「in process evaluation」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

In a step (2), the evaluation method of the step (1) is applied after the chamfering process of the wafer.例文帳に追加

（２）上記（１）の評価方法を、ウェーハの面取り加工後に用いる。 - 特許庁

According to a history of evaluation by the user, an evaluation model for a regulation process is formed in a model estimation execution part, and afterward, evaluation is carried out in a mode evaluation computing part according to this model.例文帳に追加

ユーザの評価の履歴をもとにモデル推定実行部において調整過程の評価モデルが生成され、この後はモデル評価計算部でこのモデルによって評価される。 - 特許庁

To evaluate each element comprised in a process based on two or more evaluation criteria and to visualize the result of the evaluation.例文帳に追加

プロセスに含まれる要素それぞれを２つ以上の評価基準で評価し、この評価の結果を可視化する。 - 特許庁

This process evaluation device receives a first evaluation value obtained by evaluating each element comprised in a process based on a first evaluation criterion and a second evaluation value obtained by evaluating each element comprised in the process based on a second evaluation criterion, classifies each element comprised in the process based on the received second evaluation value, and displays each classified element correspondingly to the first evaluation value.例文帳に追加

プロセス評価装置は、プロセスに含まれる要素それぞれを、第１の評価基準で評価して得られる第１の評価値と、プロセスに含まれる要素それぞれを、第２の評価基準で評価して得られる第２の評価値とを受け入れ、受け入れられた第２の評価値に基づいて、プロセスに含まれる要素それぞれを分類し、分類された要素それぞれに、第１の評価値を対応付けて表示する。 - 特許庁

In the process S105, evaluation for estimating the gain peak of the active layer is performed.例文帳に追加

工程Ｓ１０５では、活性層の利得ピークを見積もるための評価を行う。 - 特許庁

To shorten the processing time in the process in which a final evaluation is made by combining evaluation results based on a plurality of pieces of element information.例文帳に追加

複数の要素情報に基づく評価結果を組み合わせて最終評価を行う処理において、処理時間を短縮する。 - 特許庁

A plasma charge evaluation method comprises a process for exposing a plasma charge evaluation substrate to plasma used in the manufacturing process of a semiconductor device; and a process for evaluating the amount of plasma charge given to the substrate by plasma, by examining the plasma charge evaluation substrate.例文帳に追加

プラズマチャージ評価基板を、半導体装置の製造工程で使用されるプラズマに曝露する工程と、プラズマチャージ評価基板を調べることにより、プラズマが基板に与えるプラズマチャージ量を評価する工程とを具備する。 - 特許庁

In addition, when the divided element works are analyzed and the evaluation scores are given to each evaluation item, the evaluation score with the highest evaluation in the degree of difficulty is then selected among the given evaluation scores, to be the final total evaluation score for a process work comprising the analyzed element works (step S3).例文帳に追加

また、分離された要素作業を分析し、評価項目毎に評価点を付与したら、次に、付与された評価点の中で最も難易度の評価が高い評価点を選択し、分析された要素作業により構成される工程作業の最終総合評価点とする（ステップＳ３）。 - 特許庁

To provide a panel evaluation system and a panel evaluation method for accurately evaluating a display panel in an adjustment process for the display panel.例文帳に追加

表示パネルの調整工程において、表示パネルを的確に評価するためのパネル評価システム及びパネル評価方法を提供する。 - 特許庁

A production process plan with the highest evaluation in the evaluation part 9 is selected and displayed in a display part 11 composed of a monitor or the like.例文帳に追加

評価部９において最も評価の良かった生産工程計画が選択されてモニター等で構成される表示部１１に表示される。 - 特許庁

METHOD FOR OBSERVING CHARGE MOVING STATE AND METHOD FOR EVALUATION DEVELOPMENT PROCESS IN ELECTROPHOTOGRAPHIC SYSTEM例文帳に追加

電荷移動状態の観測方法、及び電子写真システムにおける現像プロセスの評価方法 - 特許庁

To provide an imprint apparatus capable of efficiently performing process evaluation in imprinting.例文帳に追加

インプリントにおけるプロセス評価を効率良く行うことができるインプリント装置を提供すること。 - 特許庁

EVALUATION METHOD OF DOPANT CONTAMINATION OF MEMBER OR FIXTURE USED IN HEAT TREATMENT PROCESS OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエーハの熱処理工程に用いる部材または治具のドーパント汚染の評価方法 - 特許庁

This program allows a computer to execute an evaluation process evaluating the state change in the organ.例文帳に追加

器官の状態変化を評価する評価処理をコンピュータに実行させるプログラムが提供される。 - 特許庁

To efficiently perform the optimization of process conditions such as a wiring process and a gate process in a short period of time by performing the dielectric constant evaluation of an interlayer film with high precision in the middle of a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

半導体製造工程途中で高精度に層間膜の誘電率評価を行うことにより、配線工程やゲート工程などのプロセス条件の最適化を効率よく短期間で行う。 - 特許庁

The evaluation value calculation part 122a calculates an evaluation value of process arrangement on the basis of hop numbers and an inter-process communication amount from a communication-source node in which the communication-source process is arranged to a communication destination node in which the communication destination process is arranged.例文帳に追加

評価値算出部１２２ａは、通信元であるプロセスが配置されている通信元のノードから通信先であるプロセスが配置されている通信先のノードまでのホップ数及びプロセス間通信量に基づいてプロセス配置についての評価値を算出する。 - 特許庁

To rapidly process the evaluation of the distance of a space and the closest position between three-dimensional objects in addition to the evaluation of presence/absence of any interference between them.例文帳に追加

三次元物体同士の干渉の有無の評価と併せて、両者の隙間距離や最近傍位置の評価を高速に処理する。 - 特許庁

To provide an evaluation device and evaluation method of an organic EL element for improving reliability of measurement data in an evaluation process of the organic EL element.例文帳に追加

有機ＥＬ素子の評価工程における計測データの信頼性を向上させることが可能な有機ＥＬ素子の評価装置及びその評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

If the evaluation and test of the proposed and corrected business process have been succeeded, the corrected business process may be used as substitute of the original business process in an organization.例文帳に追加

提案された修正済みビジネスプロセスの評価およびテストが成功した場合、修正されたビジネスプロセスを、組織内のオリジナルのビジネスプロセスと置き換えることができる。 - 特許庁

To obtain a reliability growth model decided at an initial stage of a test process in a software test process evaluation system using a reliability growth model obtained by modeling a relation between evaluation quantity to software of an evaluation object and a fault discovered for the evaluation quantity.例文帳に追加

評価対象のソフトウェアに対する評価の量とその評価量に対して発見される障害の関係をモデル化した信頼度成長モデルを用いるソフトウェアのテストプロセス評価方式において、テストプロセスの初期段階で確定した信頼度成長モデルが得られるようにする。 - 特許庁

The computed evaluation score is stored in a storage part 22 as a diagnosis history together with the measured information, so that the evaluation scores can be confirmed as the process of treatment in time series.例文帳に追加

又、算出した評価スコアは、計測情報と共に診断履歴として記憶部２２に記憶され、治療の時系列推移として確認することができる。 - 特許庁

The method for evaluating the progress in fatigue cracks due to the machine fatigue of a rotary shaft comprises a crack angle measurement process, a mode ratio calculation process, a crack progress judgment process, and further a breakdown mode judgment process and a life evaluation process as needed, or a change point calculation process and a life evaluation process.例文帳に追加

回転軸の機械疲労による疲労き裂進展の評価方法であって、き裂角度測定工程と、モード比算出工程と、き裂進展判定工程と、さらに必要に応じて、破壊モード判定工程および寿命評価工程、又は、変化点算出工程および寿命評価工程、を含むことを特徴とする疲労き裂進展の評価方法。 - 特許庁

The processing method of semiconductor silicon wafer comprises a polishing process for polishing the surface of semiconductor wafer to the mirror-surface, an evaluation process for evaluating the flatness of a semiconductor wafer polished in the polishing process, an etching process for etching semiconductor wafer determined as defective in the flatness in the evaluation process using an alkali solution, and a re-polishing process for re-polishing the semiconductor wafer which etched in the etching process.例文帳に追加

半導体ウェーハの表面を鏡面研磨する研磨工程と、この研磨工程において研磨された半導体ウェーハの平坦度を評価する評価工程と、この評価工程により平坦度が不良と判定された半導体ウェーハをアルカリ溶液でエッチングするエッチング工程と、このエッチング工程によりエッチングされた半導体ウェーハを再研磨する再研磨工程とを有する半導体ウェーハの加工方法。 - 特許庁

When the user depresses a button for a next process in any of columns expressing "useful" or "unuseful" on the information, an evaluation value on which the button is depressed is registered in an evaluation value database 17 by an evaluation value collection part 16, and transition to a next process takes place.例文帳に追加

ユーザがその情報について「役に立った」「役に立たなかった」それぞれの欄から次に行いたい処理のボタンを押下すると、評価値収集部１６は評価値データベース１７にボタンで押下された評価値を登録し、次の処理に遷移する。 - 特許庁

When an evaluation point generating means 16 specifies an evaluation point in a trend graph of a process signal displayed by a display means 14, an evaluating means 15 evaluates a transient phenomenon as to the evaluation point specified by the evaluation point generating means 16 and outputs the evaluation result.例文帳に追加

評価点作成手段１６により、表示手段１４に表示されたプロセス信号のトレンドグラフに対する評価点が指定されたときは、評価手段１５は評価点作成手段１６により指定された評価点に対して過渡現象の評価を行い評価結果を出力する。 - 特許庁

A manufacturer terminal 10 stores an evaluation point of the manufacturing process of the article 50 in a manufacture evaluation database 14, reads the evaluation point from the manufacture evaluation database 14 by using a product ID as a key and writes it with a standard price in an IC tag 60 by an IC tag writer 17.例文帳に追加

メーカ端末１０は、商品５０の製造工程での評価点を製造評価データベース１４に格納し、商品ＩＤをキーに製造評価データベース１４から評価点を読み出して標準価格と共にＩＣタグ６０にＩＣタグライタ１７で書き込む。 - 特許庁

TREATMENT EVALUATION METHOD AND DEVICE IN MANUFACTURING PROCESS OF SEMICONDUCTOR PRODUCT, AND SEMICONDUCTOR PRODUCT MANUFACTURING SYSTEM例文帳に追加

半導体製品の製造工程における処理評価方法および装置ならびに半導体製品製造システム - 特許庁

To automatically reflect evaluation data in a manufacturing process of an article on a price to sell it to a customer.例文帳に追加

商品の製造工程での評価データを、顧客に販売する提供価格に自動的に反映させる。 - 特許庁

(e) A best focus state is detected based on a plurality of focus evaluation indices calculated in the process (d).例文帳に追加

（ｅ）工程ｄで求められた複数のフォーカス評価指標に基づいて、ベストフォーカス状態を検出する。 - 特許庁

An evaluation part 48 calculates the total of delivery date delay rewards, work-in-process stock rewards and a pre-connection cost in each candidate cycle.例文帳に追加

次に、評価部４８が、納期遅れ賞金の総和と仕掛在庫賞金と前接続コストとを候補サイクル毎に算出する。 - 特許庁

an evaluation of the size and shape of the nucleus in tumor cells and the percentage of tumor cells that are in the process of dividing or growing. 例文帳に追加

腫瘍細胞中の核の大きさや形状と、分裂ないし増殖中の腫瘍細胞の割合などを評価したもの。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To provide a semiconductor integrated circuit for process evaluation which can obtain data used as a determination material for delicate process control in a short time.例文帳に追加

微妙なプロセスコントロールのための判断材料となる情報を短時間のうちに採取することができるプロセス評価用半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

This method can be applied to evaluation of the reflection characteristic of a high-quality mirror of high light reflectance in a developing process, and allows evaluation of the reflection characteristic of the mirror in a practical structure.例文帳に追加

開発過程の高い光反射率の高品質ミラーの反射特性の評価に利用できるのは勿論、実用的構造でのミラーの反射特性の評価が可能である。 - 特許庁

To provide a sound-proof chamber for product evaluation capable of enhancing detection ability of a sound-proof chamber for sound evaluation in a production line, and capable of automating an inspection process.例文帳に追加

製品生産ラインでの音評価用の防音室の検出力向上、並びに検査工程の自動化を図った、製品評価用防音室を提供する。 - 特許庁

The use of the multiple evaluation process allows one to conduct evaluations in an objective, credible and precise manner.例文帳に追加

多面評価制度を使用することで、客観的で信頼性のある正確な方法で評価を実行することができる。 - Weblio英語基本例文集

An evaluation value calculating part 26 calculates an evaluation value of a production schedule by a calculation result of the schedule time calculating part 24 by an evaluation function which includes an evaluation index for evaluating production efficiency and an evaluation index for evaluating a delay from a post-process reference date of delivery to the entire processes after its own process and a weight parameter stored in a weight parameter storing part 18 is applied.例文帳に追加

評価値算出部２６は、生産効率を評価する評価指標及び自工程よりも後の全ての工程に対する後工程基準納期からの遅れを評価する評価指標を含み、且つ重みパラメータ記憶部１８に記憶された重みパラメータが適用された評価関数により、予定時刻算出部２４の算出結果による生産スケジュールの評価値を算出する。 - 特許庁

The semiconductor substrate, which is used for evaluation of contamination in the semiconductor substrate manufacturing process and the semiconductor device manufacturing process, is characterized in that the structure is composed of three layers of a semiconductor substrate body, a contaminant diffusion preventing film, and a contamination evaluation layer.例文帳に追加

半導体基板製造工程及び半導体デバイス製造工程の汚染評価に用いられる半導体基板であって、その構造が半導体基板本体、汚染物質の拡散阻止膜、及び汚染評価層の三層からなるようにした。 - 特許庁

An evaluation process performed during operation includes a process for compensating the temperature or current dependency in the sensor components R1, R2 by using two mutually, linearly, independent measurements and appropriate arithmetic operation in an evaluation unit AE.例文帳に追加

動作中に行われる評価工程は、互いに線形に独立している２つの測定と、評価ユニットＡＥでの適切な算術演算とを用いて、センサ構成要素Ｒ１、Ｒ２の温度または電流依存性を補償する工程を含んでいる。 - 特許庁

Preset data and a measurement data from the operation process is processed for controlling the operation process by one or more evaluation/control device in order to integrate a preset process and a control process when operating the printing press.例文帳に追加

印刷機作動時の事前設定プロセスと制御プロセスを統合するために、1つまたは複数の評価/制御装置により、動作プロセスからの事前設定データと測定データを動作プロセスの制御のために処理するようになっている。 - 特許庁

However, in 2006, Republic of Korea started to submit proposals for MEMS global standardization, the area where Japan has played a leadership role, in the areas of process evaluation and device performance evaluation (see Table 2-3-30).例文帳に追加

ところが、日本がリーダーシップを発揮してきたMEMSの国際標準化活動において、2006年以降、韓国からプロセスやデバイス性能の評価方法に関する提案が持ち込まれるようになった（第2-3-30図）。 - 経済産業省

To provide a wafer evaluation method by which a pit cluster can be easily evaluated and thereby a contamination occurring in a wafer processing process can be correctly evaluated, and also to provide a management method of a wafer manufacturing process using the wafer evaluation method.例文帳に追加

簡便にピットクラスターを評価し、ウエーハ加工工程で生じる汚染を正確に評価することができるウエーハの評価方法及びこのウエーハの評価方法を用いたウエーハ製造工程の管理方法を提供する。 - 特許庁

The vacuum treatment device has functions of not only an electron emission element manufacturing device (on and after the forming process), an electric characteristic measuring and evaluation device but also an evaluation device for the carbon or carbon compounds accumulated in the activation process.例文帳に追加

真空処理装置は、電子放出素子の製造装置（フォーミング工程以降）、電気特性の測定評価装置、さらには、活性化工程で堆積した炭素または炭素化合物の評価装置としての各機能を兼ね備える。 - 特許庁

In a life cycle risk evaluation model, respective conditions of a building, a room, a space structure, fire preventive measures and environments are set in the condition setting process X.例文帳に追加

ライフサイクルリスク評価モデルにおいて、条件設定（Ｘ）は、建物、室、空間構成、防火対策、環境のそれぞれの条件を設定する。 - 特許庁

When the maximum point of the AF evaluation value is detected in S7, the process is advanced to S9 and the moving amount of a focus lens is calculated.例文帳に追加

Ｓ７でＡＦ評価値の極大点が検出された場合には、Ｓ９に進みフォーカスレンズの移動量を算出する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR QUANTITATIVELY EVALUATING CHARGE DAMAGE IN MANUFACTURING PROCESS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND WAFER FOR QUANTITATIVE CHARGE DAMAGE EVALUATION例文帳に追加

半導体装置の製造工程におけるチャージダメージ定量評価方法及びその装置、チャージダメージ定量評価用ウェハ - 特許庁