「electron-microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(26ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a transmission electron microscope which electrically performs a tilt adjustment impossible for a person or a sample tilt mechanism to control, and achieves a precise tilt adjustment.例文帳に追加

試料傾斜機構や人間では制御できない傾斜を電気的に行い、精密な傾斜合わせを実現する透過型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which improves a throughput, even if it is observed with a sample electrified into negative electric potential.例文帳に追加

試料を負電位に帯電させて観察を行った場合においてもスループットの向上を図ることができる走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method for preparing a sample for a scanning electron microscope by a simple operation without damaging the sample being an observation target.例文帳に追加

観察対象の試料にダメージを与えることなく、簡単な操作で、走査電子顕微鏡用の試料を作製する方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide microtomy for a transmission type electron microscope providing easy and inexpensive observation of clear glass fiber mixed polymer innate morphology.例文帳に追加

容易に、低コストにて、ガラス繊維配合ポリマー本来の明確なモルフォロジーを観察できる、透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法の提供。 - 特許庁

To provide an electron microscope suitable for observing organisms and living samples under the condition that they are alive or functional.例文帳に追加

本発明は、生物，生体試料を生存或いは機能可能な状態で観察するのに好適な電子顕微鏡の提供を目的とするものである。 - 特許庁

To provide a scanning transmission electron microscope including a function capable of correcting easily and highly precisely a quintic spherical aberration C5, and an aberration correction method.例文帳に追加

５次球面収差Ｃ５の補正を簡単かつ高精度に行う機能を備えた走査透過電子顕微鏡、及び収差補正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a Z standard calibration specimen for accurately performing a Z calibration in a scanning electron microscope having a three- dimensional shape analyzing means.例文帳に追加

三次元形状解析手段を備えた走査電子顕微鏡において、高精度にＺ校正を行なうためのＺ標準校正試料を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of facilitating cleaning of an electrostatic chuck and reducing the attenuating non-operating time due to the stain of the electrostatic chuck.例文帳に追加

本発明は、静電チャックのクリーニングを容易にし、また静電チャック汚染による不稼働時間を低減可能な走査電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a beam separator and a reflection electron microscope that can direct either the primary beam and the secondary beam straight, and bend the other beam by 90°.例文帳に追加

一次ビームと二次ビームの一方のビームを直進させ、他方のビームを９０°曲げることができるビームセパレータおよび反射電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a low-vacuum observation scanning electron microscope having a function for observing a sample under low vacuum in an optimum condition.例文帳に追加

低真空状態で試料を最適な状態で観察できる機能を備えた低真空観察用走査電子顕微鏡電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

In the microscope, a condensing mirror 10 for cathode luminescence detection arranged below the objective lens 4 is used also as a low vacuum atmosphere secondary electron amplification electrode.例文帳に追加

対物レンズ４の下面に配置されたカソードルミネッセンス検出用集光ミラー１０を、低真空雰囲気２次電子増幅用電極と兼用する。 - 特許庁

Each of the lengths of the obtained hyaluronic acid fiber and chitin fiber reaches 0.5-1.0 μm by measurement by an electron microscope, and the polymerization degrees thereof are very high.例文帳に追加

得られたヒアルロン酸繊維、キチン繊維は、どちらも電子顕微鏡測定により長さが０．５〜１．０ミクロンにも達しており重合度が非常に高い。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope, capable of detecting secondarily generated electrons from a sample with high detection efficiency by using a semi-in-lens type object lens.例文帳に追加

セミインレンズ型対物レンズを用いて高い検出効率で試料からの二次発生電子を検出することが可能な走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

This measuring method of a dimension of a register pattern consists of cooling a sample before measuring a regist pattern dimension with a scanning electron microscope.例文帳に追加

レジストパターンの寸法を走査型電子顕微鏡で測定するにあたり、試料を冷却して測定することを特徴とするレジストパターンの寸法測定方法。 - 特許庁

To secure a real-time characteristic to display images directly after imaging, when a smoothing filter processing and an interlaced scanning are performed in a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、平滑フィルタ処理やインターレス走査を実行した場合に、撮像後ただちに像を表示するリアルタイム性を確保する。 - 特許庁

To provide a sample stand for a scanning electron microscope and its angle adjusting method whereby the angle of a sample can be easily and accurately adjusted.例文帳に追加

試料の角度調整を容易かつ正確に行うことができる走査電子顕微鏡用試料台およびその角度調整方法を提供する。 - 特許庁

FOCUSING STATE-DETECTING MEMBER, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, FOCUSING CONDITION ADJUSTMENT METHOD, FOCUS ADJUSTMENT METHOD, AND FOCUS DEPTH MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

集束状態検出用部材、走査型電子顕微鏡、ならびに電子ビームの集束条件調整方法、焦点調整方法及び焦点深度測定方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of performing a chirality distribution in a polymer structure of protein and an analysis of a magnetic domain structure at high resolution.例文帳に追加

タンパク質等の高分子構造におけるカイラリティ分布や、磁区構造の解析を高分解能で行うことが可能な走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which produces scanning image with high space resolution at a low-acceleration voltage area.例文帳に追加

本発明は低加速電圧領域で空間分解能の高い走査像を得ることの出来る走査形電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a lattice strain evaluation method of a crystal material for easily performing strain distribution analysis by using a scanning transmission electron microscope, and an evaluation system.例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡を用いて簡易に歪の分布解析を行う結晶材料の格子歪評価方法、評価システムを提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of improving the reliability of observation data and analysis data and averts analysis errors due to contamination.例文帳に追加

コンタミネーションによる分析誤差を回避し、観察データや分析データの信頼性を向上させることができる電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To analyze a chemical bonding condition of a measuring material, by analyzing a characteristic X-ray wavelength obtained from an electron microscope.例文帳に追加

測定用材料を電子顕微鏡から取得される特性Ｘ線波長を解析することによって化学結合状態を解析する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which subjects secondary particles to bandpass discrimination in a desired energy region, and detects them at a high yield.例文帳に追加

二次粒子を所望のエネルギー領域でバンドパス弁別し，なおかつ高収量で検出できる走査電子顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

To quantitatively and accurately express quality of a state of a scanning electron microscope device from an observation image of metal particles.例文帳に追加

金属粒子の観察画像から走査型電子顕微鏡装置の状態の良し悪しを定量的かつ高精度に表すことができるようにすること。 - 特許庁

The observation method is carried out in such a manner that the test piece 20 which is set up on a test piece holder is mounted on a transmission type electron microscope.例文帳に追加

さらに本発明の観測方法は、本発明の試料２０を試料ホルダーにセットして透過型電子顕微鏡に装着する事により行う。 - 特許庁

The electron gun system of a microscope can be adjusted onto the axis of the condenser lens system by tilting and shifting the deflection system of the gun. 例文帳に追加

(電子)顕微鏡の電子銃系は、電子銃の偏向系を傾けたりずらしたりすることによって、コンデンサレンズ系の軸上に調整できる。 - 科学技術論文動詞集

Conversion parts 8, 9 which individually perform coordinate-conversion in each horizontal (X) direction and vertical direction (Y) are provided at a scan control part 12 to form two dimensional coordinates for scanning electron beams of a scanning electron microscope, and the electron beams are scanned in the arbitrary direction in the inspection object region of the sample.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の電子ビームを走査（スキャン）させるための２次元の座標を生成するスキャン制御部１２に、水平（Ｘ）方向及び垂直（Ｙ）方向毎に個別に座標変換する変換部８，９を備え、試料の検査対象領域で任意の方向に電子ビームを走査させる。 - 特許庁

To provide a scanning transmission electron microscope capable of independently setting capturing angle ranges of a scattered electron beam detector and an energy spectrometer, and not requiring to change a condition of the energy spectrometer for the change of the capturing angle range of the scattered electron beam detector.例文帳に追加

散乱電子線検出器の取り込み角度範囲の設定と独立にエネルギー分光器の取りこみ角度範囲が設定でき、散乱電子線検出器の取り込み角度範囲の変化に対してエネルギー分光器の条件を変更する必要がない走査透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To easily carry out incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector regarding an incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector and a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡に関し、環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸合わせ容易に行うようにすることを目的としている。 - 特許庁

To provide a technique for obtaining accurate energy spectral for obtaining a sharp electron image by suppressing the charging or potential strain on the surface of an insulator sample, caused when the insulator sample is observed in the field of an photoemission electron microscopic technique, and to provide a photoemission electron microscope that applies this technique.例文帳に追加

放射電子顕微鏡技術の分野において、絶縁物試料を観察した際に生じる試料表面の帯電や電位歪みを抑制し、鮮明な電子像を得て正確なエネルギースペクトルを得るための手法と、それを応用した放射電子顕微鏡の提供。 - 特許庁

In this scanning electron microscope, the acceleration voltage of an electron beam EB irradiated on a sample 2 is set to 4 kV, and a voltage of -3 kV is applied to the sample 2 from a power source 11, so that the electron beam EB is decelerated immediately in front of the sample and is irradiated on the sample 2 with an energy of 1 kV.例文帳に追加

試料２に照射される電子ビームＥＢの加速電圧は、４ｋＶとされており、試料２には電源１１より−３ｋＶの電圧が印加されていることから、電子ビームＥＢは試料の直前で減速され、１ｋＶのエネルギーで試料２に照射される。 - 特許庁

The electron scanning microscope is provided with a plurality of apertures through which electron beams are capable of passing through and a mechanism in which the plurality of apertures are changed from one to another with the electron beams, and the method of static charge control of the sample is carried out by the changeover of the apertures.例文帳に追加

上記目的を達成するために、電子ビームが通過可能な開口を複数備え、前記電子ビームに対して前記複数の開口を切り替える機構を備えた走査電子顕微鏡、及び開口の切り替えによって、試料の帯電を制御する方法を提案する。 - 特許庁

To provide a method and a device for adjusting automatic axis of an electron lens of a scanning electron microscope capable of automatically adjusting an axis of the electron lens in high precision.例文帳に追加

本発明は走査型電子顕微鏡における電子レンズの自動軸調整方法及び装置に関し、電子レンズの軸調整を高精度で高速に自動で行なうことができる電子顕微鏡における電子レンズの自動軸調整方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an Fe-Co-V soft high magnetic flux-density material which is used, e.g., for a ball piece and a yoke of an electron lens for an electron microscope, an electron beam lithography system, etc., and a ball piece and a yoke of an electromagnet for a magnetic resonance apparatus, a mass spectroscope, etc., and also to provide its manufacturing method.例文帳に追加

電子顕微鏡、電子ビーム描画装置等の電子レンズのボールピース、ヨーク、および磁気共鳴装置、質量分析装置等の電磁石のボールピース、ヨーク等に使用するＦｅ−Ｃｏ−Ｖ軟質性の高磁束密度材料およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope apparatus which enables to get always a high accuracy SEM image and line width measurement value without giving damage or the like to an object of measurement (observation) even under a high magnification, and a method of a length measurement with the microscope apparatus.例文帳に追加

高倍率下においても測定（観察）対象物にダメージ等を与えず、常に高精度なＳＥＭイメージと線幅測定値とを得ることができる走査型電子顕微鏡装置と該装置による測長方法を提供する。 - 特許庁

To provide a stereoscope microscope which enables an assistant to observe the electron image of an operation part by a stereoscopic viewer while observing the optical image of operation part by the naked eye of a master operator without incorporating an assistant's camera in a microscope main body.例文帳に追加

助手用カメラを顕微鏡本体の内部へ組込まずに、主術者は術部の光学像を肉眼で観察できながら、助手は術部の電子映像をステレオビュアで観察できる立体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The test piece observation method includes a process to set a contour line or a plurality of points located on the contour line on an image of an electron microscope and a process to arrange a plurality of fields of vision of the electron microscope along the contour line, and a device to achieve the observation method is provided.例文帳に追加

上記目的を達成するために、以下に電子顕微鏡像上にて輪郭線、或いは当該輪郭上に位置する複数の点を設定する行程と、当該輪郭線に沿って電子顕微鏡の複数の視野を配列する行程を備えた試料観察方法、及び当該方法を実現するための装置を提案する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for putting a defect of an observational object in a view of an electron microscope, etc. without failure, and further making a scale of the apparatus small, in the method and the apparatus for observing the defect detected by an optical foreign matter inspection device or an optical visual inspection device with the electron microscope in detail.例文帳に追加

光学式異物検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡で詳細に観察する方法およびその装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ、装置規模を小さくできる方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

In an analytical method for a crystal grain orientation, for each of plural areas of an electron microscope image, Fourier transformation is performed to generate a Fourier image (S16), intensity of the Fourier image with respect to an angle is calculated (S18), and a crystalline domain in the electron microscope image is analyzed based on the intensity (S26).例文帳に追加

電子顕微鏡像の複数の領域それぞれについてフーリエ変換を行なうことによりフーリエ像を生成し（Ｓ１６）、前記フーリエ像の角度に対する強度を演算し（Ｓ１８）、前記強度に基づいて、前記電子顕微鏡像内の結晶性ドメインを分析する（Ｓ２６）結晶粒方位の分析方法。 - 特許庁

The pattern matching method and apparatus for carrying out pattern matching between design data and the image taken by a scanning electron microscope converts the design data into a bitmap, and carries out the matching between the bitmapped design data and the image taken by a scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明は、設計データと走査型電子顕微鏡にて取得される画像との間でパターンマッチングを行うパターンマッチング方法及び装置であって、設計データをビットマップに変換して、当該ビットマップ化された設計データと、走査型電子顕微鏡によって取得された画像とのマッチングを行うことを特徴とする。 - 特許庁

The yttrium oxide powder has an average particle diameter of secondary particles of 0.1-4 μm as observed with a scanning electron microscope of 20,000 magnifications, an average circularity of the secondary particles of 0.70-0.90 as observed with the scanning electron microscope of 20,000 magnifications, and a specific surface area of 1-120 m^2/g.例文帳に追加

走査電子顕微鏡（２００００倍）で観察される２次粒子の平均粒径が０．１μｍ〜４μｍであり、且つ、走査電子顕微鏡（２００００倍）で観察される２次粒子の真円率平均が０．７０〜０．９０であり、且つ、比表面積が１〜１２０ｍ^2／ｇであることを特徴とする酸化イットリウム粉末を提案する。 - 特許庁

The recipe preparation apparatus and method highly accurately measure the dimension without using the scanning electron microscope by rotating the design data of an oblique semiconductor element, changing an aspect ratio for the design data of an elongate semiconductor element and preparing the recipe in something other than the scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明では、走査型電子顕微鏡以外で、斜めの半導体素子の設計データに対して回転，細長い半導体素子のデザインデータに対して縦横比を変えてレシピを作成することにより、走査型電子顕微鏡を使用しないで、高精度に寸法測定するレシピ作成装置及び方法を提供する。 - 特許庁

An electron microscope has: an electron beam lens-barrel 1 in order to irradiate an electron beam 1a to a sample 11; a sample stage 3 to support the sample 11; a scattered electron detector 6 in order to detect backscattered electrons discharged from the sample 11; and a focused ion beam lens-barrel 2 in order to irradiate the sample 11 with a focused ion beam 2b.例文帳に追加

試料１１に電子ビーム１ａを照射するための電子ビーム鏡筒１と、試料１１を支持する試料台３と、試料１１から放出される後方散乱電子を検出するための散乱電子検出器６と、試料１１に集束イオンビーム２ｂを照射するための集束イオンビーム鏡筒２とを有する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Upon using a scanning electron microscope which is loaded with a spin-polarized electron source having a laser 201 and a semiconductor 202, a chirality structure and magnetized vector of polymer inside a testpiece 208 can be visualized by measuring intensity and the degree of spin-polarization of reflected electrons 209 from the testpiece 208 which is irradiated by a spin-polarized electron beam 203 by using a reflected electron detector 210.例文帳に追加

レーザー201と半導体202を備えたスピン偏極電子源等を搭載した走査電子顕微鏡を用いて、スピン偏極電子線203を照射した試料208からの反射電子209の強度やスピン偏極度を反射電子検出器210などを用いて測定することにより、試料208内部の高分子のカイラリティ構造や磁化ベクトルを可視化することができる。 - 特許庁

The electron microscope 5 for observing a defect detected by the optical defect inspection device or the optical appearance inspection device has a constitution wherein an optical microscope 14 for re-detecting the defect is loaded, and a distribution polarization element and a space filter are inserted onto a pupil surface when performing dark field observation by the optical microscope 14.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁