「objective test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The objective of the present guidelines is to prescribe matters related to certification of compliance of test facilities, etc.例文帳に追加

本要領は、労働安全衛生規則 - 厚生労働省

The objective of our test is to confirm your level. 例文帳に追加

私たちのテストの目的はレベルの確認をするためです。 - Weblio Email例文集

Ensure that the test plan has a clearly specified objective, scope, methodology and schedule.例文帳に追加

テスト計画は、目的、範囲、方法、スケジュール等を明確にすること。 - 経済産業省

To optimize objective optics of a Fizeau interferometer to test a surface.例文帳に追加

表面を検査するフィゾー干渉計の対物光学系を最適化する。 - 特許庁

Define the objective, scope, methodologies, and schedule for the maintenance test plan.例文帳に追加

保守のテスト計画は、目的、範囲、方法、スケジュール等を明確にすること。 - 経済産業省

To easily perform the calibration of detection sensitivity without using a test inspection objective body.例文帳に追加

試験被検査体を用いずに検出感度の校正を簡単に実施する。 - 特許庁

The magnified image 23 of a test piece by the objective lens 11 is reduced to an image 21 by an objective mini lens 12.例文帳に追加

対物レンズ１１による試料１０の拡大像２３は対物ミニレンズ１２によって像２１に縮小される。 - 特許庁

The selector 110 is connected to a preceding stage of a flip-flop 100 serving as a start point for the objective path, and a test pattern is input to activate the objective path, in the test mode.例文帳に追加

また、対象パスの始点となるフリップフロップ１００の前段にセレクタ１１０を接続して、テストモード時には、対象パスを活性化するテストパタンを入力する。 - 特許庁

To provide a method for assaying existence of an objective bacterium in a test sample.例文帳に追加

被験試料中における目的とする菌の生存を検定する方法の提供。 - 特許庁

The contents of the test are set to the unit of the disk objective for the test, and the setting of access timing with respect to the plural disks is also allowed.例文帳に追加

テスト内容は、テスト対象のディスク単位に設定し、また、複数のディスクに対するアクセスタイミングも設定可能である。 - 特許庁

To provide a semiconductor test equipment and a method for the same capable of redoubling the throughput of the test capable of simultaneous measurement, and at the same time capable of shortening the test time, with regard to the semiconductor test equipment and the method capable of simultaneous measurement for the multiple objective device.例文帳に追加

同時測定可能な被試験デバイス数を倍増させると同時にテスト時間を短縮することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

FOCUS DETECTOR AS WELL AS OBJECTIVE LENS, OPTICAL MICROSCOPE OR OPTICAL TEST APPARATUS HAVING THE SAME例文帳に追加

焦点検出装置、及びそれを備えた対物レンズ、光学顕微鏡又は光学検査装置 - 特許庁

This congeniality diagnosing method is characterized in that the concentration or the total amount of chromogranin A in saliva of a test subject is measured before and after the test subject is caused to contact with information on an objective person or on an objective workplace about which congeniality diagnosis is tried and that the test subject is diagnosed as being congenial with the objective person or the objective workplace when the concentration or the total amount increases.例文帳に追加

被験者の唾液中のクロモグラニンＡ濃度または総量を、相性診断を試みる対象者または対象職場の情報に被験者を接触させる前後で測定し、該濃度または総量が増加した場合に被験者と対象者または対象職場との相性が良いと診断することを特徴とする相性診断方法。 - 特許庁

In the test pattern generation supporting device 310, if the acquisition part 311 acquires the connection information 301 of testing circuit 200 and a path exempt out of test, the detection part 312 detects paths between all FFs constituting the test objective circuit 200, and forms the extra test objective path list 400.例文帳に追加

テストパターン生成支援装置３１０では、取得部３１１がテスト対象回路２００の接続情報３０１およびテスト対象外パスが取得された場合、検出部３１２はテスト対象回路２００を構成する全ＦＦ間のパスを検出し、テスト対象外パスリスト４００を作成する。 - 特許庁

The test is conducted by using a tester having a test mask and an radiator to emit light and an objective lens to observe the test mask and a reference grid provided in a pattern observing area of the test mask.例文帳に追加

テストマスクと、テストマスクの、パターンを観察する領域に、光を照射する照射手段と、テストマスクを観察するための対物レンズと、基準格子と、観察手段とを備える検査装置を用いて、検査を行う。 - 特許庁

In the case, the finish flag of extra test objective path list 400 are turned to "1", the correction part 316 corrects the connection information 301 so as to insert the dummy buffer into the data pins of the extra test objective cells.例文帳に追加

すべてのテスト対象外パスリスト４００の終了フラグが「１」に変更された場合、修正部３１６は、テスト対象外セルのデータピンにダミーバッファを挿入するように、接続情報３０１を修正する。 - 特許庁

A quality judging specification result for the avalanche proof level test of the testing objective semiconductor element on a wafer carried out using the determined specification value as the specification value for the avalanche proof level test is made to serve as a quality judged result in the avalanche proof level test of the testing objective semiconductor element.例文帳に追加

決定された規格値をアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値として行ったウエーハ上の試験対象半導体素子のアバランシェ耐量試験の合否判断結果を、その試験対象半導体素子のＲＢＳＯＡ耐量の試験での合否判断結果とする。 - 特許庁

To smoothly input a work to prepare a test sequence to operate the test of an objective system without any error at the time of developing software.例文帳に追加

ソフトウェア開発において、対象システムのテストを行なうためのテストシーケンスを作成する作業を、誤りなくスムーズに入力することを可能とすることを課題としている。 - 特許庁

To prevent that a foreign matter adhered to the surface of an objective lens and the surface of an electrode plate by being sucked by the magnetic field of the objective lens and the electric field of the electrode plate falls and adheres to the surface of a test piece at the time of observation of the test piece.例文帳に追加

本発明の目的は、対物レンズの磁界や電極板の電界に吸い寄せられ、対物レンズ表面や電極板表面に付着した異物が試料観察時に試料表面に落下し付着することを防止することにある。 - 特許庁

To provide a supplement providing system capable of providing an optimum kind of supplement in an optimum effective amount to every objective person, using a result of wide-ranging tests including a genetic test and a blood biochemical test of the objective person.例文帳に追加

対象者の遺伝子検査や血液生化学的検査を含む多岐にわたる検査の結果を利用して、対象者毎に、最適な種類のサプリメントを、最適な有効量で提供できるサプリメント提供システム、プログラムおよび記録媒体を提供する。 - 特許庁

A temperature of a sensor is set to be higher than a thermal cracking temperature of a test objective gas sort and to be a temperature which suppresses a reaction, causing variations in a detection property, so that oxidative decomposition of the detection objective gas is progressed without using any reaction promoter such as a catalyst, and then the concentration of the test objective gas in the tested gas is measured.例文帳に追加

センサの温度を検知対象ガス種の熱分解温度より高くかつ検知特性を変化させる反応を抑制する温度に設定しておくことにより、触媒等の反応促進物質を使用することなしに検知対象ガスの酸化分解を進行させ、被検ガス中の検知対象ガスの濃度を測定する。 - 特許庁

A quality judging specification value for an avalanche proof level test carried out as substitution for the PBSOA proof level test for securing a PBSOA proof level is determined based on a sample of the testing objective semiconductor element.例文帳に追加

試験対象半導体素子のサンプルから、ＲＢＳＯＡ耐量を保証するＲＢＳＯＡ耐量試験の代替として行うアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値を決定する。 - 特許庁

The secondary electrons emitted from the scanning point of the test piece is separated from the primary electrons by an ExB separator after passing the objective lens and detected.例文帳に追加

試料の走査点から放出された二次電子を対物レンズを通過後Ｅ×Ｂ分離器で一次電子から分離し検出する。 - 特許庁

To provide a ground evaluation system based on a Swedish sounding test (SWS test), which can deal with the ground as an objective value in a manner eliminating an influence on a determination irrespective of whether the ground is of sandy soil or cohesive soil.例文帳に追加

砂質土であっても粘性土であっても判断に影響を受けず、客観的な数値として扱うことができるスウェーデン式サウンディング試験（ＳＷＳ試験）の評価システムを提供する。 - 特許庁

A delay characteristic by edge search is detected with no time for stabilization of the delay characteristic in order to stabilize a test, and is stored in a memory, in a testing-objective chip for conducting the function test at first.例文帳に追加

最初にファンクション試験を行なう試験対象チップで、試験を安定させるためにエッジサーチによる遅延特性を、遅延特性が安定するのにかかる時間をおかずに検出してメモリに保持する。 - 特許庁

To perform an objective evaluation of the sufficiency of a test for the quality of a device to be measured by quantitatively classifying the operation process of the device to be measured.例文帳に追加

被計測装置の動作過程を定量的に分類し、被計測装置の品質に対するテスト十分性の客観的な評価を行う。 - 特許庁

In the electron beam device, primary electrons are divided into multiple beams at a plurality of openings and the multiple beams are reduced by an objective lens, and scans on the test piece.例文帳に追加

電子線装置において、一次電子を複数の開口でマルチビームに分割し、マルチビームを対物レンズで縮小し、試料上を走査する。 - 特許庁

The index image projection section 30 together with the half mirror 26 and the objective lens 11 constitutes an index projection optical system which projects two index images onto the test object S from different directions via the objective lens 11.例文帳に追加

指標像投射部３０はハーフミラー２６および対物レンズ１１と共に、対物レンズ１１を介して被検体Ｓに二つの指標像を異なる方向から投影する指標投影光学系を構成している。 - 特許庁

Before conducting a pressure-proof test, the filling- objective gas is filled into the high-pressure gas container at first, and then the high-pressure gas container filled with the filling-objective gas is immersed into the liquid of which the temperature is maintained by the temperature controller.例文帳に追加

耐圧試験を行う前に、まず高圧ガス容器に充填対象ガスを充填し、続いて、充填対象ガスが充填された高圧ガス容器を、温度制御装置により保温された液体に浸漬させる。 - 特許庁

Selectors 111-113 are connected to inputs of NAND 102-104 within the objective path 120 for measuring the delay time, and outputs from the selectors are fixed to values to activate the objective path, in a test mode.例文帳に追加

遅延時間を測定する対象パス１２０内のＮＡＮＤ１０２〜１０４の入力にセレクタ１１１〜１１３を接続して、テストモード時には、セレクタの出力を対象パスが活性化されるような値に固定する。 - 特許庁

The arranging positions of a cell constituting a test objective circuit, and a non-connected cell prepared for the constitution of the test circuit, are determined and, thereafter, the connecting relation of the non-connected cell prepared for the constitution of the test circuit is determined based on these arrangement informations to constitute the test circuit, whereby the semiconductor integrated circuit is provided as equipped with the test circuit.例文帳に追加

テスト対象回路を構成しているセルおよびテスト回路を構成するために準備された未接続セルの配置位置を決定した後に、それらの配置情報に基づいて、テスト回路を構成するために準備された未接続セルの接続関係を決定し、テスト回路を構成することによりテスト回路を備えた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To efficiently cool an objective component before a test, when testing the constitutional component related to a driving system of a vehicle executed in a stationary position.例文帳に追加

定置状態で行われる車両の駆動系に関連する構成部品の試験に際し、その試験に先立って対象部品の冷却を効率的に行う。 - 特許庁

To provide a salt damage testing method for an ventilating air filter unit, allowing objective salt damage test at any site in a short time, and to provide its device.例文帳に追加

任意の場所において短時間で客観的な塩害試験を行うことができる換気用エアフィルタユニットの塩害試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

A relationship between the objective function calculated by the finite element analysis, the sensitivity analysis and a predesignated threshold value is evaluated, and a convergence test is performed (5).例文帳に追加

前記有限要素解析および感度解析により算出された目的関数と予め定められた閾値との関係を評価し収束判定する（５）。 - 特許庁

The measuring objective sample is constituted by stacking ten test samples in each of which a thin film is formed on a film, and putting a standard powder sample between a test sample 1J which is closest to a side where an X-ray enters and a test sample 1I which is second closest to the side.例文帳に追加

フィルム上に薄膜が形成されている被検試料を１０枚積層させ、Ｘ線が入射する側から数えて第１番目の被検試料１Ｊと第２番目の被検試料１Ｉとの間に標準粉末試料を仕込み、これを測定対象試料とする。 - 特許庁

It should be noted that the result of the pharmacological test should be described with numerical data as a general rule, but when the result cannot be described with the numerical data due to the nature of the pharmacological test system, an objective description equivalent to the numerical data for example, a description of the objective observation result by a medical doctor may be accepted. 例文帳に追加

なお、薬理試験結果は数値データで記載されることを原則とするが、薬理試験系の性質上、結果を数値データで記載することができない場合には、数値データと同視すべき程度の客観的な記載、例えば、医師による客観的な観察結果などの記載で許容される場合もある。 - 特許庁

The message conversion part 6 outputs the data format in matching with the test object as the test scenario 8, using the objective data among the conversion data group, while converting the data format outputted from the scenario creating means 3.例文帳に追加

メッセージ変換部６は、変換データ群の中から対象となるデータを用いて、シナリオ生成手段３から出力されたシナリオのデータ形式を変換し、試験対象に合わせたデータ形式のテストシナリオ８として出力する。 - 特許庁

The semiconductor device is provided, between a plurality of chips 2 formed on a wafer 1, with a test circuit including a TAP 3 for accessing an objective circuit 5 in a chip externally and testing the circuit 5.例文帳に追加

ウエハ１上に形成された複数のチップ２間にチップ内のテスト対象回路５に外部からアクセスしてテストを行うＴＡＰ３を含むテスト回路を備える。 - 特許庁

A columnar polystyrene foam 20 is fixed to the under face of a lower pile 1 of a test objective and a hollow part 5 is closed and buried in a usually using construction method (b).例文帳に追加

試験対象の下杭１の下面に、円柱状の発泡スチロール２０を固定して、中空部５を閉塞して、実際に使用する工法で埋設する（ｂ）。 - 特許庁

The tester generates moire fringes, by overlapping the image of the test mask via the objective lens and the image passing the reference grid and then observes the disturbed moire fringes.例文帳に追加

そして、検査装置は、対物レンズを介するテストマスクの像と、基準格子とを透過した像とを重ねて、モアレ縞を発生させて、このモアレ縞の乱れを観察する。 - 特許庁

The workpiece is subjected to test machining of second holes using coordinate data passed through the reverse characteristic filter, and a second deviation between the position of each hole and an objective position is measured.例文帳に追加

逆特性フィルタを通した座標データを用いて２回目の孔をテスト加工し、それらの孔の位置と目標位置との間の第２のずれ量を測定する。 - 特許庁

A internal temperature of the high-pressure gas container is elevated thereby, the filling-objective gas is expanded therein, and internal pressure of the high-pressure gas container is increased to execute the pressure-proof test.例文帳に追加

すると、高圧ガス容器の内部温度が上昇し、充填対象ガスが膨張し、高圧ガス容器の内部圧力が上がるため、耐圧試験を実施することができる。 - 特許庁

A pattern forcibly finishing circuit 31 stops generation of a test data before the finish of the test based on the FAILAND signal output selectively in response to the measuring mode by a selection circuit 23 and indicating that all the objective measuring devices are not acceptable, to finish the test forcibly.例文帳に追加

そして、セレクト回路２３が測定モードに応じて選択し出力するものであって、全測定対象デバイスが不合格であることを示すＦＡＩＬＡＮＤ信号によって、パターン強制終了回路３１が試験終了前に試験データの発生を中止し、試験を強制的に終了させる。 - 特許庁

The distance between an electrode of the objective lens 7 nearest to the test sample W and the test sample is arranged the same as or smaller than that d1 to d3 between the member 12 restricting the exhaust conductance of the differential evacuation system and the test sample W.例文帳に追加

その電子線装置において、前記対物レンズ７の検査対象Ｗに最も近い電極と前記検査対象との間の間隔は、前記差動排気系の排気コンダクタンスを制限する部材１２と前記検査対象Ｗとの間の距離ｄ１〜ｄ３と同程度、或いはそれより小さくなっている。 - 特許庁

When a test signal is recorded onto a trial write area, a light beam is moved toward an inner circumferential side from a recording start position of the test signal for tracking control, a displacement amount of an objective lens 4 is detected, and when the displacement amount detected by the detection operation is within a prescribed range, the test signal is recorded from the test signal recording start position.例文帳に追加

試し書き領域にテスト信号を記録するとき光ビームをテスト信号の記録開始位置よりも内周側へ移動させてトラッキング制御動作を行うとともに対物レンズ４の変位量を検出し、かかる検出動作により検出された変位量が所定範囲内にあるときテスト信号の記録開始位置よりテスト信号の記録動作を行う。 - 特許庁