 - 特許庁

C-V measurement is performed using a C-V measuring apparatus 10, while irradiating a semiconductor sample 15 with a single-wavelength light 18 produced by spectral diffraction of the light from a white light source, and the level of a deep trap is evaluated from the measurement result.例文帳に追加

白色光源からの光を分光した単一波長光１８を半導体試料１５に照射しつつ、Ｃ−Ｖ測定装置１０を用いてＣ−Ｖ測定を行い、その測定結果から深いトラップ準位を評価する。 - 特許庁

A detecting diffraction grating 64 diffracts either the first processing light c1 or the second processing light c2 which are reflected with the recording medium 37 and it leads the first and second processing rays of light to a roughly identical position of the photodetector 39.例文帳に追加

検出回折格子６４は、記録媒体３７で反射した第１および第２処理光ｃ１，ｃ２のいずれか一方を回折させ、第１および第２処理光ｃ１，ｃ２を光検出器３９の略同一の位置に導く。 - 特許庁

When the center of a light-sensitive part PD081 receiving +1 dimensional diffraction from the hologram and the interval between each light emitting points of the light sources in the wavelengths are 1 and d2 respectively, λ1/λ2 equals d1/d2 substantially.例文帳に追加

ホログラムからの＋１次回折光を受光する光検出部ＰＤ０８１の中心と２種の波長の光源の各発光点との間の距離を、それぞれｄ１、ｄ２としたときに、実質的にλ１／λ２＝ｄ１／ｄ２とする。 - 特許庁

Thus, a light source ejected by the light emitting diode (LED) chip forms a diffraction through the shielding layer and extends an irradiation area of the light emitting diode (LED), whereby a uniform illumination of a wider range can be obtained with high luminance.例文帳に追加

それにより、発光ダイオード（ＬＥＤ）チップが射出する光源は、遮蔽層を介して回折を形成し、発光ダイオード（ＬＥＤ）の照射面積を拡張し、より広い範囲、より均一な高輝度の照明を得ることができる。 - 特許庁

To provide a solid image sensor that reduces a smear caused by the multiple reflection of light between a light shielding metal film and substrate surface and the diffraction light from the opening of the light shielding metal film, relatively with ease but without deterioration in a characteristics.例文帳に追加

特性の低下を伴うことなく、しかも比較的簡単に、遮光金属膜と基板表面との隙間での光の多重反射及び遮光膜の開口部からの回折光を原因とするスミアを低減させることのできる固体撮像素子を提供する。 - 特許庁

A diffraction lens structure 25 is formed at an inner end slope 24a of the V-groove 24 facing the front end face of the optical fiber 22 and an optical element (light emitting element) 23 is mounted on a substrate surface 21a right above this diffraction lens structure 25.例文帳に追加

光ファイバ２２の先端面と対向するＶ溝２４の内端傾斜面２４ａに回折レンズ構造２５を形成し、その回折レンズ構造２５の直上において基板表面２１ａに光素子（発光素子）２３を搭載する。 - 特許庁

A portion of a dividing line defining the focusing diffraction region 33 is formed in a shape which is convex toward the inside from the outside with respect to the center 62 of an incident range on the diffraction element 31 which return light enters.例文帳に追加

フォーカス用回折領域３３を規定する分割線の一部は、復路光が入射する回折素子３１上の入射範囲の中心６２に対して、外方から内方に向けて凸を成す形状に形成される。 - 特許庁

By this constitution, an optical resonance occurs between the projection-side edge face 12a of the semiconductor light emitting device 12 and the diffraction grating 13 of the diffraction grating built-in fiber 14, and a laser beam is projected from the projection-side edge face 12a.例文帳に追加

かかる構成から、半導体発光素子１２の出射側端面１２ａと回折格子内蔵ファイバ１４の回折格子１３との間で光共振が発生し、当該出射側端面１２ａからレーザ光が出射される。 - 特許庁

The optical scanner is provided with a light source 1, a predeflector optical system, a polygon mirror 5 and a scanning optical system, wherein the predeflector optical system includes a coupling lens 2 of which the emission face is a phase shifter face and a diffraction lens 4 of which the emission face is a diffraction face.例文帳に追加

光源１、偏向器前光学系、ポリゴンミラー５、及び走査光学系を備え、偏向器前光学系は、射出面が位相シフタ面であるカップリングレンズ２、及び射出面が回折面である回折レンズ４を含んでいる。 - 特許庁

To solve a problem concerning cost and evaluation time of the conventional technology by measuring the diffraction light wavefront from the entire surface of diffraction grating and applying arithmetic processing to the obtained wavefront information.例文帳に追加

回折格子回折格子全面からの回折光波面を短時間に計測し、得られた波面情報に演算処理を施すことで、従来技術が持つコストと評価時間に関する課題を解決することを目的としている。 - 特許庁

A diffraction grating 17 is formed so that coupled-light temperature characteristics showing the light intensity change in a specified diffractive order of light coupled to the end part of the light transmission path 12 in accordance with the change in operating environment temperature of the photoelectric conversion element 8 may be within a prescribed allowable limit.例文帳に追加

回折格子１７が、光電変換素子８の使用環境温度の変化にともなう光伝送路１２の端部に結合される特定の回折次数の光の強度の変化を示す結合光温度特性を、所定の許容限度内に抑制するように形成されていること。 - 特許庁

To provide an article with a light-reflecting function having an excellent light-reflecting function developed by physical actions of scattering, diffraction, or the like, of light, developing the stable light-reflecting function even under various processing conditions and the use environment and capable of retaining such function over a long period.例文帳に追加

光の散乱、回折等の物理作用によって発現する優れた光反射機能を有すると共に、各種の加工条件や実使用環境下においても安定した光反射機能を発現し、このような機能を長期に亘って保持することができる光反射機能物体を提供する。 - 特許庁

To provide a light intensity adjusting device capable of preventing the deterioration of an MTF by small diaphragm diffraction, of enhancing the controllability of a diaphragm, and of saving a space, and provide an optical device and a photographic device having the light intensity adjusting device.例文帳に追加

小絞り回折によるＭＴＦの劣化を防止し、絞りの制御性を向上させ、小スペース化を図ることが可能となる光量調整装置、該光量調整装置を有する光学装置および撮影装置を提供する。 - 特許庁

Each of the light emitted from a plurality of semiconductor optical amplifying elements 18 of an optical transmitter 1 is introduced into a plurality of optical waveguides 20, and made into light of different wavelengths, respectively, through Bragg diffraction gratings 20a_1-20a_n.例文帳に追加

光送信器１の複数の半導体光増幅素子１８から出射された光のそれぞれは、複数の光導波路２０に導入され、ブラッグ回折格子２０ａ_１〜２０ａ_ｎにより、それぞれ異なる波長の光とされる。 - 特許庁

Provided that, in the formula (1), ξ is a value indicating a position in a radius direction of the lens in one period of the diffraction pattern, and ϕ(ξ) indicates a value (radian) of a phase shift amount of light passing the position ξ from the phase of light passing through a reference plane.例文帳に追加

但し、ξは、回折パターンの１周期におけるレンズの半径方向の位置を示す値であり、φ（ξ）は、基準面を通過した光の位相に対して、ξの位置を通過する光の位相のずれ量の値（ラジアン）を示す。 - 特許庁

The diffraction grating 3 is so set that the decreasing rate of the intensity of the 0 order diffracted light becomes smaller the nearer the peripheral part from near the optical axis and on the other hand the intensity of each of the pair of the ±lst order diffracted light becomes smaller.例文帳に追加

回折格子３は、光軸近傍から周辺部に向かうに従い、０次回折光の強度の低下率が小さくなる一方、一対の±１次回折光それぞれの強度が小さくなるように設定されている。 - 特許庁

A stray light reflected with the diffraction element 20 is diverted from the optical axis CL by providing a diffraction component 20 with a net angle θ to an optical axis CL and an adverse effect by the stray light are prevented, and an abberation in optical beams of first and second wavelengths generated by the inclined diffraction element 20 are compensated by shifting and arranging the first diffraction pattern PTc and the second diffraction pattern PTd from the optical axis CL.例文帳に追加

回折素子２０を光軸ＣＬに対して角度θを持って設けることにより、当該回折素子２０で反射される迷光を当該光軸ＣＬから逸らして、当該迷光による悪影響を防止するとともに、当該回折素子２０を傾けたことにより第１及び第２の波長の光ビームに発生する収差を、第１の回折パターンＰＴｃ及び第２の回折パターンＰＴｄを光軸ＣＬからずらして配置することにより補正する。 - 特許庁

An aperture head 11 for raising the temperature of the recording track is provided so as to have an aperture slit 11b which has the length equal to the diffraction limit of light 13 or more and the width shorter than the diffraction limit of the light 13 in a direction orthogonal to the recording track and is disposed so that its longitudinal direction is along the scanning direction of the recording track.例文帳に追加

記録トラックを昇温するための開口ヘッド１１を、光１３の回折限界以上の長さと、記録トラックに直交する方向に光１３の回折限界よりも短い幅を有し、長手方向が記録トラックの走査方向に沿って配置された開口スリット１１ｂを有するように設ける。 - 特許庁

Diffraction lights of even order other than diffraction lights of zero order is removed in mark lights obtained from an irradiated area including the mark, a frequency component corresponding to the each diffraction light of odd degree included in the mark lights is extracted from an image signal of the mark lights, and the positional information of the mark is measured using the extracted frequency component.例文帳に追加

マークを含む被照射領域から得られるマーク光は、０次回折光以外の偶数次回折光が除去されており、マーク光の画像信号から、マーク光に含まれる奇数次回折光に対応する周波数成分を抽出し、その抽出された周波数成分を用いてマークの位置情報を計測する。 - 特許庁

The interference exposure is performed so that the crossing angle of laser beams in two of light flux, with which each area is irradiated, can be different, the diffraction gratings of mutually different diffraction grating pitches are formed in each of areas and a plurality of kinds of semiconductor lasers having different wavelengths are produced from one semiconductor wafer.例文帳に追加

各領域に照射する２光束のレーザ光の交差角度をいずれも異なるようにして干渉露光を行い、各領域に回折格子ピッチが相互に異なる回折格子を形成し、波長の異なる半導体レーザを１枚の半導体基板から複数種類製造する。 - 特許庁

Relative positions of ribbon elements 30, 31a, 32a, 31b, 32b, 31c, 32c, and 33 are optimized by applying offset voltages to the ribbon elements so that when the light diffraction diffraction modulation element 23 is OFF, diffracted light caused by steps among the ribbon elements is minimized.例文帳に追加

光回折変調素子２３がＯＦＦ状態の場合、リボン素子３０、３１ａ、３２ａ、３１ｂ、３２ｂ、３１ｃ、３２ｃ、３３間の段差により生じる回折光が最少となるように、上記リボン素子にオフセット電圧を印加し、リボン素子間の相対位置を最適化する。 - 特許庁

To provide an electrostatic machine element capable of preventing electrode operation from becoming unstable by suppressing a decrease in effective electrostatic force between electrodes due to electrostatic blocking effect, a light diffraction modulation element using the same, and an image display device using the light diffraction modulation element.例文帳に追加

静電遮蔽効果による電極間の実効的静電気力の低下を抑制し、電極動作の不安定を防ぐことができる静電気機械素子、それを用いた光回折変調素子、該光回折変調素子を用いた画像表示装置を提供する。 - 特許庁

In an HD system optical system, light of an S polarization component from a semiconductor laser 1 is switched to a P polarization component by a liquid crystal element 2, diffracted into three beams by an HD diffraction element 3, passes through a BD diffraction element 4 and is made a parallel light by a collimate lens 5.例文帳に追加

ＨＤ系光学系は、半導体レーザ１からのＳ偏光成分の光を液晶素子２でＰ偏光成分に切り替え、ＨＤ回折素子３で回折して３ビームとし、ＢＤ回折素子４を通過しコリメートレンズ５で平行光とする。 - 特許庁

This spectroscope without dependence on polarization is equipped with a polarization direction converting means which arranges the polarization direction of incident light to one direction and a diffraction means for diffracting light whose diffraction direction is arranged to one direction by the polarization direction converting means.例文帳に追加

入射光の偏光方向を一方向に揃える偏光方向変換手段と、前記偏光方向変換手段により偏光方向が一方向に揃えられた光を回折する回折手段と、を有することを特徴とする偏光無依存分光器である。 - 特許庁

To enhance quality of image recording by easily removing heat generated by blocking first order diffracted light to be no signal light in an image recording apparatus using a diffraction grating type SLM (Spatial Light Modulation device).例文帳に追加

回折格子型のＳＬＭ（空間光変調デバイス）を用いる画像記録装置において、非信号光である１次回折光を遮光することにより生じる熱を容易に除去して画像記録の質を向上する。 - 特許庁

The ultraviolet light detection device 1 collects natural light in a predetermined range with a pinhole 35, converts to a parallel light with a binary lens 37, vertically irradiates the converted parallel light to an incident plane of a diffraction grating 5 as an incident light through a slit 41 formed on a nickel film and receives ultraviolet light UV-A, UB-V and UV-C dispersed by the diffraction grating 5.例文帳に追加

紫外線計測装置１では、ピンホール３５によって所定の範囲の自然光を集光し、集光した自然光をバイナリーレンズ３７によって平行光に調整し、平行光に調整した光を、ニッケル膜に形成したスリット４１を介して、回折格子５の入射面に入射光として垂直に入射し、回折格子５により分光された紫外線ＵＶ−Ａ、ＵＢ−Ｂ、ＵＶ−Ｃを受光する。 - 特許庁

This spectroscope is provided with a light filter having filters F1 and F2 adapted to selectively transmit primary diffracted light and higher diffracted light multiplied by an integer to enable measurement of the light 2 admitted into a diffraction grating 5 by changing the light incident into the diffraction grating 5 properly switching the filters F1 and F2.例文帳に追加

回折格子５に入射される測定対象光２を一次回折光やその整数倍の高次回折光を選択し透過させるフィルタＦ１、Ｆ２を有する光フィルタを設けた分光器で、これらフィルタＦ１、Ｆ２を適宜切り換えて回折格子５への入射光を変えることにより測定光２に対し、その全波長域での測定ができるようにしたものである。 - 特許庁

Exist light from a semiconductor laser 1 is divided into three rays of light of zero-order light being a main beam and ±1st-order diffracted rays being sub beams by a diffraction optical element 3, and a focus error signal is detected from each of the main beam and the sub beams.例文帳に追加

半導体レーザ１からの出射光を回折光学素子３によりメインビームである０次光、サブビームである±１次回折光の３つの光にそれぞれ分割し、メインビームとサブビームのそれぞれからフォーカス誤差信号を検出する。 - 特許庁